CN107942186A - 检测方法及显示面板 - Google Patents

Abstract

一种检测方法，用以检测显示面板。检测方法包含以下步骤：开启第一开关以导通第一感测电极中的至少一者；经由第一测试垫以及第二测试垫量测第一阻抗值；开启第二开关以导通第二感测电极中的至少一者；经由第三测试垫以及第四测试垫量测第二阻抗值；依据第一阻抗值与第二阻抗值判断第一感测电极中的至少一者与第二感测电极中的至少一者是否为开路状态；经由第二测试垫以及第三测试垫，量测第三阻抗值；以及依据第三阻抗值判断第一感测电极中的至少一者与第二感测电极中的至少一者是否为短路状态。

Description

检测方法及显示面板

技术领域

本申请是有关于一种检测方法及显示面板，且特别是有关于检测感测电极的检测方法及显示面板。

背景技术

随着信息技术、无线行动通信和信息家电的快速发展与应用，为了达到携带便利、体积轻巧化以及操作人性化的目的，许多信息产品已由传统的键盘或鼠标等输入设备，转变为使用触控面板作为输入设备。

目前，触控面板大致可区分为电阻式、电容式、红外线式及超音波式等触控面板，其中以电阻式触控面板与电容式触控面板为最常见的产品。就电容式触控面板而言，多点触控的特性提供更人性化的操作模式而使得电容式触控面板受到市场青睐。

一般而言，触控显示面板具有主动区以及周边区，其中主动区会设置有多个感测电极以感测触控事件的发生，而周边区中会设置有与感测电极连接的多条讯号传递线。若是在触控显示面板的生产过程中，先检查出多个感测电极之间是否有短路或开路的问题，能够降低触控显示面板的生产成本。

因此，如何在触控显示面板的生产过程中，检查多个感测电极之间是否有短路或开路，为本领域待改进的问题之一。

发明内容

本申请的一态样是在提供一种检测方法。此检测方法用以检测显示面板。显示面板包含多个第一感测电极、多个第二感测电极、第一测试垫、第二测试垫、第三测试垫、第四测试垫、多个第一开关以及多个第二开关。第一感测电极与第二感测电极交错配置。第一感测电极分别通过第一开关与第一测试垫以及第二测试垫电性连接。第二感测电极分别通过第二开关与第三测试垫以及第四测试垫电性连接。检测方法包含以下步骤：开启第一开关以导通第一感测电极中的至少一者；经由第一测试垫以及第二测试垫量测第一阻抗值；开启第二开关以导通第二感测电极中的至少一者；经由第三测试垫以及第四测试垫量测第二阻抗值；依据第一阻抗值与第二阻抗值判断第一感测电极中的至少一者与第二感测电极中的至少一者是否为开路状态；经由第二测试垫以及第三测试垫，量测第三阻抗值；以及依据第三阻抗值判断第一感测电极中的至少一者与第二感测电极中的至少一者是否为短路状态。

本申请的另一态样是在提供一种显示面板。此显示面板包含基板、多个第一感测电极、多个第二感测电极、第一测试垫与第二测试垫、第三测试垫与第四测试垫、多个芯片凸块、多条第一传输走线、多条第二传输走线、多条第一周边走线、多条第二周边走线、多条第一连接走线以及多条第二连接走线。基板具有主动区与周边区，其中周边区邻接于主动区。多个第一感测电极设置于主动区。多个第二感测电极设置于主动区，且多个第一感测电极与多个第二感测电极彼此交错配置。第一测试垫与第二测试垫分别设置于周边区，且第一测试垫与第二测试垫分别电性连接于多个第一感测电极。第三测试垫与第四测试垫，分别设置于周边区，且第三测试垫与第四测试垫分别电性连接于多个第二感测电极。多个芯片凸块，分别包含第一连接垫与第二连接垫，而多个第一连接垫分别电性连接多个第一感测电极中的一者，多个第二连接垫分别电性连接多个第二感测电极中的一者。多条第一传输走线分别耦接多个第一感测电极中的一者与多个第一连接垫中的一者。多条第二传输走线分别耦接多个第二感测电极中的一者与多个第二连接垫中的一者。多条第一周边走线分别耦接多个第一连接垫中的一者与第一测试垫之间以及多个第一连接垫中的一者与第二测试垫之间。多条第二周边走线分别耦接于多个第二连接垫中的一者与第三测试垫之间以及多个第二连接垫中的一者与第四测试垫之间。多条第一连接走线分别耦接于多个第一连接垫的二者之间以及多个第一感测电极的二者之间。多条第二连接走线分别耦接于多个第二连接垫的二者之间以及多个第二感测电极的二者之间。

因此，根据本申请的技术态样，本申请的实施例借由提供一种检测方法及显示面板，借以在显示面板的生产过程中，检查多个感测电极之间是否有短路或开路的问题。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附图式的说明如下：

