CN107860310A - 微型复杂件的多面检测方法 - Google Patents

微型复杂件的多面检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN107860310A
CN107860310A CN201710859950.3A CN201710859950A CN107860310A CN 107860310 A CN107860310 A CN 107860310A CN 201710859950 A CN201710859950 A CN 201710859950A CN 107860310 A CN107860310 A CN 107860310A
Authority
CN
China
Prior art keywords
complex parts
miniature complex
splicing
finite element
miniature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201710859950.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN107860310B (zh
Inventor
张柯
高万顺
张伟明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dongguan Huajing Powder Metallurgy Co Ltd
Original Assignee
Guangdong Janus Intelligent Group Corp Ltd
Dongguan Huajing Powder Metallurgy Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangdong Janus Intelligent Group Corp Ltd, Dongguan Huajing Powder Metallurgy Co Ltd filed Critical Guangdong Janus Intelligent Group Corp Ltd
Priority to CN201710859950.3A priority Critical patent/CN107860310B/zh
Publication of CN107860310A publication Critical patent/CN107860310A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN107860310B publication Critical patent/CN107860310B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明涉及一种微型复杂件的多面检测方法,其包括以下步骤:将微型复杂件置于二次元测量平台上;测量微型复杂件于二次元测量平台的检测面上的尺寸;对于微型复杂件的每一侧面,将一个拼接长方体置于微型复杂件的一侧面旁并使拼接长方体与微型复杂件相接触;测量拼接长方体对微型复杂件的该侧面的反射投影于二次元测量平台的检测面上的尺寸;将两个拼接长方体对称并排置于二次元测量平台上,将微型复杂件置于其中一个拼接长方体上,测量另一个拼接长方体对微型复杂件的底面的反射投影于二次元测量平台的检测面上的尺寸。上述微型复杂件的多面检测方法能够精确测量微型复杂件的各个面的微结构,提升了测量效率。

Description

微型复杂件的多面检测方法
技术领域
本发明涉及二次元测量技术,特别是涉及微型复杂件的多面检测方法。
背景技术
现在产线上经常需要生产微型复杂件以供使用,微型复杂件通常具有底面,例如托槽、手机零部件、金属连接件等,微型复杂件的尺寸较小,往往最长的尺寸也不足5毫米,但是需要控制的微结构尺寸较多,往往有十多项乃至数十项,这种情况下,对于微型复杂件的检测是一项挑战。下面以托槽为例简述之。
托槽是固定矫治技术的重要部件,直接粘接于牙冠表面,弓丝通过托槽而对牙施以各种类型的矫治力。托槽由不锈钢、生物陶瓷或复合树脂制成,其主要作用在于固定弓丝,从而使弓丝更好的发挥作用,实现持续的矫治力,以此控制牙齿三维的移动,达到正畸矫治的目的。
