CN108021476B - 一种互联接口的测试方法、装置和计算设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种互联接口的测试方法，包括：第一测试装置从测试映射表中获取CC请求报文；根据内存地址确定第二测试装置，以及通过互联接口将CC请求报文发送到第二测试装置；通过互联接口接收第二测试装置根据CC请求报文返回的CC响应报文；根据测试映射表查询与CC请求报文关联的预期响应报文，当预期响应报文与CC响应报文匹配时，确定关联的第一处理器的互联接口测试通过。本发明实施例还公开了一种计算设备、测试装置和BIOS。采用本发明的计算方案能够在不启动操作系统的情况下，对互联接口进行测试，提升测试的完备性和降低处理器的处理开销。

Description

一种互联接口的测试方法、装置和计算设备

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种互联接口的测试方法、装置和计算设备。

背景技术

随着集成电路生产工艺的不断发展，处理器芯片的集成度越来越高，能够在片内集成多个处理器形成多处理器系统，通过专门设计的互联总线，使多个处理器之间实现点对点的通信，以提高处理器之间的传输速率。典型互联总线包括QPI(QuickPathInterconnect，快速通路互联)总线和HT(HyperTransprot，超传输)总线。

在目前的互联总线主要包括协议层、路由层、链路层和物理层。

协议层(Protocol Layer)主要用于根据缓存一致性协议维护多处理器系统中每个处理器的缓存一致性(Cache Coherency)，缓存一致性协议包括基于窥探Snooping协议或基于目录(Directory Based)协议，缓存一致性协议中定义各个处理器对不同类型的请求或侦听的处理方式，缓存一致性协议可以用协议表(Protocol Table)来表示，协议表可存放在处理器的寄存器中。

路由层(Routing Layer)的主要用于根据报文中目的节点的编号，将报文正确发送到目的节点，路由层通过可编程的路由表指定路由关系。

链路层(Link Layer)主要用于链路控制和差错控制。

物理层(Physical Layer)主要用于数据的串并转换、并串转换、数据编码和解码、数据加扰和解扰等。

为了保证多处理器系统工作的可靠性，需要对多处理器进行互联接口的测试，目前业界采用的测试方式通常在操作系统启动后，依次对互联接口的物理层和链路层进行测试，然而目前的测试方法存在的问题是：处理器在运行过程中进行测试，会导致处理器的负载过高，同时不能精确控制处理器的行为，从而无法覆盖所有的测试场景，不具备测试的完备性。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于，提供一种装置和计算设备。可在不启动操作系统的情况下，对互联接口进行测试，提升测试效率和完备性。

第一方面，本申请提供了一种计算设备，计算设备包括但不限于服务器、个人计算机、平板电脑、移动终端等。计算设备包括多处理器系统，多处理器系统包括至少两个处理器，至少两个处理器中不同的处理器之间通过互联接口相连，每个处理器内置有一个测试装置，每个测试装置与关联的处理器内部的器件之间通过片内互联总线相连，片内互联总线为处理器内部不同器件之间进行相互联接的总线，例如：处理器包括多个处理器核，多个处理器核通过片内互联总线连接，测试装置连接到片内互联总线上，不同的两个测试装置之间进行通信时需要通过关联的处理器的互联接口收发数据，片内互联总线的拓扑结构可以是环形、网格形或星形，本申请不作限制。至少两个处理器中的第一处理器包括第一测试装置，至少两个处理器中的第二处理器包括第二测试装置；例如：多处理器系统包括处理器1和处理器2，处理器1包括测试装置1，处理器2包括测试装置2，测试装置1为第一测试装置，测试装置2为第二测试装置。测试装置1配置有测试映射表，测试映射表用于存放缓存一致性(Cache Coherence，简称CC)请求报文和预期响应报文，CC请求报文的数量等于CC响应报文的数量，CC请求报文和预期响应报文的数量可以是一个或多个。例如：测试装置1的测试映射表中存放的CC请求报文a1和预期响应报文a2。

第一测试装置，用于从测试映射表中获取CC请求报文；根据CC请求报文携带内存地址确定与所述第一测试装置关联的互联接口相连的所述第二处理器的第二测试装置，以及通过互联接口向所述第二测试装置发送所述CC请求报文；通过互联接口接收所述第二测试装置根据CC请求报文返回的CC响应报文；根据测试映射表查询与所述CC请求报文关联的预期响应报文，当预期响应报文与所述CC响应报文匹配时，确定第一测试装置关联的第一处理器的所述互联接口测试通过。

第二测试装置用于，接收第一测试装置发送的CC请求报文，根据预设的CC协议生成CC响应报文，向第一测试装置返回CC响应报文。

需要说明的是，测试装置可以通过处理器核、逻辑电路、专用集成电路(英文：Application-Specific Integrated Circuit，缩写：ASIC)中的任意一种方式实现，也可以通过可编程逻辑器件(英文：Programmable Logic Device，缩写：PLD)实现。上述PLD可以是复杂可编程逻辑器件(英文：(Complex Programmable Logic Device，缩写：CPLD)，FPGA，通用阵列逻辑(英文：Generic Array Logic,缩写：GAL)或其任意组合。

上述实施例，通过处理器内的测试装置按照测试映射表向与被测互联接口相连的处理器所关联的其他测试装置发送CC请求报文，在接收到其他测试装置发送的CC响应报文后，比较CC响应报文和预期响应报文是否匹配来确定被测互联接口测试通过，与现有技术中单独测试链路层或路由层进行测试相比，本发明能够一次性完整的测试互联接口的协议层、路由层、链路层和物理层的功能，测试更完备。而且与现有技术中利用处理器完成互联接口测试相比，本发明提供的技术方案不需要处理器的参与，不占用处理器的计算资源，能减少处理器的处理开销。另一方面，本发明提供的技术方案利用BIOS控制测试装置单独上电，可以在处理器不上电的情况下，完成互联接口的测试过程，与现有技术相比，避免在处理器上电后发现互联接口测试不通过所导致的损失，进而提升了整个多处理器系统的测试效率和处理能力。

在本方面的一种可能的实施方式中，计算设备还包括：BIOS(Basic Input OutputSystem，基本输入输出系统，简称BIOS)，BIOS在上电启动后，判断是否满足预设的测试触发条件，例如：测试触发条件可以是预设的测试标志位的值为1，BIOS读取存储器中存储的测试标志位，当测试标志位为1时，指示每个测试装置进行上电启动并进入测试模式。然后，BIOS为每个测试装置配置各自对应的测试映射表，配置过程包括为至少两个处理器的测试装置中的第一测试装置配置测试映射表，测试映射表中存放有具有关联关系的CC请求报文和预期响应报文。测试模式用于指示测试装置可根据关联的测试映射表进行互联接口的测试。另外，BIOS还需要控制每个处理器保持关闭状态，测试模式下，每个处理器都没有上电。BIOS控制测试装置单独上电的方法可以是：主板上的电源模块可以通过开关每个器件上电或断电，BIOS可以通过电源模块控制每个器件的电源开关对器件进行上电或断电。上述实施例，在操作系统启动之前，BIOS也可以利用主板上的电源模块控制测试装置上电和断电，在测试装置测试互联接口的过程中处理器不需要上电，仅使用处理器的测试装置来测试互联接口，能够有效的节省电量。

在本方面的一种可能的实施方式中，每个测试装置均都作为第一测试装置对关联的互联接口按照本实施例的方法进行测试，每个测试装置对关联的互联接口测试进行测试后，向BIOS上报测试结果，BIOS由此获知每个测试装置关联的互联接口的测试结果，BIOS还用于在每个处理器的互联接口都测试通过的情况下，指示每个测试装置进入监控模式，以及指示每个处理器进行上电启动，处理器上电启动后，处理器上电运行在正常状态；BIOS在至少两个处理器上启动和运行操作系统。其中，在监控模式下，每个测试装置记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态。处理器的错误信息包括但不限于：溢出错误、浮点错误、除零错误、断点错误等。处理器链路表示处理器与处理器之间的通信链路，测试装置可测试关联的处理器链路的链路状态，检测处理器链路是否正常。上述实施例，在操作系统启动和运行之后，测试装置可监控处理器和处理器链路的运行状态，充分利用测试装置的处理能力，能查找出处理器发生故障的原因以及发生故障的处理器的链路，便于快速的对计算设备的故障进行定位和排除。

