CN107861051A

CN107861051A - 一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统

Info

Publication number: CN107861051A
Application number: CN201711193869.2A
Authority: CN
Inventors: 陈小波
Original assignee: JIANGSU LEADER ELECTRONIC INFORMATION TECHNOLOGY Co Ltd
Current assignee: JIANGSU LEADER ELECTRONIC INFORMATION TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date: 2017-11-24
Filing date: 2017-11-24
Publication date: 2018-03-30

Abstract

本发明公开了一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，单片机芯片为系统的核心，通道切换板与待测FPC连接用于切换不同的通道对FPC产品上需要测试测试点进行阻抗测试，AD转换电路与通道切换板和单片机芯片连接用于将通道切换板模拟信号转化为数字信号传输给单片机芯片，网口电路与上位机和单片机芯片连接用于从上位机将产品点位图以数组的方式传输至ARM芯片，电源电路与单片机芯片连接用于系统供电，液晶显示器与单片机芯片连接用于显示测试数据以及测试结果。本发明摆脱了传统FPC生产过程中不同产品需要不同测试系统的局限性，大大减少了生产成本，具有很广的市场推广价值。

Description

一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统

技术领域

本发明涉及一种阻抗测试系统，特别是一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统。

背景技术

柔性电路板（Flexible Printed Circuit 简称FPC）是以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材制成的一种具有高度可靠性，绝佳的可挠性印刷电路板。具有配线密度高、重量轻、厚度薄、弯折性好的特点。目前，几乎绝大多数电子设备都使用FPC。

FPC的生产流程包括开料→ 钻孔→贴干膜 → 对位→曝光→ 显影 →蚀刻 →脱膜→ 表面处理 → 贴覆盖膜 → 压制 → 固化→表面处理→沉镍金→ 印字符→ 剪切→ 电测 → 冲切→ 终检→包装 → 出货。其中电测环节是利用电子设备，对印制电路板的开短路、绝缘阻抗、器件功能等电气性能进行测试，有效检测产品功能问题,防止不良品漏出,确保产品电气功能满足客户要求和使用要求的一项重要环节，而对FPC的开短路、绝缘阻抗的测试归根到底是对其各个待测点精密阻抗的一种测试。

目前，对应于不同FPC产品的电阻测试，需要生产不同的测试系统以满足不同产品的特性，这样大大增加了生产的成本，对于后期系统的维护也十分不便。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，解决目前不同FPC产品电测过程需要不同测试系统的问题。

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是：

一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，其特征在于：包含单片机芯片、AD转换电路、通道切换板、网口电路、电源电路和液晶显示器，单片机芯片为系统的核心，通道切换板与待测FPC连接用于切换不同的通道对FPC产品上需要测试测试点进行阻抗测试，AD转换电路与通道切换板和单片机芯片连接用于将通道切换板模拟信号转化为数字信号传输给单片机芯片，网口电路与上位机和单片机芯片连接用于从上位机将产品点位图以数组的方式传输至ARM芯片，电源电路与单片机芯片连接用于系统供电，液晶显示器与单片机芯片连接用于显示测试数据以及测试结果。

进一步地，所述单片机芯片采用STM32F103VCT6芯片U1，U1的67脚与蜂鸣器LS1负极连接，蜂鸣器LS1正极接+3.3V电源，U1的6、50、75、100、28、11脚接+3.3V电源，U1的49、74、99、27、10脚接地。

进一步地，所述网口电路包含W5500芯片U2和AMS1117-3.3芯片U3，U2的1、2、12脚接地，U2的3、4、5、6、7、8脚分别连接U1的32、30、33、35、31、34脚，U2的10、11脚连接电感L1一端、电容C32一端、电阻R3一端，电阻R3另一端连接发光二极管D1阳极，电感L1另一端连接U3的2脚、电容C31的一端，U3的3脚连接电容C28一端和电源+5V，发光二极管D1阴极、电容C32另一端、电容C31另一端、电容C28另一端和U3的1脚接地。

