CN110868736A - 一种基站测试方法、装置、系统及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种基站测试方法、装置、系统及存储介质，属于通讯技术领域。方法包括：获取测试参数，所述测试参数包括测试模式及天线角度参数或波束赋形参数；根据所述天线角度参数控制待测基站的天线角度或根据所述测试参数中的波束赋形值设置所述待测基站的波束赋形参数；根据所述测试模控制测试接口装置式选择测试通道，以使测试装置在不同的频点对所述待测基站进行测试；获取所述测试装置的测试数据。采用本发明实施例，实现了对不同角度、不同波束赋形参数的自动化测试，并且可以通过控制测试接口模式选择测试通道，测试频点的覆盖灵活度较高，能够满足对基站整机测试的需求。

Description

一种基站测试方法、装置、系统及存储介质

技术领域

本发明实施例涉及通讯技术领域，尤其涉及一种基站测试方法、装置、系统及存储介质。

背景技术

随着通讯技术的发展,在无线通讯中,各种制式的通讯网络不断更新，为了满足人们对网络日益俱增的需求,4G(Fourth Generation，第四代移动通讯系统)的LTE(LongTerm Evolution，长期演进移动通讯系统)网络已在全球商用,5G(Fifth Generation，第五代移动通讯系统)网络的技术也在不断更新迭进。网络通讯质量和网络覆盖率已成为各大运营商运营竞争的主要指标。同时，多通道基站设备的性能测试关系到布网基站的可靠性，也成为各大设备商和运营商之间成本、时间竞争的关键因素。

随着5G massive mimo(massive Multiple-Input Multiple-Output大规模多输入多输出系统)的不断成熟，AAU(Active Antenna Unit，有源天线单元)等新的设备形态相继出现。现有技术对基站设备的测试大都采用射频线缆直接连接基站的输入、输出端口到测试仪表的测试端口这种信号传导的测试方法。在新的设备形态下，由于基站设备从硬件上集成了天线，测试中需要对包含天线在内的整机在空间中进行测试，而传统对天线的有源(Over The Air，OTA)测试已经不能满足对大规模多输入多输出系统中对基站整机进行的测试需求。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种基站测试方法、装置、系统及存储介质，以解决现有技术传统对天线的有源OTA测试已经不能满足对大规模多输入多输出系统中对基站整机进行的测试需求的问题。

本发明实施例解决上述技术问题所采用的技术方案如下：

根据本发明实施例的第一个方面，提供一种基站测试方法，适用于测试计

算机，所述方法包括：

获取测试参数，所述测试参数包括测试模式及天线角度参数或波束赋形参数；

根据所述天线角度参数控制待测基站的天线角度或根据所述测试参数中的波束赋形值设置所述待测基站的波束赋形参数；

根据所述测试模控制测试接口装置式选择测试通道，以使测试装置在不同的频点对所述待测基站进行测试；

获取所述测试装置的测试数据。

根据本发明实施例的第二个方面，提供一种基站测试计算机，所述测试计算机包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如第一方面所述的步骤。

根据本发明实施例的第三个方面，提供一种基站测试系统，包括如第二方面所述的测试计算机、转台、测试接口装置以及测试装置：

所述测试计算机用于控制所述转台及测试接口装置、配置待测的基站的小区参数和波束赋形参数，并获取所述测试装置的测试数据；

所述转台用于在所述测试计算机的控制下旋转所述基站的天线角度；

所述测试装置用于对所述待测的基站进行测试。

根据本发明实施例的第四个方面，提供一种存储介质，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如第一方面所述的步骤。

本发明实施例的基站测试方法、装置、系统及存储介质，获取测试模式及天线角度参数或波束赋形参数，能够控制基站的天线角度，并对基站的波束赋形参数进行设置，不仅增加了测试条目携带的参数，而且实现了对不同角度、不同波束赋形参数的自动化测试，并且可以通过控制测试接口装置选择测试通道，以使与所述测试接口装置电连接的测试装置在不同的频点对所述待测基站进行测试，测试频点的覆盖灵活度较高，能够满足对基站整机测试的需求。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的一种基站测试方法的流程图；