在本方面的一种可能的实施方式中，测试装置用于从测试映射表中获取CC请求报文，CC请求报文携带内存地址，CC请求报文可以是读请求报文或写请求报文。第一测试装置将测试映射表中的测试报文依次发送给至少处理器的测试装置中除第一测试装置的所有测试装置，第一测试装置接收到所有测试装置发送的响应报文，当所有测试装置发送的响应报文均与测试映射表中预期响应报文相匹配时，确定第一测试装置关联的第一处理器的互联接口测试通过。上述实施例，处理器在不上电的情况下，通过测试装置向其他测试装置发送CC请求报文，比较接收到的CC响应报文和预期响应报文是否匹配来测试处理器的互联接口，能一次性完整的测试互联接口的协议层、路由层、链路层和物理层的功能，提升测试效率，同时测试装置能根据需求发送各种类型的报文，覆盖的测试场景更完备。与现有技术相比，采用内置的处理器中的测试装置完成互联接口的测试过程，不占用处理器的计算资源，能减少处理器的处理开销。

在本方面的一种可能的实施方式中，至少两个处理器中每个处理器分别设置有缓存，缓存的层数可以是1层、2层或3层，至少两个处理器共同拥有一个内存，内存的总地址区间根据处理器系统中处理器的数量划分为多个地址区间，每个处理器分配有1个地址区间，至少两个处理器各自分配的地址区间不相同且不相互重合。第一测试装置可根据内存地址所在的内存地址区间确定第二处理器，第二处理器关联的测试装置为第二测试装置，第一测试装置通过互联接口将CC请求报文发送给第二测试装置。上述实施例，第一测试装置根据内存地址能快速和准确的确定CC请求报文发送的目标测试装置。

综上所述，通过上述内容的描述，本发明提供的技术方案可以利用测试装置在处理器不上电的情况下完成互联接口的测试，解决了现有技术中处理器在运行过程中进行测试所导致的处理器负载过高的问题。进一步地，与现有技术中单独测试链路层或路由层进行测试相比，本发明能够一次性完整的测试互联接口的协议层、路由层、链路层和物理层的功能，测试更完备。另一方面，BIOS可以控制测试装置的上电过程和模式切换，测试装置可以利用不同模式对处理器关联的互联接口进行测试，同时通过不同模式切换记录处理器的错误信息和处理器链路的链路状态，提升整个多处理器系统的工作效率。

第二方面，本申请提供了一种互联接口的测试方法，测试方法应用于多处理器系统，多处理器系统包括至少两个处理器，至少两个处理器中不同的处理器通过互联接口连接，每个处理器内置有一个测试装置，每个测试装置与关联的处理器包括的器件之间通过片内互联总线相连，片内互联总线为处理器内部不同器件之间进行相互联接的总线，不同的测试装置通过片内互联总线与处理器的处理器核连接，片内互联总线的拓扑结构可以是环形、网格形或星形，本申请不作限制。至少两个处理器中的第一处理器包括第一测试装置，至少两个处理器中的第二处理器包括第二测试装置，任意两个测试装置进行通信时需要通过关联的处理器的互联接口收发数据。

第一测试装置从测试映射表中获取CC请求报文；

第一测试装置根据CC请求报文携带的内存地址确定与第一测试装置关联的互联接口相连的第二处理器的第二测试装置，以及通过互联接口将CC请求报文发送到第二测试装置；

第一测试装置通过互联接口接收第二测试装置根据CC请求报文返回的CC响应报文；

第一测试装置根据测试映射表查询与CC请求报文关联的预期响应报文，当预期响应报文与CC响应报文匹配时，确定关联的第一处理器的互联接口测试通过。

上述实施例，测试装置通过向其他测试装置发送CC请求报文，比较接收到的CC响应报文和预期响应报文是否匹配来测试处理器的互联接口，能一次性完整的测试互联接口的协议层、路由层、链路层和物理层的功能，提升测试效率，同时测试装置能根据需求发送各种类型的报文，覆盖的测试场景更完备。另外采用内置的处理器中的测试装置完成互联接口的测试过程，不占用处理器的计算资源，能减少处理器的处理开销，解决了现有技术中处理器在运行过程中进行测试所导致的处理器负载过高的问题。

在本方面的一种可能的实施方式中，BIOS上电后，BIOS在确定需要对多处理器系统的互联接口进行测试的情况下，BIOS向第一测试装置发送测试指示消息；例如：BIOS在上电启动后默认需要进行互联接口的测试，或接收到测试请求后确定需要进行互联接口的测试，第一测试装置接收BIOS发送的测试指示消息，进行上电启动并进入测试模式，每个测试装置中预先配置有CC协议，CC协议可以协议表的形式存储在测试装置的存储器中，CC协议用于维护至少两个处理器中每个处理器的缓存一致性。BIOS控制至少两个处理器中每个处理器保持关闭状态，即每个处理器没有上电启动BIOS控制测试装置单独上电的方法可以是：主板上的电源模块可以通过开关每个器件上电或断电，BIOS可以通过电源模块控制每个器件的电源开关对器件进行上电或断电。BIOS还需要为每个测试装置配置各自的测试映射表，测试映射表存放CC请求报文和预期响应报文，CC请求报文和预期响应报文的数量相等，CC请求报文和预期响应报文的数量可以是一个或多个。上述实施例，在操作系统启动之前，处理器不需要进行上电启动，仅使用处理器的测试装置来测试互联接口，能够有效的节省电量。

在本方面的一种可能的实施方式中，每个测试装置均都作为第一测试装置对关联的互联接口按照本实施例的方法进行测试，每个测试装置对关联的互联接口测试进行测试后，向BIOS上报测试结果，BIOS由此获知每个测试装置关联的互联接口的测试结果，BIOS在确定每个处理器的互联接口的测试都通过的情况下，BIOS向每个测试装置发送监控指示消息，第一测试装置接收监控指示消息切换到监控模式，在监控模式下，测试装置用于监控处理器和处理器链路的运行状态，在处理器发生异常时，记录的处理器的错误信息，在操作系统崩溃时，第一测试装置检测关联的处理器链路的链路状态，查找出异常的处理器链路。上述实施例，在操作系统启动和运行之后，测试装置可监控处理器和处理器链路的运行状态，可充分利用测试装置的处理能力，便于快速对故障进行快速定位和排除。

在本方面的一种可能的实施方式中，至少两个处理器的测试装置中除第一测试装置称为所有测试装置，第一测试装置配置有测试映射表，测试映射表用于存放CC请求报文和预期响应报文。互联接口的测试方法包括：在测试模式下，第一测试装置从测试映射表中获取CC请求报文，CC请求报文的报文类型包括但不限于读请求报文和写请求报文，CC请求报文中携带内存地址；第一测试装置根据内存地址所在的地址区间确定CC请求报文需要发送的测试装置，第一测试装置将测试映射表中的CC请求报文依次发送给所有测试装置。以所有测试装置中的某个测试装置来说明接收CC请求报文的过程：该测试装置通过互联接口接收CC请求报文，根据预先存储的CC协议生成CC响应报文，该测试装置根据CC协议执行后续的处理过程，该测试装置可根据内存地址关联的缓存数据是否命中，以及缓存数据的存储位置和状态，具体可参照CC协议的规定，该测试装置生成CC响应报文，该测试装置通过互联接口向第一测试装置返回CC响应报文。第一测试装置通过互联接口接收所述测试装置返回的CC响应报文，当所述所有测试装置发送的响应报文均与所述测试映射表中预期响应报文相匹配时，确定所述第一测试装置关联的处理器的互联接口测试通过，其中，匹配的方法可以是匹配预期响应报文和CC响应报文中的指定字段，在二者指定字段相同的情况下，确定二者相匹配，指定字段包括但不限于：访问顺序信息、访问次数信息和响应。需要说明的是，第一测试装置的测试映射表中的CC请求报文的的数量需要大于或等于所有测试装置的数量，且保证在测试过程中所有测试装置中每个测试装置都能接收至少一个CC请求报文。第一测试装置在发送CC请求报文时，需要按照预设的顺序每次从测试映射表中获取一个CC请求报文，第一测试装置可以根据预设的时间间隔发送依次发送CC请求报文，或者，第一测试装置在接收到当前的CC请求报文返回的CC响应报文之后，再发送下一个CC请求报文。