进一步地，所述电源电路包含TPS54331DR芯片U20和AMS1117-3.3芯片U19，电容C43、C44、C45一端和电阻R42一端、U20的2脚接+24V电源，电阻R42另一端接电阻R44一端和U20的3脚，U20的4脚连接电容C48一端，U20的5脚连接电阻R43一端和电阻R40一端，U20的6脚连接电容C49、C50一端，电容C50另一端连接电阻R45一端，电阻R45另一端、电容C49另一端、电容C48另一端、电阻R44另一端、电容C43另一端、电容C44另一端和电容C45另一端接地，U20的7脚接地并连接二极管D25阳极、电容C46一端、电容C47一端和电阻R43另一端，电阻R40另一端、电容C46另一端、电容C47另一端和电感L4一端连接+5V电源，电感L4另一端连接二极管D25阴极、U20的8脚和电容C42一端，电筒C42另一端连接U20的1脚。

进一步地，所述AD转换电路包含INA122P芯片U12和LM358芯片U22，U12的1脚连接电阻R9一端，电阻R9另一端连接电阻R8一端和电阻R10一端，电阻R8另一端和电阻R10另一端连接U12的8脚，U12的2脚连接电阻R16一端，电阻R16另一端连接电阻R21一端，U12的3脚连接电阻R17一端，电阻R17另一端连接电阻R22一端，电阻R21和电阻R22另一端接地并连接U12的4、5脚和电容C37一端，电容C37另一端接电源+5V和U12的7脚，U12的6脚连接U22的3脚，U22的1、2脚连接电阻R18一端，电阻R18另一端接地，U22的4脚接-5v电源，U22的8脚接+5V电源。

进一步地，所述U1上还连接有SWD电路、液晶接口电路、flash电路和复位电路。

进一步地，所述SWD电路包含XH4接口P1，P1的1脚接+3.3V和电阻R2一端，P1的2脚连接电阻R2另一端和U1的72脚，P1的3脚连接U1的76脚，P1的4脚接地，液晶接口电路包含XH4接口P2，P2的1脚接+5V电源，P2的2、3脚连接U1的68、69脚，flash电路包含W25Q32芯片U4，U4的1、2、5、6脚分别连接U1的51、53、54、52脚，U4的3脚连接电阻R5一端，电阻R5另一端和U4的7、8脚连接+3.3V电源，U4的4脚接地，复位电路包含复位开关S1，复位开关S1的1、4脚连接电阻R1一端、U1的14脚和电容C27一端，电阻R1另一端连接+3.3V电源，复位开关S1的2、3脚和电容C27另一端接地。

进一步地，所述通道切换板包含16片通道多路复用器U1-U16，74HC595芯片U17-U20，16P接口P3、P4，U21和64P接口P1、P2，U1-U16的1脚连接+15V电源，U1-U16的27脚连接-15V电源，U1-U16的12脚接地，U1、U2、U3、U4的14、15、16、17脚连接U17的3、2、1、15脚，U5、U6、U37、U48的14、15、16、17脚连接U18的3、2、1、15脚，U9、U10、U11、U12的14、15、16、17脚连接U19的3、2、1、15脚，U13、U14、U15、U16的14、15、16、17脚连接U20的3、2、1、15脚，U1、U2、U3、U4的28脚分别连接P3、P4的7、8脚，U5、U6、U7、U8的28脚分别连接P3、P4的9、10脚，U9、U10、U11、U12的28脚分别连接P3、P4的11、12脚，U13、U14、U15、U16的28脚分别连接P3、P4的13、14脚，U1、U5、U9、U13的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的1-16脚，U2、U6、U10、U14的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的17-32脚，U3、U7、U11、U15的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的33-48脚，U4、U8、U12、U16的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的49-64脚，U1-U16的18脚分别依次连接U17的4-7脚、U18的4-7脚、U19的4-7脚、U20的4-7脚，P3的5、6脚连接U17的14脚，U17的10脚连接U18的14脚，U18的10脚连接U19的14脚，U19D 10脚连接U20的14脚，U20的10脚连接P4的5、6脚，U17、U18、U19、U20的12脚连接P3、P4的3脚，U17、U18、U19、U20的11脚连接P3、P4的4脚，P3的1脚连接熔断器F1一端，熔断器F1另一端接+24V，P3的2脚连接熔断器F2一端，熔断器F2另一端接+5V，P4的1脚连接+24V，P4的2脚连接+5V，U21的1脚连接+21V，U21的2脚接地，U21的4脚接-15V，U21的5脚接电感L2一端，电感L2另一端接地，U21的6脚接+15V。

