CN108111241B - 一种直放站检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种直放站检测方法，包括直放站检测系统，所述直放站检测系统包括信号源、隔离器、被测直放站、衰减器、频谱仪以及上位机，所述上位机与信号源连接，所述信号源依次与隔离器、被测直放站、衰减器、频谱仪连接，所述频谱仪和被测直放站均与上位机连接，所述上位机通过GPIB总线或者网线与信号源以及频谱仪连接；其中所述上位机与仪器的通信借助VISA COM通信库接口及资源管理器；所述上位机与被测直放站的参数控制部连接，能够控制被测直放站每个通道的参数改变，所述被测直放站的每个通道的状态由第一参数和第二参数控制，所述第一参数和第二参数能够由上位机进行控制。

Description

一种直放站检测方法
技术领域
本发明涉及通信领域，具体的涉及一种直放站检测方法。
背景技术
直放站是移动通信的入网设备，用来对移动通信基站起延伸距离范围和覆盖重要盲区的作用。直放站系列产品主要分为无线宽带直放站、移频直放站和光纤直放站，本实验选用的是无线宽带直放站。无线宽带直放站主要组成部件包括：低噪声放大器(LNA)，合路器(CMB)，信道板(上下变频器，带通滤波器，功放)，双工器，施主天线和业务天线。直放站工作原理基本如下：施主天线接受的基站下行载波信号首先经过低噪声放大器处理，再进行下变频从900M射频信号变为71M中频，经过200KHz带宽的中频滤波放大处理后再上变频到900M射频信号并进行功率放大，最后通过业务天线发射出去，对需要覆盖的区域进行覆盖。上行信号处理过程与下行信号完全一样。
现有技术中的直放站具有多个通道，针对每个通道，都有两组参数对其状态进行控制，且每组参数取值从0到255，共有256个可选项，而要将一个通道的状态进行遍历，需要改变参数值256*256次，这给直放站的检测带来了很大的时间上的浪费。
发明内容
本发明的一个目的在于提供一种直放站检测方法，使得对直放站的测试时间大大缩短。
具体地，本发明是通过如下技术方案实现的：
一种直放站检测方法，包括直放站检测系统，所述直放站检测系统包括信号源、隔离器、被测直放站、衰减器、频谱仪以及上位机，所述上位机与信号源连接，所述信号源依次与隔离器、被测直放站、衰减器、频谱仪连接，所述频谱仪和被测直放站均与上位机连接，所述上位机通过GPIB总线或者网线与信号源以及频谱仪连接；其中所述上位机与仪器的通信借助VISA COM通信库接口及资源管理器；所述上位机与被测直放站的参数控制部连接，能够控制被测直放站每个通道的参数改变，所述被测直放站的每个通道的状态由第一参数和第二参数控制，所述第一参数和第二参数能够由上位机进行控制，所述方法包括：
S1：上位机选择一个需要检测的通道为被测通道；
S2：上位机将被测通道的第一参数设定为第一值；
S3：上位机将被测通道的第二参数进行遍历赋值，每进行一次赋值，向频谱仪读取一次与该次赋值对应的状态量；
S4：上位机确定第二最佳状态量，并将所述第二最佳状态量对应的第二参数确定为当前第二最优参数；
S5：上位机判断所述当前第二最优参数是否优于上轮第二最优参数，若是，则将上轮第二最优参数的数值更新为当前第二最优参数的数值，之后执行S6，若否，则直接执行S6；
S6：上位机将被测通道的第二参数设定为上轮第二最优参数；
S7：上位机将测通道的第一参数进行遍历赋值，每进行一次赋值，向频谱仪读取一次与该次赋值对应的状态量；
S8：上位机确定第一最佳状态量，并将所述第一最佳状态量对应的第一参数确定为当前第一最优参数；
S9：上位机判断所述当前第一最优参数是否优于上轮第一最优参数，若是，则将上轮第一最优参数的数值更新为当前第一最优参数的数值，之后执行S10，若否，则直接执行S10；
S10：上位机将被测通道的第一参数设定为上轮第一最优参数；之后执行S3。
较佳的，在所述步骤S10中上位机将被测通道的第一参数设定为上轮第一最优参数之后、执行S3之前，所述方法还可以包括：
统计执行程序循环次数，判断程序循环次数是否达到预设循环次数值，若否，则执行S3，若是，则结束程序。
较佳的，所述步骤S1包括：
