CN108052423A - 服务器的测试方法与装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种服务器的测试方法，包括下列步骤。建立PCIE装置的预设装置标识符和预设传输速度。对PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试，以取得测试装置识别符和测试传输速度。将预设装置识别符与测试识别符比对。当预设装置识别符与测试识别符不相同时，产生第一错误检测结果。当预设装置识别符与测试识别符相同时，将预设传输速度与测试传输速度比对，以产生测试结果。通过本发明，以解决现有技术存在的无法有效地检测出PCIE装置是否存在其他缺陷的问题。

Description

服务器的测试方法与装置
技术领域
本发明涉及服务器测试的技术领域，尤其涉及一种服务器的测试方法与装置。
背景技术
一般来说，在PCIE装置在制作完成后，会对PCIE进行测试，以便确认PCIE装置是否有异常状态。对于检测PCIE装置的现行做法来说，只是单独的用供货商提供的工具或者linux系统自带的工具，检测PCIE装置在循环测试中是否存在，盘符及位置顺序是否有改变。
然而，仅检测PCIE的盘符和位置顺序，这样的检测方式过于简单，无法有效地检测出PCIE装置是否存在其他缺陷，如此将会降低出货质量且会造成终端用户使用异常而降低用户的体验观感。因此，对PCIE装置进行检测仍有改善的空间。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种服务器的测试方法与装置，以解决现有技术存在的无法有效地检测出PCIE装置是否存在其他缺陷的问题。
为解决上述问题，本发明实施例提供一种服务器的测试方法，包括下列步骤。建立PCIE装置的预设装置标识符和预设传输速度。对PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试，以取得测试装置识别符和测试传输速度。将预设装置识别符与测试识别符比对。当预设装置识别符与测试识别符不相同时，产生第一错误检测结果。当预设装置识别符与测试识别符相同时，将预设传输速度与测试传输速度比对，以产生测试结果。
在一实施例中，将预设传输速度与测试传输速度比对，以产生测试结果的步骤包括下列步骤。当预设传输速度与测试传输速度不相同时，产生第二错误检测结果。当预设装置识别符与测试识别符相同时，产生成功检测结果。
在一实施例中，所述上电测试包括直流测试、交流测试或直流和交流测试。
在一实施例中，对所述PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试还包括对PCIE装置进行一预设次数的重新启动测试及上电循环测试。
在一实施例中，所述PCIE装置包括SATA硬盘、SAS硬盘、显示卡。
本发明实施例还提供一种服务器的测试装置，包括建立单元、检测单元与比对单元。建立单元建立PCIE装置的预设装置标识符和预设传输速度。检测单元耦接PCIE装置，对PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试，以取得测试装置识别符和测试传输速度。比对单元耦接建立单元与检测单元，接收预设装置标识符、预设传输速度、测试装置识别符和测试传输速度，并将预设装置识别符与测试识别符比对，当预设装置识别符与测试识别符不相同时，产生第一错误检测结果，以及当预设装置识别符与测试识别符相同时，将预设传输速度与测试传输速度比对，以产生测试结果。
在一实施例中，当预设传输速度与测试传输速度不相同，单元产生第二错误检测结果；当预设装置识别符与测试识别符相同时，比对单元产生成功检测结果。
在一实施例中，所述上电测试包括直流测试、交流测试或直流和交流测试。
在一实施例中，所述检测单元对PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试还包括对PCIE装置进行一预设次数的重新启动测试及上电循环测试。
在一实施例中，所述PCIE装置包括SATA硬盘、SAS硬盘、显示卡。
根据本发明的技术方案，通过建立单元建立PCIE装置的预设装置标识符和预设传输速度，并通过检测单元对PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试，以取得测试装置识别符和测试传输速度，再通过比对单元将预设装置识别符与测试识别符比对以及将预设传输速度与测试传输速度比对，以产生检测结果。如此一来，用户便可通过比对单元所产生的检测结果，快速地得知PCIE装置的状态，即PCIE装置本身的识别符和传输速度是否符合规范或是有缺陷产生，并进行相应的处理，以提高产品的出货质量、减少人力成本的浪费并增加使用上的便利性。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1是根据本发明实施例的服务器的测试装置的结构框图。
