CN107870838A - 一种linux下多pattern内存诊断测试的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种linux系统下多pattern内存诊断测试的方法,在linux系统下使用多种pattern对内存进行诊断测试,同时可以根据测试经验和侧重点修改测试pattern数量和循环次数,提前高效发现内存故障风险,弥补了内存在linux系统下的诊断测试方法中无法测试多种pattern的空缺,保障了产品和服务器的稳定性和可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及计算机服务器技术领域,具体地涉及一种在linux系统下使用多种pattern对内存进行诊断测试的方法及装置。
背景技术
随着服务器行业的高速发展,在各个领域中越来越多的客户采用计算能力更强的服务器运行自己的核心应用。Inspur浪潮作为国内最大服务器供应商,为了满足高度并行化及高性能需求的客户,在推高性能服务器的同时,通用注重产品的质量、可靠性和稳定性。
内存是服务器系统的关键组成部分,内存的好坏直接影响服务器的正常工作,而半导体产品的特性使得内存厂家不可能将所有存在风险的内存全部筛选出来,同时内存在客户端经过长时间的使用,内存产品会逐渐老化,从而产生故障。所以需要通过对内存的加压诊断测试提前发现内存故障风险,筛选剔除有故障风险的内存,提高服务器的质量、可靠性和稳定性。
目前在linux系统下通常都是使用持续的读写压力测试,缺少不同读写操作和不同数据块组合的多样pattern测试,无法更有效率的发现内存故障风险,所以急需一种可以在linux系统下测试多种pattern的方法。
发明内容
本发明的技术任务是针对以上不足之处,提供一种可以简单有效的在linux系统下使用多种pattern对内存进行诊断测试的方法及对应的装置,提前发现内存故障风险,从而保障产品和服务器的稳定性和可靠性。
本发明是通过如下技术方案实现的,一种1inux下多pattern内存诊断测试的方法,包括以下步骤:将测试工具拷贝到Linux系统下;执行测试工具;进一步的,测试工具从第一条内存开始测试。
进一步的,测试过程中监测ECC报错信息。
进一步的,修改pattern数量和循环次数。
进一步的,测试结束显示结束提示。
本发明还提供一种内存诊断测试的方法,其特征在于:具体的为多pattern测试内存。
进一步的,具体的测试包括Mem_Databus,Mem_Inverse,Mem_MemoryAddress,Mem_PseudoRandom,Mem_Running0。
本发明还提供一种内存诊断测试的装置,该装置用于多pattern测试内存,具体包括第一模块,用于测试Mem_Databus;第二模块,用于测试Mem_Inverse,第三模块,用于测试Mem_MemoryAddress;第四模块,用于测试Mem_PseudoRandom;第五模块,用于测试Mem_Running0。
本发明的有益效果是创新性、实用性强,可以简单有效的在linux系统下使用多种pattern对内存进行诊断测试,提前发现内存故障风险。
具体实施方式
下面对本发明的较佳实施例进行详细阐述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。
本实施例提供一种多种pattern对内存进行诊断测试的方法,具体包括以下步骤:
1、测试工具拷贝到系统下,执行测试./stress.sh
2、测试工具根据配置文件test.scm中的pattern进行测试;
<Platform>Scheme“test.scm”started.Running scheme:test.scm…
3、软件首先检测查看内存信息(例如开始测试dimm0),如内存大小,可用内存;
4、运行各个pattern测试,测试结束时显示finish提示;测试内容包括关于以下内容的程
Mem_Databus,Mem_Inverse,Mem_MemoryAddress,Mem_PseudoRandom,Mem_Running0;
5、测试过程中程序会对系统各log检测查看是否有ECC报错:
Check ECC pass;
Check BMC SEL;
Check SEL pass;
Check Dmesg;
Check Dmesg pass;
Check Mcelog;
Not find mcelog;
Check Mcelog pass
6、可以根据测试经验和侧重点修改测试pattern数量和循环次数,提高了测试的强度和效率,具体的,可以修改test.scm配置文件中的pattern数量和循环次数自定义诊断测试
[TEST.scm]
T0=Mem_Walking;
T1=Mem_Movi;
T2=Mem_BitStuck;
T3=Mem_Databus;
T4=Mem_Inverse;
T5=Mem_MemoryAddress;
T6=Mem_Pseudorandom;
T7=Mem_Running0;
T8=Mem_Butterfly;CYCLE=2;
T9=Mem_XOR;CYCLE=5;
T10=Mem_SUB;CYCLE=5;
T11=Mem_AND;CYCLE=5;
T12=Mem_SEQ;CYCLE=5;
T13=Mem_Linear;CYCLE=2;
T14=Mem_March28N;CYCLE=2
综上,该实施例提供了一种创新性、实用性强,可以简单有效的在linux系统下使用多种pattern对内存进行诊断测试方法,提前发现内存故障风险。首先将测试工具拷贝到linux系统下,执行测试工具,就会从第一条内存依次开始各个pattern的测试,并在测试过程中实时监测ECC报错信息,同时可以根据测试经验和侧重点修改测试pattern数量和循环次数,提高了测试的强度和效率,保障了产品和服务器的稳定性和可靠性。
