CN107991637A - 阻抗测量仪器校准方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种阻抗测量仪器校准方法及装置。该方法包括:获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;若需要校准,则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。本发明实施例通过测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值,确定所述阻抗测量仪器是否需要校准,若需要校准时,对所述阻抗测量仪器进行校准处理;若所述阻抗测量仪器无需进行校准时,可以直接投入使用,而无需使用标准空气棒进行校准,减少了标准空气棒的使用次数,节省了使用标准空气棒进行校准的时间,从而可以减少标准空气棒的耗损,降低了校准成本。
Description
技术领域
本发明实施例涉及测量仪器校准技术领域,尤其涉及一种阻抗测量仪器校准方法及装置。
背景技术
在使用阻抗测量仪进行阻抗检测过程中,阻抗测量仪器容易因线缆扭曲,接头松动,探头磨损,机器温度等各类因素的影响,导致测量值出现较大的误差。因此,日常使用过程中,每隔几个小时需要使用标准空气棒对阻抗测量仪器进行校准,以保证阻抗测量仪器的测量精度。
由于标准空气棒价格昂贵,且在使用过程中非常容易损坏,且每隔几个小时就需要对阻抗测量仪器进行校准,校准频率大,使用标准空气棒对阻抗测量仪器进行校准,标准空气棒需要经常更换,从而导致阻抗测量仪器校准成本很高。并且使用标准空气棒对阻抗测量仪器进行校准操作繁杂,每次校准需耗费几十分钟时间,耗时较长。
发明内容
本发明实施例提供一种阻抗测量仪器校准方法及装置,以解决每次均使用标准空气棒对阻抗测量仪器进行校准,由于标准空气棒价格昂贵,易损坏,且校准操作复杂,耗费时间长,导致阻抗测量仪器校准成本很高,耗时长的问题。
本发明实施例的一个方面是提供一种阻抗测量仪器校准方法,包括:
获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;
根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;
若需要校准,则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。
本发明实施例的另一个方面是提供一种阻抗测量仪器校准装置,包括:
获取模块,用于获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;
判断模块,用于根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;
校准模块,用于若需要校准,则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。
本发明实施例提供的阻抗测量仪器校准方法及装置,通过获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;确定所述阻抗测量仪器需要进行校准时,再对所述阻抗测量仪器进行校准处理。当所述阻抗测量仪器无需进行校准时,可以直接投入使用,而无需使用标准空气棒进行校准,减少了标准空气棒的使用次数,节省了使用标准空气棒进行校准的时间,从而可以减少标准空气棒的耗损,降低了校准成本;并且使用标准阻抗条确定所述阻抗测量仪器是否需要校准非常便捷,耗费时间很短,节省了阻抗测量仪器的校准时间。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的阻抗测量仪器校准方法流程图;
图2为本发明实施例二提供的阻抗测量仪器校准方法流程图;
图3为本发明实施例三提供的阻抗测量仪器校准装置的结构图;
图4为本发明实施例四提供的阻抗测量仪器校准装置的结构图。
具体实施方式
实施例一
图1为本发明实施例一提供的阻抗测量仪器校准方法流程图。本发明实施例针对现有的对阻抗测量仪器进行校准时,每次均使用标准空气棒对阻抗测量仪器进行校准,由于标准空气棒价格昂贵,易损坏,且校准操作复杂,耗费时间长,导致阻抗测量仪器校准成本很高,耗时长的问题,提供了阻抗测量仪器校准方法,该方法具体步骤如下:
步骤S101、获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值。
其中,标准阻抗条是已知其阻抗的标准值的阻抗条。
可选地,该标准阻抗条可以由技术人员根据实际需要选择阻抗的标准值在指定范围内的标准阻抗条。
在该步骤S101中,所述阻抗测量值是阻抗测量仪器测量标准阻抗条得到一个测量值。