图2是根据本发明实施例的服务器的测试方法的流程图。
图3是根据本发明实施例的服务器的测试发法的另一流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合附图及具体实施例，对本发明作进一步地详细说明。
图1是根据本发明实施例的服务器的测试装置的结构框图。服务器的测试装置100包括建立单元110、检测单元120与比对单元130。
建立单元110建立PCIE装置150的预设装置标识符和预设传输速度。在本实施例中，建立单元110例如为用户接口，使得用户可根据PCIE装置150的规范，并通过建立单元110将PCIE装置150相关的识别符和传输速度输入，以建立PCIE装置150的预设装置标识符和预设传输速度，并做为测试的依据。其中，PCIE装置150例如包括包括SATA硬盘、SAS硬盘、显示卡。
检测单元120耦接PCIE装置150，对PCIE装置150进行重新启动(reboot)测试及上电循环测试，以取得测试装置识别符和测试传输速度。在本实施例中，所述上电测试包括直流测试、交流测试或直流和交流测试。也就是说，检测单元120通过对PCIE装置150进行重新启动以及以直流、交流或同时以直流和交流对PCIE进行测试，以取得PCIE实际的装置识别符和传输速度作为测试装置识别符和测试传输速度，进而作为后续操作的依据。
进一步来说，检测单元120对PCIE装置150进行重新启动测试及上电循环测试还包括对PCIE装置150进行一预设次数的重新启动测试及上电循环测试。举例来说，假设预设次数为10次，则检测单元120会对对PCIE装置150进行10次的重新启动测试及上电循环测试，以取得10笔的试装置识别符和测试传输速度；假设预设次数为100次，则检测单元120会对对PCIE装置150进行100次的重新启动测试及上电循环测试，以取得100笔的试装置识别符和测试传输速度，以便进行后续比对的操作。在本实施例中，所述预设次数可依用户视其需求自行调整。
比对单元130耦接建立单元110与检测单元120，接收预设装置标识符、预设传输速度、测试装置识别符和测试传输速度。接着，比对单元130将预设装置识别符与测试识别符比对，以判断预设装置识别符与测试识别符比对是否相同。
当判断出预设装置识别符与测试识别符不相同时，比对单元130产生第一错误检测结果。当判断出预设装置识别符与测试识别符相同时，比对单元130将预设传输速度与测试传输速度比对，以产生测试结果，也就是判断预设传输速度与测试传输速度是否相同。
进一步来说，当预设传输速度与测试传输速度不相同，比对单元130产生第二错误检测结果。当预设装置识别符与测试识别符相同时，比对单元130产生成功检测结果。
如此一来，用户便可通过比对单元130所产生的检测结果，即第一错误检测结果(即测试识别符未通过检测)、第二错误检测结果(即测试传输速度未通过检测)与成功检测结果(即测试识别符和测试传输速度都通过检测)，而快速地得知PCIE装置150的状态，即PCIE装置150本身的识别符和传输速度是否符合规范或是有缺陷产生，并进行相应的处理，以提高产品的出货质量、减少人力成本的浪费并增加使用上的便利性。
藉由上述实施例的说明，可以归纳出一种服务器的测试方法。图2是根据本发明实施例的服务器的测试方法的流程图。
在步骤S202中，建立PCIE装置的预设装置标识符和预设传输速度。在步骤S204中，对PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试，以取得测试装置识别符和测试传输速度。在步骤S206中，将预设装置识别符与测试识别符比对。在步骤S208中，当预设装置识别符与测试识别符不相同时，产生第一错误检测结果。在步骤S210中，当预设装置识别符与测试识别符相同时，将预设传输速度与测试传输速度比对，以产生测试结果。
在本实施例中，所述上电测试包括直流测试、交流测试或直流和交流测试。另外，对所述PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试还包括对PCIE装置进行一预设次数的重新启动测试及上电循环测试。此外，所述PCIE装置包括SATA硬盘、SAS硬盘、显示卡。
