CN107920322B - 降噪耳机测试方法、测试系统以及计算机可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种降噪耳机测试方法、测试系统以及计算机可读存储介质。该方法包括:获取降噪耳机的测试曲线,并与数据库中预存的曲线进行比对;当测试曲线与良品曲线相匹配时,则判断降噪耳机合格;当测试曲线与不良品曲线相匹配时,将不良品曲线对应的增益值写入降噪耳机中。该测试方法可以根据不良产品的测试曲线自动匹配相应的不良频曲线的增益值,并将该增益值在线写入降噪耳机中,大大提高了降噪耳机的测试与纠错效率,适应于大规模生产。
Description
技术领域
本发明涉及降噪耳机技术领域,更具体地,涉及一种降噪耳机测试方法、测试系统以及计算机可读存储介质。
背景技术
降噪耳机在生产过程中需要进行降噪测试。在测试之前,降噪耳机通常会写入一个设定的增益值。该增益值是根据大批量产品的测试结果得出的数值。绝大多数的产品在该增益值下能够实现良好的降噪效果。
测试系统通常包括发声装置、仿真耳组件以及处理器。测试系统通常在封闭的环境中进行,以屏蔽外部声音的影响。发声装置用于发出不同频率的声音,例如100Hz-500Hz。在测试时,测试系统获取降噪耳机在不同频率下的降噪开和降噪关的差值。该差值与不同的频率形成测试曲线,该测试曲线与预存的合格曲线进行比对。当不匹配时,通常需要手动取出降噪耳机,单独进行复判调试。将调试后的增益值重新写入降噪耳机中。
这种方法不能在线处理不合格产品,需要将不合格产品取出,然后再进行担负的复判调试,造成降噪耳机的测试效率低,不利于大规模生产。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种降噪耳机测试方法的新技术方案。
根据本发明的第一方面,提供了一种降噪耳机测试方法。该测试方法包括:获取降噪耳机的测试曲线,并与数据库中预存的曲线进行比对;
当测试曲线与良品曲线相匹配时,则判断降噪耳机合格;
当测试曲线与不良品曲线相匹配时,将所述不良品曲线对应的增益值写入所述降噪耳机中。
可选地,当所述测试曲线与良品曲线以及不良品曲线均不匹配时,则判断降噪耳机不合格。
可选地,对判断不合格的所述降噪耳机进行复判调试;
当调试合格时,将复判调试的曲线以及对应的增益值作为不良品曲线以及对应的增益值写入数据库。
可选地,当调试不合格时,则判断降噪耳机为废品,将不合格的曲线以及不合格状态作为废品数据写入数据库中。
可选地,在进行测试之前还包括:测试多个降噪耳机在降噪开和降噪关时分贝值随频率变化的曲线,或者多个降噪耳机在降噪开和降噪关时分贝值的差值随频率变化的曲线,以获取良品曲线以及不良品曲线和对应的增益值,并写入数据库中。
可选地,当测试曲线在设定频率时的分贝值与良品曲线在相同频率的分贝值的差值小于设定差值时,判断降噪耳机合格。
可选地,当测试曲线在设定频率时的分贝值与不良品曲线在相同频率的分贝值的差值小于设定差值时,将所述不良品曲线对应的增益值写入所述降噪耳机中。
可选地,所述设定差值为2分贝。
根据本发明的第二方面,提供了一种降噪耳机测试系统。该测试系统包括发声装置、仿真耳组件和处理器;
所述发声装置被配置为用于发出设定频率的声音信号;
所述仿真耳组件被配置为用于承载降噪耳机,并获取降噪耳机的在不同频率下的分贝值;
所述处理器被配置为根据所述分贝值,获取降噪耳机的测试曲线,并与数据库中预存的曲线进行比对;
当测试曲线与良品曲线相匹配时,则判断降噪耳机合格;
当测试曲线与不良品曲线相匹配时,将所述不良品曲线对应的增益值写入所述降噪耳机中。
根据本发明的第三方面,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序。该程序被处理器执行时实现本发明提供的所述测试方法。
根据本公开的一个实施例,该测试方法可以根据不良产品的测试曲线自动匹配相应的不良频曲线的增益值,并将该增益值在线写入降噪耳机中。通过这种方式,不用首先将降噪耳机离线,然后重新进行降噪测试,根据测试结果得到合适的增益值,再重新将合适的增益值写入降噪耳机。该测试方法大大提高了降噪耳机的测试与纠错效率,适应于大规模生产。
通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述,本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例,并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。
图1是根据本发明的一个实施例的降噪耳机测试方法的流程图。
图2是根据本发明的一个实施例的降噪耳机测试系统的结构示意图。
附图标记说明:
11:消声箱;12:发声装置;13:仿真耳本体;14:工装;15:降噪耳机;16:测试放大器;17:声卡;18:仿真耳组件;19:处理器。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