上述实施例，测试装置通过互联接口向其他测试装置发送CC请求报文，比较接收到的CC响应报文和预期响应报文是否匹配来测试处理器的互联接口，能一次性完整的测试互联接口的协议层、路由层、链路层和物理层的功能，提升测试效率，同时测试装置能根据需求发送各种类型的报文，覆盖的测试场景更完备。另外采用内置的处理器中的测试装置完成互联接口的测试过程，不占用处理器的计算资源，能减少处理器的处理开销。

在本方面的一种可能的实施方式中，CC响应报文的字段包括访问顺序信息、访问次数信息和响应数据，访问顺序信息表示一次CC请求到CC响应的过程中访问处理器的顺序，访问次数信息表示一次CC请求到CC响应的过程中内存地址指示的数据的访问次数，访问包括读操作或写操作；响应数据表示根据内存地址最终得到的数据。预期响应报文也包括访问顺序信息、访问次数信息和响应数据，BIOS将CC响应报文和预期响应报文中的上述3个字段进行比较，若包括上述3个字段的所有字段均相同，则确定CC响应报文和预期响应报文相匹配，第一测试装置关联的第一处理器的互联接口测试通过。上述实施例，测试装置通过对测试装置的访问顺序、访问次数信息和数据判断测试是否通过，能够快速和准确的验证CC协议是否正确，测试过程不需要处理器的参与，解决了现有技术中处理器在运行过程中测试互联接口所导致的负载过高问题。

第三方面，本申请提供了一种配置方法，配置方法适用于计算设备，计算设备包括多处理器系统和BIOS，多处理器系统包括至少两个处理器，每个处理器包括1个测试装置，每个测试装置与关联的处理器之间通过片内互联总线相连，片内互联总线为处理器内部不同器件之间进行相互联接的总线，例如：处理器包括多个处理器核，多个处理器核通过片内互联总线连接，片内互联总线的拓扑结构可以是环形、网格形或星形，本申请不作限制。不同处理器之间通过互联接口相连，任意两个测试装置需要通过关联的处理器的互联接口进行通信，至少两个处理器与至少两个测试装置呈一一映射关系，每个处理器包括至少一个处理器核；方法包括：BIOS进行上电启动；BIOS判断是否满足预设的测试触发条件，若为是，BIOS指示每个测试装置进行上电启动并进入测试模式；BIOS为每个测试装置配置测试映射表；其中，在测试模式下，每个测试装置根据测试映射表测试关联的处理器的互联接口；BIOS控制每个处理器保持关闭状态。上述实施例，在操作系统启动之前，BIOS指示处理器不需要进行上电启动，仅使用处理器的测试装置来测试互联接口，能够有效的节省电量。

在本方面的一种可能的实施方式中，互联接口的测试方法还包括：每个测试装置均都作为第一测试装置对关联的互联接口按照本实施例的方法进行测试，每个测试装置对关联的互联接口测试进行测试后，向BIOS上报测试结果，BIOS由此获知每个测试装置关联的互联接口的测试结果，BIOS在每个处理器的互联接口都测试通过的情况下，BIOS指示每个测试装置进入监控模式；其中，在监控模式下，每个测试装置用于记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态；BIOS指示每个处理器进行上电启动；BIOS在至少两个处理器上启动和运行操作系统。上述实施例，在操作系统启动和运行之后，测试装置可监控处理器和处理器链路的运行状态，可充分利用测试装置的处理能力，便于快速对故障进行快速定位和排除。

第四方面，本申请提供一种互联接口的测试装置，测试装置为第一测试装置，在多处理器系统中包括至少两个处理器，每个处理器内置有1个测试装置，每个测试装置与关联的处理器中的器件之间通过片内互联总线相连，片内互联总线为处理器内部不同器件之间进行相互联接的总线，例如：处理器包括多个处理器核，多个处理器核通过片内互联总线连接，测试装置通过片内互联总线与多个处理器核进行连接，片内互联总线的拓扑结构可以是环形、网格形或星形，本申请不作限制。任意两个测试装置需要通过关联的处理器的互联接口进行通信；至少两个测试装置的第一处理器包括第一测试装置，至少两个测试装置的第二处理器包括第二测试装置；第一测试装置配置有测试映射表，测试映射表用于存放CC请求报文和预期响应报文，测试装置包括：

生成单元，用于从测试映射表中获取CC请求报文；

发送单元，用于根据CC请求报文携带的内存地址确定与第一测试装置关联的互联接口相连的第二处理器的第二测试装置，以及通过互联接口向第二测试装置发送CC请求报文；

接收单元，用于通过互联接口接收第二测试装置根据CC请求报文返回的CC响应报文；

比较单元，用于预期响应报文与CC响应报文匹配时，确定第一测试装置关联的第一处理器的互联接口测试通过。

上述实施例，测试装置通过向其他测试装置发送CC请求报文，比较接收到的CC响应报文和预期响应报文是否匹配来测试处理器的互联接口，能一次性完整的测试互联接口的协议层、路由层、链路层和物理层的功能，提升测试效率，同时测试装置能根据需求发送各种类型的报文，覆盖的测试场景更完备，另外采用内置的处理器中的测试装置完成互联接口的测试过程，不占用处理器的计算资源，能减少处理器的处理开销。

在本方面的一种可能的实施方式中，还包括：

第一切换单元，用于接收BIOS发送的测试指示消息，根据测试指示消息进行上电启动后进入测试模式，测试模式用于指示测试装置对互联接口进行测试。

在本方面的一种可能的实施方式中，还包括：

第二切换单元，用于接收BIOS发送监控指示消息，根据监控指示消息切换到监控模式；

监控单元，用于根据监控模式的指示记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态。

在本方面的一种可能的实施方式中，比较单元用于：

接收到至少两个处理器的除第一测试装置之外的所有测试装置发送的响应报文，当所有测试装置发送的响应报文均与测试映射表中预期响应报文相匹配时，确定第一测试装置关联的处理器的互联接口测试通过。

在本方面的一种可能的实施方式中，发送单元用于：

根据内存地址确定内存地址关联的第二处理器；

根据第二处理器确定所述目标处理器关联的第二测试装置。

第五方面，本申请提供了一种BIOS，计算设备包括多处理器系统和BIOS，多处理器系统包括至少两个处理器，每个处理器内置有1个测试装置，至少两个处理器的不同处理器指令通过互联总线连接，每个测试装置与关联的处理器中的器件之间通过片内互联总线相连，片内互联总线为处理器内部不同器件之间进行相互联接的总线，例如：处理器包括多个处理器核，多个处理器核通过片内互联总线连接，测试装置通过片内互联总线与处理器核连接，片内互联总线的拓扑结构可以是环形、网格形或星形，本申请不作限制。BIOS包括：

启动单元，用于进行上电启动；

判断单元，用于判断是否满足预设的测试触发条件；

第一测试单元，若判断单元的判断结果为是，指示每个测试装置进行上电启动并进入测试模式；

配置单元，用于为每个测试装置预置测试映射表；其中，在测试模式下，每个测试装置根据测试映射表测试关联的处理器的互联接口；

控制单元，用于控制每个处理器的处理器核保持关闭状态。

上述实施例，在操作系统启动之前，BIOS指示处理器不需要进行上电启动，仅使用处理器的测试装置来测试互联接口，能够有效的节省电量。

在本方面的一种可能的实施方式中，BIOS还包括：

第二指示单元，用于在每个处理器的互联接口都测试通过的情况下，指示每个测试装置进入监控模式；其中，在监控模式下，每个测试装置用于记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态；

上电单元，用于指示每个处理器进行上电启动；

运行单元，用于在至少两个处理器上启动和运行操作系统。

上述实施例，在操作系统启动和运行之后，BIOS指示测试装置监控处理器和处理器链路的运行状态，充分利用测试装置的处理能力，便于快速对故障进行快速定位和排除。

第六方面，提供一种本发明提供了一种计算设备，包括处理器、存储器、通信接口、总线，所述处理器、存储器和通信接口之间通过总线连接并完成相互间的通信，所述存储器中用于存储计算机执行指令，所述计算设备运行时，所述处理器执行所述存储器中的计算机执行指令以利用所述计算设备中的硬件资源执行第二方面或第二方面任一种可能实现方式中测试装置所执行的操作，以及第三方面或第三方面任一种可能实现方式中BIOS所执行的操作。