图1是根据本申请的一些实施例所绘示的一种显示面板的示意图；

图2A是根据本申请的一些实施例所绘示的一种显示面板的示意图；

图2B是根据本申请的一些实施例所绘示的一种显示面板的示意图；

图3是根据本申请的一些实施例所绘示的一种显示面板的示意图；

图4是根据本申请的一些实施例所绘示的一种检测方法的流程图；以及

图5是根据本申请的一些实施例所绘示的一种图4中的其中一步骤的流程图。

其中，附图标记：

100、200A、200B、300：显示面板

110：基板

112：主动区

114：周边区

120A-120H：感测电极

125A-125H：感测电极

130、135：连接垫

140、145：传输走线

150A、150B、155A、155B：连接走线

160A、160B、165A、165B：周边走线

170A、170B、170C、170D：开关

175A、175B、175C、175D：开关

190、192、194、196：测试垫

310A、310B、310C、310D：感测区

400：检测方法

S410、S420、S430、S440：步骤

S450、S460、S470、S452、S454：步骤

具体实施方式

以下揭示提供许多不同实施例或例证用以实施本发明的不同特征。特殊例证中的元件及配置在以下讨论中被用来简化本揭示。所讨论的任何例证只用来作解说的用途，并不会以任何方式限制本发明或其例证的范围和意义。此外，本揭示在不同例证中可能重复引用数字符号且/或字母，这些重复皆为了简化及阐述，其本身并未指定以下讨论中不同实施例且/或配置之间的关系。

在全篇说明书与权利要求所使用的用词(terms)，除有特别注明外，通常具有每个用词使用在此领域中、在此揭露的内容中与特殊内容中的平常意义。某些用以描述本揭露的用词将于下或在此说明书的别处讨论，以提供本领域技术人员在有关本揭露的描述上额外的引导。

关于本文中所使用的『耦接』或『连接』，均可指二或多个元件互相直接作实体或电性接触，或是互相间接作实体或电性接触，而『耦接』或『连接』还可指二或多个元件互相操作或动作。

在本文中，使用第一、第二与第三等等的词汇，是用于描述各种元件、元件、区域、层与/或区块是可以被理解的。但是这些元件、元件、区域、层与/或区块不应该被这些术语所限制。这些词汇只限于用来辨别单一元件、元件、区域、层与/或区块。因此，在下文中的一第一元件、元件、区域、层与/或区块也可被称为第二元件、元件、区域、层与/或区块，而不脱离本发明的本意。如本文所用，词汇『与/或』包含了列出的关联项目中的一个或多个的任何组合。本申请文件中提到的「及/或」是指表列元件的任一者、全部或至少一者的任意组合。

请参阅图1。图1是根据本申请的一些实施例所绘示的一种显示面板100的示意图。如图1所绘示，显示面板100包含基板110。基板110包含主动区112与周边区114。周边区114邻接于主动区112。于本实施例中，周边区114系位于主动区112的相对两侧，但本发明不以此为限。多个第一感测电极120A-120H与多个第二感测电极125A-125H设置于主动区112，且多个第一感测电极120A-120H与多个第二感测电极125A-125H彼此交错配置。第一测试垫190、第二测试垫192、第三测试垫194与第四测试垫196分别设置于周边区114。于图1的实施例中，第一测试垫190与第二测试垫192分别电性连接于多个第一感测电极120A-120H，而第三测试垫194与第四测试垫196分别电性连接于多个第二感测电极125A-125H。

于本实施例中，显示面板100包含多个第一连接垫130与多个第二连接垫135，其中多个第一连接垫130与多个第二连接垫135设置于周边区114。在一些实施例中，多个第一连接垫130与多个第二连接垫135可视为芯片凸块(IC bump)，以电性连接芯片(IC)。举例来说，芯片可通过焊料来固定于芯片凸块，同时焊料也可作为电性连接的媒介。多个第一连接垫130分别电性连接多个第一感测电极120A-120H中的一者，多个第二连接垫135分别电性连接多个第二感测电极125A-125H中的一者。于本实施例中，显示面板100包含多条第一传输走线140与多条第二传输走线145。多条第一传输走线140分别耦接多个第一感测电极120A-120H中的一者与多个第一连接垫130中的一者，而多条第二传输走线145分别耦接多个第二感测电极125A-125H中的一者与多个第二连接垫135中的一者。换言之，多条第一传输走线140与多条第二传输走线145分别从周边区114延伸至主动区112，以作为各连接垫与其对应的感测电极之间的电性传递。

在一些实施例中，显示面板100包含多条第一周边走线160A、160B与多条第二周边走线165A、165B，其中多条第一周边走线160A、160B与多条第二周边走线165A、165B位于周边区114。多条第一周边走线160A、160B，分别耦接多个第一连接垫130中的一者与第一测试垫190之间以及多个第一连接垫130中的一者与第二测试垫192之间。举例来说，第一周边走线160A耦接于多个第一连接垫130中的一者与第一测试垫190之间，而第一周边走线160B耦接于多个第一连接垫130中的一者与第二测试垫192之间。于图1的实施例中，多条第二周边走线165A、165B，分别耦接多个第二连接垫135中的一者与第三测试垫194之间以及多个第二连接垫135中的一者与第四测试垫196之间。举例来说，第二周边走线165A耦接于多个第二连接垫135中的一者与第三测试垫194之间，而第二周边走线165B耦接于多个第二连接垫135中的一者与第四测试垫196之间。换言之，第一周边走线160A是作为第一连接垫与第一测试垫190之间的电性传递，以及第一周边走线160B是作为第一连接垫与第二测试垫192之间的电性传递。相似地，第二周边走线165A是作为第二连接垫与第三测试垫194之间的电性传递，以及第二周边走线165B是作为第二连接垫与第四测试垫196之间的电性传递。

