CN107991705B - 基于二维统计特征的测井曲线校正方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本申请实施方式提供了一种基于二维统计特征的测井曲线校正方法和装置，其中，该方法包括：获取目标区域中参考井的第一测井曲线、第二测井曲线和目标井的第一测井曲线、第二测井曲线，参考井的第一测井曲线与目标井的第一测井曲线类型相同，参考井的第二测井曲线与目标井的第二测井曲线类型相同；根据参考井的第一测井曲线、第二测井曲线和目标井的第一测井曲线、第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量；利用上述校正量校正目标井的第一测井曲线、第二测井曲线。由于该方案结合参考井的测井曲线和目标井的测井曲线确定校正量，利用校正量对目标井的测井曲线进行校正，从而，解决了现有方法中存在的校正效果较差、校正过程复杂的技术问题。
Description
技术领域
本申请涉及地震勘探技术领域，特别涉及一种基于二维统计特征的测井曲线校正方法和装置。
背景技术
测井曲线是地震勘探技术领域中的一种重要的地质数据，具体可以用于反映地下岩性、物性、含油气性、沉积环境等地质信息。但是，在获取测井曲线的具体过程中，由于往往会受到泥浆侵入、井眼环境变化、仪器设备性能、采集人员水平等非地质因素的影响，导致不同井获得的测井数据大多会存在一定的系统误差。上述误差会直接影响到基于测井曲线的测井解释、地质建模、地震解释等，甚至会导致得出错误的油气藏分布结论，影响到具体施工。因此，在获取测井曲线后往往还需要对测井曲线进行校正处理，即标准化处理，以消除测井曲线的系统误差。
目前，为了消除测井曲线的系统误差，考虑到标准层的地质特征，通常会在目标区域中选择符合要求的标准层，再根据标准层，通过直方图法、趋势面法、希尔伯特变换法等方法对测井曲线进行相应的校正处理，以消除系统误差。但是，具体实施时，发现目标区域中大多以陆相沉积环境为主，薄互层居多，且地层横向及纵向上变化剧烈，缺乏可在全区追踪对比的较为稳定的标准层。尤其是对于复杂沉积环境及地层组合的情况。因此，现有的基于标准层的基于二维统计特征的测井曲线校正方法具体实施时会损失一些地质信息，校正效果也并不理想、适用范围有限。此外，由于需要先寻找符合要求的标准层，实施过程相对较为复杂。综上可知，现有方法具体实施时，往往存在校正效果较差、校正过程复杂的技术问题。
针对上述问题，目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本申请实施方式提供了一种基于二维统计特征的测井曲线校正方法和装置，以解决现有方法中存在的校正效果较差、校正过程复杂的技术问题，达到可以高效、准确地消除目标井测井曲线系统误差的技术效果。
本申请实施方式提供了一种基于二维统计特征的测井曲线校正方法，包括：
获取目标区域中参考井的第一测井曲线、参考井的第二测井曲线，以及目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线，其中，所述参考井的第一测井曲线与所述目标井的第一测井曲线类型相同，所述参考井的第二测井曲线与所述目标井的第二测井曲线类型相同，所述目标井的第一测井曲线和所述目标井的第二测井曲线类型不同；
根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量；
根据所述第一校正量校正所述目标井的第一测井曲线，根据所述第二校正量校正所述目标井的第二测井曲线。
在一个实施方式中，根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量，包括：
根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，获取参考井的目标层段数据，根据所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，获取目标井的目标层段数据，其中，所述参考井的目标层段和所述目标井的目标层段位于同一层位；
根据所述参考井的目标层段数据，确定参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，确定目标井的概率密度函数；
根据所述参考井的概率密度函数、所述目标井的概率密度函数，确定相关函数；
根据所述相关函数，确定所述第一校正量、所述第二校正量。
在一个实施方式中，根据所述参考井的目标层段数据，确定参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，确定目标井的概率密度函数，包括：
通过统计非参估计法对所述参考井的目标层段数据进行处理，确定所述参考井的概率密度函数；
通过统计非参估计法对所述目标井的目标层段数据进行处理，确定所述目标井的概率密度函数。
在一个实施方式中，根据所述参考井的概率密度函数、所述目标井的概率密度函数，确定相关函数，包括：
按照以下公式，确定所述相关函数：
上式中，R(ΔA,ΔB)为相关函数，F1(A,B)为参考井的概率密度函数， F2(A+ΔA,B+ΔB)为目标井的概率密度函数，ΔA为参考井的第一测井曲线和目标井的第一测井曲线之间的偏移量，ΔB为参考井的第二测井曲线和目标井的第二测井曲线之间的偏移量。
在一个实施方式中，根据所述相关函数，确定所述第一校正量、所述第二校正量，包括：
根据所述相关函数，确定所述相关函数的峰值点；
根据所述相关函数的峰值点，确定第一偏移量、第二偏移量，并将所述第一偏移量作为所述第一校正量，将所述第二偏移量作为所述第二校正量。
在一个实施方式中，所述根据所述第一校正量校正所述目标井的第一测井曲线，根据所述第二校正量校正所述目标井的第二测井曲线，包括：
根据所述第一校正量建立第一校正公式，根据所述第二校正量建立第二校正公式；
利用所述第一校正公式，校正所述目标井的第一测井曲线，利用所述第二校正公式，校正所述目标井的第二测井曲线。
在一个实施方式中，根据所述第一校正量建立第一校正公式，根据所述第二校正量建立第二校正公式，包括：
按照以下公式，分别建立所述第一校正公式、所述第二校正公式：
上式中，为校正后的目标井的第一测井曲线的数据，A为目标井的第一测井曲线的数据，ΔA0为第一校正量，为校正后的目标井的第二测井曲线的数据，B 为目标井的第二测井曲线的数据，ΔB0为第二校正量。