图2为本发明实施例四提供的一种基站测试系统的结构示意图；

图3为本发明实施例四中测试计算机的功能装置的结构示意图；

图4为本发明实施例四中测试接口装置的结构示意图；

图5为本发明实施例四中测试接口装置在发射频点搬移测试的模式下的测试通道示意图；

图6为本发明实施例四中测试接口装置在发射频点测试的模式下的测试通道示意图；

图7为本发明实施例四中测试接口装置在在接收频点搬移测试的模式下的模式下的测试通道示意图；

图8为本发明实施例四中测试接口装置在在接收频点测试的模式下的模式下的测试通道示意图；

图9为本发明实施例五提供的另一种基站测试方法的流程图；

图10为本发明实施例六提供的另一种基站测试方法的流程图；

图11为本发明实施例六中系统通信链接示意图；

图12为本发明实施例七提供的另一种基站测试方法的流程图；

图13为本发明实施例七中系统通信链接示意图。

本发明实施例目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

为了使本发明实施例所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本发明实施例进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明实施例，并不用于限定本发明实施例。

本发明实施例一提供了一种基站测试方法，该方法适用于测试计算机。请参阅图1，方法流程包括：

步骤S101、获取测试参数，该测试参数包括测试模式及天线角度参数或波束赋形参数；

步骤S102、根据该测试参数中的天线角度参数控制待测基站的天线角度或根据该测试参数中的波束赋形值设置该待测基站的波束赋形参数；

步骤S103、根据该测试模式控制测试接口装置选择测试通道，以使与测试接口装置电连接的测试装置在不同的频点对该待测基站进行测试；

步骤S104、获取该测试装置的测试数据。

在一个可行的方案中，步骤S102，包括：

向控制单片机发送转台角度调整指令，该转台角度调整指令携带该天线角度参数，以使该控制单片机控制该转台旋转，从而调整该待测基站的有源天线单元AAU的角度，使其与所述天线角度参数的值相同；或

向该基站的基带处理单元BBU发送该波束赋形值，由该BBU将该波束赋形参数下发给该AAU。

在一个可行的方案中，步骤S103，包括：

当该测试模式为发射测试时，向该控制单片机发送发射测试模式指令，以使该控制单片机控制该测试接口装置将测试装置的天线与矢量信号分析仪接通，从而接收并分析该基站的发射信号；

当该测试模式为接收测试时，向该控制单片机发送接收测试模式指令，以使该控制单片机控制该测试接口装置将测试装置的天线与矢量信号发生器接通，从而向该基站发送信号，使该基站接收并分析该发送信号。

实际应用中，该发射测试模式可以包括发射频点搬移测试或发射频点测试：

当该发射测试模式为发射频点搬移测试时，该控制单片机控制该接口装置将该天线通过混频器与该矢量信号分析仪接通；

当该发射测试模式为发射频点测试时，该控制单片机控制该接口装置直接将该天线与该矢量信号分析仪接通。

实际应用中，该接收测试模式模式可以包括接收频点搬移测试或接收频点测试：

当该发射测试为接收频点搬移测试时，该控制单片机控制该接口装置将该天线通过该混频器与该矢量信号发生器接通；

当该接收测试为接收频点测试时，该控制单片机控制该接口装置直接将该天线与该矢量信号发生器接通。

在一个可行的方案中，该方法还包括：

当获取了多个测试模式时，重复执行该步骤S102，直至遍历所有的测试模式完成对该基站的测试；或

当获取了多个天线角度参数和/或波束赋形参数时，重复执行该步骤S103，直至遍历所有的天线角度参数和/或波束赋形参数完成对该基站的测。

在一个可行的方案中，该步骤S104之后，该方法还包括：

输出测试结果及方向图。

在一个可行的方案中，可以通过测试开始消息获取测试参数。该测试开始消息还可以携带下去小区配置参数，在执行步骤S102之前，该方法还包括：根据小区配置参数对待测的基站进行小区配置。