步骤S102、根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;若需要校准,则执行步骤S103;若无需校准,则执行步骤S104。
在本实施例中,根据当前阻抗测量仪器测得的标准阻抗条的阻抗测量值,以及该标准阻抗条的阻抗的标准值,可以获知阻抗测量仪器测量数据的误差大小,并可以进一步判断所述阻抗测量仪器是否需要校准。
在实际应用中,每班上班或每天在进行阻抗测量前,首先需对阻抗测量仪器进行校准。在本实施例中,每班上班或每天在进行阻抗测量前,首先确定阻抗测量仪器是否需要校准,如果确定阻抗测量仪器不需要校准,则可以直接开始进行阻抗测量;只有在确定阻抗测量仪器需要校准时,才需要对阻抗测量仪器进行校准。
步骤S103、对所述阻抗测量仪器进行校准处理。
在上述步骤S102中,若判断所述阻抗测量仪器需要校准,在该步骤S103中则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。若步骤S102中判断所述阻抗测量仪器不需要校准,则无需执行该步骤S103,可以直接使用该阻抗测量仪器进行阻抗测量。
步骤S104、进行阻抗测量。
本发明实施例通过获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;确定所述阻抗测量仪器需要进行校准时,再对所述阻抗测量仪器进行校准处理。当所述阻抗测量仪器无需进行校准时,可以直接投入使用,而无需使用标准空气棒进行校准,减少了标准空气棒的使用次数,节省了使用标准空气棒进行校准的时间,从而可以减少标准空气棒的耗损,降低了校准成本;并且使用标准阻抗条确定所述阻抗测量仪器是否需要校准非常便捷,耗费时间很短,节省了阻抗测量仪器的校准时间。
实施例二
在上述实施例一的基础上,在本发明实施例二中,所述根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准,包括:计算所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值之间的差值;若所述差值大于第一预设阈值,确定所述阻抗测量仪器需要校准;若所述差值小于或等于所述第一预设阈值,确定所述阻抗测量仪器不需要校准。
图2为本发明实施例二提供的阻抗测量仪器校准方法流程图。在上述实施例一基础上,本发明实施例二中,如图2所示,该阻抗测量仪器校准方法包括以下步骤:
步骤S201、获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值。
其中,标准阻抗条是已知其阻抗的标准值的阻抗条。
优选地,所述标准阻抗条的阻抗的标准值为20~30欧姆;或者所述标准阻抗条的阻抗的标准值为45~55欧姆;或者所述标准阻抗条的阻抗的标准值为70~75欧姆。
进一步地,在实际应用中,该标准阻抗条可以由技术人员根据实际需要进行选择,可以根据待测产品的理想阻抗值选取一个具有与该理想阻抗值接近的阻抗的标准阻抗条,本发明实施例对于标准阻抗条的阻抗的标准值不做具体限定。例如,待测电路板的理想阻抗值为50欧姆,则可以选择阻抗的标准值为45~55欧姆的标准阻抗条。
可选地,所述标准阻抗条密封保存,可以用塑胶袋密封保存,防止标准阻抗条因氧化引起阻抗值的变化。
步骤S202、计算所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值之间的差值。
优选地,所述标准阻抗条的阻抗的标准值是周期性确定的。
具体地,可以周期性地对阻抗条的阻抗的标准值进行更新。可选地,每隔预设周期根据校准后的阻抗测量仪器测得的所述标准阻抗条的阻抗进行测量,得到该标准阻抗条的阻抗的新的标准值。
优选地,对阻抗条的阻抗的标准值进行更新可以采用如下方法实现:获取校准后的阻抗测量仪器对所述标准阻抗条的阻抗进行多次测量得的多个测量值,计算该多个的平均值,将该平均值作为所述标准阻抗条的阻抗的标准值。其中,校准后的阻抗测量仪器对所述标准阻抗条的阻抗进行多次测量得的测量值的个数可以为5个,还可以由技术人员根据实际需要获取其他指定数量的所述测量值,本发明实施例对此不做具体限定。
可选地,对阻抗条的阻抗的标准值进行更新的周期可以设定为一个月。需要说明的是,对阻抗条的阻抗的标准值进行更新的周期可以由技术人员根据实际需要设定,本发明实施例对此不做具体限定。
步骤S203、判断所述差值是否大于第一预设阈值;若是,执行步骤S204;若否,则无需校准,可以进行阻抗测量。
优选地,所述第一预设阈值=所述标准阻抗条的阻抗的标准值×1%。
需要说明的是,所述第一预设阈值可以由技术人员根据实际需要进行设定,例如,如果阻抗测量仪器的阻抗测量精度要求较高,技术人员可以将第一预设阈值设为标准阻抗条的阻抗的标准值×0.5%,如果阻抗测量仪器的阻抗测量精度要求较低,技术人员可以将第一预设阈值设为标准阻抗条的阻抗的标准值×1.2%。技术人员还可以根据实际需要将第一预设阈值设定为其他值,本发明实施例对此不做具体限定。