在这里示出和讨论的所有例子中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
根据本发明的一个实施例,提供了一种降噪耳机测试方法。如图1所示,该方法包括:
获取降噪耳机的测试曲线,并与数据库中预存的曲线进行比对。测试曲线可以是降噪耳机在降噪开时和降噪关时分贝值随频率的变化曲线,或者是降噪耳机在降噪开时和降噪关时分贝值的差值随频率的变化曲线。预存的曲线的种类与上述两种曲线一一对应,以便于进行比对。例如,频率范围为100Hz-600Hz。该频率为低频范围,能适应大部分应用环境的降噪要求。本领域技术人员可以根据实际需要选择频率范围。
当测试曲线与良品曲线相匹配时,则判断降噪耳机合格。降噪耳机合格说明预先写入降噪耳机的增益值是合适的,并且降噪耳机的降噪效果达到标准值。相匹配为测试曲线与良品曲线完全一致,或者测试曲线在设定频率时的分贝值与良品曲线在相同频率的分贝值的差值小于设定差值。例如,设定差值为2,即差值小于2为相匹配。
当测试曲线与不良品曲线相匹配时,将不良品曲线对应的增益值写入降噪耳机中。降噪耳机不合格说明预先写入降噪耳机的增益值是不合适的,需要根据相匹配的不良品曲线重新写入相应的增益值。降噪耳机按照该增益值进行增益,可以使降噪效果达到标准值。相匹配为测试曲线与数据库中存储的某条不良品曲线完全一致,或者测试曲线在设定频率时的分贝值与不良品曲线在相同频率的分贝值的差值小于设定差值。例如,设定差值为2,即差值小于2为相匹配。
在本发明实施例中,该测试方法可以根据不良产品的测试曲线自动匹配相应的不良频曲线的增益值,并将该增益值在线写入降噪耳机中。通过这种方式,不用首先将降噪耳机离线,然后重新进行降噪测试,根据测试结果得到合适的增益值,再重新将合适的增益值写入降噪耳机。该测试方法大大提高了降噪耳机的测试与纠错效率,适应于大规模生产。
在一个例子中,当测试曲线与良品曲线以及不良品曲线均不匹配时,则判断降噪耳机不合格。在该例子中,降噪耳机预先写入的增益值不合适,但由于超出了存储库中预存的增益值的范围,因此不能被重新写入合适的增益值。此时,判断降噪耳机不合格。通过这种方式,可以有效地检出不合格产品。该降噪耳机需要通过其他方式进行处理。
在一个例子中,对判断不合格的降噪耳机进行复判调试。在复判测试中,不合格降噪耳机被取出并重新测试降噪耳机在降噪开和降噪关时分贝值随频率变化的曲线,根据降噪值的大小重新确定增益值的大小,将该增益值写入不合格降噪耳机中,即得到调试合格的降噪耳机。降噪值即降噪开和降噪关时分贝值的差值。
与此同时,当调试合格时,将复判调试的曲线以及对应的增益值作为不良品曲线以及对应的增益值写入数据库。复判调试的曲线可以是在降噪开和降噪关时分贝值随频率变化的曲线,或者降噪开和降噪关的分贝值的差值随频率变化的曲线。
通过这种方式,降噪耳机中的不合格产品的测试曲线和对应的增益值被写入数据库中。当其他的降噪耳机的测试曲线与该测试曲线相匹配时,可以直接将对应的增益值写入降噪耳机中,而不需单独进行复判调试。
该方法具有自我学习的能力,可以不断丰富数据库中的曲线以及对应的增益值,提高了自身的纠错能力。
在一个例子中,当调试不合格时,则判断降噪耳机为废品,并将不合格的曲线以及不合格状态作为废品数据写入数据库中。在该例子中,数据库中建立了废品的曲线库,当其他的降噪耳机的测试曲线与废品的曲线相匹配时,自动判断为废品,不需要再进行复判调试。该方法可以快速检测出废品,从而节省了复判调试的时间。
在一个例子中,在进行测试之前还包括:测试多个降噪耳机在降噪开和降噪关时分贝值随频率变化的曲线,或者多个降噪耳机在降噪开和降噪关时分贝值的差值随频率变化的曲线,以获取良品曲线以及不良品曲线和对应的增益值,并写入数据库中。该方法可以针对不同种类的降噪耳机建立不同的数据库,提高了该方法的适用性。
在其他示例中,不同种类的降噪耳机的数据库提前建立完毕,可以直接获取相应的数据库使用。
根据本发明的另一个实施例,提供了一种降噪耳机测试系统。如图2所示,该系统包括发声装置12、仿真耳组件18和处理器19。
发声装置12被配置为用于发出设定频率的声音信号。该声音信号为一系列单频信号,或者全频段噪声。
仿真耳组件18被配置为用于承载降噪耳机15,并获取降噪耳机15的在不同频率下的分贝值。例如,如图2所示,仿真耳机组件包括工装14、仿真耳本体13、测试功率放大器和声卡17等。优选地,测试系统还包括消声箱11。发声装置12、仿真耳本体13、工装14被设置在消声箱11中。发声装置12位于消声箱11的顶部。
在测试时,降噪耳机15被放置到工装14上。仿真耳本体13模仿人耳的结构,并用于获取降噪耳机15在降噪开和降噪关时的分贝值。该分贝值经过测试放大器15的放大,再经过声卡17最终达到处理器19中。