在一些实施例中，显示面板100包含多条第一连接走线150A、150B以及多条第二连接走线155A、155B。多条第一连接走线150A、150B，分别耦接于多个第一连接垫130的二者之间以及多个第一感测电极120A-120H的二者之间。举例来说，第一连接走线150B耦接于多个第一连接垫130的二者之间，而第一连接走线150A耦接于多个第一感测电极120A-120H的二者之间。换言之，多条第一连接走线可分别位于周边区114以及主动区112。以多条第一连接走线150A来说，其作为两两第一感测电极120A-120H之间的电性传递，因此可设置于主动区112或从周边区114延伸至主动区112。以多条第一连接走线150B来说，其可作为两两第一连接垫130之间的电性传递，且设置于周边区114。于本实施例中，多条第二连接走线155A、155B，分别耦接于多个第二连接垫135的二者之间以及多个第二感测电极125A-125H的二者之间。举例来说，第二连接走线155B耦接于多个第二连接垫135的二者之间，第二连接走线155A耦接于多个第二感测电极125A-125H的二者之间。具体而言，多条第二连接走线可分别位于周边区114以及主动区112。以多条第二连接走线155A来说，其作为两两第二感测电极125A-125H之间的电性传递，因此可设置于主动区112或从周边区114延伸至主动区112。以多条第二连接走线150B来说，其可作为两两第二连接垫135之间的电性传递，且设置于周边区114。为了方便说明，于图1中仅绘示8个第一感测电极120与8个第二感测电极125，然而，本申请并不以此为限。在一些实施例中，周边区114可包含芯片(未绘示)，且芯片可对应于第一连接垫130与第二连接垫135而设置，以通过连接垫使得芯片与第一感测电极120A-120H与第二感测电极125A-125H能彼此电性传递。

在一些实施例中，显示面板100更包含多个第一开关170A、170B、170C、170D与多个第二开关175A、175B、175C、175D。多个第一开关170A、170B、170C、170D与多个第二开关175A、175B、175C、175D分别设置于周边区114。多个第一开关170A、170B、170C、170D分别通过第一周边走线160A、160B而耦接于多个第一连接垫130的一者与第一测试垫190之间、多个第一连接垫130的一者与第二测试垫192之间，以及通过第一连接走线150A、150B而耦接于多个第一连接垫130的二者之间、多个第一感测电极120A-1210H的二者之间。具体而言，第一开关170A耦接于多个第一连接垫130的一者与第一测试垫190之间，以作为控制第一连接垫130与第一测试垫190之间是否电性连接。第一开关170B耦接于多个第一连接垫130的一者与第二测试垫192之间，以作为控制第一连接垫130与第二测试垫192之间是否电性连接。相似地，第一开关170C通过第一连接走线150A、150B而耦接于多个第一连接垫130的二者之间，以作为控制两两第一连接垫130之间是否电性连接。第一开关170D通过第一连接走线150A、150B而耦接于多个第一感测电极120A-120H的二者之间，以作为控制两两第一感测电极120之间是否电性连接。于本实施例中，第一开关170A、170B、170C与170D是位于周边区114，其中第一开关170是位于主动区112的一侧边，而其他第一开关170A、170B与170C则位于主动区112的另一侧边，使得第一开关170A、170B、170C、第一测试垫190、第二测试垫192、第三测试垫194与第四测试垫196设置于相同侧边。但本发明不以此为限，于其他实施例中，可依走线设计、测试垫、周边区布局不同，而调整第一开关的位置，能达到控制第一感测电极、第一连接垫、第一测试垫与第二测试垫之间的电性导通关系即可。

在一些实施例中，多个第二开关175A、175B、175C、175D分别通过第二周边走线165A、165B而耦接于多个第二连接垫135的一者与第三测试垫194之间、多个第二连接垫135的一者与第四测试垫196之间，以及通过第二连接走线155A、155B而耦接于多个第二连接垫135的二者之间、多个第二感测电极125的二者之间。具体而言，第二开关175A耦接于多个第二连接垫135的一者与第三测试垫194之间，以作为控制第二连接垫135与第三测试垫194之间是否电性连接。第二开关175B耦接于多个第二连接垫135的一者与第四测试垫196之间，以作为控制第二连接垫135与第四测试垫196之间是否电性连接。相似地，第二开关175C通过第二连接走线155A、155B而耦接于多个第二连接垫135的二者之间，以作为控制两两第二连接垫135之间是否电性连接。第二开关175D通过第二连接走线155A、155B而耦接于多个第二感测电极125A-125H的二者之间，以作为控制两两第二感测电极125A-125H之间是否电性连接。于本实施例中，第二开关180A、180B、180C与180D是位于周边区114，其中第二开关180是位于主动区112的一侧边，而其他第二开关180A、180B与180C则位于主动区112的另一侧边，使得第二开关180A、180B、180C、第一测试垫190、第二测试垫192、第三测试垫194与第四测试垫196设置于相同侧边。但本发明不以此为限，于其他实施例中，可依走线设计、测试垫、周边区布局不同，而调整第二开关的位置，能达到控制第二感测电极、第二连接垫、第三测试垫与第四测试垫之间的电性导通关系即可。在一些实施例中，多个第一开关170A、170B、170C、170D与多个第二开关175A、175B、175C、175D可为薄膜晶体管(TFT)，但本申请不以此为限。