本发明与现有技术相比，具有以下优点和效果：本发明以ARM为基础，结合通道切换版以及自主开发的上位机，具有良好的操作性，上位机界面简洁，可针对不同产品自由配置其点位图，同时，通道切换板可无限扩展，不受FPC产品点位数量的影响。本发明摆脱了传统FPC生产过程中不同产品需要不同测试系统的局限性，大大减少了生产成本，具有很广的市场推广价值。

附图说明

图1是本发明的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统的示意图。

图2是本发明的单片机芯片电路图。

图3是本发明的网口电路的电路图。

图4是本发明的电源电路的电路图。

图5是本发明的AD转换电路的电路图。

图6是本发明的SWD电路、液晶接口电路、flash电路和复位电路的电路图。

图7是本发明的通道切换板的电路图1。

图8是本发明的通道切换板的电路图2。

图9是本发明的通道切换板的电路图3。

图10是本发明的上位机表格配置图。

具体实施方式

下面结合附图并通过实施例对本发明作进一步的详细说明，以下实施例是对本发明的解释而本发明并不局限于以下实施例。

如图1所示，本发明的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，包含单片机芯片、AD转换电路、通道切换板、网口电路、电源电路和液晶显示器，单片机芯片为系统的核心，通道切换板与待测FPC连接用于切换不同的通道对FPC产品上需要测试测试点进行阻抗测试，AD转换电路与通道切换板和单片机芯片连接用于将通道切换板模拟信号转化为数字信号传输给单片机芯片，网口电路与上位机和单片机芯片连接用于从上位机将产品点位图以数组的方式传输至ARM芯片，电源电路与单片机芯片连接用于系统供电，液晶显示器与单片机芯片连接用于显示测试数据以及测试结果。单片机芯片、AD转换电路、通道切换板、网口电路、电源电路构成ARM主板，上位机将产品点位图以数组的方式通过网口电路传输至ARM芯片，ARM芯片将此数组存储至flash中。ARM主板根据点位图的信息，通过控制通道切换板切换不同的通道对FPC产品上需要测试测试点进行阻抗测试。测试数据以及测试结果通过12864液晶显示模块显示。显示模块使用12864液晶显示模块。该模块以串行的方式与ARM主板链接，完成测试数据以及测试结果的显示。上位机通过LABVIEW环境编写，界面简洁，可操作性强。通过excel表格编辑FPC产品点位图，上位机可通过读取该excel表格的内容，并以相应的数据格式发送给ARM主板。

如图2所示，单片机芯片采用STM32F103VCT6芯片U1，图2中将U1分为U1A和U1B，U1的67脚与蜂鸣器LS1负极连接，蜂鸣器LS1正极接+3.3V电源，U1的6、50、75、100、28、11脚接+3.3V电源，U1的49、74、99、27、10脚接地。

如图3所示，网口电路包含W5500芯片U2和AMS1117-3.3芯片U3，U2的1、2、12脚接地，U2的3、4、5、6、7、8脚分别连接U1的32、30、33、35、31、34脚，U2的10、11脚连接电感L1一端、电容C32一端、电阻R3一端，电阻R3另一端连接发光二极管D1阳极，电感L1另一端连接U3的2脚、电容C31的一端，U3的3脚连接电容C28一端和电源+5V，发光二极管D1阴极、电容C32另一端、电容C31另一端、电容C28另一端和U3的1脚接地。网口电路采用W5500芯片为核心，该芯片与STM32F103VCT6芯片通过SPI接口通信，配合CS引脚可以配置W5500中相应寄存器，完成对W5500的初始化，同时INT引脚为中断输出引脚，通过检测该引脚电平的高低可以判断W5500是否中断并根据相应的寄存器判断具体中断的原因，完成网络传输。