在一个实施方式中，所述目标井的第一测井曲线和所述目标井的第二测井曲线的类型包括以下至少之一：声波测井曲线、密度测井曲线、自然电位测井曲线、自然伽马测井曲线、纵波测井曲线、横波测井曲线、中子测井曲线、电阻率测井曲线、电导率测井曲线。
在一个实施方式中，在获取目标区域中参考井的第一测井曲线、参考井的第二测井曲线，以及目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线后，所述方法还包括：
分别剔除所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线中的无效数据段，得到处理后的参考井的第一测井曲线、处理后的参考井的第二测井曲线、处理后的目标井的第一测井曲线、处理后的目标井的第二测井曲线；
其中，所述无效数据段包括以下至少之一：无测量值的数据段、眼垮塌的数据段、存在的特殊岩性段的地区数据段；
相应的，根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量，包括：根据所述处理后的参考井的第一测井曲线、所述处理后的参考井的第二测井曲线、所述处理后的目标井的第一测井曲线、所述处理后的目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量。
本申请实施方式还提供了一种基于二维统计特征的测井曲线校正方法，包括：
获取目标区域中参考井的多条测井曲线，以及目标井的多条测井曲线，其中，所述参考井的多条测井曲线与所述目标井的多条测井曲线类型相同；
根据所述参考井的多条测井曲线，以及所述目标井的多条测井曲线，确定多个校正量，其中，所述多个校正量的个数与所述目标井的多条测井曲线的条数相同；
根据所述多个校正量，分别校正所述目标井的多条测井曲线。
本申请实施方式还提供了一种基于二维统计特征的测井曲线校正装置，包括：
获取模块，用于获取目标区域中参考井的第一测井曲线、参考井的第二测井曲线，以及目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线，其中，所述参考井的第一测井曲线与所述目标井的第一测井曲线类型相同，所述参考井的第二测井曲线与所述目标井的第二测井曲线类型相同；
确定模块，用于根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量；
校正模块，用于根据所述第一校正量校正所述目标井的第一测井曲线，根据所述第二校正量校正所述目标井的第二测井曲线。
在本申请实施方式中，通过结合参考井的测井曲线和目标井的测井曲线而不是标准层，以确定校正量，并利用校正量对目标井的测井曲线进行具体的校正，从而解决了现有方法中存在的校正效果较差、适用范围有限、校正过程较复杂的技术问题，达到高效、准确地消除目标井测井曲线系统误差的技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法的处理流程图；
图2是根据本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正装置的组成结构图；
图3是在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置校正目标井测井曲线的流程示意图；
图4是在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置获得的关于纵波与横波速度的S井概率密度函数的示意图；
图5是在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置获得的关于纵波与横波速度的T井概率密度函数的示意图；
图6是在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置获得的S井与T井概率密度函数的互相关函数的信号示意图；
图7是在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置获得的S井与校正后T井概率密度函数的叠加显示的示意图；
图8是在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置获得的校正前后T井测井曲线的对比示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
考虑到现有方法往往是先在目标区域中寻找符合要求的标准层，再根据标准通过直方图法、趋势面法或希尔伯特变换法等对测井曲线进行具体的校正。由于目标区域中大多以陆相沉积环境为主，薄互层居多，且地层横向及纵向上变化剧烈，缺乏可在全区追踪对比的较为稳定的标准层，即难以找到符合要求的标准层。导致现有方法具体实施时，往往存在校正效果较差、校正过程较复杂的技术问题。针对产生上述技术问题的根本原因，本申请考虑可以不利用标准层，而利用更易获得的参考井的测井曲线和目标井的测井曲线，将参考井的测井曲线和目标井的测井曲线相结合，以确定校正量，进而利用该校正量对目标井的测井曲线进行具体的校正，从而解决了现有方法中存在的校正效果较差、校正过程较复杂的技术问题，达到高效、准确地消除目标井测井曲线系统误差的技术效果。
基于上述思考思路，本申请实施方式提供了一种基于二维统计特征的测井曲线校正方法。具体请参阅图1所示的根据本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法的处理流程图。本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法，具体可以包括以下步骤。
S11：获取目标区域中参考井的第一测井曲线、参考井的第二测井曲线，以及目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线，其中，所述参考井的第一测井曲线与所述目标井的第一测井曲线类型相同，所述参考井的第二测井曲线与所述目标井的第二测井曲线类型相同，所述目标井的第一测井曲线和所述目标井的第二测井曲线类型不同。
在本实施方式中，上述参考井具体可以是一种标准井。相应的，参考井的测井数据，例如参考井的测井曲线，可以认为目标区域中的标准测井曲线。具体的，在上述参考井所在的目标区域中，其他测井，例如目标井的测井数据都以上述参考井的测井数据为参考标准。