在该步骤S203中,比较所述差值与第一预设阈值的大小,若所述差值大于第一预设阈值,则可以认为所述阻抗测量仪器测量误差太大,确定所述阻抗测量仪器需要校准,执行步骤S204。若所述差值小于或等于所述第一预设阈值,则可以认为所述阻抗测量仪器测量误差较小,在可以接受的范围内,确定所述阻抗测量仪器不需要校准,执行步骤S205。
例如,步骤S201中所述阻抗测量仪器测量标准阻抗条得到的阻抗测量值为50.7欧姆,标准阻抗条的阻抗的标准值为50欧姆;则步骤S202中计算得到的阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值之间的差值为50.7-50=0.7;若该步骤S203中第一预设阈值设定为标准阻抗条的阻抗的标准值×1%,则第一预设阈值为0.5;则比较所述差值与第一预设阈值的大小,可知所述差值大于第一预设阈值,则认为当前阻抗测量仪器的测量误差太大,超过可接受范围,需要对所述阻抗测量仪器进行校准处理,则执行步骤S204。
步骤S204、对所述阻抗测量仪器进行校准处理。
在上述步骤S202中,若判断所述阻抗测量仪器需要校准,在该步骤S203中则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。可选地,可以采用标准空气棒对阻抗测量仪器进行校准。
步骤S205、进行阻抗测量。
若步骤S202中判断所述阻抗测量仪器不需要校准,则可以直接使用该阻抗测量仪器进行阻抗测量。
本发明实施例通过计算所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值之间的差值;若所述差值大于第一预设阈值,则阻抗测量仪器的测量误差过大,确定所述阻抗测量仪器需要校准;若所述差值小于或等于所述第一预设阈值,则阻抗测量仪器的测量误差较小,确定所述阻抗测量仪器不需要校准。当所述阻抗测量仪器无需进行校准时,可以直接投入使用,而无需使用标准空气棒进行校准,减少了标准空气棒的使用次数,节省了使用标准空气棒进行校准的时间,从而可以减少标准空气棒的耗损,降低了校准成本;并且使用标准阻抗条确定所述阻抗测量仪器是否需要校准非常便捷,耗费时间很短,节省了阻抗测量仪器的校准时间。
实施例三
图3为本发明实施例三提供的阻抗测量仪器校准装置的结构图。本发明实施例提供的阻抗测量仪器校准装置可以执行上述实施例一提供的阻抗测量仪器校准方法实施例提供的处理流程,如图3所示,阻抗测量仪器校准装置包括获取模块301、判断模块302和校准模块303。
其中,获取模块301,用于获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值。判断模块302,用于根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准。校准模块303,用于若需要校准,则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。
本发明实施例提供的阻抗测量仪器校准装置可以具体用于执行上述实施例一提供的阻抗测量仪器校准方法实施例提供的处理流程,具体功能此处不再赘述。
本发明实施例通过获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;确定所述阻抗测量仪器需要进行校准时,再对所述阻抗测量仪器进行校准处理。当所述阻抗测量仪器无需进行校准时,可以直接投入使用,而无需使用标准空气棒进行校准,减少了标准空气棒的使用次数,节省了使用标准空气棒进行校准的时间,从而可以减少标准空气棒的耗损,降低了校准成本;并且使用标准阻抗条确定所述阻抗测量仪器是否需要校准非常便捷,耗费时间很短,节省了阻抗测量仪器的校准时间。
实施例四
图4为本发明实施例四提供的阻抗测量仪器校准装置的结构图。在上述实施例三基础上,在本发明实施例四中,如图4所示,判断模块302具体包括:计算单元3021和确定单元3022。
其中,计算单元3021,用于计算所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值之间的差值。确定单元3022,用于若所述差值大于第一预设阈值,确定所述阻抗测量仪器需要校准。所述确定单元3022还用于若所述差值小于或等于所述第一预设阈值,确定所述阻抗测量仪器不需要校准。
优选地,所述第一预设阈值=所述标准阻抗条的阻抗的标准值×1%。
优选地,所述标准阻抗条的阻抗的标准值为20~30欧姆;或者所述标准阻抗条的阻抗的标准值为45~55欧姆;或者所述标准阻抗条的阻抗的标准值为70~75欧姆。