请参阅图2A。图2A是根据本申请的一些实施例所绘示的一种显示面板200A的示意图。显示面板200A与图1中的显示面板100相同，但为了方便说明与理解，显示面板200A仅绘示图1中的显示面板100的部分元件与走线，用以表达各元件与第一测试垫190、第二测试垫192的连接关系。如图2A所绘示，第一感测电极120A、120B、120C、120D互相串联而形成第一感测电极串，第一感测电极120E、120F、120G、120H互相串联而形成第一感测电极串。详言之，由第一测试垫190起始，经由第一周边走线160A、第一开关170A、第一传输走线140、第一连接垫130连接至第一感测电极120A，第一感测电极120A经由第一连接走线150A、第一开关170D连接至第一感测电极120B，第一感测电极120B经由第一传输走线140、第一连接垫130、第一连接走线150B、第一开关170C连接至第一感测电极120C，第一感测电极120C经由第一连接走线150A、第一开关170D连接至第一感测电极120D，第一感测电极120D经由第一传输走线140、第一连接垫130、第一开关170B、第一周边走线160B连接至第二测试垫192，以形成第一感测电极串。由第一测试垫190起始，经由第一周边走线160A、第一开关170A、第一传输走线140、第一连接垫130连接至感测电极120E，感测电极120E经由连接走线150A、第一开关170D连接至第一感测电极120F，第一感测电极120F经由第一传输走线140、第一连接垫130、第一连接走线150B、第一开关170C连接至第一感测电极120G，第一感测电极120G经由第一连接走线150A、第一开关170D连接至第一感测电极120H，第一感测电极120H经由第一传输走线140、第一连接垫130、第一开关170B、第一周边走线160B连接至第二测试垫192，以形成另一个第一感测电极串。第一感测电极120A、120B、120C、120D的第一感测电极串与第一感测电极120E、120F、120G、120H的另一第一感测电极串彼此互相并联。换言之，从第一测试垫190通过多个第一感测电极而电性连接至第二测试垫192的导通路径中，可形成第一感测电极串。如此一来，显示面板则可形成多个第一感测电极串，且这些第一感测电极串则呈现并联关系。如以图2A的实施例来看，显示面板200A则设有两个第一感测电极串，其一为第一测试垫190、第一感测电极120A、第一感测电极120B、第一感测电极120C、第一感测电极120D与第二测试垫192所形成的导通路径；另一为第一测试垫190、第一感测电极120E、第一感测电极120F、第一感测电极120G、第一感测电极120H与第二测试垫192所形成的导通路径。

在一些实施例中，第一感测电极120A-120H通过多条第一传输走线140、多条第一周边走线160A、160B与多条第一连接走线150A、150B而互相串联及/或并联。如图2A所绘示的第一感测电极120A-120H的串联与并联数目仅作为例示，本申请不以此为限。

请参阅图2B。图2B是根据本申请的一些实施例所绘示的一种显示面板200B的示意图。显示面板200B与图1中的显示面板100相同，但为了方便说明与理解，显示面板200B仅绘示图1中的显示面板100的部分元件与走线。如图2B所绘示，第二感测电极125A、125B、125C、125D互相串联而形成第二感测电极串，第二感测电极125E、125F、125G、125H互相串联而形成第二感测电极串。详言之，由第三测试垫194起始，经由第二周边走线165A、第二开关175A、第二传输走线145、第二连接垫135连接至第二感测电极125A，第二感测电极125A经由第二连接走线155A、第二开关175D连接至第二感测电极125B，第二感测电极125B经由第二传输走线145、第二连接垫135、第二连接走线155B、第二开关175C连接至第二感测电极125C，第二感测电极125C经由第二连接走线155A、第二开关175D连接至第二感测电极125D，第二感测电极125D经由第二传输走线145、第二连接垫135、第二开关175B、第二周边走线165B连接至第四测试垫196，以形成第二感测电极串。由第三测试垫194起始，经由第二周边走线165A、第二开关175A、第二传输走线145、第二连接垫135连接至第二感测电极125E，第二感测电极125E经由第二连接走线155A、第二开关175D连接至第二感测电极125F，第二感测电极125F经由第二传输走线145、第二连接垫135、第二连接走线155B、第二开关175C连接至第二感测电极125G，第二感测电极125G经由第二连接走线155A、第二开关175D连接至第二感测电极125H，第二感测电极125H经由第二传输走线145、第二连接垫135、第二开关175B、第二周边走线165B连接至第四测试垫196，以形成另一个第二感测电极串。由第二感测电极125A、125B、125C、125D互相串联而形成的第二感测电极串与由第二感测电极125E、125F、125G、125H互相串联而形成的第二感测电极串彼此互相并联。换言之，从第三测试垫194通过多个第二感测电极而电性连接至第四测试垫196的导通路径中，可形成第二感测电极串。如此一来，显示面板则可形成多个第二感测电极串，且这些第二感测电极串则呈现并联关系。如以图2B的实施例来看，显示面板200B则设有两个第二感测电极串，其一为第三测试垫194、第二感测电极125A、第二感测电极125B、第二感测电极125C、第二感测电极125D与第四测试垫196所形成的导通路径；另一为第三测试垫194、第二感测电极125E、第二感测电极125F、第二感测电极125G、第二感测电极125H与第四测试垫196所形成的导通路径。

在一些实施例中，第二感测电极125A-125H通过多条第二传输走线145、多条第二周边走线165A、165B与多条第二连接走线155A、155B而互相串联及/或并联。如图2B所绘示的第二感测电极125A-125H的串联与并联数目仅作为例示，本申请不以此为限。

