CN108107112A - 一种适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法 - Google Patents

一种适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法 Download PDF

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Abstract

本发明属于金属材料无损检测技术,具体公开了一种适用于铍‑铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法,待检工件和对比试块放置在检测水槽中,配置探头,调节探头角度,超声波入射方向与工件表面垂直,设置探伤仪的扫查参数,通过设计正半轴和负半轴的检测门限进行点界面位置缺陷判别,利用扫查图像进行人工缺陷无损探伤判定。有缺陷的界面回波与正常结合界面回波的相位是相反的,利用该方法检测铍‑铜铬锆连接界面的缺陷可很大程度降低边缘效应的影响,并提高微小缺陷的检测灵敏度,因为边缘效应及微小缺陷不容易检测的原因都是回波能量较低,而相位变化受回波能量的影响较小。

Description

一种适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法
技术领域
本发明属于金属材料无损检测技术,具体涉及一种用于铍-铜铬锆连接界面的无损探伤方法。
背景技术
超声探伤技术作为一种重要的无损检测技术,在现代工业的各个方面都有着广泛的应用,体现在改进产品质量、产品设计、加工制造、成品检验以及设备服役的各个阶段,确保机器零件、产品得使用可靠性和安全性。
目前,国内外研究机构的研究方向主要侧重于多通道超声相控阵技术。但不管是传统的超声探伤仪还是最新的多通道超声相控阵探伤系统都是利用界面回波幅值来判定缺陷的大小和位置,即利用缺陷波与正常界面回波的差异,用这样的方法检测来检测两种金属材料结合界面有一定的局限性。首先,利用幅值法检测缺陷容易受边缘效应的影响,即在被检材料边缘区域由于探头所发射的超声波不能被完全反射接收,界面回波会偏低,从而如果边缘处有缺陷的话容易漏检。其次,当两类材料声阻抗差别较大时,例如铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面,界面对声波能量反射率相对较高,界面反射波的幅值有可能与缺陷反射波的幅值相当,所以难以通过监测幅值变化来判断是否有缺陷的存在,特别是对小缺陷的检测难度加大。
发明内容
本发明的目的是提供一种适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法,铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面微小缺陷的检测问题。
本发明的技术方案如下:
一种适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法,该方法包括如下步骤:
1)待检工件和对比试块放置在检测水槽中;
对比试块底部加工平底孔,尺寸为φ1.5~2mm,底面位于铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面;
2)配置探头,使探头到对比试块和工件表面的距离均为20~22mm,探头聚焦点位于铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面上;
3)调节探头角度,超声波入射方向与工件表面垂直;
4)设置探伤仪的扫查参数;
采样频率80~100MHz,脉冲宽度45~50ns,增益29.9~32db+∑2~3db;
5)在界面回波区域正半轴和负半轴分别添加一个检测门限gate1和gate2,别记录正半轴和负半轴所检测到第一个回波信号的时间延迟t1和t2,gate1和gate2的幅值为满屏的10%~15%;
6)点界面位置缺陷判别
令△t=t1-t2,当△t>0时,显示为绿色,表示该点界面位置结合情况良好;当△t<0,显示为红色,表示该点界面位置存在缺陷;
7)按照扫查路径扫查,记录对比试块和待测工件A扫查、B扫查、C扫查图像,利用扫查图像进行人工缺陷无损探伤判定。
在上述的一种适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法中:
还包括步骤8)检查对比试块C的扫查图像,确定φ1.5~φ2mm的平底孔人工缺陷是否被检出,即是否显示为红色,若显示为红色,证明可以正常检测待测工件;
步骤9)检查待检工件C的扫查图像是否有人工缺陷,即是否出现红色区域,若检测出人工缺陷,再检查回波是否正常,是否存在回波相位相反的现象,排除干扰波的影响,若无干扰波影响且存在回波相位相反的情况,则说明此红色区域界面存在缺陷或者没有结合。
在上述的一种适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法中:所述的步骤2)探头的频率5~10MHz,晶片数位64~128,晶片宽度0.4~0.45mm,晶片间距0.03~0.05mm,聚焦方式为线聚焦。
本发明的显著效果如下:
通过铍-铜铬锆连接界面超声回波的相位变化来判断该界面的结合情况,即有缺陷的界面回波与正常结合界面回波的相位是相反的,利用该方法检测铍-铜铬锆连接界面的缺陷可很大程度降低边缘效应的影响,并提高微小缺陷的检测灵敏度,因为边缘效应及微小缺陷不容易检测的原因都是回波能量较低,而相位变化受回波能量的影响较小。
附图说明
图1为门限示意图;
具体实施方式
下面通过附图及具体实施方式对本发明作进一步说明。
铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面反射波的幅值有可能与微小缺陷反射波的幅值相当,但两侧材料声阻关系的变化,可以引起脉冲相位的变化,这是经过对比试块人工缺陷反复验证的出的结论,可利用此物理现象来检测缺陷的存在。
假设声波从介质一(声阻抗Z1)传播入介质二(声阻抗Z2),如果Z1<Z2,界面反射波相位与入射波一致,如果Z1>Z2界面反射波则进行180°的相位变化。所以超声波从铍层入射到铜材质中,如果没有界面分层缺陷,界面反射波相位与铍表面反射波一致;如果有分层缺陷,缺陷声阻接近于零,界面反射波将与铍表面反射波相位相反。
所以可以通过检测界面回波的相位变化来判断铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面是否有缺陷存在,为了达到此目的,采用了下述办法。
(1)将具有铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面待检工件和对比试块放置在检测水槽中;
对比试块为带人工平底孔缺陷的模块,该模块的材料、厚度、焊接及加工工艺与待检工件一致,带有平底孔的底面位于铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面,尺寸为φ1.5~2mm。
(2)连接相控阵探头,配置探头参数
使用探头为长方形相控阵水浸探头,尺寸63.95*8mm。
频率5~10MHz,晶片数位64~128,晶片宽度0.4~0.45mm,晶片间距0.03~0.05mm,聚焦方式为线聚焦;
调整探头位置,使探头到对比试块及工件表面的距离为20~22mm,模块铍层的厚度为6~8mm,探头聚焦点刚好位于铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面上。
(3)调节探头角度,使对比试块、待检工件表面回波最高(即超声波入射方向与工件表面垂直);
(4)设置探伤仪的扫查参数
采样频率80~100MHz,脉冲宽度45~50ns,增益29.9~32db+∑2~3db。
(5)在界面回波区域正半轴和负半轴分别添加一个检测门限gate1和gate2,分别记录所检测到第一个回波信号的时间延迟t1和t2,gate1和gate2的起始位置位于表面回波之后,并与表面波保持固定间距随动,使之gate1和gate2不受表面回波干扰;gate1和gate2的幅值为满屏的10%~15%。
图1是本发明相位检测门限设置示意图。
(6)△t=t1-t2,当△t>0时,显示为绿色,表示该点界面位置结合情况良好;当△t<0,显示为红色,表示该点界面位置存在缺陷。
(7)编辑探头扫查路径,属于现有技术;
(8)自动扫查,记录对比试块和待测工件A扫查、B扫查、C扫查图像;
三个扫查图像结果为单次扫查同时记录,路径一致并相互关联。
(9)检查对比试块C扫查图像,φ1.5~φ2mm的平底孔人工缺陷是否被检出,即是否显示为红色,若显示为红色,证明可以正常检测。
10)再检查待检工件C扫查图像是否有人工缺陷,即出现红色区域,若检测出人工缺陷,检查回波是否正常,是否存在回波相位相反的现象,排除干扰波的影响,若无干扰波影响且存在回波相位相反的情况,则说明此红色区域界面存在缺陷或者没有结合。