第七方面，提供了一种计算机可读介质，用于存储计算机程序，该计算机程序包括用于执行第二方面或第二方面任一种可能实现方式中的方法的指令，及第三方面或第三方面任一种可能实现方式中的方法的指令。

本申请在上述各方面提供的实现方式的基础上，还可以进行进一步组合以提供更多实现方式。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种计算设备的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种计算设备的另一结构示意图；

图3是本发明实施例提供的一种互联接口的测试方法的流程示意图；

图4是本发明实施例提供的一种配置方法的流程示意图；

图5是本发明实施例提供的一种测试装置的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的一种测试装置的另一结构示意图；

图7是本发明实施例提供的一种测试装置的另一结构示意图；

图8是本发明实施例提供的一种BIOS的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1，为本发明实施例提供的一种计算设备的结构示意图，在本发明实施例中，以2个处理器和2个测试装置为例对计算设备1的结构进行说明，计算设备1包括基本输入输出系统(Basic Input OutPut System,BIOS)11、多处理器系统、互联总线16、缓存14、缓存15和内存17，多处理器系统包括处理器12、测试装置121、处理器13和测试装置131，处理器12包括互联接口122和至少一个处理器核，处理器12内包括1个测试装置，测试装置121通过片内互联总线与处理器12的处理器核连接；处理器13包括互联接口132和至少一个处理器核，处理器13内置有测试装置131，测试装置131通过片内互联总线与处理器13的处理器核连接，例如：片内互联总线可以如Intel的环形拓扑结构。处理器12和处理器13通过各自的互联接口进行点对点的通信，测试装置122需要通过互联接口122和互联接口132与测试装置131通信；处理器12和处理器13之间的处理器链路称为互联总线16，互联总线16表示多处理器系统中所有的处理器链路的集合。处理器12配置有缓存14，处理器14配置有缓存15，缓存14和缓存15的层数，缓存的层数可以是1层、2层或3层，图1以1层缓存作为示例；处理器12通过缓存14与内存17连接，处理器13通过缓存15与内存17连接。内存的总地址区间划分为2个地址区间，处理器12和处理器13分配有1个地址区间，处理器12和处理器13的地址区间不同且不相互重合。测试装置121和测试装置131存储有BIOS 11预先配置有测试映射表，测试映射表中存放CC请求报文和预期响应报文。多处理器系统包括处理器12和处理器13，处理器12和处理器13互为源测试装置和目标测试装置。

以下以互联接口122为被测互联接口为例进行进一步介绍，假设测试装置121为第一测试装置，测试装置131为第二测试装置，计算设备1的工作过程为：测试装置121从测试映射表中获取CC请求报文，CC请求报文的类型包括但不限于读请求报文和写请求报文，CC请求报文中携带内存地址，内存地址位于处理器13的地址区间内，处理器13关联测试装置131，测试装置121根据内存地址所在的地址区间确定第二测试装置为测试装置131，测试装置121通过互联接口122将CC请求报文发送到测试装置131，测试装置131根据预设的CC协议生成CC响应报文，CC协议包括但不限于基于窥探(Snoop)的CC协议和基于目录的CC协议，基于目录的CC协议可以是MESI协议及衍生协议。测试装置121通过互联接口122接收测试装置131返回的CC响应报文，从测试映射表中查询CC请求报文关联的期望报文响应，比较接收到CC响应报文和预期响应报文是否匹配，若为是，则测试装置121确定关联的处理器12的互联接口122测试通过。可以理解的是，测试装置12的测试映射表中的CC请求报文的数量也可以是多个，多个CC请求报文的均需要发送给测试装置131，则测试装置根据预设的顺序每次从测试映射表中选择1个CC请求报文发送给测试装置131，测试装置121接收到测试装置131返回的所有的CC响应报文后，比较预期响应报文和CC响应报文是否匹配，在匹配的情况下，测试装置确定处理器12的互联接口122测试通过。

其中，若互联接口132为被测互联接口，则测试装置131作为第一测试装置，测试装置121作为第二测试装置时，测试装置测试关联的处理器13的互联接口132的方法可参照上面的描述，此处不再赘述。对于图1所示计算设备1，在互联接口122和互联接口132均测试通过的情况下，计算设备1的互联接口测试才通过。

在测试装置121和测试装置131对关联的处理器进行互联接口的测试之前，BIOS11还需要对测试装置12和测试装置13进行相关的配置，配置过程包括：

BIOS 11在上电启动后，判断是否满足预设的测试触发条件，例如测试触发条件为状态标志位的值为指定数值，或接收到测试触发指令；BIOS 11确定在满足预设的测试触发条件时，指示测试装置121和测试装置131进入测试模式，分别为测试装置121和测试装置131配置各自的测试映射表，BIOS 11控制处理器12和处理器13保持关闭状态，以有效的节省电量。

其中，测试装置121和测试装置131均作为第一测试装置按照本实施例的测试方法对测试装置131对关联的互联接口进行测试，在测试装置121和测试装置131分别作为第一测试装置完成互联接口的测试后，向BIOS上报测试结果，BIOS 11确定处理器12和处理器13的互联接口都测试通过的情况下，BIOS 11指示测试装置121和测试装置131进入监控模式，以及指示处理器12和处理器13进行上电启动，在处理器12和处理器13上启动和运行操作系统。在监控模式下，测试装置121监控处理器12在运行过程中的错误信息，以及检测处理器12和处理器13之间的处理器链路的链路状态，测试装置131监控处理器13在运行过程中的错误信息，以及检测处理器13和处理器12之间的处理器链路的链路状态，处理器的错误信息包括浮点错误、除零错误或溢出错误等。

需要说明的是，BIOS控制测试装置单独上电的方法可以是：主板上的电源模块可以通过开关每个器件上电或断电，BIOS可以通过电源模块控制每个器件的电源开关对器件进行上电或断电。

需要说明的是，测试装置可以通过处理器核、逻辑电路、专用集成电路实现中任意一种方式实现，也可以通过可编程逻辑器件实现。上述PLD可以是复杂可编程逻辑器件，通用阵列逻辑或其任意组合。

作为一个可能的实施例，计算设备中还可以包括两个或两个以上处理器，参见图2，为本实施例提供的计算设备的另一结构示意图，在本实施例中，为了简化说明，计算设备的缓存、BIOS和内存没有画出，计算设备的多处理器系统包括4个处理器，4个处理器通过互联总线连接，具体为的连接关系为：多处理器系统包括处理器21、处理器22、处理器23和处理器24，处理器21设置有互联接口212、处理器22设置有互联接口222、处理器23设置有互联接口232，处理器24设置有互联接口242，4个处理器中任意2个测试装置通过互联总线相连，4个测试装置中任意2个测试装置通过关联的互联接口进行通信；测试装置211位于处理器21的内部，测试装置211通过片内互联总线与测试装置211的处理器核连接；测试装置221位于处理器22的内部测试装置221通过片内互联总线与处理器22的处理器核连接；测试装置231位于处理器23的内部，测试装置231通过片内互联总线与处理器23的处理器核连接；测试装置241位于处理器24的内部，测试装置241通过片内互联总线与处理器24的处理器核连接，片内互联总线的拓扑结构为环形。处理器21、处理器22、处理器23和处理器24中每个处理器包括一个或多个处理器核。当互联接口212为被测试互联接口时，相应的，测试装置211为第一测试装置，测试装置221、测试装置231和测试装置241为多处理器系统中除第一测试装置之外的所有测试装置，测试装置211配置有测试映射表，测试映射表中配置有3对CC请求报文和预期响应报文，例如：3对CC请求报文和预期响应报文分别为：CC请求报文a1和预期响应报文a1、CC请求报文b1和预期响应报文b2、CC请求报文c1和预期响应报文c2，CC请求报文a1的内存地址对应测试装置221、CC请求报文b1的内存地址对应测试装置231、CC请求报文c1的内存地址对应测试装置241。