处理器19被配置为根据分贝值,获取降噪耳机15的测试曲线,并与数据库中预存的曲线进行比对。测试曲线可以是降噪耳机15在降噪开时和降噪关时分贝值随频率的变化曲线,或者是降噪耳机15在降噪开时和降噪关时分贝值的差值随频率的变化曲线。
当测试曲线与良品曲线相匹配时,则判断降噪耳机15合格。降噪耳机15合格说明预先写入降噪耳机15的增益值是合适的,降噪耳机15的降噪效果达到标准值。相匹配为测试曲线与良品曲线完全一致,或者是测试曲线在设定频率时的分贝值与良品曲线在相同频率的分贝值的差值小于设定差值。例如设定差值为2,即差值小于2为相匹配。
当测试曲线与不良品曲线相匹配时,将不良品曲线对应的增益值写入降噪耳机15中。降噪耳机15不合格说明预先写入降噪耳机15的增益值是不合适的,需要根据相匹配的不良品曲线重新写入相应的增益值。相匹配为测试曲线与数据库中存储的某条部良品曲线完全一致,或者是测试曲线在设定频率时的分贝值与不良品曲线在相同频率的分贝值的差值小于设定差值。例如设定差值为2,即差值小于2为相匹配。
该测试系统可以根据不良产品的测试曲线自动匹配相应的不良频曲线的增益值,并将该增益值在线写入降噪耳机15中。通过这种方式,不用首先将降噪耳机15离线,然后重新进行降噪测试,根据测试结果得到合适的增益值,再重新将合适的增益值写入降噪耳机15。该测试方法大大提高了降噪耳机15的测试与纠错效率,适应于大规模生产。
根据本发明的又一个实施例,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序。该程序被处理器执行时实现本发明的测试方法。
本发明可以是系统、方法和/或计算机程序产品。计算机程序产品可以包括计算机可读存储介质,其上载有用于使处理器实现本发明的各个方面的计算机可读程序指令。
计算机可读存储介质可以是可以保持和存储由指令执行设备使用的指令的有形设备。计算机可读存储介质例如可以是但不限电存储设备、磁存储设备、光存储设备、电磁存储设备、半导体存储设备或者上述的任意合适的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、静态随机存取存储器(SRAM)、便携式压缩盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能盘(DVD)、记忆棒、软盘、机械编码设备、例如其上存储有指令的打孔卡或凹槽内凸起结构、以及上述的任意合适的组合。这里所使用的计算机可读存储介质不被解释为瞬时信号本身,诸如无线电波或者其他自由传播的电磁波、通过波导或其他传输媒介传播的电磁波(例如,通过光纤电缆的光脉冲)、或者通过电线传输的电信号。
这里所描述的计算机可读程序指令可以从计算机可读存储介质下载到各个计算/处理设备,或者通过网络、例如因特网、局域网、广域网和/或无线网下载到外部计算机或外部存储设备。网络可以包括铜传输电缆、光纤传输、无线传输、路由器、防火墙、交换机、网关计算机和/或边缘服务器。每个计算/处理设备中的网络适配卡或者网络接口从网络接收计算机可读程序指令,并转发该计算机可读程序指令,以供存储在各个计算/处理设备中的计算机可读存储介质中。
用于执行本发明操作的计算机程序指令可以是汇编指令、指令集架构(ISA)指令、机器指令、机器相关指令、微代码、固件指令、状态设置数据、或者以一种或多种编程语言的任意组合编写的源代码或目标代码,所述编程语言包括面向对象的编程语言—诸如Smalltalk、C++等,以及常规的过程式编程语言—诸如“C”语言或类似的编程语言。计算机可读程序指令可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络—包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。在一些实施例中,通过利用计算机可读程序指令的状态信息来个性化定制电子电路,例如可编程逻辑电路、现场可编程门阵列(FPGA)或可编程逻辑阵列(PLA),该电子电路可以执行计算机可读程序指令,从而实现本发明的各个方面。
这里参照根据本发明实施例的方法、装置(系统)和计算机程序产品的流程图描述了本发明的各个方面。应当理解,流程图的每个方框以及流程图中各方框的组合,都可以由计算机可读程序指令实现。
这些计算机可读程序指令可以提供给通用计算机、专用计算机或其它可编程数据处理装置的处理器,从而生产出一种机器,使得这些指令在通过计算机或其它可编程数据处理装置的处理器执行时,产生了实现流程图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的装置。也可以把这些计算机可读程序指令存储在计算机可读存储介质中,这些指令使得计算机、可编程数据处理装置和/或其他设备以特定方式工作,从而,存储有指令的计算机可读介质则包括一个制造品,其包括实现流程图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的各个方面的指令。