上位机选择被测直放站的整机地址、模块地址和对应通道地址，并将所述整机地址、模块地址和对应通道地址整合为数据包下发至所述被测直放站。
较佳的，所述第一参数和第二参数为[0，255]内的整数值。
较佳的，在所述步骤S2中，所述第一值为上位机在[0，255]范围内随机选择的数值。
较佳的，在程序结束后，测完的结果自动下发到被测直放站中并存入上位机的数据库中。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种直放站检测系统结构示意图；
图2为本发明第一方法实施例提供的一种直放站检测方法流程示意图；
图3为本发明第二方法实施例提供的一种直放站检测方法流程示意图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置和方法的例子。
在本发明使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
应当理解，尽管在本发明可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本发明范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。
以下将通过实施例对本发明进行详细描述。
一种直放站检测系统，如图1所示，包括信号源、隔离器、被测直放站、衰减器、频谱仪以及上位机，所述上位机与信号源连接，所述信号源依次与隔离器、被测直放站、衰减器、频谱仪连接，所述频谱仪和被测直放站均与上位机连接。具体的，所述上位机通过GPIB总线或者网线与信号源以及频谱仪连接。其中所述上位机与仪器的通信要借助VISA COM通信库接口及资源管理器。所述上位机与被测直放站的参数控制部连接，能够控制被测直放站每个通道的参数改变。
本发明还提供了一种直放站检测方法，使用前述的直放站检测系统，所述被测直放站的每个通道的状态由第一参数和第二参数控制，所述第一参数和第二参数能够由上位机进行控制，所述方法包括：
S1：上位机选择一个需要检测的通道为被测通道；
S2：上位机将被测通道的第一参数设定为第一值；
S3：上位机将被测通道的第二参数进行遍历赋值，每进行一次赋值，向频谱仪读取一次与该次赋值对应的状态量；
S4：上位机确定第二最佳状态量，并将所述第二最佳状态量对应的第二参数确定为当前第二最优参数；
S5：上位机判断所述当前第二最优参数是否优于上轮第二最优参数，若是，则将上轮第二最优参数的数值更新为当前第二最优参数的数值，之后执行S6，若否，则直接执行S6；
S6：上位机将被测通道的第二参数设定为上轮第二最优参数；
S7：上位机将测通道的第一参数进行遍历赋值，每进行一次赋值，向频谱仪读取一次与该次赋值对应的状态量；
S8：上位机确定第一最佳状态量，并将所述第一最佳状态量对应的第一参数确定为当前第一最优参数；
S9：上位机判断所述当前第一最优参数是否优于上轮第一最优参数，若是，则将上轮第一最优参数的数值更新为当前第一最优参数的数值，之后执行S10，若否，则直接执行S10；
S10：上位机将被测通道的第一参数设定为上轮第一最优参数；之后执行S3。
采用这样的方法，能够避免采用穷举法的方式，遍历一个通道的每种情况来确定使通道达到最优效果的第一参数和第二参数，使得计算时间大大减少。对于一个通道的不同的被测量，如最大线性输出功率、增益、频率误差等，其对应的状态量是预设的且是随被测量不同而不同的，对所述被测量的具体检查为现有技术，本发明不再赘述。
进一步的，如图3所示，在所述步骤S10中上位机将被测通道的第一参数设定为上轮第一最优参数之后、执行S3之前，所述方法还可以包括：
统计执行程序循环次数，判断程序循环次数是否达到预设循环次数值，若否，则执行S3，若是，则结束程序。
采用这样的方法，可以使程序执行次数在可控范围内，通过实践实验发现，当程序执行达到4轮时，得到的第一参数和第二参数即能够使对应通道的性能达到预期。
进一步的，所述步骤S1包括：
上位机选择被测直放站的整机地址、模块地址和对应通道地址，并将所述整机地址、模块地址和对应通道地址整合为数据包下发至所述被测直放站。
进一步的，所述第一参数和第二参数为[0，255]内的整数值。
进一步的，在所述步骤S2中，第一值可以为上位机在[0，255]范围内随机选择的数值。