计算设备的工作过程为：测试装置211根据预设的顺序每次从测试映射表中选择1个CC请求报文，假设预设的顺序依次为CC请求报文a1→CC请求报文b1→CC请求报文c1。则测试装置211首先从测试映射表中选择CC请求报文a1，将CC请求报文a1通过互联接口212发送给测试装置221，测试装置211通过互联接口212接收测试装置221通过互联接口222根据CC协议返回的CC响应报文a1，测试装置211比较CC响应报文a1和预期响应报文a1是否匹配，若为是，继续发送下一个CC请求报文b1；然后，测试装置211从测试映射表中选择CC请求报文b1，测试装置211将CC请求报文b1发送给测试装置231，测试装置211接收测试装置231根据CC协议返回的CC响应报文b1，测试装置211比较CC响应报文b1和预期响应报文b1是否匹配，若相同，则本次测试通过；测试装置211从测试映射表中选择CC请求报文c1，将CC请求报文c1发送给测试装置241，测试装置211接收测试装置241根据CC协议返回的CC响应报文c1，测试装置211比较CC响应报文c1和预期响应报文c1是否匹配，若为是，继续发送下一个CC请求报文c1，测试装置211确定测试映射表中所有的根据CC请求报文返回的CC响应报文与预期响应报文相同时，测试装置211确定关联的处理器21的互联接口212测试通过。当互联接口212、互联接口222和互联接口232和互联接口242分别为被测互联接口时，相应的，测试装置221、测试装置231和测试装置241分别作为第一测试装置对各自关联的处理器的互联接口的测试方法可参照上述描述，在互联接口212、互联接口222和互联接口232和互联接口242均测试通过的情况下，计算设备的所有互联接口测试才通过。

需要说明的是，测试装置211根据预设的顺序发送测试映射表中的测试报文时，可以在接收到当前的CC请求报文的响应报文后，再发送下一个CC请求报文，可选地,测试装置也可以根据预设的顺序和时间间隔发送测试映射表中下一个的CC请求报文。

实施上述实施例，处理器可以在不上电的情况下，通过测试装置向其他测试装置发送CC请求报文，比较接收到的CC响应报文和预期响应报文是否匹配来完成处理器的互联接口的测试，一次性实现对互联接口协议层、路由层、链路层和物理层的测试，提升测试效率，同时能够根据需要发送各种类型的报文，覆盖的测试场景更完备，与现有技术中利用处理器在运行中完成互联接口测试相比，本发明提供的技术方案不需要处理器的参与，不占用处理器的计算资源，能减少处理器的处理开销。另一方面，本发明提供的技术方案利用BIOS控制测试装置单独上电，可以在处理器不上电的情况下，完成互联接口的测试过程，与现有技术相比，避免在处理器上电后发现互联接口测试不通过所导致的损失，进而提升了整个多处理器系统的测试效率和处理能力。

接下来，结合图3进一步介绍本发明实施例提供的一种互联接口的测试方法的流程示意图，在本发明实施例中，所述方法包括：

S301、第一测试装置从测试映射表中获取CC请求报文。

具体的，多处理器系统包括至少两个处理器，每个测试装置与关联的处理器之间通过片内互联总线相连，每个处理器内置有1个测试装置，测试装置可以为一个处理器核或逻辑电路，每个测试装置通过片内互联总线与关联的处理器中器件进行相连，片内互联总线为处理器内部不同器件之间进行相互联接的总线，例如：处理器包括多个处理器核，多个处理器核通过片内互联总线连接，片内互联总线的拓扑结构可以是环形、网格形或星形，本申请不作限制。不同处理器之间通过互联接口相连，每个处理器和每个测试装置呈一一映射关系，至少两个处理器包括第一处理器和第二处理器，第一处理器包括第一测试装置，第二处理器包括第二测试装置。第一测试装置配置有预置的测试映射表，测试映射表用于存放具有关联关系的CC请求报文和预期响应报文，CC请求报文和预期响应报文的数量相等，测试映射表中CC请求报文的数量应该大于或等于1，且确保第二测试装置都能接收到至少一个CC请求报文，可以通过CC请求报文中的内存地址来控制CC请求报文发送给哪个测试装置。在第一测试装置需要与多个测试装置进行测试时，第一测试装置根据预设的顺序从测试映射表中每次选择一个CC请求报文，CC请求报文携带内存地址，CC请求报文的报文类型包括但不限于读请求报文和写请求报文。写请求报文用于向内存地址指示的存储单元写入数据，读请求报文用于向内存地址指示的存储单元读取数据。

S302、所述第一测试装置根据内存地址确定第二测试装置，以及通过互联接口将所述CC请求报文发送到所述第二测试装置。

具体的，每个处理器预先分配有一个地址区间，处理器关联的测试装置分配有相同的地址区间，第一测试装置可根据内存地址所在的地址区间，将第一测试装置通过关联的处理器的互联接口将CC请求报文发送到第二测试装置。第一测试装置存储有路由表，路由表表示各个测试装置之间的路径，例如：路由表表示端口与测试装置之间的映射关系。

示例性的，参见图2所示，4个处理器共用的内存的总地址区间为[0x000000，0x400000]，处理器21分配的地址区间为[0x000000，0x1000000)，处理器22分配的地址区间为[0x1000000,0x200000)，处理器23分配的地址区间为[0x2000000,0x300000)，处理器24分配的地址区间为[0x3000000,0x400000]。测试装置21从测试映射表中获取CC请求报文a1，CC请求报文中携带的内存地址为0x152154，测试装置211确定内存地址位于处理器22的地址区间，处理器22关联测试装置221，因此测试装置211将CC请求报文a1路由到测试装置221。

根据上面的例子，测试装置211设置有3个端口，3个端口分别与测试装置221、测试装置231和测试装置241进行映射，端口1与测试装置221映射、端口2与测试装置231映射，端口3与测试装置241映射，测试装置331确定CC请求报文a1需要路由到测试装置221，根据路由表中的端口映射信息，测试装置211通过端口1将CC请求报文a1发送到测试装置221。

S303、所述第一测试装置接收所述第二测试装置根据CC请求报文返回的CC响应报文。

具体的，第二测试装置接收CC响应报文，获取CC响应报文的报文类型和内存地址，根据预设的CC协议生成与报文类型和内存地址对应的CC响应报文。

根据图2进行举例说明，CC协议为MESI的目录侦听协议，每个处理器配置有一个目录，目录用于存储缓存数据的存储位置和状态，缓存数据表示内存地址指示的缓存单元中的数据，缓存数据的状态包括：修改状态(Modified)、独占状态(Exclusive)、共享状态(Shared)和无效状态(Invalid)；修改状态表示缓存数据只存在当前的缓存中，且缓存数据是脏的(Dirty)，缓存数据和内存的数据相比是被修改过的，在执行针对缓存数据的读操作之前，缓存数据需要写回到内存，写回操作后缓存中该缓存数据的状态变为独占状态。独占状态表示缓存数据只存在当前的缓存中，且是干净的(Clean)的，缓存数据和内存中的数据是一致的。共享状态表示缓存数据存在多个缓存中，且是缓存数据干净的(Clean)，缓存数据和内存中的数据是一致的。无效状态表示缓存数据是无效的。

假设测试装置211(第一测试装置)向测试装置221(第二测试装置)发送写请求报文，测试装置221获取写请求报文携带的内存地址，在目录中查询到内存地址关联的缓存数据的存储位置位于处理器3的缓存，状态为独占状态；测试装置221根据MESI的目录侦听协议的规定向处理器23关联的测试装置231发送失效侦听报文，测试装置231接收到失效侦听报文，将内存地址关联的缓存数据标记为无效状态，然后向测试装置221返回失效侦听响应，测试装置221接收测试装置231的失效侦听响应，确定测试装置231中内存地址关联的缓存数据已修改为无效状态，向测试装置211发送完成响应报文。

S304、所述第一测试装置根据所述测试映射表查询与所述CC请求报文关联的预期响应报文，当所述预期响应报文与所述CC响应报文匹配时，确定关联的第一处理器的互联接口测试通过。

具体的，预期响应报文和CC响应报文中所有字段相同，则确定预期响应报文和CC响应报文相同。第一测试装置确定测试映射表中所有的根据CC请求报文返回的CC响应报文与预期响应报文匹配，确定关联的处理器的互联接口测试通过。

可选的，在本实施例的一种可能的实施方式中，第一测试装置从测试映射表中获取CC请求报文之前，还包括：第一测试装置接收BIOS发送的测试指示消息，根据测试指示消息进行上电启动后进入测试模式。