请参阅图3。图3是根据本申请的一些实施例所绘示的一种显示面板300的示意图。如图3所绘示，多个第一感测电极120A-120H与多个第二感测电极125A-125H设置于主动区112。主动区112包含多个感测区310A-310D。感测区310A包含第一感测电极120A-120D与第二感测电极125A-125D。感测区310B包含第一感测电极120E-120H与第二感测电极125E-125H。感测区310A中的第一感测电极120A-120D与第二感测电极125A-125D连接方式如图1、图2A或图2B所绘示。感测区310B中的第一感测电极120E-120H与第二感测电极125E-125H连接方式如图1、图2A或图2B所绘示。为了方便解释，每一感测区中的连接方式并未于图3绘示，而图3则表示出各感测区之间与其外部元件的连接关系。

举例来说，如图1所绘示，同一感测区中的第一感测电极120通过多个第一开关170A、170B、170C与170D中的至少一者而耦接，以形成第一感测电极串。同一感测区中的第二感测电极125通过多个第二开关175A、175B、175C与175D中的至少一者而耦接，以形成第二感测电极串。图3中的显示面板300为图1中的显示面板100的另一种实施例。

为了方便说明与理解，图3中仅绘示图1中的部分元件与走线，然而，图3中的显示面板300的各个元件之间的连接方式与图1中的显示面板100的各个元件之间的连接方式相类似。

请再参阅图3，位于不同感测区的多个第一感测电极串以并联方式耦接于第一测试垫190与第二测试垫192。位于不同感测区的多个第二感测电极串以并联方式耦接于第三测试垫194与第四测试垫196。例如，位于感测区310A中的第一感测电极串与位于感测区310B中的第一感测电极串以并联方式耦接于第一测试垫190与第二测试垫192。详细而言，由第一测试垫190、第一感测电极120A、第一感测电极120B、第一感测电极120C、第一感测电极120D与第二测试垫192所形成的导通路径，与由第一测试垫190、第一感测电极120E、第一感测电极120F、第一感测电极120G、第一感测电极120H与第二测试垫192所形成的导通路径互相并联。位于感测区310A中的第二感测电极串与位于感测区310B中的第二感测电极串以并联方式耦接于第三测试垫194与第四测试垫196。详细而言，由第三测试垫194、第二感测电极125A、第二感测电极125B、第二感测电极125C、第二感测电极125D与第四测试垫196所形成的导通路径，与由第三测试垫194、第二感测电极125E、第二感测电极125F、第二感测电极125G、第二感测电极125H与第四测试垫196所形成的导通路径彼此并联。

为了方便说明与理解，关于图1、图2A、图2B以及图3的详细检测方法，将于以下配合图4一并说明。

请参阅图4。图4是根据本申请的一些实施例所绘示的一种检测方法400的流程图。检测方法400包含以下步骤：

S410：开启多个第一开关中的至少一者以导通多个第一感测电极中的至少一者；

S420：经由第一测试垫以及第二测试垫，量测第一阻抗值；

S430：开启多个第二开关中的至少一者以导通多个第二感测电极中的至少一者；

S440：经由第三测试垫以及第四测试垫，量测第二阻抗值；

S450：依据第一阻抗值与第二阻抗值判断多个第一感测电极中的至少一者与多个第二感测电极中的至少一者是否为开路状态；

S460：经由第二测试垫以及第三测试垫，量测第三阻抗值；以及

S470：依据第三阻抗值判断多个第一感测电极中的至少一者与多个第二感测电极中的至少一者是否为短路状态。

步骤S410：开启多个第一开关中的至少一者以导通多个第一感测电极中的至少一者。请一并参阅图4与图2A。在一些实施例中，开启耦接于第一感测电极120A与第一感测电极120B之间的第一开关170D，开启耦接于第一感测电极120A与第一感测电极120C之间的第一开关170D，开启通过多个第一连接垫130中的至少一者而耦接于第一感测电极120B与第一感测电极120C之间的第一开关170C，开启通过多个第一连接垫130中的至少一者而耦接于第一感测电极120B与第一测试垫190之间的第一开关170A，并开启通过多个第一连接垫130中的至少一者而耦接于第一感测电极120D与第二测试垫192之间的第一开关170B，以导通第一感测电极120A、120B、120C、120D。

上述的示例为仅导通一个第一感测电极串的情况，于本申请中，亦可同时导通多个第一感测电极串，本申请不以此为限。在一些实施例中，步骤S410可由周边区114的芯片所执行。具体而言，步骤S410系控制第一开关来达到各第一感测电极可电性连接于第一测试垫190与第二测试垫192，意即使第一感测电极串能够形成电性导通的路径。

步骤S420：经由第一测试垫以及第二测试垫，量测第一阻抗值。举例来说，在一些实施例中，若是于步骤S410中，导通第一感测电极120A-120D，于步骤S420中，可经由第一测试垫190与第二测试垫192量测第一感测电极120A-120D的第一阻抗值。若是于步骤S410中，导通第一感测电极120A-120H，于步骤S420中，可经由第一测试垫190与第二测试垫192量测第一感测电极120A-120H的第一阻抗值。在一些实施例中，步骤S420可由三用电表执行。在一些实施例中，步骤S420可由周边区114的芯片所执行。

步骤S430：开启多个第二开关中的至少一者以导通多个第二感测电极中的至少一者。请一并参阅图4与图2B。在一些实施例中，开启耦接于第二感测电极125A与第二感测电极125B之间的第二开关175D，开启耦接于第二感测电极125A与第二感测电极125C之间的第二开关175D，开启通过多个第二连接垫135中的至少一者而耦接于第二感测电极125B与第二感测电极125C之间的第二开关175C，开启通过多个第二连接垫135中的至少一者而耦接于第二感测电极125B与第三测试垫194之间的第二开关175A，并开启通过多个第二连接垫135中的至少一者而耦接于第二感测电极125D与第四测试垫196之间的第二开关175B，以导通第二感测电极125A、125B、125C、125D。