进一步的，在程序结束后，测完的结果自动下发到被测直放站中并存入上位机的数据库中。
进一步的，为解决多个测试项的按需选择和无缝衔接问题，可以在上位机软件上设计一个复选框，判断选中与否；一个测试项结束开始下一个测试项采用多线程，中断提示预留足够时间方便测试人员做出连接方式和通道变换的调整。完成好点击确定继续即可进行下一步测试，直到所有测试项完成。进一步的，可以通过转换开关和射频切换器控制硬件的自动变换与连接方式，就可做到完全自动测试。
经过实验测试，采用本发明所述的直放站检测方法，经过4轮即可得出最佳测试值对应的调整值。实验证明本发明方法和穷举法测试结果几乎一致，且在时间和人力上有绝对优势，一个指标的测试可以节省25分钟左右。测试3组数据如下表1：
Figure GDA0002698104300000061
表1测试结果对比
采用本发明所述的直放站检测方法，可以针对直放站的每一个指标逐一进行检测，检测完一项会与参考值进行比较，判断测试值是否合格，不合格会有文档报告提示并且不会保存入库。每个测试项的合格结果会自动生成一行数据显示在上位机软件的表格里，表格数据会自动存入上位机软件的数据库。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。

Claims (6)

1.一种直放站检测方法，包括直放站检测系统，所述直放站检测系统包括信号源、隔离器、被测直放站、衰减器、频谱仪以及上位机，所述上位机与信号源连接，所述信号源依次与隔离器、被测直放站、衰减器、频谱仪连接，所述频谱仪和被测直放站均与上位机连接，所述上位机通过GPIB总线或者网线与信号源以及频谱仪连接；其中所述上位机与仪器的通信借助VISA COM通信库接口及资源管理器；所述上位机与被测直放站的参数控制部连接，能够控制被测直放站每个通道的参数改变，其特征在于，所述被测直放站的每个通道的状态由第一参数和第二参数控制，所述第一参数和第二参数能够由上位机进行控制，所述方法包括：
S1：上位机选择一个需要检测的通道为被测通道；
S2：上位机将被测通道的第一参数设定为第一值；
S3：上位机将被测通道的第二参数进行遍历赋值，每进行一次赋值，向频谱仪读取一次与该次赋值对应的状态量；
S4：上位机确定第二最佳状态量，并将所述第二最佳状态量对应的第二参数确定为当前第二最优参数；
S5：上位机判断所述当前第二最优参数是否优于上轮第二最优参数，若是，则将上轮第二最优参数的数值更新为当前第二最优参数的数值，之后执行S6，若否，则直接执行S6；
S6：上位机将被测通道的第二参数设定为上轮第二最优参数；
S7：上位机将被测通道的第一参数进行遍历赋值，每进行一次赋值，向频谱仪读取一次与该次赋值对应的状态量；
S8：上位机确定第一最佳状态量，并将所述第一最佳状态量对应的第一参数确定为当前第一最优参数；
S9：上位机判断所述当前第一最优参数是否优于上轮第一最优参数，若是，则将上轮第一最优参数的数值更新为当前第一最优参数的数值，之后执行S10，若否，则直接执行S10；
S10：上位机将被测通道的第一参数设定为上轮第一最优参数；之后执行S3。
2.根据权利要求1所述的直放站检测方法，其特征在于，在所述步骤S10中上位机将被测通道的第一参数设定为上轮第一最优参数之后、执行S3之前，所述方法还可以包括：
统计执行程序循环次数，判断程序循环次数是否达到预设循环次数值，若否，则执行S3，若是，则结束程序。
3.根据权利要求2所述的直放站检测方法，其特征在于，所述步骤S1包括：
上位机选择被测直放站的整机地址、模块地址和对应通道地址，并将所述整机地址、模块地址和对应通道地址整合为数据包下发至所述被测直放站。
4.根据权利要求3所述的直放站检测方法，其特征在于，所述第一参数和第二参数为[0，255]内的整数值。
5.根据权利要求4所述的直放站检测方法，其特征在于，在所述步骤S2中，所述第一值为上位机在[0，255]范围内随机选择的数值。
6.根据权利要求5所述的直放站检测方法，其特征在于，在程序结束后，测完的结果自动下发到被测直放站中并存入上位机的数据库中。
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