托槽尺寸较小,通常小于3mm,但结构复杂。品质尺寸检测时,托槽一般要控制20~30个结构尺寸,且精度要求±0.03mm,来保证其尺寸品质性能达标。
由于托槽尺寸小,精度要求较高,尺寸测量工具一般选用二次元光学测量仪。二次元光学测量仪是建立在CCD数位影像的基础上,依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的。是利用表面光或轮廓光照明零件所得到的影像,对产品尺寸进行精确测量。
利用二次元光学测量仪想得到精确尺寸,则需要遵守阿贝原则,即被测量轴线只有与标准量的测量轴线重合或在其延长线上时,测量才会得到精确的结果。
托槽结构复杂,品质检测的20-30个结构尺寸分布在产品的各个方向上。在测量全尺寸时,需要翻动不同面放置在二次元测量平台上进行不同尺寸的测量。但托槽只有一个面的轴线与二次元测量平面轴线重合,其他面轴线皆与二次元测量平面轴线有夹角,不能进行精确测量。给品质检测带来了极大的困难。
发明内容
基于此,有必要提供一种微型复杂件的多面检测方法。
一种微型复杂件的多面检测方法,其包括以下步骤:将所述微型复杂件置于二次元测量平台上;测量所述微型复杂件于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸;对于所述微型复杂件的每一侧面,将一个拼接长方体的一侧面与所述微型复杂件待测量的一侧面相接触,并使所述微型复杂件相对于所述拼接长方体位于预设位置,其中,所述拼接长方体由两个相同的直角三棱镜拼接而成;测量所述拼接长方体对所述微型复杂件的该侧面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸;直至测量完成所述微型复杂件的每一侧面的尺寸;将两个所述拼接长方体对称并排置于所述二次元测量平台上,将所述微型复杂件置于其中一个所述拼接长方体上,测量另一个所述拼接长方体对所述微型复杂件的底面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸。
在其中一个实施例中,所述微型复杂件与所述二次元测量平台的接触面为所述微型复杂件的轴线与二次元测量平台的轴线相重合的一面。
在其中一个实施例中,所述预设位置的中点为任一所述直角三棱镜的棱的中点位置。
在其中一个实施例中,所述预设位置的中点为两所述直角三棱镜的接触面的棱的中点位置。
在其中一个实施例中,预先将两个相同的直角三棱镜拼接为一个所述拼接长方体。
在其中一个实施例中,所述直角三棱镜为等腰直角三棱镜。
在其中一个实施例中,在测量所述微型复杂件的底面时,两个所述拼接长方体相对于两者的接触面对称设置。
在其中一个实施例中,两个所述拼接长方体的接触面的底边为四个直角三棱镜的棱。
在其中一个实施例中,所述微型复杂件为牙齿矫治托槽、智能手表按键或USB接口金属件。
在其中一个实施例中,所述微型复杂件具有六侧面。
上述微型复杂件的多面检测方法,能够精确测量微型复杂件的各个面的微结构,特别适合微结构数量众多以及微结构尺寸不规则的微型复杂件的全尺寸测量,简化了测量工序,降低了品质检测的难度,提升了测量效率。
本发明各实施例的微型复杂件的多面检测方法,还解决了因微型复杂件测量面轴线与二次元测量平面轴线不重合导致的品质测量难题。
附图说明
图1为本发明一个实施例的示意图。
图2为本发明另一个实施例的示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进,因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
本发明的一个实施例是,一种微型复杂件的多面检测方法,其包括以下步骤。例如,将所述微型复杂件置于二次元测量平台上。例如,测量所述微型复杂件于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸。例如,分别测量所述微型复杂件的每一侧面。例如,对于所述微型复杂件的每一侧面,将一个拼接长方体的一侧面与所述微型复杂件待测量的一侧面相接触,并使所述微型复杂件相对于所述拼接长方体位于预设位置。例如,所述拼接长方体由两个相同的直角三棱镜拼接而成。例如,测量所述拼接长方体对所述微型复杂件的该侧面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸。依次执行直至测量完成所述微型复杂件的每一侧面的尺寸。