也可以把计算机可读程序指令加载到计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上,使得在计算机、其它可编程数据处理装置或其它设备上执行一系列操作步骤,以产生计算机实现的过程,从而使得在计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上执行的指令实现流程图中的一个或多个方框中规定的功能/动作。
附图中的流程图和示意图显示了根据本发明的多个实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或示意图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或指令的一部分,所述模块、程序段或指令的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。在有些作为替换的实现中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个连续的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,示意图和/或流程图中的每个方框、以及示意图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。对于本领域技术人员来说公知的是,通过硬件方式实现、通过软件方式实现以及通过软件和硬件结合的方式实现都是等价的。
以上已经描述了本发明的各实施例,上述说明是示例性的,并非穷尽性的,并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下,对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择,旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术改进,或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。本发明的范围由所附权利要求来限定。
Claims (9)
1.一种降噪耳机测试方法,其特征在于,包括:
获取降噪耳机的测试曲线,并与数据库中预存的曲线进行比对;
当测试曲线与良品曲线相匹配时,则判断降噪耳机合格;
当测试曲线与不良品曲线相匹配时,将所述不良品曲线对应的增益值写入所述降噪耳机中,以使降噪效果达到标准值;
当所述测试曲线与良品曲线以及不良品曲线均不匹配时,则判断降噪耳机不合格。
2.根据权利要求1所述的降噪耳机测试方法,其特征在于,
对判断不合格的所述降噪耳机进行复判调试;
当调试合格时,将复判调试的曲线以及对应的增益值作为不良品曲线以及对应的增益值写入数据库。
3.根据权利要求2所述的降噪耳机测试方法,其特征在于,当调试不合格时,则判断降噪耳机为废品,将不合格的曲线以及不合格状态作为废品数据写入数据库中。
4.根据权利要求1所述的降噪耳机测试方法,其特征在于,在进行测试之前还包括:
测试多个降噪耳机在降噪开和降噪关时分贝值随频率变化的曲线,或者多个降噪耳机在降噪开和降噪关时分贝值的差值随频率变化的曲线,以获取良品曲线以及不良品曲线和对应的增益值,并写入数据库中。
5.根据权利要求1所述的降噪耳机测试方法,其特征在于,当测试曲线在设定频率时的分贝值与良品曲线在相同频率的分贝值的差值小于设定差值时,判断降噪耳机合格。
6.根据权利要求1所述的降噪耳机测试方法,其特征在于,当测试曲线在设定频率时的分贝值与不良品曲线在相同频率的分贝值的差值小于设定差值时,将所述不良品曲线对应的增益值写入所述降噪耳机中。
7.根据权利要求5或者6所述的降噪耳机测试方法,其特征在于,所述设定差值为2分贝。
8.一种降噪耳机测试系统,其特征在于,包括发声装置、仿真耳组件和处理器;
所述发声装置被配置为用于发出设定频率的声音信号;
所述仿真耳组件被配置为用于承载降噪耳机,并获取降噪耳机的在不同频率下的分贝值;
所述处理器被配置为根据所述分贝值,获取降噪耳机的测试曲线,并与数据库中预存的曲线进行比对;
当测试曲线与良品曲线相匹配时,则判断降噪耳机合格;
当测试曲线与不良品曲线相匹配时,将所述不良品曲线对应的增益值写入所述降噪耳机中,以使降噪效果达到标准值;
当所述测试曲线与良品曲线以及不良品曲线均不匹配时,则判断降噪耳机不合格。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中的任意一项所述的方法。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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