具体的，BIOS上电后，BIOS在确定需要对多处理器系统的互联接口进行测试的情况下，BIOS向第一测试装置发送测试指示消息；例如：BIOS在上电启动后默认需要进行互联接口的测试，或接收到测试请求后确定需要进行互联接口的测试，第一测试装置接收BIOS发送的测试指示消息，进行上电启动并进入测试模式，每个测试装置中还预先配置有CC协议，CC协议可以以协议表的形式存储在测试装置的存储器中，CC协议用于维护至少两个处理器中每个处理器的缓存一致性；BIOS控制多处理器系统中每个处理器保持关闭状态，BIOS控制测试装置单独上电的方法可以是：主板上的电源模块可以通过开关每个器件上电或断电，BIOS可以通过电源模块控制每个器件的电源开关对器件进行上电或断电。其中，BIOS还需要为处理器关联的测试装置配置各自的测试映射表，测试映射表存放CC请求报文和预期响应报文，CC请求报文和预期响应报文一一对应，即一个CC请求报文对应一个预期响应报文。上述实施例，在操作系统启动之前，处理器不需要进行上电启动，仅使用处理器内的测试装置来测试互联接口，能够有效的节省电量。

可选的，在本实施例的一种可能的实施方式中，互联接口的测试方法还包括：第一测试装置接收BIOS发送监控指示消息，根据监控指示消息切换到监控模式；第一测试装置记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态。

每个测试装置在完成互联接口的测试后，可以向BIOS通知测试结果，BIOS在确定多处理器系统中所有处理器的互联接口的测试都通过的情况下，指示所有测试装置发送监控指示消息，第一测试装置接收监控指示消息切换到监控模式，在监控模式下，测试装置用于监控处理器和处理器链路的运行状态，当处理器发生异常时，记录的处理器的错误信息，并上报给BIOS进行处理；当操作系统崩溃时，第一测试装置检测关联的处理器链路的链路状态，查找出异常的处理器链路，并将异常的处理器链路上报给BIOS进行处理。上述实施例，在操作系统启动和运行之后，测试装置可监控处理器和处理器链路的运行状态，可充分利用测试装置的处理能力，便于快速对故障进行快速定位和排除。

可选的，所述CC响应报文包括访问顺序信息、访问次数信息和响应数据；其中，访问顺序信息表示测试装置的访问顺序，访问次数信息表示所述内存地址的访问次数，响应数据表示根据内存地址得到的数据。

具体的，CC响应报文包括访问顺序信息、访问次数信息和响应数据，访问顺序信息表示一次CC请求过程中测试装置参与的顺序，即CC请求报文到CC响应报文之间测试装置的访问顺序，例如：参见图2，每个测试装置的访问状态用0和1来表示，0表示测试装置没有被访问，1表示测试装置已被访问，在初始状态下，测试装置211至处理器241的状态标志位为：0000，在一次CC请求到CC响应的过程中，每次访问一个测试装置，将该测试装置对应的状态标志位更改为1，并记录每次更新的状态标志位。假设一个CC请求到CC响应的过程中，第1次访问测试装置211，第2次访问测试装置241，第3访问测试装置221，则CC响应报文中携带的状态标志位按照先后顺序依次为1000→1001→1101。访问次数信息表示内存地址对应的数据的访问次数，响应数据表示根据内存地址最终得到的数据。预期响应报文也包括访问顺序信息、访问次数信息和响应数据，源试装置将CC响应报文和预期响应报文中的包括上述三个字段的所有字段进行比较，若预期响应报文和第二测试装置返回的CC响应报文中所有字段均相同，确认预期响应报文和CC响应报文相匹配，则第一测试装置确定关联的第一处理器的互联接口测试通过。

参见图4，为本发明实施例提供的一种配置方法的流程示意图，在本发明实施例中，所述方法包括：

S401、BIOS进行上电启动。

S402、所述BIOS判断是否满足预设的测试触发条件。

S403、若为是，所述BIOS指示每个测试装置进行上电启动并进入测试模式。

S404、所述BIOS为每个测试装置配置测试映射表；其中，在所述测试模式下，每个测试装置根据测试映射表测试关联的处理器的互联接口。

S405、所述BIOS控制每个处理器保持关闭状态。

具体的，计算设备包括多处理器系统，多处理器系统包括至少两个处理器和至少两个测试装置，每个测试装置与关联的处理器之间通过片内互联总线相连，片内互联总线为处理器内部不同器件之间进行相互联接的总线，例如：处理器包括多个处理器核，多个处理器核通过片内互联总线连接，片内互联总线的拓扑结构可以是环形、网格形或星形，本申请不作限制。不同处理器之间通过互联接口相连，所述至少两个处理器与所述至少两个测试装置呈一一映射关系；每个处理器包括至少一个处理器核。计算设备的BIOS上电后，BIOS判断是否满足预设的测试触发条件，其中，测试预设条件可以为预设的测试标识位为指定数值，或者接收到测试触发指令，以此确定满足预设的测试触发条件。BIOS为每个测试装置配置测试映射表，测试映射表存储有具有关联关系的CC请求报文和CC响应报文；每个测试装置预先存储有CC协议，CC协议可以用协议表来表示，CC协议用于维护至少两个处理器中每个处理器的缓存一致性。至少两个处理器中每个处理器包括至少一个处理器核，BIOS控制每个处理器保持关闭状态。

需要说明的是，BIOS控制测试装置单独上电的方法可以是，在计算设备的主板上控制模块为每个测试装置设置有一个电源开关，BIOS可向电源开关发送打开信号，为电源开关对应的测试装置进行上电，或BIOS向电源开关发送关闭信号，将电源开关对应的测试装置进行断电，由此实现测试装置单独上电或断电的功能。相应的，测试模块也可以通过电源开关对处理器执行单独上电或断电的功能。

举例说明，参见图2所示，BIOS在上电启动后，确定需要对多处理器系统的处理器进行互联接口的测试，BIOS指示测试装置211至测试装置241进行上电启动，并且在上电启动之后进入测试模式，BIOS为测试装置211至测试装置241配置测试映射表，BIOS控制处理器21至处理器24保持关闭状态。

在本实施例的一种可能的实施方式中，每个测试装置均都作为第一测试装置对关联的互联接口按照本实施例的方法进行测试，每个测试装置对关联的互联接口测试进行测试后，向BIOS上报测试结果，BIOS由此获知每个测试装置关联的互联接口的测试结果，在所述至少两个处理器中每个处理器的互联接口都测试通过的情况下，所述BIOS指示所述至少两个测试装置中每个测试装置进入监控模式；在监控模式下，每个测试装置用于记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态；

所述BIOS指示所述至少两个处理器中每个处理器进行上电启动；

在所述至少两个处理器上启动和运行操作系统。

具体的，测试装置在互联接口的测试通过后，向BIOS返回测试结果，BIOS在多处理器系统中所有处理器的互联接口都测试通过的情况下，BIOS指示至少两个测试装置中每个测试装置进入监控模式，在监控模式下，每个测试装置监控关联的处理器的运行状态，在处理器发生异常时，记录的处理器的错误信息，并将错误信息上报给BIOS进行处理。例如，处理器的错误信息用错误代码来表示，不同的错误代码用来表示不同的错误类型。BIOS指示至少两个处理器中每个处理器进行上电启动，在至少两个处理器上启动和运行操作系统。其中，在操作系统发生崩溃时，无法正常运行的情况下，BIOS可指示测试装置检测关联的处理器链路的链路状态，处理器链路表示两个处理器之间的通信链路，测试装置测试处理器链路是否正常的方法可以是：第一测试装置向第二测试装置发送测试报文，判断在预设时长内是否接收到第二测试装置返回的响应报文，若为是，则第一测试装置与第二测试装置之间的处理器链路为正常状态，否则该处理器链路为异常状态，测试装置向BIOS上报该处理器链路的ID，按照上述的测试方法测试所有的处理器链路，这样BIOS能定位存在故障的处理器链路，便于快速排除故障。

综上所述，通过上述内容的描述，本发明提供的技术方案可以利用测试装置在处理器不上电的情况下完成互联接口的测试，解决了现有技术中处理器在运行过程中进行测试所导致的处理器负载过高的问题。进一步地，与现有技术中单独测试链路层或路由层进行测试相比，本发明能够一次性完整的测试互联接口的协议层、路由层、链路层和物理层的功能，测试更完备。另一方面，BIOS可以控制测试装置的上电过程和模式切换，测试装置可以利用不同模式对处理器关联的互联接口进行测试，同时通过不同模式切换记录处理器的错误信息和处理器链路的链路状态，提升整个多处理器系统的工作效率。