与现有技术相比，本实施例的基站测试方法，测试计算机获取测试模式及天线角度参数或波束赋形参数之后，能够控制转台旋转基站的天线角度，并对基站的波束赋形参数进行设置，不仅增加了测试条目携带的参数，而且实现了对不同角度、不同波束赋形参数的自动化测试，并且可以通过控制测试接口装置选择测试通道，以使与所述测试接口装置电连接的测试装置在不同的频点对所述待测基站进行测试，测试频点的覆盖灵活度较高。

在前述实施例的基础上，本发明实施例二提供了一种基站测试计算机，测试计算机包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如实施例一所述的步骤。

在前述实施例的基础上，本发明实施例三提供了一种基站测试系统，该系统包括：测试计算机、转台、测试接口装置、基站以及测试装置：

所述测试计算机可以采用实施例二中的测试计算机，其用于控制所述转台及测试接口装置、配置所述基站的小区参数和波束赋形参数，并获取所述测试装置的测试数据，所述转台用于旋转所述基站的天线角度。

测试装置包括天线、矢量信号发生器以及矢量信号分析仪，所述测试接口装置设有混频器和测试通道选择开关：

所述测试通道选择开关用于在所述测试计算机的控制下将所述天线通过混频器与所述矢量信号分析仪接通，或者将所述天线与所述矢量信号分析仪接通，或者将所述天线通过所述混频器与所述矢量信号发生器接通，或者直接将所述天线与所述矢量信号发生器接通。

与现有技术相比，本实施例的基站测试系统，在测试开始消息中携带测试模式及天线角度参数和/或波束赋形参数，能够控制转台旋转基站的天线角度，并对基站的波束赋形参数进行设置，不仅增加了测试条目携带的参数，而且实现了对不同角度、不同波束赋形参数的自动化测试，并且可以通过控制测试接口装置选择测试通道，以使与所述测试接口装置电连接的测试装置在不同的频点对所述待测基站进行测试，测试频点的覆盖灵活度较高。

在前述实施例的基础上，本发明实施例四提供了另一种基站测试系统，请参阅图2，该系统包括：测试计算机201、以太网控制芯片202、控制单片机203、转台204、测试接口装置205以及测试装置。

测试计算机201的主要作用包括如下几点：

1、将测试场景选择指令、控制转台指令经以太网控制芯片发送给控制单片机，由控制单片机控制转台的选择以及测试接口装置的测试通道的选择；

2、配置待测基站的小区参数；

3、获取测试装置的测试数据；

4、根据测试数据输出测试结果和测试方向图。

请参阅图3，测试计算机通过其存储的计算机程序实现上述功能，该计算机程序包括自动化测试模块、转台控制模块、基站配置模块、测试接口控制模块以及测试结果统计模块，并通过自动化测试模块控制和调用转台控制模块、基站配置模块、测试接口控制模块以及测试结果统计模块。

以太网控制芯片主要用于实现单片机与测试计算机之间的通信。

控制单片机的作用主要包括如下2点：

1、接收测试计算机的模式选择指令，控制测试接口装置205选择测试通道；

2、接收测试计算机的转台204角度调整指令，控制转台204的机械角度。

转台204设置在待测基站侧，用于在控制单片机203的控制下选择以带动AAU208调整到指定的测试角度。

测试接口装置205用于根据控制单片机203的指令选择四种测试通道，请参阅图4，该测试接口装置205包括：

混频器2051，用于把输入信号和本振信号进行运算，实现信号的变频功能；

本振2053，用于产生固定频率的本振信号；

负载2052，用于在矢量信号发生器206未介入测试时，连接矢量信号发生器206的输入信号，可保护测试仪表，并优化信号端口的隔离度；

内置开关，用于在不同的测试模式下，选择不同的测试通路，其包括ABC和12345共8个导通端子，其中端子A与矢量信号发生器206电连接，端子B与天线210电连接，端子C与矢量信号分析仪206电连接；端子3与端子4直接导通，端子2与端子5之间通过混频器导通，端子1连接负载。