如图4所示，电源电路包含TPS54331DR芯片U20和AMS1117-3.3芯片U19，电容C43、C44、C45一端和电阻R42一端、U20的2脚接+24V电源，电阻R42另一端接电阻R44一端和U20的3脚，U20的4脚连接电容C48一端，U20的5脚连接电阻R43一端和电阻R40一端，U20的6脚连接电容C49、C50一端，电容C50另一端连接电阻R45一端，电阻R45另一端、电容C49另一端、电容C48另一端、电阻R44另一端、电容C43另一端、电容C44另一端和电容C45另一端接地，U20的7脚接地并连接二极管D25阳极、电容C46一端、电容C47一端和电阻R43另一端，电阻R40另一端、电容C46另一端、电容C47另一端和电感L4一端连接+5V电源，电感L4另一端连接二极管D25阴极、U20的8脚和电容C42一端，电筒C42另一端连接U20的1脚。电源电路采用TPS54331DC-DC芯片，输入24V电压经过C43，C44，C45是哪个电容稳压滤波后，接入TPS54331输入引脚VIN，经过TPS54331内部MOS转换，在VSNS引脚上生成一个Vref=0.8V的基准电压，这样，通过R40与R43的阻值大小可以获得需要的到的输出电压Vout=（1+（R40/R43））*Vref，得到5V电压为本设计中的元器件供电，之后5V电压通过LDO（线性稳压器） AMS1117-3.3的到3.3V电压为单片机STM32F103VCT6芯片供电。

如图5所示，AD转换电路包含INA122P芯片U12和LM358芯片U22，U12的1脚连接电阻R9一端，电阻R9另一端连接电阻R8一端和电阻R10一端，电阻R8另一端和电阻R10另一端连接U12的8脚，U12的2脚连接电阻R16一端，电阻R16另一端连接电阻R21一端，U12的3脚连接电阻R17一端，电阻R17另一端连接电阻R22一端，电阻R21和电阻R22另一端接地并连接U12的4、5脚和电容C37一端，电容C37另一端接电源+5V和U12的7脚，U12的6脚连接U22的3脚，U22的1、2脚连接电阻R18一端，电阻R18另一端接地，U22的4脚接-5v电源，U22的8脚接+5V电源。此电路通过通道切换板传输进来的信号，使用INA122差分放大器进行信号放大，同时LM358运算放大器跟随放大，之所以需要进行跟随放大是根据运算放大器的特性决定的，这要的设计会使输入阻抗接近无穷大，减小对输入信号的干扰，同时使得输出阻抗接近0，减少对下一级电路的影响，这样被差分放大过的信号通过ARM芯片自带的12位ADC资源对该信号进行转换，经过换算得到测到的阻值，值得一提的是，本设计采用INA122差分放大器可以有效的抑制由外界条件的变化带给电路的影响，如温度噪声等，提高系统的精度。