上述的示例为仅导通一个第二感测电极串的情况，于本申请中，亦可同时导通多个第二感测电极串，本申请不以此为限。在一些实施例中，步骤S430可由周边区114的芯片所执行。具体而言，步骤S430系控制第二开关来达到各第二感测电极可电性连接于第三测试垫194与第四测试垫196，意即使第二感测电极串能够形成电性导通的路径。

步骤S440：经由第三测试垫以及第四测试垫，量测第二阻抗值。举例来说，在一些实施例中，若是于步骤S430中，导通第二感测电极125A-125D，于步骤S440中，可经由第三测试垫194与第四测试垫196量测第二感测电极125A-125D的第一阻抗值。若是于步骤S430中，导通第二感测电极125A-125J，于步骤S440中，可经由第三测试垫194与第四测试垫196量测第二感测电极125A-125H的第一阻抗值。在一些实施例中，步骤S440可由三用电表执行。在一些实施例中，步骤S440可由周边区114的芯片所执行。

S450：依据第一阻抗值与第二阻抗值判断多个第一感测电极中的至少一者与多个第二感测电极中的至少一者是否为开路状态。举例来说，可依据第一感测电极120A-120D的第一阻抗值与第二感测电极125A-125D的第二阻抗值判断第一感测电极120A-120D与第二感测电极125A-125D是否为开路状态。举例来说，量测位于第一感测区310A中的第一感测电极120A-120D的第一阻抗值以及位于第一感测区310A中的第二感测电极125A-125D的第二阻抗值。判断所量测的第一阻抗值与第二阻抗值之间的阻抗差值是否大于阻抗差阈值。若是判定阻抗差值大于阻抗差阈值，则判定第一感测电极120A-120D与第二感测电极125A-125D为开路状态。在一些实施例中，步骤S450可由周边区114的芯片所执行。

在一些实施例中，步骤S410与步骤S430更包含于第一时间，开启多个第一开关中的部分，以导通位于第一感测区的第一感测电极，开启该些第二开关的部分，以导通位于第一感测区的第二感测电极，以及于第二时间，开启多个第一开关的部分，以导通位于第二感测区的第一感测电极，开启多个第二开关的部分，以导通位于第二感测区的第二感测电极。

请一并参阅图1、图3与图4。举例来说，在一些实施例中，于第一时间，执行步骤S410，开启多个第一开关中170A-170D的部分，以导通位于第一感测区310A的第一感测电极120，执行步骤S420，通过第一测试垫190与第二测试垫192量测位于第一感测区310A的第一感测电极120的第一阻抗值，执行步骤S430，开启多个第二开关175A-175D中的部分，以导通位于第一感测区310A中的第二感测电极125，执行步骤S440，通过第三测试垫194与第四测试垫196量测位于第一感测区310A的第二感测电极125的第二阻抗值。

于第二时间，执行步骤S410，开启多个第一开关中170A-170D的部分，以导通位于第二感测区310B的第一感测电极120，执行步骤S420，通过第一测试垫190与第二测试垫192量测位于第二感测区310B的第一感测电极120的第一阻抗值，执行步骤S430，开启多个第二开关175A-175D中的部分，以导通位于第二感测区310B中的第二感测电极125，执行步骤S440，通过第三测试垫194与第四测试垫196量测位于第二感测区310B的第二感测电极125的第二阻抗值。其余依此类推。在一些实施例中，步骤S450可由周边区114的芯片所执行。

请参阅图5。图5是根据本申请的一些实施例所绘示的一种步骤S450的流程图。步骤S450包含以下步骤：

S452：判断所量测的第一阻抗值与第二阻抗值之间的阻抗差值是否大于阻抗差阈值；以及

S454：当阻抗差值大于阻抗差阈值时，判定位于第一感测区中的第一感测电极与第二感测电极中的至少一者为开路。

步骤S452：判断所量测的第一阻抗值与第二阻抗值之间的阻抗差值是否大于阻抗差阈值。举例来说，若是于步骤S410-S440中，量测位于第一感测区310A中的第一阻抗值以及位于第一感测区310A中的第二阻抗值。于步骤S452中，判断于第一时间所量测的第一阻抗值与第二阻抗值之间的阻抗差值是否大于阻抗差阈值。再举例来说，若是于步骤S410-S440中，量测位于第二感测区310B中的第一阻抗值以及位于第二感测区310B中的第二阻抗值，于步骤S452中，判断于第二时间所量测的第一阻抗值与第二阻抗值之间的阻抗差值是否大于阻抗差阈值。

步骤S454：当阻抗差值大于阻抗差阈值时，判定第一感测电极与第二感测电极中的至少一者为开路。举例来说，于第一时间来判断第一感测区310A中，第一阻抗值与第二阻抗值之间的差值。如果差值大于阻抗差阈值时，则表示于第一感测区310A的第一感测电极120A-120D或第二感测电极125A-125D有开路情况。具体而言，通过比较相同区域中同数量的第一感测电极的阻抗值与第二感测电极的阻抗值以判断是否有开路状态。

再举例来说，于第一时间来判断第一感测区310A中的第一阻抗值，与第二感测区310B中的第二阻抗值之间的差值。如果差值大于阻抗差阈值时，则表示于第一感测区310A的第一感测电极120A-120D或第二感测区310B中的第二感测电极125E-125H有开路情况。具体而言，通过比较相对应区域中同数量的第一感测电极的阻抗值与第二感测电极的阻抗值以判断是否有开路状态。举例来说，第一感测区310A与第二感测区310B于显示面板300上为左右对称，且第一感测区310A与第二感测区310B于显示面板300上相对于周边区114的芯片的距离相同。