实际应用中，内置开关的实现形式包括但不限于半导体芯片式开关和射频同轴开关。

请继续参阅图5至图8，本发明实施例中测试模式包括发射测试和接收测试，下面分别针对这两种模式的测试通道的选择进行说明。

发射测试包括发射频点搬移测试和发射频点测试。请参阅图5，在发射频点搬移测试的模式下，端子A和端子1导通，端子B和端子2导通，端子C和端子5导通，此时，天线210通过混频器2051与所述矢量信号分析仪206接通，天线210接收到的信号经混频器2051变频后传给矢量信号分析仪206；请参阅图6，在发射频点测试的模式下，端子A和端子1导通，端子B和端子3导通，端子C和端子4导通，此时，天线210直接与矢量信号分析仪206接通，天线210接收到的信号直接传给矢量信号分析仪206。

接收测试包括接收频点搬移测试或接收频点测试。请参阅图7，在接收频点搬移测试的模式下，端子A和端子2导通，端子B和端子5导通，此时，天线210通过所述混频器2051与所述矢量信号发生器206接通，矢量信号发生器206发出的信号经混频器2051变频后传给天线210；请参阅图8，在接收测试的模式下，端子A和端子3导通，端子B和端子4导通此时，此时，天线210与矢量信号发生器206直接接通，矢量信号发生器206发出的信号直接传给天线210。

测试接口装置205的物理位置在天线210的近端，并与天线210一体化安装，目的是为保证把天线210接收到的信号尽量无损耗的进行变频处理。

测试装置包括天线210、矢量信号发生器206和矢量信号分析仪206。

天线210用于接收和发送射频信号。

矢量信号分析仪206的作用是经过测试接口装置205接收基站的待测通道上的射频信号进行射频指标测试。

矢量信号分析仪206用于对接收的射频信号进行解调，解调后得到的测试数据由测试计算机提取，并结合转台204角度，输出测试结果和方向图。其中，测试数据包括但不限于信号中各个信道的功率、相邻频道泄漏比(Adjacent Channel Leakage Ratio，ACLR)、误差向量幅度(Error Vector Magnitude，EVM)、频率误差、杂散等射频测试指标。

矢量信号发生器206用于通过测试接口装置205利用天线210发送射频信号给待测基站。

请继续参阅图2，图中BBU209和AAU208共同构成基站。AAU208为待测设备，其在发射测试中作为发射机发送待测射频信号，经天线210接收后给矢量信号分析仪206进行信号的分析和测试；在接收测试中作为接收机把矢量信号发生器206经过天线210发出的有用信号进行解调。BBU209用于根据测试计算机配置的小区信息、配置波束赋形参数，建立小区并下发给AAU208。

本实施例的基站测试系统，测试计算机获取测试模式及天线角度参数和/或波束赋形参数之后，能够控制转台旋转基站的天线角度，并对基站的波束赋形参数进行设置，不仅增加了测试条目携带的参数，而且实现了对不同角度、不同波束赋形参数的自动化测试，并且可以通过控制测试接口装置选择测试通道，以使与所述测试接口装置电连接的测试装置在不同的频点对所述待测基站进行测试，测试频点的覆盖灵活度较高。