在本实施方式中，上述第一测井曲线与第二测井曲线的不同，即参考井的第一测井曲线和参考井的第二测井曲线为不同类型的测井曲线，例如，参考井的第一测井曲线具体可以是声波测井曲线，参考井的第二测井曲线具体可以是密度测井曲线。类似的，目标井的第一测井曲线与目标井的第二测井曲线为不同类型的测井曲线。但是为了后续的具体分析，参考井的第一测井曲线与目标井的第一测井曲线为同类型的测井曲线。例如，参考井的第一测井曲线为声波时差测井曲线，对应的，目标井的第一测井曲线也为声波时差测井曲线。类似的，参考井的第二测井曲线与目标井的第二测井曲线也为统一类型的测井曲线。
在一个实施方式中，所述目标井的第一测井曲线和所述目标井的第二测井曲线的类型具体可以包括以下至少之一：声波测井曲线、密度测井曲线、自然电位测井曲线、自然伽马测井曲线、纵波测井曲线、横波测井曲线、中子测井曲线、电阻率测井曲线、电导率测井曲线等。当然，需要说明的是，上述所列举的测井曲线的类型只是为了更好地说明本申请实施方式。具体实施时，上述测井曲线根据具体情况，也可以包括除上述所列举的测井曲线以外的其他类型的测井曲线。
S12：根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量。
在一个实施方式中，上述根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量，具体可以包括以下内容。
S1：根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，获取参考井的目标层段数据，根据所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，获取目标井的目标层段数据，其中，所述参考井的目标层段和所述目标井的目标层段位于同一层位。
在本实施方式中，为了便于后续通过和参考井的测井曲线进行比较以确定较真量，具体实施时，可以根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，分别获取位于同一层位的参考井的目标层段数据、目标井的目标层段数据，以便后续在同一目标层位上对两种测井数据进行具体的比较分析。
在本实施方式中，参考井的目标层段数据具体可以是根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，确定的目标层段的相关数据。具体的，例如，参考井的第一测井曲线为参考井的横波测井曲线，参考井的第二测井曲线为参考井的纵波测井曲线，相应的所确定的参考井的目标层段数据为参考井的目标层段上的纵波数据和横波数据。对目标井，情况类似，本申请在此不再赘述。
S2：根据所述参考井的目标层段数据，确定参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，确定目标井的概率密度函数。
在一个实施方式中，根据所述参考井的目标层段数据，确定参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，确定目标井的概率密度函数，具体可以包括以下内容：根据所述参考井的目标层段数据，通过统计非参估计法，确定所述参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，通过统计非参估计法，确定所述目标井的概率密度函数。如此，可以基于统计的方法，利用二维统计特征突出不同地质体测井响应的差异，以便后续可以有效地识别非地质因素影响，确保校正过程中地质信息不受干扰，确定得到较为准确的校正量。
在一个实施方式中，上述统计非参估计法具体可以是一种用于确定数据体中整体的概率分布的统计方法。具体实施时，上述统计非参估计法具体可以是Epanechnikov 核的非参估计法。当然，具体实施时，根据具体情况，也可以选用其他类型的统计非参估计法。
S3：根据所述参考井的概率密度函数、所述目标井的概率密度函数，确定相关函数。
在本实施方式中，可以通过确定相关函数，以表征所述参考井的概率密度函数与所述目标井的概率密度函数的相关关系，进而可以根据上述相关关系确定具体校正量。
在一个实施方式中，根据所述参考井的概率密度函数、所述目标井的概率密度函数，确定相关函数，具体实施时，可以按照以下公式，确定所述相关函数：
上式中，R(ΔA,ΔB)可以为相关函数，F1(A,B)可以为参考井的概率密度函数，F2(A+ΔA,B+ΔB)可以为目标井的概率密度函数，ΔA可以为参考井的第一测井曲线和目标井的第一测井曲线之间的偏移量，ΔB可以为参考井的第二测井曲线和目标井的第二测井曲线之间的偏移量。
S4：根据所述相关函数，确定所述第一校正量、所述第二校正量。
在一个实施方式中，上述根据所述相关函数，确定所述第一校正量、所述第二校正量，具体可以包括以下内容。
S4-1：根据所述相关函数，确定所述相关函数的峰值点。
S4-2：根据所述相关函数的峰值点，确定第一偏移量、第二偏移量，并将所述第一偏移量作为所述第一校正量，将所述第二偏移量作为所述第二校正量。
在本实施方式中，上述相关函数的峰值点可以认为是所述参考井的概率密度函数与所述目标井的概率密度函数相关性最高的点。也可以认为是在这个点所述参考井的概率密度函数与所述目标井的概率密度函数的近似度最高、差异最小(即偏移最小)。其中，两者间的差异来自于系统误差，具体可以通过对应的第一偏移量和第二偏移量来表征。因此，具体实施时，可以将上述第一偏移量确定为第一校正量。将上述第二偏移量确定为第二校正量，以便后续用于校正目标井的测井曲线。
S13：根据所述第一校正量校正所述目标井的第一测井曲线，根据所述第二校正量校正所述目标井的第二测井曲线。
在一个实施方式中，所述根据所述第一校正量校正所述目标井的第一测井曲线，根据所述第二校正量校正所述目标井的第二测井曲线，具体可以包括以下内容：根据所述第一校正量建立第一校正公式，根据所述第二校正量建立第二校正公式；利用所述第一校正公式，校正所述目标井的第一测井曲线，利用所述第二校正公式，校正所述目标井的第二测井曲线。
在一个实施方式中，上述根据所述第一校正量建立第一校正公式，根据所述第二校正量建立第二校正公式，具体可以包括：
按照以下公式，分别建立所述第一校正公式、所述第二校正公式：
