CN108196094A - 一种保护校验试验接线结构 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种保护校验试验接线结构，包括外绝缘套、扩展导电杆及试验引线，所述试验引线包括导线本体及插接头；扩展导电杆包括上杆段及与上杆段同轴连接的下杆段，下杆段上设有外螺纹，外绝缘套套设在上杆段外，上杆段上端设有与插接头适配的插接孔；外绝缘套包括旋握方套及设置在旋握方套下端的延伸圆套，旋握方套与延伸圆套连接，上杆段最高点所处高度低于外绝缘套最高点所处高度。本发明的有益效果是：结构合理，能有效辅助实现保护校验试验，可保障试验过程中结构间的连接稳定性好，能有效避免接触不良等问题出现。

Description

一种保护校验试验接线结构
技术领域
本发明属于保护校验试验技术领域，尤其涉及一种保护校验试验接线结构。
背景技术
继电保护校验试验是电力领域中的常见试验，其依赖试验接线及预先设置好的试验端子排来完成。试验端子排包括端子排主座及多个开设在端子排主座上的试验孔(为了便于试验操作，试验孔通常是开口朝上且竖直设置的，端子排主座由绝缘材料制成)，试验孔内设有用于与试验接线接触的金属部分，试验接线则包括导线本体以及试验引线。目前，是直接将试验引线从试验孔伸入并接触试验孔内金属部分来进行试验的，试验过程中，容易出现接触不良、试验过程不稳定等问题。
发明内容
本发明是为了克服现有技术中的不足，提供了一种结构合理，能有效辅助实现保护校验试验，可保障试验过程中结构间的连接稳定性好，能有效避免接触不良等问题出现的保护校验试验接线结构。
为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
一种保护校验试验接线结构，包括
外绝缘套、扩展导电杆及试验引线，所述试验引线包括导线本体及插接头；
扩展导电杆包括上杆段及与上杆段同轴连接的下杆段，下杆段上设有外螺纹，外绝缘套套设在上杆段外，上杆段上端设有与插接头适配的插接孔；
外绝缘套包括旋握方套及设置在旋握方套下端的延伸圆套，旋握方套与延伸圆套连接，上杆段最高点所处高度低于外绝缘套最高点所处高度。
作为优选，在延伸圆套轴向上：延伸圆套投影落在旋握方套投影范围内。
作为优选，所述扩展导电杆由铜制成，试验引线由铜制成。
作为优选，所述下杆段上设有开口于下杆段下端的柱槽，柱槽上设有与柱槽滑动配合的导电顶杆，导电顶杆包括杆体及用于接触试验端子排金属部分的导电半球头，柱槽内设有弹簧，弹簧一端连接下杆段，弹簧另一端连接导电顶杆。
作为优选，所述柱槽、导电顶杆及弹簧同轴布置，在导电顶杆轴向上：弹簧、杆体及导电半球头依次布置。
作为优选，所述延伸圆套外套设有外环台，外环台内设有环形主气道及若干清理喷气道，清理喷气道上端与环形主气道连通，旋握方套外侧壁上设有手压弹性气囊，手压弹性气囊上设有进气口及出气口，出气口通过气管与环形主气道连通，进气口上设有进气单向阀，进气单向阀的可通过方向为由外界至手压弹性气囊内，出气口上设有出气单向阀，出气单向阀的可通过方向为由手压弹性气囊内至气管，清理喷气道下端朝向下杆段。
作为优选，各清理喷气道沿延伸圆套周向均匀分布，清理喷气道长度方向与延伸圆套轴线之间成15至30度角，清理喷气道上端与延伸圆套的间距大于清理喷气道下端与延伸圆套的间距。
本发明的有益效果是：结构合理，能有效辅助实现保护校验试验，可保障试验过程中结构间的连接稳定性好，能有效避免接触不良等问题出现。
附图说明
图1是本发明实施例1的结构示意图；
图2是本发明实施例2的结构示意图；
图3是图2中A处的放大图；
图4是本发明实施例2中外环台处的结构示意图。
图中：外绝缘套1、旋握方套11、延伸圆套12、扩展导电杆2、上杆段 21、下杆段22、插接头3、柱槽41、导电顶杆42、杆体421、导电半球头422、弹簧43、外环台5、环形主气道51、清理喷气道52、手压弹性气囊6、气管 61。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步的描述。
实施例1：如图1至图3所示的实施例中，一种保护校验试验接线结构，包括
外绝缘套1、扩展导电杆2及试验引线，所述试验引线包括导线本体及插接头3；
扩展导电杆包括上杆段21及与上杆段同轴连接的下杆段22，下杆段上设有外螺纹，外绝缘套套设在上杆段外，上杆段上端设有与插接头适配的插接孔；
外绝缘套包括旋握方套11及设置在旋握方套下端的延伸圆套12，旋握方套与延伸圆套连接，上杆段最高点所处高度低于外绝缘套最高点所处高度。
在延伸圆套轴向上：延伸圆套投影落在旋握方套投影范围内。
所述扩展导电杆由铜制成，试验引线由铜制成。
当需要进行保护校验试验时，可先将试验引线与插接孔分离，操作人员手持旋握方套部分，将下杆段旋入试验端子排上选定的试验孔中，并使下杆段接触试验孔中的金属部分。虽然试验孔本身无螺纹，但由于下杆段上设有外螺纹，所以下杆段可有效定位在试验孔中，从而可避免试验过程中本发明脱离试验孔，能保障试验过程的稳定性，且可避免下杆段与试验孔中的金属部分接触不良。随后可将插接头插入插接孔中完成连接，即可进行试验。
实施例2：本实施例的基本结构及实施方式同实施例1，其不同之处在于，如图2至图4中所示，所述下杆段上设有开口于下杆段下端的柱槽41，柱槽上设有与柱槽滑动配合的导电顶杆42，导电顶杆包括杆体421及用于接触试验端子排金属部分的导电半球头422，柱槽内设有弹簧43，弹簧一端连接下杆段，弹簧另一端连接导电顶杆。
所述柱槽、导电顶杆及弹簧同轴布置，在导电顶杆轴向上：弹簧、杆体及导电半球头依次布置。
本实施例中，可利用导电顶杆来与试验孔中的金属部分接触，由于弹簧、柱槽的存在，导电顶杆可相对上下滑动，从而在将扩展导电杆(下杆段)伸入试验孔中时，可避免用力过大、伸入过度而导致压损试验孔中的金属部分。
所述延伸圆套外套设有外环台5，外环台内设有环形主气道51及若干清理喷气道52，清理喷气道上端与环形主气道连通，旋握方套外侧壁上设有手压弹性气囊6，手压弹性气囊上设有进气口及出气口，出气口通过气管61与环形主气道连通，进气口上设有进气单向阀，进气单向阀的可通过方向为由外界至手压弹性气囊内，出气口上设有出气单向阀，出气单向阀的可通过方向为由手压弹性气囊内至气管，清理喷气道下端朝向下杆段。
各清理喷气道沿延伸圆套周向均匀分布，清理喷气道长度方向与延伸圆套轴线之间成15至30度角，清理喷气道上端与延伸圆套的间距大于清理喷气道下端与延伸圆套的间距。
按压手压弹性气囊时，手压弹性气囊内空气会从各清理喷气道喷出，从而可快速对下杆段进行清理。松开手压弹性气囊时，外界空气会经进气单向阀进入手压弹性气囊内。在试验前对手压弹性气囊进行数次按压，可快速吹清掉下杆段上的杂质，从而可避免下杆段上的杂质进入试验孔。