本发明一实施例还提供了一种用于测试内存的方法,具体的是一种多pattern测试内存方法,测试内容包括关于以下内容Mem_Databus,Mem_Inverse,Mem_MemoryAddress,Mem_PseudoRandom,Mem_Running0。
本发明一实施例还提供了一种用于测试内存的装置,用于多pattern测试内存,具体包括第一模块,用于测试databus;第二模块,用于测试inverse,第三模块,用于测试memoryaddress;第四模块,用于测试PseudoRandom;第五模块,用于测试Mem_Running0。
本发明一实施例还提供了一种可读介质,包括执行指令,当存储控制器的处理器执行所述执行指令时,所述存储控制器执行本发明实施例中多种pattern对内存进行诊断测试的方法。本发明实施例提供了一种存储控制器,包括:处理器、存储器、总线,所述存储器用于存储执行指令,所述处理器与所述存储器通过所述总线连接,当所述存储控制器运行时,所述处理器执行所述存储器存储的所述执行指令,以使所述存储控制器执行本发明实施例中多种pattern对内存进行诊断的方法。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种linux下多pattern内存诊断测试的方法,其特征在于:包括以下步骤:将测试工具拷贝到Linux系统下;执行测试工具。
2.根据权利要求1所述的内存诊断测试的方法,其特征在于:测试工具从第一条内存开始测试。
3.根据权利要求1所述的内存诊断测试的方法,其特征在于:测试过程中监测ECC报错信息。
4.根据权利要求1所述的内存诊断测试的方法,其特征在于:修改pattern数量和循环次数。
5.根据权利要求1所述的内存诊断测试的方法,其特征在于:测试结束显示结束提示。
6.一种内存诊断测试的方法,其特征在于:具体的为多pattern测试内存。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于:具体的测试包括Mem_Databus,Mem_Inverse,Mem_MemoryAddress,Mem_PseudoRandom,Mem_Running0。
8.一种内存诊断测试的装置,其特征在于:该装置用于多pattern测试内存,具体包括第一模块,用于测试Mem_Databus;第二模块,用于测试Mem_Inverse,第三模块,用于测试Mem_MemoryAddress;第四模块,用于测试Mem_PseudoRandom;第五模块,用于测试Mem_Running0。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108717388A (zh) * | 2018-05-29 | 2018-10-30 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种dos环境下可实时定位的内存诊断测试方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1315732A (zh) * | 2000-03-30 | 2001-10-03 | 华为技术有限公司 | 随机存储器的自动检测方法及其检测电路 |
US20050036371A1 (en) * | 2003-08-11 | 2005-02-17 | Keiichi Kushida | Semiconductor memory including error correction function |
CN101197194A (zh) * | 2007-02-27 | 2008-06-11 | 深圳市同洲电子股份有限公司 | 一种存储器检测方法 |
CN103986680A (zh) * | 2014-05-14 | 2014-08-13 | 北京航空航天大学 | 一种小型化双通道ofdm通信系统及其实现方法 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1315732A (zh) * | 2000-03-30 | 2001-10-03 | 华为技术有限公司 | 随机存储器的自动检测方法及其检测电路 |
US20050036371A1 (en) * | 2003-08-11 | 2005-02-17 | Keiichi Kushida | Semiconductor memory including error correction function |
CN101197194A (zh) * | 2007-02-27 | 2008-06-11 | 深圳市同洲电子股份有限公司 | 一种存储器检测方法 |
CN103986680A (zh) * | 2014-05-14 | 2014-08-13 | 北京航空航天大学 | 一种小型化双通道ofdm通信系统及其实现方法 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
CHINAUNIX: "memory test", 《HTTP://BLOG.CHINAUNIX.NET/UID-20609878-ID-1915854.HTML》 * |
MICHAEL BARR: "Fast Accurate Memory Test Code in C", 《HTTPS://BARRGROUP.COM/EMBEDDED-SYSTEMS/HOW-TO/MEMORY-TEST-SUITE-C》 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108717388A (zh) * | 2018-05-29 | 2018-10-30 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种dos环境下可实时定位的内存诊断测试方法 |
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