如图6所示，U1上还连接有SWD电路、液晶接口电路、flash电路和复位电路。SWD电路包含XH4接口P1，P1的1脚接+3.3V和电阻R2一端，P1的2脚连接电阻R2另一端和U1的72脚，P1的3脚连接U1的76脚，P1的4脚接地，液晶接口电路包含XH4接口P2，P2的1脚接+5V电源，P2的2、3脚连接U1的68、69脚，flash电路包含W25Q32芯片U4，U4的1、2、5、6脚分别连接U1的51、53、54、52脚，U4的3脚连接电阻R5一端，电阻R5另一端和U4的7、8脚连接+3.3V电源，U4的4脚接地，复位电路包含复位开关S1，复位开关S1的1、4脚连接电阻R1一端、U1的14脚和电容C27一端，电阻R1另一端连接+3.3V电源，复位开关S1的2、3脚和电容C27另一端接地。flash芯片为W25Q32，具有32M的存储空间，擦写次数高达100,000次，通过SPI接口与单片机进行数据交互，在此设计中，单片机将上位机传输过来的产品点位图数据存储在此flash芯片中。液晶电路对应主板上STM32F103VCT6芯片的PA9，PA10口，一般来说，12864液晶电路具有串行与并行两种接口方式，可以通过12864液晶模块的PSB H/L口选择，并行接口通过8根并行数据线以及其他IO控制端口进行数据交互，具有速度快的优点，而串行接口则只需要使用两个IO口就可以满足显示要求，尽管传输数据的速率慢一点，然而极大的节省单片机的IO口资源，在本设计中12864显示电路部分对传输速率的要求不高，因此采用串行接口的方式。复位电路由于单片机低电平复位，当上电的瞬间，由于电容充放电的原因，电容在此瞬间视为短路，因此，NRST端为低电平，此引脚接单片机的NRST口，即复位引脚，这样单片机低电平复位，同理，当按钮S1按下时，电容被短路，单片机复位。

如图7、8、9所示，通道切换板包含16片通道多路复用器U1-U16，74HC595芯片U17-U20，16P接口P3、P4，U21和64P接口P1、P2，U1-U16的1脚连接+15V电源，U1-U16的27脚连接-15V电源，U1-U16的12脚接地，U1、U2、U3、U4的14、15、16、17脚连接U17的3、2、1、15脚，U5、U6、U37、U48的14、15、16、17脚连接U18的3、2、1、15脚，U9、U10、U11、U12的14、15、16、17脚连接U19的3、2、1、15脚，U13、U14、U15、U16的14、15、16、17脚连接U20的3、2、1、15脚，U1、U2、U3、U4的28脚分别连接P3、P4的7、8脚，U5、U6、U7、U8的28脚分别连接P3、P4的9、10脚，U9、U10、U11、U12的28脚分别连接P3、P4的11、12脚，U13、U14、U15、U16的28脚分别连接P3、P4的13、14脚，U1、U5、U9、U13的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的1-16脚，U2、U6、U10、U14的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的17-32脚，U3、U7、U11、U15的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的33-48脚，U4、U8、U12、U16的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的49-64脚，U1-U16的18脚分别依次连接U17的4-7脚、U18的4-7脚、U19的4-7脚、U20的4-7脚，P3的5、6脚连接U17的14脚，U17的10脚连接U18的14脚，U18的10脚连接U19的14脚，U19D 10脚连接U20的14脚，U20的10脚连接P4的5、6脚，U17、U18、U19、U20的12脚连接P3、P4的3脚，U17、U18、U19、U20的11脚连接P3、P4的4脚，P3的1脚连接熔断器F1一端，熔断器F1另一端接+24V，P3的2脚连接熔断器F2一端，熔断器F2另一端接+5V，P4的1脚连接+24V，P4的2脚连接+5V，U21的1脚连接+21V，U21的2脚接地，U21的4脚接-15V，U21的5脚接电感L2一端，电感L2另一端接地，U21的6脚接+15V。

通道切换板电路，输入接口的RCK，SCK，DATA_IN口分别链接ARM主板上STM32F103VCT6芯片的PA1，PA2，PA0口用于控制74HC595产生控制模拟开关DG406的通道选择信号以及芯片使能信号。通道切换板上模拟开关DG406的输入引脚连接该板上64个输入点位，DG406具有通道内阻小，切换速率快等优点，对于测量小阻值以及测试点较多的产品具有非常大的优势，通过DG406的通道选择引脚A0，A1，A2，A3以及使能引脚EN可以实现将板上64个点位上的任一信号传至ARM主板。由于74HC595具有级联的功能，因此将RCK，SCK，DATA_IN口连接下一块通道切换板的输入端的RCK，SCK，DATA_IN口，可实现74HC595的级联，并且通过这种方式可以实现任意块通道切换板的级联，理论上可以扩展任意测试点位，因此，无论待测FPC产品有多少测试点，本设计都能够满足要求，不需要重新设计。