请回头参阅图4。步骤S460：经由第二测试垫以及第三测试垫，量测第三阻抗值。请一并参阅图4与图1。举例来说，同时导通多个第一感测电极120中的至少一者以及多个第二感测电极125中的至少一者，并经由第二测试垫192以及第三测试垫194，量测第三阻抗值。具体而言，请参阅图1，在一些实施例中，由第一感测电极120A起始，经由第一连接走线150A、第一开关170D连至第一感测电极120B，由第一感测电极120B经由第一传输走线140、第一连接垫130、第一开关170C、第一连接走线150B连至第一感测电极120C，由第一感测电极120C经由第一连接走线150A、第一开关170D连至第一感测电极120D，由第一感测电极120D经由第一周边走线160B、第一开关170B、第一连接走线150B与第一连接垫130连至第二测试垫192。再由第二感测电极125A起始，经由第二连接走线155A、第二开关175D连至第二感测电极125B，由第二感测电极125B经由第二传输走线145、第二连接垫135、第二开关175C、第二连接走线155B连至第二感测电极125C，由第二感测电极125C经由第二连接走线155A、第二开关175D连至第二感测电极125D，由第二感测电极125D经由第二周边走线165B、第二开关175B、第二连接走线155B与第二连接垫135连至第三测试垫194。通过开启部分的第一开关170A、170B、170C、170D以及部分的第二开关175A、175B、175C、175D，可将第一感测电极120A-120D与第二感测电极125A-125D导通，并经由第二测试垫192以及第三测试垫194，量测第三阻抗值。在一些实施例中，步骤S460可由三用电表所执行。在一些实施例中，步骤S460可由周边区114的芯片所执行。

S470：依据第三阻抗值判断多个第一感测电极中的至少一者与多个第二感测电极中的至少一者是否为短路状态。举例来说，若是判断于步骤S460所量测的第三阻抗值过大，使三用电表发出一警示声，于S470中可判定多个第一感测电极中的至少一者与多个第二感测电极中的至少一者为短路状态。在一些实施例中，若是第一感测电极中的至少一者与多个第二感测电极中的至少一者为短路状态，三用电表会侦测并显示出存在有短路的感测电极，例如发出警示声。而若是第一感测电极中的至少一者与多个第二感测电极中的至少一者皆非短路状态，三用电表不会发出警示有短路存在的警示声。在一些实施例中，步骤S470可由周边区114的芯片所执行。

如图4所绘示的检测方法400仅作为例示说明使用。以不同顺序执行步骤S410-S470皆在本揭示内容的考虑范围内。

综上所述，如图1所示，第一感测电极120A-120H以及第二感测电极125A-125H可分为一大区域进行检测。或者如图3所示，第一感测电极120A-120H以及第二感测电极125A-125H亦可分成多个区域，分区比较阻抗检测。将第一感测电极120A-120H以及第二感测电极125A-125H分为一大区域进行检测可一次检测所有的感测电极，且通过将感测电极串联以及并联，可选择性的检测部分的感测电极串，以避免当串联太多的感测电极时，阻抗值过大而难以量测的问题。另一方面，由于不同的感测电极距离测试垫190-196的距离不同，且因应不同的距离会有不同的阻抗值，因此若是如图3所示，将第一感测电极120A-120H以及第二感测电极125A-125H分成多个区域，分区比较阻抗检测，可有效降低由于不同的感测电极距离测试垫190-196的距离不同所造成的量测误差。

如上所述的传输走线140、145、连接走线150A、150B、155A、155B、周边走线160A、160B、165A、165B可形成于第二层金属、第三层金属或两层金属之间的跨线。

由上述本申请的实施方式可知，本申请的实施例借由提供一种检测方法及显示面板，且特别是有关于检测感测电极的检测方法及显示面板，借以有效在触控显示面板的生产过程中，检查多个感测电极之间是否有短路或开路。

另外，上述例示包含依序的示范步骤，但该些步骤不必依所显示的顺序被执行。以不同顺序执行该些步骤皆在本揭示内容的考虑范围内。在本揭示内容的实施例的精神与范围内，可视情况增加、取代、变更顺序及/或省略该些步骤。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种检测方法，其特征在于，用以检测一显示面板，该显示面板包含多个第一感测电极、多个第二感测电极、一第一测试垫、一第二测试垫、一第三测试垫与一第四测试垫、多个第一开关以及多个第二开关，该些第一感测电极与该些第二感测电极交错配置，该些第一感测电极分别通过该些第一开关与该第一测试垫以及该第二测试垫电性连接，该些第二感测电极分别通过该些第二开关与该第三测试垫以及该第四测试垫电性连接，该检测方法包含：

开启该些第一开关中的至少一者以导通该些第一感测电极中的至少一者；

经由该第一测试垫以及该第二测试垫，量测一第一阻抗值；

开启该些第二开关中的至少一者以导通该些第二感测电极中的至少一者；

经由该第三测试垫以及该第四测试垫，量测一第二阻抗值；

依据该第一阻抗值与该第二阻抗值判断该些第一感测电极中的至少一者与该些第二感测电极中的至少一者是否为开路状态；

经由该第二测试垫以及该第三测试垫，量测一第三阻抗值；以及

依据该第三阻抗值判断该些第一感测电极中的至少一者与该些第二感测电极中的至少一者是否为短路状态。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，该显示面板更包含一第一感测区与一第二感测区，该第一感测区与该第二感测区分别包含该些第一感测电极中的至少一者以及该些第二感测电极中的至少一者，其中开启该些第一开关中的至少一者以导通该些第一感测电极中的至少一者与开启该些第二开关中的至少一者以导通该些第二感测电极中的至少一者更包含：