上式中，可以为校正后的目标井的第一测井曲线的数据，A可以为目标井的第一测井曲线的数据，ΔA0可以为第一校正量，可以为校正后的目标井的第二测井曲线的数据，B可以为目标井的第二测井曲线的数据，ΔB0可以为第二校正量。
在本实施方式中，通过上述校正可以较好地消除掉目标井的第一测井曲线的系统误差、目标井的第二测井曲线的系统误差，得到较为准确的校正后的目标井的第一测井曲线、校正后的目标井的第二测井曲线。如此，可以不依赖于标准层进行校正，较为客观地校正非地质因素引入的测量误差或者系统误差，还原目标区域所处地层的真实的测井响应特征，以便后续的解释分析。
在本申请实施例中，相较于现有技术，通过结合目标区域中的参考井的测井曲线和目标井的测井曲线，而不是标准层，以确定校正量；利用该校正量对目标井的测井曲线进行具体的校正，从而解决了现有方法中存在的校正效果较差、适用范围有限、校正过程较复杂的技术问题，达到高效、准确地消除目标井测井曲线系统误差的技术效果。
在一个实施方式中，在校正所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线后，为了进一步对校正后的目标井的第一测井曲线、校正后的目标井的第二测井曲线进行校验，以进一步改善校正效果，所述方法具体还可以包括以下内容。
S1：根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，确定参考井的概率密度叠加结果。
S2：根据校正后的目标井的第一测井曲线、校正后的目标井的第二测井曲线，确定目标井的概率密度叠加结果。
S3：计算所述参考井的概率密度叠加结果和所述目标井的概率密度叠加结果之间的差值，将所述差值比较差值。
S4：在所述比较差值大于预设阈值的情况下，重新确定所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线。
在一个实施方式中，为了减少所获取的目标区域中参考井的第一测井曲线、参考井的第二测井曲线，以及目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线的误差，以便得到更好的校正效果，具体实施时，在获取目标区域中参考井的第一测井曲线、参考井的第二测井曲线，以及目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线后，还要对上述测井曲线进行预处理，具体的可以包括以下内容：分别剔除所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线中的无效数据段，得到处理后的参考井的第一测井曲线、处理后的参考井的第二测井曲线、处理后的目标井的第一测井曲线、处理后的目标井的第二测井曲线；其中，所述无效数据段包括以下至少之一：无测量值的数据段、眼垮塌的数据段、存在的特殊岩性段的地区数据段；相应的，根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量，包括：根据所述处理后的参考井的第一测井曲线、所述处理后的参考井的第二测井曲线、所述处理后的目标井的第一测井曲线、所述处理后的目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量。如此，可以进一步消除干扰、减少误差。
在本实施方式中，需要说明的是，上述所列举的无效数据段只是为了更好地说明本申请实施方式。具体实施时，根据具体情况和施工要求，上述无效数据段具体还可以包括除上述所列举的情况以下的数据段，例如参考井中未出现的储层或油气层的数据段。
从以上的描述中，可以看出，本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法，通过结合目标区域中的参考井的测井曲线和目标井的测井曲线，而不是标准层，以确定校正量；利用该校正量对目标井的测井曲线进行具体的校正，从而解决了现有方法中存在的校正效果较差、适用范围有限、校正过程较复杂的技术问题，达到高效、准确地消除目标井测井曲线系统误差的技术效果；又通过统计非参估计法计算分别确定参考井的概率密度函数和目标井的概率密度函数，进而确定相关函数，根据相关函数确定校正量，提高了所确定的校正量的准确度，改善了校正效果；还通过对获取的测井曲线先进行预处理，即剔除测井曲线的无效数据，减少了误差，进一步改善了校正效果。
本申请还提供了另一种基于二维统计特征的测井曲线校正方法，具体可以包括以下内容。
S1：获取目标区域中参考井的多条测井曲线，以及目标井的多条测井曲线，其中，所述参考井的多条测井曲线与所述目标井的多条测井曲线类型相同。
S2：根据所述参考井的多条测井曲线，以及所述目标井的多条测井曲线，确定多个校正量，其中，所述多个校正量的个数与所述目标井的多条测井曲线的条数相同。
S3：根据所述多个校正量，分别校正所述目标井的多条测井曲线。
在本实施方式中，多条测井曲线具体可以是两条，也可以三条，四条等其他条数。例如，上述多条测井曲线为三条测井曲线时，具体实施时可以包括：获取目标区域中参考井的多条测井曲线，即：参考测井的第一测井曲线、参考测井的第二测井曲线、参考测井的第三测井曲线，以及目标井的多条测井曲线，即：目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线、目标井的第三测井曲线，其中，参考井的第一测井曲线与目标井的第一测井曲线的类型相同，参考井的第二测井曲线与目标井的第二测井曲线的类型相同，参考井的第三测井曲线与目标井的第三测井曲线的类型相同。根据所述参考井的多条测井曲线确定参考井的目标层段数据，根据目标井的多条测井曲线确定目标井的目标层段数据，其中，参考井的目标层段和目标井的目标层段位于同一层位。根据所述参考井的目标层段数据，通过统计非参估计法确定参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，通过统计非参估计法确定目标井的概率密度函数。根据所述参考井的概率密度函数、所述目标井的概率密度函数，确定相关函数。根据所述相关函数，确定所述相关函数的峰值点；根据所述相关函数的峰值点，确定第一偏移量、第二偏移量、第二偏移量，并将所述第一偏移量作为所述第一校正量，将所述第二偏移量作为所述第二校正量，将所述第三偏移量作为第三校正量。利用第一校正量校正目标井的第一测井曲线，利用第二校正量校正目标井的第二测井曲线，利用第三校正量校正目标井的第三测井曲线。