本发明的工作流程为，上位机将产品点位图以数组的方式通过网口电路传输至ARM芯片，ARM芯片将此数组存储至flash中。ARM主板根据点位图的信息，通过控制通道切换板切换不同的通道对FPC产品上需要测试测试点进行阻抗测试。测试数据以及测试结果通过12864液晶显示模块显示。

如图10所示，上位机进入操作界面后，用户可以配置excel表格， A1单元格为FPC版本号，B1单元格为软件版本号，C1单元格为表格的列数，D1单元格为表格的行数，从第二行开始，第二列至第五列此四列数据以一行为一组数据表示待测产品所需测试的点位。编辑保存之后，可以选择打开对应的Excel表格，将表格中的数据读取，之后在通讯正常的状态下，上位机可将编辑的点位图发送ARM主板。通过这种方式，用户只需将不同FPC产品的点位图编辑完成，就可以使用ARM主板对该FPC产品进行阻抗测试，从而省去针对不同产品准备不同测试系统的麻烦。

本发明以ARM为基础,结合通道切换版以及自主开发的上位机，具有良好的操作性，上位机界面简洁，可针对不同产品自由配置其点位图，同时，通道切换板可无限扩展，不受FPC产品点位数量的影响。本发明摆脱了传统FPC生产过程中不同产品需要不同测试系统的局限性，大大减少了生产成本，具有很广的市场推广价值。

本说明书中所描述的以上内容仅仅是对本发明所作的举例说明。本发明所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离本发明说明书的内容或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本发明的保护范围。

Claims

1.一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，其特征在于：包含单片机芯片、AD转换电路、通道切换板、网口电路、电源电路和液晶显示器，单片机芯片为系统的核心，通道切换板与待测FPC连接用于切换不同的通道对FPC产品上需要测试测试点进行阻抗测试，AD转换电路与通道切换板和单片机芯片连接用于将通道切换板模拟信号转化为数字信号传输给单片机芯片，网口电路与上位机和单片机芯片连接用于从上位机将产品点位图以数组的方式传输至ARM芯片，电源电路与单片机芯片连接用于系统供电，液晶显示器与单片机芯片连接用于显示测试数据以及测试结果。

2.按照权利要求1所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，其特征在于：所述单片机芯片采用STM32F103VCT6芯片U1，U1的67脚与蜂鸣器LS1负极连接，蜂鸣器LS1正极接+3.3V电源，U1的6、50、75、100、28、11脚接+3.3V电源，U1的49、74、99、27、10脚接地。

3.按照权利要求2所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，其特征在于：所述网口电路包含W5500芯片U2和AMS1117-3.3芯片U3，U2的1、2、12脚接地，U2的3、4、5、6、7、8脚分别连接U1的32、30、33、35、31、34脚，U2的10、11脚连接电感L1一端、电容C32一端、电阻R3一端，电阻R3另一端连接发光二极管D1阳极，电感L1另一端连接U3的2脚、电容C31的一端，U3的3脚连接电容C28一端和电源+5V，发光二极管D1阴极、电容C32另一端、电容C31另一端、电容C28另一端和U3的1脚接地。

4.按照权利要求2所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，其特征在于：所述电源电路包含TPS54331DR芯片U20和AMS1117-3.3芯片U19，电容C43、C44、C45一端和电阻R42一端、U20的2脚接+24V电源，电阻R42另一端接电阻R44一端和U20的3脚，U20的4脚连接电容C48一端，U20的5脚连接电阻R43一端和电阻R40一端，U20的6脚连接电容C49、C50一端，电容C50另一端连接电阻R45一端，电阻R45另一端、电容C49另一端、电容C48另一端、电阻R44另一端、电容C43另一端、电容C44另一端和电容C45另一端接地，U20的7脚接地并连接二极管D25阳极、电容C46一端、电容C47一端和电阻R43另一端，电阻R40另一端、电容C46另一端、电容C47另一端和电感L4一端连接+5V电源，电感L4另一端连接二极管D25阴极、U20的8脚和电容C42一端，电筒C42另一端连接U20的1脚。