Claims (7)

1.一种保护校验试验接线结构，其特征是，包括
外绝缘套、扩展导电杆及试验引线，所述试验引线包括导线本体及插接头；
扩展导电杆包括上杆段及与上杆段同轴连接的下杆段，下杆段上设有外螺纹，外绝缘套套设在上杆段外，上杆段上端设有与插接头适配的插接孔；
外绝缘套包括旋握方套及设置在旋握方套下端的延伸圆套，旋握方套与延伸圆套连接，上杆段最高点所处高度低于外绝缘套最高点所处高度。
2.根据权利要求1所述的一种保护校验试验接线结构，其特征是，在延伸圆套轴向上：延伸圆套投影落在旋握方套投影范围内。
3.根据权利要求1所述的一种保护校验试验接线结构，其特征是，所述扩展导电杆由铜制成，试验引线由铜制成。
4.根据权利要求1所述的一种保护校验试验接线结构，其特征是，所述下杆段上设有开口于下杆段下端的柱槽，柱槽上设有与柱槽滑动配合的导电顶杆，导电顶杆包括杆体及用于接触试验端子排金属部分的导电半球头，柱槽内设有弹簧，弹簧一端连接下杆段，弹簧另一端连接导电顶杆。
5.根据权利要求4所述的一种保护校验试验接线结构，其特征是，所述柱槽、导电顶杆及弹簧同轴布置，在导电顶杆轴向上：弹簧、杆体及导电半球头依次布置。
6.根据权利要求1所述的一种保护校验试验接线结构，其特征是，所述延伸圆套外套设有外环台，外环台内设有环形主气道及若干清理喷气道，清理喷气道上端与环形主气道连通，旋握方套外侧壁上设有手压弹性气囊，手压弹性气囊上设有进气口及出气口，出气口通过气管与环形主气道连通，进气口上设有进气单向阀，进气单向阀的可通过方向为由外界至手压弹性气囊内，出气口上设有出气单向阀，出气单向阀的可通过方向为由手压弹性气囊内至气管，清理喷气道下端朝向下杆段。
7.根据权利要求6所述的一种保护校验试验接线结构，其特征是，各清理喷气道沿延伸圆套周向均匀分布，清理喷气道长度方向与延伸圆套轴线之间成15至30度角，清理喷气道上端与延伸圆套的间距大于清理喷气道下端与延伸圆套的间距。
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