参见图5，为本发明实施例提供的一种测试装置的结构示意图，在本发明实施例中，测试装置5为第一测试装置，多处理器系统包括至少两个处理器，每个处理器包括一个测试装置，每个测试装置与关联的处理器之间通过片内互联总线相连，片内互联总线为处理器内部不同器件之间进行相互联接的总线，例如：处理器包括多个处理器核，多个处理器核通过片内互联总线连接，片内互联总线的拓扑结构可以是环形、网格形或星形，本申请不作限制。不同处理器之间通过互联接口相连，至少两个处理器和至少两个测试装置呈一一映射关系；至少两个处理器包括第一处理器和第二处理器，第一处理器包括第一测试装置，第二处理器包括第二测试装置；第一测试装置配置有测试映射表，测试映射表用于存放CC请求报文和预期响应报文。测试装置5包括：生成单元501、发送单元502、接收单元503和比较单元504。

生成单元501，用于从所述测试映射表中获取CC请求报文。

发送单元502，用于根据所述CC请求报文携带的内存地址确定所述第二测试装置，以及通过互联接口将所述CC请求报文发送到所述第二测试装置。

接收单元503，用于通过互联接口接收所述第二测试装置根据所述CC请求报文返回的CC响应报文。

比较单元504，用于根据所述测试映射表查询与所述CC请求报文关联的预期响应报文，当所述预期响应报文与所述CC响应报文匹配时，确定关联的第一处理器的互联接口测试通过。

在本实施例的一种可能的实施方式中，测试装置5还包括：

第一切换单元，用于接收BIOS发送的测试指示消息，根据所述测试指示消息进行上电启动后进入测试模式，测试模式用于指示所述测试装置对互联接口进行测试。

在本实施例的一种可能的实施方式中，测试装置5还包括：

第二切换单元，用于接收所述BIOS发送监控指示消息，根据所述监控指示消息切换到监控模式；

监控单元，用于根据监控模式的指示记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态。

在本实施例的一种可能的实施方式中，所述CC响应报文包括访问顺序信息、访问次数信息和响应数据；其中，访问顺序信息表示测试装置的访问顺序，访问次数信息表示所述内存地址的访问次数，响应数据表示根据所述内存地址得到的数据。

在本实施例的一种可能的实施方式中，所述比较单元用于：

接收到所述至少两个处理器的除所述第一测试装置之外的所有测试装置发送的响应报文，当所述所有测试装置发送的响应报文均与所述测试映射表中预期响应报文相匹配时，确定所述第一测试装置关联的处理器的互联接口测试通过。

在本实施例的一种可能的实施方式中，所述发送单元用于：

根据所述内存地址确定所述内存地址关联的第二处理器；

根据所述第二处理器确定所述第二处理器关联的第二测试装置。

需要说明的是，在本发明实施例中，各个单元的具体实现还可以对应参照图3所示的方法实施例的相应描述。

需要说明的是，测试装置可以通过处理器核、逻辑电路、专用集成电路(英文：Application-Specific Integrated Circuit，缩写：ASIC)中任意一种实现，也可以通过可编程逻辑器件(英文：Programmable Logic Device，缩写：PLD)实现。上述PLD可以是复杂可编程逻辑器件(英文：(Complex Programmable Logic Device，缩写：CPLD)，FPGA，通用阵列逻辑(英文：Generic Array Logic,缩写：GAL)或其任意组合。

上述实施例，处理器在不上电的情况下，通过测试装置向其他测试装置发送CC请求报文，比较接收到的CC响应报文和预期响应报文是否匹配来完成测试处理器的互联接口的测试，与现有技术中单独测试链路层或路由层进行测试相比，本发明能够一次性完整的测试互联接口的协议层、路由层、链路层和物理层的功能，提升测试效率，同时测试装置能根据需求发送各种类型的报文，覆盖的测试场景更完备。同时，与现有技术中处理器在运行中对互联接口进行测试相比，将通过内置的测试装置对互联接口进行测试，不占用处理器的计算资源，降低了处理器的处理开销。

参见图6，为本发明实施例提供的一种测试装置的另一结构示意图，在本发明实施例中，测试装置6为第一测试装置，多处理器系统包括至少两个处理器和至少两个测试装置，每个测试装置与关联的处理器之间通过片内互联总线相连，片内互联总线为处理器内部不同器件之间进行相互联接的总线，例如：处理器包括多个处理器核，多个处理器核通过片内互联总线连接，片内互联总线的拓扑结构可以是环形、网格形或星形，本申请不作限制。不同处理器之间通过互联接口相连，每个处理器包括一个测试装置；第一测试装置配置有测试映射表，测试映射表用于存放CC请求报文和预期响应报文。测试装置6包括生成器601、检查器602和寄存器603，生成器601、检查器602和寄存器603可通过片内互联总线连接。测试装置6可以用于执行图3所示的方法。关于本实施例涉及的术语的含义以及举例，可以参考图3对应的实施例，此处不再赘述。

其中，寄存器603中存储测试映射表；

生成器601，用于从所述测试映射表中获取CC请求报文；根据所述CC请求报文携带的内存地址确定所述第二测试装置，以及通过互联接口将所述CC请求报文发送到所述第二测试装置；通过互联接口接收所述第二测试装置根据所述CC请求报文返回的CC响应报文；

比较器602，用于根据所述测试映射表查询与所述CC请求报文关联的预期响应报文，当所述预期响应报文与所述CC响应报文匹配时，所述第一测试装置确定关联的第一处理器的互联接口测试通过。

在本实施例的一种可能的实施方式中，测试装置6还包括：

控制器，用于接收基本输入输出系统BIOS发送的测试指示消息，根据所述测试指示消息进行上电启动后进入测试模式，测试模式用于指示测试装置对互联接口进行测试。

在本实施例的一种可能的实现方式中，控制器还用于：

接收所述BIOS发送监控指示消息，根据所述监控指示消息切换到监控模式；

记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态。

在本实施例的一种可能的实施方式中，比较器602用于：

接收到所述至少两个处理器的除所述第一测试装置之外的所有测试装置发送的响应报文，当所述所有测试装置发送的响应报文均与所述测试映射表中预期响应报文相匹配时，确定所述第一测试装置关联的处理器的互联接口测试通过。

在本实施例的一种可能的实施方式中，生成器601用于：

根据所述内存地址确定所述内存地址关联的第二处理器；

根据所述第二处理器确定所述第二处理器关联的第二测试装置。

在本实施例的一种可能的实现方式中，所述CC响应报文包括访问顺序信息、访问次数信息和响应数据；其中，访问顺序信息表示测试装置的访问顺序，访问次数信息表示所述内存地址的访问次数，响应数据表示根据所述内存地址得到的数据。

上述实施例，处理器在不上电的情况下，通过测试装置向其他测试装置发送CC请求报文，比较接收到的CC响应报文和预期响应报文是否匹配来完成处理器的互联接口的测试，能一次性完整的测试互联接口的协议层、路由层、链路层和物理层的功能，提升测试效率，同时测试装置能根据需求发送各种类型的报文，覆盖的测试场景更完备。与现有技术中处理器在运行中对互联接口进行测试相比，采用处理器内的测试装置完成互联接口的测试过程，不占用处理器的计算资源，能减少处理器的处理开销。

参见图7，为本发明实施例提供的一种测试装置的另一结构示意图，图7的实施例和图6中实施例的区别在于，测试装置7不包括存储器，测试装置7的测试映射表可存储在关联的处理器的寄存器中，或者测试装置7的测试映射表存放在计算设备的存储器中，例如：Flash Memory(闪存)、磁盘或其他非易失性存储器中。测试装置7的功能可参照图6的实施例的描述，此处不再赘述。

参见图8，为本发明实施例提供的一种BIOS的结构示意图，在本发明实施例中，计算设备包括多处理器系统和所述BIOS8，多处理器系统包括至少两个处理器，每个处理器包括1个测试装置，每个测试装置与关联的处理器中的器件之间通过片内互联总线相连，片内互联总线为处理器内部不同器件之间进行相互联接的总线，例如：处理器包括多个处理器核，多个处理器核通过片内互联总线连接，片内互联总线的拓扑结构可以是环形、网格形或星形，本申请不作限制。不同处理器之间通过互联接口相连，每个处理器包括至少一个处理器核。BIOS8包括启动单元801、判断单元802、第一测试单元803、配置单元804和控制单元805。