在前述实施例的基础上，本发明实施例五提供了另一种基站测试方法，请参阅图9，方法流程包括：

步骤S901，测试计算机接收测试开始消息。

实际应用中，测试开始后，测试计算机的自动化测试装置开始循环等待测试开始消息，在接收到测试开始消息则进入下一步骤。

实际应用中，测试计算机可以提供一个人机交互界面，使测试人员能够通过该人机交互界面输入测试条目并发出测试开始消息。也可以直接接收远程设备发送的测试开始消息。

实际应用中，该测试开始消息包含测试条目，该测试条目包括小区配置参数和测试参数，所述测试参数包括一个或多个波束赋形参数、测试模式和天线角度参数等。

步骤S902，配置基站的小区参数和波束赋形参数。

本步骤中，测试计算机的自动化测试模块与基站配置模块交互，配置基站的小区参数和波束赋形参数。

步骤S903，等待并接收基站的配置消息，若配置消息为配置成功消息，执行步骤S904，否则反馈测试失败信息。

步骤904，配置测试接口装置测试通道。

本步骤中，计算机的自动化测试模块与测试接口控制模块交互，测试接口控制模块向控制单片机发送测试模式指令，达到对测试接口装置的对四种基本测试模式之间的测试通道的切换。

具体的，当测试模式为发射频点搬移测试时，如图5所示：天线接收到的信号经过混频器处理后与矢量信号分析仪导通；当测试模式为发射频点测试时，如图6所示：天线接收到的信号与矢量信号分析仪导通；当测试模式为接收频点搬移测试时，如图7所示，矢量信号发生器发出的信号经过混频器处理后与天线导通；当测试模式为接收频点测试时，如图8所示，矢量信号发生器发出的信号与天线导通。

步骤S905，配置转台角度，控制转台转动以调整待测基站角度。

本步骤中，测试计算机的自动化测试模块与转台控制模块交互，转台控制模块通过控制单片机向转台发送角度控制指令，转台根据指令调整待测设备的物理角度。

步骤S906，测试完成后，读取测试结果。

本步骤中，计算机的自动化测试软件与测试结果统计模块交互。

实际应用中，在测试模式为接收测试模式时，测试结果统计模块设置矢量信号分析仪的测试模板并读取该模板下的测试数据。

在测试模式为发射测试模式时，测试结果统计模块设置矢量信号发生器的发射参数，并读取基站设备的丢包率、误码率等相关测试结果。

步骤S907，判断测试条目中是否还存在待测试的测试参数，若是，执行步骤S908，否则，执行步骤S909。

步骤S908，根据待测试的测试参数进行循环测试，若待测试的测试参数包括波束赋形参数，则返回步骤S902；若待测试的参数包括测试模式，返回执行步骤

步骤S904；若待测试的参数包括天线角度参数，则返回步骤S905。

具体的，多个波束赋形参数、多种测试模式和多个天线物理角度的测试参数，包含在测试开始时的自动化消息中，自动化测试软件根据固定的消息格式和参数，完成消息的解析和判断。

实际应用中，需循环测试时，如需要修改波束赋形参数则进入基站配置模块重新配置波束赋形参数，如需切换测试模式则进入测试接口控制模块重新切换，如需更改转台角度则进入转台控制模块重新设置角度。

实际应用中，为节省流程，可以仅重复与该测试参数相关的步骤，例如，当测试参数包括一个测试模式、一个天线角度以及多个波束赋形参数时，只需对基站的波束赋形进行重新配置，而无需切换测试通道及调整天线角度。

步骤S909，输出测试结果和方向图。

本步骤中，由计算机的测试结果统计模块根据测试数据，输出测试结果和方向图。

本实施例的基站测试方法，在测试开始消息中携带测试模式及天线角度参数和/或波束赋形参数，能够控制转台旋转基站的天线角度，并对基站的波束赋形参数进行设置，不仅增加了测试条目携带的参数，而且实现了对不同角度、不同波束赋形参数的自动化测试，并且可以通过控制测试接口装置选择测试通道，以使与所述测试接口装置电连接的测试装置在不同的频点对所述待测基站进行测试，测试频点的覆盖灵活度较高。