在本实施方式中，需要说明的是，上述仅以三条测井曲线为例，说明了如何根据参考井的多条测井曲线和目标井的多条测井曲线，对目标井的多条测井曲线分别进行对应的校正。对于其他情况，例如四条测井曲线或者五条测井曲线，可以参照上述方法实施。对此，本申请不作赘述。
从以上的描述中，可以看出，本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法，通过结合目标区域中的参考井的多条测井曲线和目标井的多条测井曲线，而不是标准层，以确定多个校正量；利用上述多个校正量分别对目标井的各条测井曲线进行具体的校正，从而解决了现有方法中存在的校正效果较差、适用范围有限、校正过程较复杂的技术问题，达到高效、准确地消除目标井测井曲线系统误差的技术效果；又通过统计非参估计法计算分别确定参考井的概率密度函数和目标井的概率密度函数，进而确定相关函数，根据相关函数确定校正量，提高了所确定的校正量的准确度，改善了校正效果；还通过对获取的测井曲线先进行预处理，即剔除测井曲线的无效数据，减少了误差，进一步改善了校正效果。
基于同一发明构思，本发明实施方式中还提供了一种基于二维统计特征的测井曲线校正装置，如下面的实施方式所述。由于装置解决问题的原理与基于二维统计特征的测井曲线校正方法相似，因此基于二维统计特征的测井曲线校正装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。以下所使用的，术语“单元”或者“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。请参阅图 2，是本申请实施方式的基于二维统计特征的测井曲线校正装置的一种组成结构图，该装置可以包括：获取模块21、确定模块22、校正模块23，下面对该结构进行具体说明。
获取模块21，具体可以用于获取目标区域中参考井的第一测井曲线、参考井的第二测井曲线，以及目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线，其中，所述参考井的第一测井曲线与所述目标井的第一测井曲线类型相同，所述参考井的第二测井曲线与所述目标井的第二测井曲线类型相同。
确定模块22，具体可以用于根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量。
校正模块23，具体可以用于根据所述第一校正量校正所述目标井的第一测井曲线，根据所述第二校正量校正所述目标井的第二测井曲线。
在一个实施方式中，为了能够根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量，所述确定模块具体可以包括以下结构单元。
第一获取单元，具体可以用于根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，获取参考井的目标层段数据，根据所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，获取目标井的目标层段数据，其中，所述参考井的目标层段和所述目标井的目标层段位于同一层位。
第一确定单元，具体可以用于根据所述参考井的目标层段数据，确定参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，确定目标井的概率密度函数。
第二确定单元，具体可以用于根据所述参考井的概率密度函数、所述目标井的概率密度函数，确定相关函数。
第三确定单元，具体可以用于根据所述相关函数，确定所述第一校正量、所述第二校正量。
在一个实施方式中，为了能够根据所述参考井的目标层段数据，确定参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，确定目标井的概率密度函数，所述第一确定单元具体可以按照以下程序执行：根据所述参考井的目标层段数据，通过统计非参估计法，确定所述参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，通过统计非参估计法，确定所述目标井的概率密度函数。
在一个实施方式中，为了能够根据所述参考井的概率密度函数、所述目标井的概率密度函数，确定相关函数，上述第二确定单元具体实施时，可以按照以下公式，确定所述相关函数：
上式中，R(ΔA,ΔB)为相关函数，F1(A,B)为参考井的概率密度函数， F2(A+ΔA,B+ΔB)为目标井的概率密度函数，ΔA为参考井的第一测井曲线和目标井的第一测井曲线之间的偏移量，ΔB为参考井的第二测井曲线和目标井的第二测井曲线之间的偏移量。
在一个实施方式中，为了能够根据所述相关函数，确定所述第一校正量、所述第二校正量，所述第三确定单元具体可以包括以下结构。
第一确定子单元，具体可以用于根据所述相关函数，确定所述相关函数的峰值点。
第二确定子单元，具体可以用于根据所述相关函数的峰值点，确定第一偏移量、第二偏移量，并将所述第一偏移量作为所述第一校正量，将所述第二偏移量作为所述第二校正量。
在一个实施方式中，为了能够根据所述第一校正量校正所述目标井的第一测井曲线，根据所述第二校正量校正所述目标井的第二测井曲线，所述校正模块具体可以包括以下的结构单元。
建立单元，具体可以用于根据所述第一校正量建立第一校正公式，根据所述第二校正量建立第二校正公式。
校正单元，具体可以用于利用所述第一校正公式，校正所述目标井的第一测井曲线，利用所述第二校正公式，校正所述目标井的第二测井曲线。
在一个实施方式中，为了能够根据所述第一校正量建立第一校正公式，根据所述第二校正量建立第二校正公式，所述建立单元具体实施时，可以按照以下公式，分别建立所述第一校正公式、所述第二校正公式：
上式中，为校正后的目标井的第一测井曲线的数据，A为目标井的第一测井曲线的数据，ΔA0为第一校正量，为校正后的目标井的第二测井曲线的数据，B 为目标井的第二测井曲线的数据，ΔB0为第二校正量。
在一个实施方式中，在校正所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线后，为了校正效果进行校验，以便得到更加准确的目标井的测井曲线，所述装置具体还可以包括以下结构模块。