优选地,所述标准阻抗条的阻抗的标准值是周期性确定的。
本发明实施例提供的阻抗测量仪器校准装置可以具体用于执行上述实施例二所提供的阻抗测量仪器校准方法实施例提供的处理流程,具体功能此处不再赘述。
本发明实施例通过计算所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值之间的差值;若所述差值大于第一预设阈值,则阻抗测量仪器的测量误差过大,确定所述阻抗测量仪器需要校准;若所述差值小于或等于所述第一预设阈值,则阻抗测量仪器的测量误差较小,确定所述阻抗测量仪器不需要校准。当所述阻抗测量仪器无需进行校准时,可以直接投入使用,而无需使用标准空气棒进行校准,减少了标准空气棒的使用次数,节省了使用标准空气棒进行校准的时间,从而可以减少标准空气棒的耗损,降低了校准成本;并且使用标准阻抗条确定所述阻抗测量仪器是否需要校准非常便捷,耗费时间很短,节省了阻抗测量仪器的校准时间。
在本发明所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)或处理器(processor)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本领域技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将装置的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的装置的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。
Claims (10)
1.一种阻抗测量仪器校准方法,其特征在于,包括:
获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;
根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;
若需要校准,则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。
2.根据权利要求1所述的阻抗测量仪器校准方法,其特征在于,所述根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准,包括:
计算所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值之间的差值;
若所述差值大于第一预设阈值,确定所述阻抗测量仪器需要校准;
若所述差值小于或等于所述第一预设阈值,确定所述阻抗测量仪器不需要校准。
3.根据权利要求2所述的阻抗测量仪器校准方法,其特征在于,所述第一预设阈值=所述标准阻抗条的阻抗的标准值×1%。
4.根据权利要求1-3任一所述的阻抗测量仪器校准方法,其特征在于,
所述标准阻抗条的阻抗的标准值为20~30欧姆;或者
所述标准阻抗条的阻抗的标准值为45~55欧姆;或者
所述标准阻抗条的阻抗的标准值为70~75欧姆。
5.根据权利要求4所述的阻抗测量仪器校准方法,其特征在于,
所述标准阻抗条的阻抗的标准值是周期性确定的。
6.一种阻抗测量仪器校准装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;
判断模块,用于根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;
校准模块,用于若需要校准,则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。
7.根据权利要求6所述的阻抗测量仪器校准装置,其特征在于,所述判断模块具体包括:
计算单元,用于计算所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值之间的差值;
确定单元,用于若所述差值大于第一预设阈值,确定所述阻抗测量仪器需要校准;
所述确定单元还用于若所述差值小于或等于所述第一预设阈值,确定所述阻抗测量仪器不需要校准。
8.根据权利要求7所述的阻抗测量仪器校准装置,其特征在于,
所述第一预设阈值=所述标准阻抗条的阻抗的标准值×1%。
9.根据权利要求6-8任一所述的阻抗测量仪器校准装置,其特征在于,
所述标准阻抗条的阻抗的标准值为20~30欧姆;或者
所述标准阻抗条的阻抗的标准值为45~55欧姆;或者
所述标准阻抗条的阻抗的标准值为70~75欧姆。
10.根据权利要求9所述的阻抗测量仪器校准装置,其特征在于,
所述标准阻抗条的阻抗的标准值是周期性确定的。
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