于一第一时间，开启该些第一开关的部分，以导通位于该第一感测区的该些第一感测电极，以及开启该些第二开关的部分，以导通位于该第一感测区的该些第二感测电极；以及

于一第二时间，开启该些第一开关的部分，以导通位于该第二感测区的该些第一感测电极，以及开启该些第二开关的部分，以导通位于该第二感测区的该些第二感测电极。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，依据该第一阻抗值与该第二阻抗值判断该些第一感测电极中的至少一者与该些第二感测电极中的至少一者是否为开路更进一步包含：

判断于该第一时间所量测的该第一阻抗值与该第二阻抗值之间的一阻抗差值是否大于一阻抗差阈值；以及

当该阻抗差值大于该阻抗差阈值时，判定位于该第一感测区中的该些第一感测电极与该些第二感测电极的至少一者为开路。

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，依据该第一阻抗值与该第二阻抗值判断该些第一感测电极中的至少一者与该些第二感测电极中的至少一者是否为开路更进一步包含：

判断于该第二时间所量测的该第一阻抗值与该第二阻抗值之间的一阻抗差值是否大于一阻抗差阈值；以及

当该阻抗差值大于该阻抗差阈值时，判定位于该第二感测区中的该些第一感测电极与该些第二感测电极的至少一者为开路。

5.一种显示面板，其特征在于，包含：

一基板，具有一主动区与一周边区，其中该周边区邻接于该主动区；

多个第一感测电极，设置于该主动区；

多个第二感测电极，设置于该主动区，且该些第一感测电极与该些第二感测电极彼此交错配置；

一第一测试垫与一第二测试垫，分别设置于该周边区，且该第一测试垫与该第二测试垫分别电性连接于该些第一感测电极；

一第三测试垫与一第四测试垫，分别设置于该周边区，且该第三测试垫与该第四测试垫分别电性连接于该些第二感测电极；

多个第一连接垫与多个第二连接垫，而该些第一连接垫分别电性连接该些第一感测电极中的一者，该些第二连接垫分别电性连接该些第二感测电极中的一者；

多条第一传输走线，分别耦接该些第一感测电极中的一者与该些第一连接垫中的一者；

多条第二传输走线，分别耦接该些第二感测电极中的一者与该些第二连接垫中的一者；

多条第一周边走线，分别耦接该些第一连接垫中的一者与该第一测试垫之间以及该些第一连接垫中的一者与该第二测试垫之间；

多条第二周边走线，分别耦接于该些第二连接垫中的一者与该第三测试垫之间以及该些第二连接垫中的一者与该第四测试垫之间；

多条第一连接走线，分别耦接于该些第一连接垫的二者之间以及该些第一感测电极的二者之间；以及

多条第二连接走线，分别耦接于该些第二连接垫的二者之间以及该些第二感测电极的二者之间。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，部分的该些第一感测电极互相串联而形成一第一感测电极串，使得该些第一感测电极可形成多个第一感测电极串，且该些第一感测电极串彼此互相并联。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，部分的该些第二感测电极互相串联而形成一第二感测电极串，使得该些第二感测电极可形成多个第二感测电极串，且该些第二感测电极串彼此互相并联。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，该些第一感测电极通过该些第一传输走线该些第一周边走线与该些第一连接走线而互相串联及/或并联，其中该些第二感测电极通过该些第二传输走线、该些第二周边走线与该些第二连接走线而互相串联及/或并联。

9.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，更包含：

多个第一开关，分别设置于该周边区，其中该些第一开关分别通过该些第一周边走线而耦接于该些第一连接垫的一者与该第一测试垫之间、该些第一连接垫的一者与该第二测试垫之间，以及通过该些第一连接走线而耦接于该些第一连接垫的二者之间、该些第一感测电极的二者之间；以及

多个第二开关，分别设置于该周边区，其中该些第二开关分别通过该些第二周边走线而耦接于该些第二连接垫的一者与该第三测试垫之间、该些第二连接垫的一者与该第四测试垫之间，以及通过该些第二连接走线而耦接该些第二连接垫的二者之间、该些第二感测电极的二者之间。

10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，更包含：

一第一感测区，包含该些第一感测电极中的部分以及该些第二感测电极中的部分，其中该些第一感测电极的部分可通过该些第一开关中的至少一者而耦接，以形成一第一感测电极串，该些第二感测电极的部分可通过该些第二开关中的至少一者而耦接，以形成一第二感测电极串；以及

一第二感测区，包含该些第一感测电极中的另一部分以及该些第二感测电极中的另一部分，其中该些第二感测电极的另一部分可通过该些第一开关中的至少一者而耦接，以形成另一该第一感测电极串，该些第二感测电极的另一部分可通过该些第二开关中的至少一者而耦接，以形成另一该第二感测电极串；

其中位于该第一感测区与该第二感测区的该些第一感测电极串则以并联方式耦接于该第一测试垫与该第二测试垫，位于该第一感测区与该第二感测区的该些第二感测电极串则以并联方式耦接于该第三测试垫与该第四测试垫。