第一确定模块，具体可以用于根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，确定参考井的概率密度叠加结果。
第二确定模块，具体可以用于根据校正后的目标井的第一测井曲线、校正后的目标井的第二测井曲线，确定目标井的概率密度叠加结果。
第三确定模块，具体可以用于计算所述参考井的概率密度叠加结果和所述目标井的概率密度叠加结果之间的差值，将所述差值比较差值。
处理模块，具体可以用于在所述比较差值大于预设阈值的情况下，重新确定所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
需要说明的是，上述实施方式阐明的系统、装置、模块或单元，具体可以由计算机芯片或实体实现，或者由具有某种功能的产品来实现。为了描述的方便，在本说明书中，描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然，在实施本申请时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
此外，在本说明书中，诸如第一和第二这样的形容词仅可以用于将一个元素或动作与另一元素或动作进行区分，而不必要求或暗示任何实际的这种关系或顺序。在环境允许的情况下，参照元素或部件或步骤(等)不应解释为局限于仅元素、部件、或步骤中的一个，而可以是元素、部件、或步骤中的一个或多个等。
从以上的描述中，可以看出，本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正装置，通过结合目标区域中的参考井的测井曲线和目标井的测井曲线，而不是标准层，以确定校正量；利用该校正量对目标井的测井曲线进行具体的校正，从而解决了现有方法中存在的校正效果较差、适用范围有限、校正过程较复杂的技术问题，达到高效、准确地消除目标井测井曲线系统误差的技术效果；又通过统计非参估计法计算分别确定参考井的概率密度函数和目标井的概率密度函数，进而确定相关函数，根据相关函数确定校正量，提高了所确定的校正量的准确度，改善了校正效果；还通过对获取的测井曲线先进行预处理，即剔除测井曲线的无效数据，减少了误差，进一步改善了校正效果。
在一个具体实施场景示例中，应用本申请提供基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置对某目标区域中的目标井的测井曲线进行具体的校正处理。具体实施过程可以参阅图3所示的在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置校正目标井测井曲线的流程示意图，按照以下内容执行。
S1：选择该目标区域中的S井作为标准井(即参考井)，选取纵波速度VP与横波速度VS作为待分析的井曲线(即参考井的第一测井曲线、参考井的第二测井曲线)。确定目标层段。其中，该层段含有多套致密砂岩与页岩地层，属于沼泽湖泊相-三角洲相沉积。剔除煤层及气层数据等无效数据，提取S井目标层段内关于VP与VS的数据(即参考井的目标层段数据)。
S2：选择所述S井附近的T井作为目标井，同样选取纵波速度VP与横波速度VS作为待分析的井曲线(即目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线)。剔除煤层及气层数据等无效数据，提取T井目标层段内关于VP与VS的数据(即目标井的目标层段数据)。
S3：所述根据S井和T井目标层段数据，利用基于Epanechnikov核的非参估计法(即统计非参估计法中的一种)得到S井概率密度函数F1(VP,VS)(即参考井的概率密度函数)和T井概率密度函数F2(VP,VS)(即目标井的概率密度函数)。具体可以参阅图4所示的在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置获得的关于纵波与横波速度的S井概率密度函数的示意图和图5所示的在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置获得的关于纵波与横波速度的T井概率密度函数的示意图。图中分别显示了所述S井与T井概率密度函数图，图中对角线方向刻度线可以表示纵横波速度比，高概率密度区(等值线线密集)主要代表致密砂岩。对比S井与T井的高概率密度区可发现，T井的速度比明显偏高，这也意味着该井VP和VS存在系统误差。
S4：根据所述概率密度函数F1(VP,VS)和F2(VP,VS)计算互相关函数R(ΔVP,ΔVS)，具体可以参阅图6所示的在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置获得的S井与T井概率密度函数的互相关函数的信号示意图。拾取所述相关函数R(ΔVP,ΔVS)的峰值点，得到偏移量ΔVP0＝0.018km/s(即第一偏移量)与ΔVS0＝-0.074km/s(即第二偏移量)。
S5：根据所述偏移量ΔVP0与ΔVS0，由公式(即第一校正公式)和(即第二校正公式)校正所述T井测井曲线VP与VS。具体可以参阅图 7所示的在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置获得的S井与校正后T井概率密度函数的叠加显示的示意图。图中显示了S井与校正后T井概率密度函数的叠加显示，其中，实线具体可以表示S井，虚线具体可以表示校正后T井。代表致密砂岩的高概率密度区基本重叠，表明校正后的井曲线保留了地层的真实测井响应特征。参阅图8所示的在一个场景示例中应用本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法/装置获得的校正前后T 井测井曲线的对比示意图，图中显示了校正前后T井测井曲线对比，实线表示校正前，虚线表示校正后。该地区气层的VP/VS一般小于1.6，T井校正前测井曲线(计算的VP/VS)在低GR砂岩段均表现为气层响应，不符合该井实际地质特征，而校正后测井曲线则很好地指示了砂层上部的两套气层。
通过上述实施过程，可以发现：本申请提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法和装置可以不依赖标准层，适用范围相对较广，尤其是对于复杂沉积环境及地层组合的情形；通过二维统计特征能突出不同地质体测井响应的差异，有效识别非地质因素影响，确保校正过程中地质信息不受干扰；此外，具体实施时，可同步完成两类测井曲线的校正，动态监测标准化效果，实施过程简单，计算效率较高。