图3是根据本发明实施例的服务器的测试发法的另一流程图。在步骤S202中，建立PCIE装置的预设装置标识符和预设传输速度。在步骤S204中，对PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试，以取得测试装置识别符和测试传输速度。在步骤S206中，将预设装置识别符与测试识别符比对。在步骤S208中，当预设装置识别符与测试识别符不相同时，产生第一错误检测结果。在步骤S210中，当预设装置识别符与测试识别符相同时，将预设传输速度与测试传输速度比对，以产生测试结果。在步骤S302中，当预设传输速度与测试传输速度不相同时，产生第二错误检测结果。在步骤S304中，当预设装置识别符与测试识别符相同时，产生成功检测结果。
在本实施例中，所述上电测试包括直流测试、交流测试或直流和交流测试。另外，对所述PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试还包括对PCIE装置进行一预设次数的重新启动测试及上电循环测试。此外，所述PCIE装置包括SATA硬盘、SAS硬盘、显示卡。
综上所述，根据本发明的技术方案，通过建立单元建立PCIE装置的预设装置标识符和预设传输速度，并通过检测单元对PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试，以取得测试装置识别符和测试传输速度，再通过比对单元将预设装置识别符与测试识别符比对以及将预设传输速度与测试传输速度比对，以产生检测结果。如此一来，用户便可通过比对单元所产生的检测结果，快速地得知PCIE装置的状态，即PCIE装置本身的识别符和传输速度是否符合规范或是有缺陷产生，并进行相应的处理，以提高产品的出货质量、减少人力成本的浪费并增加使用上的便利性。
以上所述仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种服务器的测试方法，其特征在于，包括：
建立PCIE装置的预设装置标识符和预设传输速度；
对所述PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试，以取得测试装置识别符和测试传输速度；
将所述预设装置识别符与所述测试识别符比对；
当所述预设装置识别符与所述测试识别符不相同时，产生第一错误检测结果；
当所述预设装置识别符与所述测试识别符相同时，将所述预设传输速度与所述测试传输速度比对，以产生测试结果。
2.根据权利要求1所述的服务器的测试方法，其特征在于，将所述预设传输速度与所述测试传输速度比对，以产生测试结果的步骤包括：
当所述预设传输速度与所述测试传输速度不相同时，产生第二错误检测结果；
当所述预设装置识别符与所述测试识别符相同时，产生成功检测结果。
3.根据权利要求1所述的服务器的测试方法，其特征在于，所述上电测试包括直流测试、交流测试或直流和交流测试。
4.根据权利要求1所述的服务器的装置测试方法，其特征在于，所述对所述PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试还包括对PCIE装置进行一预设次数的重新启动测试及上电循环测试。
5.根据权利要求1所述的服务器的测试方法，其特征在于，所述PCIE装置包括SATA硬盘、SAS硬盘、显示卡。
6.一种服务器的测试装置，其特征在于，包括：
建立单元，建立PCIE装置的预设装置标识符和预设传输速度；
检测单元，耦接所述PCIE装置，对所述PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试，以取得测试装置识别符和测试传输速度；
比对单元，耦接所述建立单元与所述检测单元，接收所述预设装置标识符、所述预设传输速度、所述测试装置识别符和所述测试传输速度，并将所述预设装置识别符与所述测试识别符比对，当所述预设装置识别符与所述测试识别符不相同时，产生第一错误检测结果，以及当所述预设装置识别符与所述测试识别符相同时，将所述预设传输速度与所述测试传输速度比对，以产生测试结果。
7.根据权利要求6所述的服务器的测试装置，其特征在于，当所述预设传输速度与所述测试传输速度不相同，所述比对单元产生第二错误检测结果；当所述预设装置识别符与所述测试识别符相同时，所述比对单元产生成功检测结果。
8.根据权利要求6所述的服务器的测试装置，其特征在于，所述上电测试包括直流测试、交流测试或直流和交流测试。
9.根据权利要求6所述的服务器的测试装置，其特征在于，所述检测单元对所述PCIE装置进行重新启动测试及上电循环测试还包括对PCIE装置进行一预设次数的重新启动测试及上电循环测试。
10.根据权利要求6所述的服务器的测试装置，其特征在于，所述PCIE装置包括SATA硬盘、SAS硬盘、显示卡。
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