在前述实施例的基础上，本发明实施例六提供了另一种基站测试方法，本实施例通过测试massive mimo基站AAU的下行功率指标对测试步骤进行说明，请参阅图10，方法流程包括：

步骤S1001，测试计算机通过基站配置模块配置基站的小区参数。

步骤S1002，测试计算机通过测试接口控制模块发送测试场景选择命令，经以太网控制芯片发送给控制单片机，由控制单片机控制测试接口装置选择测试通道，使矢量信号分析仪与天线连接。

选择测试通道后，系统通信链接示意图如图11所示。

实际应用中，如果测试信号的频点需要搬移，测试接口装置将选择如图5所示的测试通道；如果测试信号的频点不需要搬移，测试接口装置测试接口装置将选择如图6所示的测试通道。

步骤S1003，测试计算机通过转台控制模块发送控制转台角度调整命令，经以太网控制芯片发送给控制单片机，由控制单片机控制转台角度。

步骤S1004，测试计算机通过测试结果统计模块调用矢量信号分析仪的测试模板，使其对从天线获取的信号进行测试，并结合转台角度记录测试结果。

实际应用中，可以根据实验的不同角度和精度要求，重复步骤S1003和步骤S1004。

步骤S1005，测试计算机向BBU配置一组波束赋型参数，由BBU下发给AAU；

步骤S1006，测试计算机调用矢量信号分析仪的测试模板，使其对从天线获取的信号进行测试，并结合波束赋型参数记录测试结果。

实际应用中，可以根据实验的不同角度和精度要求，重复步骤S1005和步骤S1006。

步骤S1007，测试计算机输出测试结果和方向图。

在前述实施例的基础上，本发明实施例七提供了另一种基站测试方法，本实施例通过测试massive mimo基站AAU的下行功率指标测试步骤进行说明，请参阅图12，方法流程包括：

步骤S1201，测试计算机通过基站配置模块配置基站的小区参数。

步骤S1202，测试计算机通过测试接口控制模块发送测试场景选择命令，经以太网控制芯片发送给控制单片机，由控制单片机控制测试接口装置选择测试通道，使矢量信号发生器与天线连接。

选择测试通道后，系统连接示意图如图13所示。

实际应用中，如果测试信号的频点需要搬移，测试接口装置将选择如图7所示的测试通道；如果测试信号的频点不需要搬移，测试接口装置测试接口装置将选择如图8所示的测试通道。

步骤S1203，测试计算机通过转台控制模块发送控制转台角度调整命令，经以太网控制芯片发送给控制单片机，由控制单片机控制转台角度；

步骤S1204，测试计算机通过测试结果统计模块配置矢量信号发生器，并统计出基站(BBU+AAU)接收到的信号以及在不同电平值时的误块率，并结合转台角度记录测试结果。

实际应用中，可以根据实验的不同角度和精度要求，重复步骤S1203和步骤S1204。

步骤S1205，测试计算机向BBU配置一组波束赋型参数，并由BBU下发给AAU。

步骤S1006，测试计算机配置矢量信号发生器的测试模板，并通过基站误块率统计软件统计出基站(BBU+AAU)接收到的信号及在不同电平值时的误块率，并结合波束赋型参数记录测试结果。

实际应用中，可以根据实验的不同角度和精度要求，重复步骤S1205和步骤S1206。

S1207，测试计算机输出测试结果和方向图。

在此应用实例中，如果测试信号的频点需要搬移，测试接口装置工作在测试接口装置工作模式二的状态；如果测试信号的频点不需要搬移，测试接口装置工作在测试接口装置工作模式四的状态。

在前述实施例的基础上，本发明实施例八提供了一种存储介质，该存储介质包括存储的程序，在该程序运行时控制该存储介质所在设备执行如实施例一该的操作。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能装置/模块可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能装置/模块之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序装置或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序装置或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

以上参照附图说明了本发明实施例的优选实施例，并非因此局限本发明实施例的权利范围。本领域技术人员不脱离本发明实施例的范围和实质内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本发明实施例的权利范围之内。