通过上述场景示例，验证了本申请实施方式提供的基于二维统计特征的测井曲线校正方法和装置，通过结合目标区域中的参考井的测井曲线和目标井的测井曲线，而不是标准层，以确定校正量；利用该校正量对目标井的测井曲线进行具体的校正，确实解决了现有方法中存在的校正效果较差、校正过程较复杂的技术问题，达到了高效、准确地消除目标井测井曲线系统误差的技术效果。
尽管本申请内容中提到不同的具体实施方式，但是，本申请并不局限于必须是行业标准或实施例所描述的情况等，某些行业标准或者使用自定义方式或实施例描述的实施基础上略加修改后的实施方案也可以实现上述实施例相同、等同或相近、或变形后可预料的实施效果。应用这些修改或变形后的数据获取、处理、输出、判断方式等的实施例，仍然可以属于本申请的可选实施方案范围之内。
虽然本申请提供了如实施例或流程图所述的方法操作步骤，但基于常规或者无创造性的手段可以包括更多或者更少的操作步骤。实施例中列举的步骤顺序仅仅为众多步骤执行顺序中的一种方式，不代表唯一的执行顺序。在实际中的装置或客户端产品执行时，可以按照实施例或者附图所示的方法顺序执行或者并行执行(例如并行处理器或者多线程处理的环境，甚至为分布式数据处理环境)。术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、产品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、产品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，并不排除在包括所述要素的过程、方法、产品或者设备中还存在另外的相同或等同要素。
上述实施例阐明的装置或模块等，具体可以由计算机芯片或实体实现，或者由具有某种功能的产品来实现。为了描述的方便，描述以上装置时以功能分为各种模块分别描述。当然，在实施本申请时可以把各模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现，也可以将实现同一功能的模块由多个子模块的组合实现等。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
本领域技术人员也知道，除了以纯计算机可读程序代码方式实现控制器以外，完全可以通过将方法步骤进行逻辑编程来使得控制器以逻辑门、开关、专用集成电路、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器等的形式来实现相同功能。因此这种控制器可以被认为是一种硬件部件，而对其内部包括的用于实现各种功能的装置也可以视为硬件部件内的结构。或者甚至，可以将用于实现各种功能的装置视为既可以是实现方法的软件模块又可以是硬件部件内的结构。
本申请可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述，例如程序模块。一般地，程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构、类等等。也可以在分布式计算环境中实践本申请，在这些分布式计算环境中，由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中，程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。
通过以上的实施方式的描述可知，本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，移动终端，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
本说明书中的各个实施例采用递进的方式描述，各个实施例之间相同或相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。本申请可用于众多通用或专用的计算机系统环境或配置中。例如：个人计算机、服务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器系统、基于微处理器的系统、置顶盒、可编程的电子设备、网络PC、小型计算机、大型计算机、包括以上任何系统或设备的分布式计算环境等等。
虽然通过实施例描绘了本申请，本领域技术人员知道，本申请有许多变形和变化而不脱离本申请的精神，希望所附的实施方式包括这些变形和变化而不脱离本申请。
Claims (8)
1.一种基于二维统计特征的测井曲线校正方法，其特征在于，包括：
获取目标区域中参考井的第一测井曲线、参考井的第二测井曲线，以及目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线，其中，所述参考井的第一测井曲线与所述目标井的第一测井曲线类型相同，所述参考井的第二测井曲线与所述目标井的第二测井曲线类型相同，所述目标井的第一测井曲线和所述目标井的第二测井曲线类型不同；
根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量；
根据所述第一校正量校正所述目标井的第一测井曲线，根据所述第二校正量校正所述目标井的第二测井曲线；
其中，根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量，包括：
根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，获取参考井的目标层段数据，根据所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，获取目标井的目标层段数据，其中，所述参考井的目标层段和所述目标井的目标层段位于同一层位；
根据所述参考井的目标层段数据，确定参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，确定目标井的概率密度函数；
根据所述参考井的概率密度函数、所述目标井的概率密度函数，确定相关函数；
根据所述相关函数，确定所述第一校正量、所述第二校正量；
其中，根据所述相关函数，确定所述第一校正量、所述第二校正量，包括：
根据所述相关函数，确定所述相关函数的峰值点；