Claims (3)

1.一种适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
1)待检工件和对比试块放置在检测水槽中;
对比试块底部加工平底孔,尺寸为φ1.5~2mm,底面位于铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面;
2)配置探头,使探头到对比试块和工件表面的距离均为20~22mm,探头聚焦点位于铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面上;
3)调节探头角度,超声波入射方向与工件表面垂直;
4)设置探伤仪的扫查参数;
采样频率80~100MHz,脉冲宽度45~50ns,增益29.9~32db+∑2~3db;
5)在界面回波区域正半轴和负半轴分别添加一个检测门限gate1和gate2,别记录正半轴和负半轴所检测到第一个回波信号的时间延迟t1和t2,gate1和gate2的幅值为满屏的10%~15%;
6)点界面位置缺陷判别
令△t=t1-t2,当△t>0时,显示为绿色,表示该点界面位置结合情况良好;当△t<0,显示为红色,表示该点界面位置存在缺陷;
7)按照扫查路径扫查,记录对比试块和待测工件A扫查、B扫查、C扫查图像,利用扫查图像进行人工缺陷无损探伤判定。
2.如权利要求1所述的适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法,其特征在于:
还包括步骤8)检查对比试块C的扫查图像,确定φ1.5~φ2mm的平底孔人工缺陷是否被检出,即是否显示为红色,若显示为红色,证明可以正常检测待测工件;
步骤9)检查待检工件C的扫查图像是否有人工缺陷,即是否出现红色区域,若检测出人工缺陷,再检查回波是否正常,是否存在回波相位相反的现象,排除干扰波的影响,若无干扰波影响且存在回波相位相反的情况,则说明此红色区域界面存在缺陷或者没有结合。
3.如权利要求1所述的适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法,其特征在于:所述的步骤2)探头的频率5~10MHz,晶片数位64~128,晶片宽度0.4~0.45mm,晶片间距0.03~0.05mm,聚焦方式为线聚焦。
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