Claims (10)

1.一种基站测试方法，适用于测试计算机，所述方法包括：

获取测试参数，所述测试参数包括测试模式及天线角度参数或波束赋形参数；

根据所述天线角度参数控制待测基站的天线角度或根据所述测试参数中的波束赋形值设置所述待测基站的波束赋形参数；

根据所述测试模控制测试接口装置式选择测试通道，以使测试装置在不同的频点对所述待测基站进行测试；

获取所述测试装置的测试数据。

2.如权利要求1所述的基站测试方法，其特征在于，所述根据所述测试参数中的天线角度参数控制待测基站的天线角度或根据所述测试参数中的波束赋形值并修改所述待测基站的波束赋形参数，包括：

控制转台旋转，从而调整所述待测基站的有源天线单元AAU的角度与所述天线角度参数的值相同；或

向所述基站的基带处理单元BBU发送所述波束赋形值，由所述BBU将所述波束赋形参数下发给所述AAU。

3.如权利要求1所述的基站测试方法，其特征在于，所述根据所述测试模式控制测试接口装置选择测试通道，包括：

当所述测试模式为发射测试时，控制所述测试接口装置将测试装置的天线与矢量信号分析仪接通，从而接收并分析所述基站的发射信号；

当所述测试模式为接收测试时，控制所述测试接口装置将测试装置的天线与矢量信号发生器接通，从而向所述基站发送信号，使所述基站接收并分析所述发送信号。

4.如权利要求3所述的基站测试方法，其特征在于，所述发射测试模式包括发射频点搬移测试或发射频点测试，当所述发射测试模式为发射频点搬移测试时，控制所述测试接口装置将所述天线通过混频器与所述矢量信号分析仪接通；当所述发射测试模式为发射频点测试时，控制所述测试接口装置直接将所述天线与所述矢量信号分析仪接通；

所述接收测试模式包括接收频点搬移测试或接收频点测试，当所述接收测试模式为接收频点搬移测试时，控制所述接口装置将所述天线通过所述混频器与所述矢量信号发生器接通；当所述接收测试模式为接收频点测试时，控制所述接口装置直接将所述天线与所述矢量信号发生器接通。

5.如权利要求1至4任一项所述的基站测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

当获取了多个测试模式时，重复执行所述“根据所述测试模控制测试接口装置式选择测试通道”的步骤，直至遍历所有的测试模式完成对所述基站的测试；或

当获取了多个天线角度参数或波束赋形参数时，重复执行所述“根据所述天线角度参数控制待测基站的天线角度或根据所述测试参数中的波束赋形值设置所述待测基站的波束赋形参数”的步骤，直至遍历所有的天线角度参数和/或波束赋形参数完成对所述基站的测。

6.如权利要求1所述的基站测试方法，其特征在于，所述“获取所述测试装置的测试数据”的步骤之后，所述方法还包括：

输出测试结果及方向图。

7.一种测试计算机，其特征在于，所述测试计算机包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的步骤。

8.一种基站测试系统，其特征在于，所述系统包括如权利要求7所述的测试计算机、转台、测试接口装置以及测试装置：

所述测试计算机用于控制所述转台及测试接口装置、配置待测的基站的小区参数和波束赋形参数，并获取所述测试装置的测试数据；

所述转台用于在所述测试计算机的控制下旋转所述基站的天线角度；

所述测试装置用于对所述待测的基站进行测试。

9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述测试装置包括天线、矢量信号发生器以及矢量信号分析仪，所述测试接口装置设有混频器和内置开关：

所述内置开关用于在所述测试计算机的控制下将所述天线通过混频器与所述矢量信号分析仪接通，或者将所述天线与所述矢量信号分析仪接通，或者将所述天线通过所述混频器与所述矢量信号发生器接通，或者直接将所述天线与所述矢量信号发生器接通。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如权利要求1-6任一项所述的步骤。

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