根据所述相关函数的峰值点，确定第一偏移量、第二偏移量，并将所述第一偏移量作为所述第一校正量，将所述第二偏移量作为所述第二校正量。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述参考井的目标层段数据，确定参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，确定目标井的概率密度函数，包括：
通过统计非参估计法对所述参考井的目标层段数据进行处理，确定所述参考井的概率密度函数；
通过统计非参估计法对所述目标井的目标层段数据进行处理，确定所述目标井的概率密度函数。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述参考井的概率密度函数、所述目标井的概率密度函数，确定相关函数，包括：
按照以下公式，确定所述相关函数：
上式中，R(ΔA,ΔB)为相关函数，F1(A,B)为参考井的概率密度函数，F2(A+ΔA,B+ΔB)为目标井的概率密度函数，ΔA为参考井的第一测井曲线和目标井的第一测井曲线之间的偏移量，ΔB为参考井的第二测井曲线和目标井的第二测井曲线之间的偏移量，A为目标井的第一测井曲线的数据，B为目标井的第二测井曲线的数据。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一校正量校正所述目标井的第一测井曲线，根据所述第二校正量校正所述目标井的第二测井曲线，包括：
根据所述第一校正量建立第一校正公式，根据所述第二校正量建立第二校正公式；
利用所述第一校正公式，校正所述目标井的第一测井曲线，利用所述第二校正公式，校正所述目标井的第二测井曲线。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述第一校正量建立第一校正公式，根据所述第二校正量建立第二校正公式，包括：
按照以下公式，分别建立所述第一校正公式、所述第二校正公式：
上式中，为校正后的目标井的第一测井曲线的数据，A为目标井的第一测井曲线的数据，ΔA0为第一校正量，为校正后的目标井的第二测井曲线的数据，B为目标井的第二测井曲线的数据，ΔB0为第二校正量。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标井的第一测井曲线和所述目标井的第二测井曲线的类型包括以下至少之一：声波测井曲线、密度测井曲线、自然电位测井曲线、自然伽马测井曲线、纵波测井曲线、横波测井曲线、中子测井曲线、电阻率测井曲线、电导率测井曲线。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取目标区域中参考井的第一测井曲线、参考井的第二测井曲线，以及目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线后，所述方法还包括：
分别剔除所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线中的无效数据段，得到处理后的参考井的第一测井曲线、处理后的参考井的第二测井曲线、处理后的目标井的第一测井曲线、处理后的目标井的第二测井曲线；
其中，所述无效数据段包括以下至少之一：无测量值的数据段、眼垮塌的数据段、存在的特殊岩性段的地区数据段；
相应的，根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量，包括：根据所述处理后的参考井的第一测井曲线、所述处理后的参考井的第二测井曲线、所述处理后的目标井的第一测井曲线、所述处理后的目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量。
8.一种基于二维统计特征的测井曲线校正装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取目标区域中参考井的第一测井曲线、参考井的第二测井曲线，以及目标井的第一测井曲线、目标井的第二测井曲线，其中，所述参考井的第一测井曲线与所述目标井的第一测井曲线类型相同，所述参考井的第二测井曲线与所述目标井的第二测井曲线类型相同，所述目标井的第一测井曲线和所述目标井的第二测井曲线类型不同；
确定模块，用于根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，以及所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，确定第一校正量、第二校正量；
校正模块，用于根据所述第一校正量校正所述目标井的第一测井曲线，根据所述第二校正量校正所述目标井的第二测井曲线；
其中，所述确定模块包括：
第一获取单元，用于根据所述参考井的第一测井曲线、所述参考井的第二测井曲线，获取参考井的目标层段数据，根据所述目标井的第一测井曲线、所述目标井的第二测井曲线，获取目标井的目标层段数据，其中，所述参考井的目标层段和所述目标井的目标层段位于同一层位；
第一确定单元，用于根据所述参考井的目标层段数据，确定参考井的概率密度函数；根据所述目标井的目标层段数据，确定目标井的概率密度函数；
第二确定单元，用于根据所述参考井的概率密度函数、所述目标井的概率密度函数，确定相关函数；
第三确定单元，用于根据所述相关函数，确定所述第一校正量、所述第二校正量；
其中，所述第三确定单元包括：
第一确定子单元，用于根据所述相关函数，确定所述相关函数的峰值点；
第二确定子单元，用于根据所述相关函数的峰值点，确定第一偏移量、第二偏移量，并将所述第一偏移量作为所述第一校正量，将所述第二偏移量作为所述第二校正量。
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- 2017-10-13 CN CN201710951601.4A patent/CN107991705B/zh active Active
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|---|
| 测井曲线标准化方法对比研究及应用;徐延勇 等;《中国煤炭地质》;20130131;第25卷(第1期);第53-57页 |
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