启动单元801，用于进行上电启动。

判断单元802，用于判断是否满足预设的测试触发条件。

第一测试单元803，若所述判断单元的判断结果为是，指示每个测试装置进行上电启动并进入测试模式。

配置单元804，用于为每个测试装置预置测试映射表；其中，在所述测试模式下，每个测试装置根据测试映射表测试关联的处理器的互联接口。

控制单元805，用于控制每个处理器保持关闭状态。

在本实施例的一种可能的实现方式中，BIOS8还包括：

第二指示单元，用于在每个处理器的互联接口都测试通过的情况下，每个测试装置进入监控模式；其中，在所述监控模式下，每个测试装置用于记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态；

上电单元，用于指示每个处理器进行上电启动；

运行单元，用于在所述至少两个处理器上启动和运行操作系统。

上述实施例，与现有技术中在操作系统启动之后利用处理器测试互联接口相比，在操作系统启动之前处理器不需要进行上电启动，仅使用处理器关联的测试装置来测试互联接口，能够有效的节省电量。同时，测试装置在测试过程中不占用处理器的计算资源，能减少处理器的处理开销。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)等。

以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (15)

1.一种计算设备，其特征在于，包括：多处理器系统，所述多处理器系统包括至少两个处理器，所述至少两个处理器通过互联接口相连，每个处理器包括一个测试装置，所述至少两个处理器中的第一处理器中包括第一测试装置，所述至少两个处理器中的第二处理器中包括第二测试装置；所述第一测试装置配置有测试映射表，所述测试映射表用于存放缓存一致性CC请求报文和预期响应报文，其中，在操作系统启动之前处理器不需要上电启动；

所述第一测试装置，用于从所述测试映射表中获取CC请求报文；根据所述CC请求报文携带内存地址确定与所述第一处理器关联的互联接口相连的所述第二处理器的所述第二测试装置，以及通过互联接口向所述第二测试装置发送所述CC请求报文；通过互联接口接收所述第二测试装置根据所述CC请求报文返回的CC响应报文；根据所述测试映射表查询与所述CC请求报文关联的预期响应报文，当所述预期响应报文与所述CC响应报文匹配时，确定所述第一测试装置关联的第一处理器的所述互联接口测试通过；

所述第二测试装置用于，接收所述第一测试装置发送的所述CC请求报文，根据预设的CC协议生成CC响应报文，向所述第一测试装置返回所述CC响应报文。

2.如权利要求1所述的计算设备，其特征在于，所述计算设备还包括基础输入输出系统BIOS，

所述BIOS，用于在所述BIOS启动后，当满足预设的测试触发条件时指示每个测试装置进行上电启动并进入测试模式，所述测试模式用于指示测试装置对互联接口进行测试；为所述至少两个测试装置中的所述第一测试装置预配所述测试映射表；控制每个处理器保持关闭状态。

3.如权利要求2所述的计算设备，其特征在于，

所述BIOS，还用于在每个处理器的互联接口都测试通过的情况下，指示每个测试装置进入监控模式；指示每个处理器进行上电启动；在所述至少两个处理器上启动和运行操作系统；其中，所述监控模式用于指示测试装置记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态。

4.根据权利要求1所述计算设备，其特征在于，所述第一测试装置根据所述测试映射表查询与所述CC请求报文关联的预期响应报文，当所述预期响应报文与所述CC响应报文匹配时，确定所述第一测试装置关联的第一处理器的互联接口测试通过包括：

接收所述至少两个处理器的测试装置中除所述第一测试装置之外的所有测试装置发送的响应报文，当所述所有测试装置发送的响应报文均与所述测试映射表中预期响应报文相匹配时，确定所述第一测试装置关联的第一处理器的互联接口测试通过。

5.根据权利要求1至4中任一所述计算设备，其特征在于，所述第一测试装置根据所述CC请求报文携带内存地址确定所述第二测试装置包括：

根据所述内存地址确定所述内存地址关联的第二处理器；

根据所述第二处理器确定所述第二处理器关联的第二测试装置。

6.一种互联接口的测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于多处理器系统，所述多处理器系统包括至少两个处理器，所述至少两个处理器通过互联接口连接，每个处理器中包括一个测试装置；所述至少两个处理器中的第一处理器包括第一测试装置，所述至少两个处理器中的第二处理器包括第二测试装置；所述第一测试装置配置有测试映射表，所述测试映射表用于存放缓存一致性CC请求报文和预期响应报文，其中，在操作系统启动之前处理器不需要上电启动，所述测试方法包括：

所述第一测试装置从所述测试映射表中获取CC请求报文；

所述第一测试装置根据所述CC请求报文携带的内存地址确定与所述第一测试装置关联的互联接口相连的所述第二处理器的所述第二测试装置，以及通过互联接口将所述CC请求报文发送到所述第二测试装置；

所述第一测试装置通过互联接口接收所述第二测试装置根据所述CC请求报文返回的CC响应报文；

所述第一测试装置根据所述测试映射表查询与所述CC请求报文关联的预期响应报文，当所述预期响应报文与所述CC响应报文匹配时，确定所述第一测试装置关联的第一处理器的互联接口测试通过。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一测试装置从所述测试映射表中获取CC请求报文之前，还包括：

所述第一测试装置接收基本输入输出系统BIOS发送的测试指示消息，根据所述测试指示消息在上电启动后进入测试模式，所述测试模式用于指示测试装置对互联接口进行测试。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，还包括：

所述第一测试装置接收所述BIOS发送监控指示消息，根据所述监控指示消息切换到监控模式；

所述第一测试装置根据所述监控模式的指示记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态。

9.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一测试装置根据所述测试映射表查询与所述CC请求报文关联的预期响应报文，当所述预期响应报文与所述CC响应报文匹配时，确定所述第一测试装置关联的处理器的互联接口测试通过包括：

所述第一测试装置接收所述至少两个处理器中除所述第一测试装置之外的所有测试装置发送的响应报文，当所述所有测试装置发送的响应报文均与所述测试映射表中预期响应报文相匹配时，确定所述第一测试装置关联的处理器的互联接口测试通过。

10.根据权利要求6至9中任一所述的方法，其特征在于，所述第一测试装置根据所述CC请求报文携带内存地址确定所述第二测试装置包括：

根据所述内存地址确定所述内存地址关联的第二处理器；

根据所述第二处理器确定所述第二处理器关联的第二测试装置。

11.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置为第一测试装置，多处理器系统包括至少两个处理器，每个处理器中包括一个测试装置，所述至少两个处理器之间通过互联接口相连，所述至少两个处理器中的第一处理器包括所述第一测试装置，所述至少两个处理器中的第二处理器包括第二测试装置；所述第一测试装置配置有测试映射表，所述测试映射表用于存放CC请求报文和预期响应报文，其中，在操作系统启动之前处理器不需要上电启动，所述测试装置包括：

生成单元，用于从所述测试映射表中获取CC请求报文；

发送单元，用于根据所述CC请求报文携带的内存地址确定所述第二测试装置，以及通过互联接口向所述第二测试装置发送CC请求报文；

接收单元，用于通过互联接口接收所述第二测试装置根据所述CC请求报文返回的CC响应报文；

比较单元，用于根据所述测试映射表查询与所述CC请求报文关联的预期响应报文，当所述预期响应报文与所述CC响应报文匹配时，确定所述第一测试装置关联的第一处理器的所述互联接口测试通过。

12.如权利要求11所述的测试装置，其特征在于，还包括：

第一切换单元，用于接收BIOS发送的测试指示消息，根据所述测试指示消息在上电启动后进入测试模式，所述测试模式用于指示测试装置对互联接口进行测试。

13.如权利要求12所述的测试装置，其特征在于，还包括：

第二切换单元，用于接收所述BIOS发送监控指示消息，根据所述监控指示消息切换到监控模式；

监控单元，用于根据监控模式的指示记录关联的处理器的错误信息和处理器链路的链路状态。

14.如权利要求11所述的测试装置，其特征在于，

所述比较单元，还用于接收到所述至少两个处理器的测试装置中除所述第一测试装置之外的所有测试装置发送的响应报文，当所述所有测试装置发送的响应报文均与所述测试映射表中预期响应报文相匹配时，确定所述第一测试装置关联的处理器的互联接口测试通过。

15.根据权利要求11至14中任一所述测试装置，其特征在于，

所述发送单元，还用于根据所述内存地址确定所述内存地址关联的第二处理器；

根据所述第二处理器确定所述第二处理器关联的第二测试装置。

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