5.按照权利要求2所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，其特征在于：所述AD转换电路包含INA122P芯片U12和LM358芯片U22，U12的1脚连接电阻R9一端，电阻R9另一端连接电阻R8一端和电阻R10一端，电阻R8另一端和电阻R10另一端连接U12的8脚，U12的2脚连接电阻R16一端，电阻R16另一端连接电阻R21一端，U12的3脚连接电阻R17一端，电阻R17另一端连接电阻R22一端，电阻R21和电阻R22另一端接地并连接U12的4、5脚和电容C37一端，电容C37另一端接电源+5V和U12的7脚，U12的6脚连接U22的3脚，U22的1、2脚连接电阻R18一端，电阻R18另一端接地，U22的4脚接-5v电源，U22的8脚接+5V电源。

6.按照权利要求2所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，其特征在于：所述U1上还连接有SWD电路、液晶接口电路、flash电路和复位电路。

7.按照权利要求6所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，其特征在于：所述SWD电路包含XH4接口P1，P1的1脚接+3.3V和电阻R2一端，P1的2脚连接电阻R2另一端和U1的72脚，P1的3脚连接U1的76脚，P1的4脚接地，液晶接口电路包含XH4接口P2，P2的1脚接+5V电源，P2的2、3脚连接U1的68、69脚，flash电路包含W25Q32芯片U4，U4的1、2、5、6脚分别连接U1的51、53、54、52脚，U4的3脚连接电阻R5一端，电阻R5另一端和U4的7、8脚连接+3.3V电源，U4的4脚接地，复位电路包含复位开关S1，复位开关S1的1、4脚连接电阻R1一端、U1的14脚和电容C27一端，电阻R1另一端连接+3.3V电源，复位开关S1的2、3脚和电容C27另一端接地。

8.按照权利要求2所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统，其特征在于：所述通道切换板包含16片通道多路复用器U1-U16，74HC595芯片U17-U20，16P接口P3、P4，U21和64P接口P1、P2，U1-U16的1脚连接+15V电源，U1-U16的27脚连接-15V电源，U1-U16的12脚接地，U1、U2、U3、U4的14、15、16、17脚连接U17的3、2、1、15脚，U5、U6、U37、U48的14、15、16、17脚连接U18的3、2、1、15脚，U9、U10、U11、U12的14、15、16、17脚连接U19的3、2、1、15脚，U13、U14、U15、U16的14、15、16、17脚连接U20的3、2、1、15脚，U1、U2、U3、U4的28脚分别连接P3、P4的7、8脚，U5、U6、U7、U8的28脚分别连接P3、P4的9、10脚，U9、U10、U11、U12的28脚分别连接P3、P4的11、12脚，U13、U14、U15、U16的28脚分别连接P3、P4的13、14脚，U1、U5、U9、U13的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的1-16脚，U2、U6、U10、U14的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的17-32脚，U3、U7、U11、U15的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的33-48脚，U4、U8、U12、U16的19-26脚、11-4脚分别连接P1、P2的49-64脚，U1-U16的18脚分别依次连接U17的4-7脚、U18的4-7脚、U19的4-7脚、U20的4-7脚，P3的5、6脚连接U17的14脚，U17的10脚连接U18的14脚，U18的10脚连接U19的14脚，U19D 10脚连接U20的14脚，U20的10脚连接P4的5、6脚，U17、U18、U19、U20的12脚连接P3、P4的3脚，U17、U18、U19、U20的11脚连接P3、P4的4脚，P3的1脚连接熔断器F1一端，熔断器F1另一端接+24V，P3的2脚连接熔断器F2一端，熔断器F2另一端接+5V，P4的1脚连接+24V，P4的2脚连接+5V，U21的1脚连接+21V，U21的2脚接地，U21的4脚接-15V，U21的5脚接电感L2一端，电感L2另一端接地，U21的6脚接+15V。