例如,将两个所述拼接长方体对称并排置于所述二次元测量平台上,将所述微型复杂件置于其中一个所述拼接长方体上,测量另一个所述拼接长方体对所述微型复杂件的底面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸。例如,一种微型复杂件的多面检测方法,其包括以下步骤:将所述微型复杂件置于二次元测量平台上;测量所述微型复杂件于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸;对于所述微型复杂件的每一侧面,将一个拼接长方体的一侧面与所述微型复杂件待测量的一侧面相接触,并使所述微型复杂件相对于所述拼接长方体位于预设位置,其中,所述拼接长方体由两个相同的直角三棱镜拼接而成;测量所述拼接长方体对所述微型复杂件的该侧面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸;直至测量完成所述微型复杂件的每一侧面的尺寸;将两个所述拼接长方体对称并排置于所述二次元测量平台上,将所述微型复杂件置于其中一个所述拼接长方体上,测量另一个所述拼接长方体对所述微型复杂件的底面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸。上述微型复杂件的多面检测方法,能够精确测量微型复杂件的各个面的微结构,特别适合微结构数量众多以及微结构尺寸不规则的微型复杂件的全尺寸测量,简化了测量工序,降低了品质检测的难度,提升了测量效率。
例如,一种微型复杂件的多面检测方法,其包括以下步骤。
例如,将所述微型复杂件置于二次元测量平台上;例如,将所述微型复杂件置于二次元测量平台的检测面上;例如,将所述微型复杂件置于二次元测量平台的承载面上;例如,所述微型复杂件的最大尺寸小于10毫米,即,所述微型复杂件的长、宽、高、厚或直径等中的最大一个的尺寸小于10毫米。又如,所述微型复杂件的最大尺寸小于5毫米。例如,采用自动夹持组件将所述微型复杂件夹持放置于二次元测量平台上;例如,采用自动夹持组件将所述微型复杂件夹持放置于二次元测量平台的检测面上;例如,自动夹持组件为具有夹持结构的自动机械臂,这样,有利于实现无人自动测量。
例如,测量所述微型复杂件于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸;例如,采用二次元测量仪测量所述微型复杂件于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸;例如,测量所述微型复杂件于所述二次元测量平台的承载面上朝向所述二次元测量平台的测量方向的尺寸;例如,预先设置二次元测量仪及其二次元测量平台,然后,将所述微型复杂件置于二次元测量平台上;然后,采用二次元测量仪测量所述微型复杂件于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸。例如,将所述微型复杂件置于二次元测量平台上,所述微型复杂件与所述二次元测量平台之间具有接触面;例如,将所述微型复杂件置于二次元测量平台的检测面上,所述微型复杂件与所述二次元测量平台的检测面具有接触面;即接触面为所述微型复杂件的与所述二次元测量平台或其检测面相接触的一面。这样,可以检测得到所述微型复杂件的一面,亦可理解为所述微型复杂件的顶面或者所述微型复杂件朝向二次元测量仪检测方向的一面。
例如,对于所述微型复杂件的每一侧面,将一个拼接长方体的一侧面与所述微型复杂件待测量的一侧面相接触,并使所述微型复杂件相对于所述拼接长方体位于预设位置,其中,所述拼接长方体由两个相同的直角三棱镜拼接而成;测量所述拼接长方体对所述微型复杂件的该侧面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸;直至测量完成所述微型复杂件的每一侧面的尺寸;例如,分别测量所述微型复杂件的每一侧面,直至测量完成所述微型复杂件的每一侧面的尺寸;测量所述微型复杂件的一侧面,包括以下步骤:将一个拼接长方体置于所述微型复杂件的该侧面旁并使所述拼接长方体的一侧面与所述微型复杂件相接触,并使所述微型复杂件相对于所述拼接长方体位于预设位置,测量所述拼接长方体对所述微型复杂件的该侧面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸。这样,可以方便且准确地测量得到所述微型复杂件的一侧面的细节尺寸,包括了该侧面的各个微结构的尺寸,特别适合同一侧面具有多项需要控制的微结构的微型复杂件的测量。一个例子是,将一个拼接长方体的一侧面与所述微型复杂件待测量的一侧面相接触,包括:将一个拼接长方体置于所述微型复杂件待测量的一侧面旁并使所述拼接长方体的一侧面与所述微型复杂件待测量的一侧面相接触;或者,将所述微型复杂件置于一个拼接长方体的一侧面旁并使所述微型复杂件待测量的一侧面与所述拼接长方体的一侧面相接触。可以理解,拼接长方体的底面即为直角三棱镜的底面;拼接长方体的侧面即为直角三棱镜于其中直角三角形的腰所在的侧面,直角三棱镜于其中直角三角形的斜边所在的侧面为该拼接长方体的拼接面。
在其中一个实施例中,预先将两个相同的直角三棱镜拼接为一个所述拼接长方体。例如,将所述微型复杂件置于二次元测量平台上之前,所述微型复杂件的多面检测方法还包括以下步骤:预先将两个相同的直角三棱镜拼接为一个所述拼接长方体。又如,将所述微型复杂件置于二次元测量平台上之前,所述微型复杂件的多面检测方法还包括以下步骤:预先将四个相同的直角三棱镜拼接为两个相同的所述拼接长方体。在其中一个实施例中,所述直角三棱镜为等腰直角三棱镜,其中,等腰直角三棱镜即全反射棱镜。这样,可以实现相应的全反射效果。
在其中一个实施例中,所述微型复杂件与所述二次元测量平台的接触面为所述微型复杂件的轴线与二次元测量平台的轴线相重合的一面。在其中一个实施例中,所述预设位置的中点为任一所述直角三棱镜的棱的中点位置。其中,棱镜的折射面和反射面统称工作面,两工作面的交线称为棱,垂直棱的截面称为主截面。在其中一个实施例中,所述预设位置的中点为两所述直角三棱镜的接触面的棱的中点位置。这样,将所述微型复杂件在相对于所述拼接长方体的中间位置与所述拼接长方体相接触,使得所述微型复杂件相对于所述拼接长方体的反射方向和反射位置都是可以预期的,从而有利于提升测量效率。一个例子是,所述拼接长方体滑动设置于二次元测量平台的滑轨上,且受控自动移动,此时,二次元测量仪无需移动,只需按程序自动调整二次元测量平台上的所述拼接长方体的位置与所述微型复杂件即可,这样,可以实现自动测量所述微型复杂件的一侧面乃至于所述微型复杂件的每一侧面,极大提升了批量产品的测量效率,具有无可比拟的快速测量、快速出货的效果。
例如,将所述微型复杂件置于二次元测量平台上,包括:将所述微型复杂件置于二次元测量平台的托盘上;又如,将所述微型复杂件置于二次元测量平台上,具体为:将所述微型复杂件置于二次元测量平台的托盘上;例如,所述托盘转动设置于所述二次元测量平台上,一个例子是,所述托盘受控转动设置于所述二次元测量平台上;一个例子是,将所述微型复杂件置于二次元测量平台的托盘上,包括:将所述微型复杂件置于二次元测量平台的托盘上且所述微型复杂件至少一侧面凸出于所述托盘,以使所述微型复杂件的待测量的一侧面能够与所述拼接长方体相接触。一个例子是,将所述微型复杂件置于二次元测量平台的托盘上,包括:将所述微型复杂件固定于二次元测量平台的托盘上且所述微型复杂件至少一侧面凸出于所述托盘;例如,将所述微型复杂件磁吸固定于二次元测量平台的托盘上,或者,将所述微型复杂件卡扣固定于二次元测量平台的托盘上;又一个例子是,将所述微型复杂件夹持固定于二次元测量平台的托盘上;这样,测量所述微型复杂件于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸之后,可以方便地通过转动所述托盘或者控制所述托盘,调整所述微型复杂件的每一侧面与所述拼接长方体相接触。这样的设计,有利于实现自动化测量,尤其是技术改进之后可以达到无需人工干预的全自动测量效果。又一个例子是,所述拼接长方体固定设置于二次元测量平台上,且所述托盘受控自动转动,此时,二次元测量仪无需移动,只需按程序自动调整二次元测量平台上的所述托盘的位置即可,这样,可以实现自动测量所述微型复杂件的一侧面乃至于所述微型复杂件的每一侧面,极大提升了批量产品的测量效率,具有无可比拟的快速测量、快速出货的效果。
例如,将两个所述拼接长方体对称并排置于所述二次元测量平台上,将所述微型复杂件置于其中一个所述拼接长方体上,测量另一个所述拼接长方体对所述微型复杂件的底面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸。这样,通过全反射效应,可以实现对于所述微型复杂件的底面的测量。在其中一个实施例中,在测量所述微型复杂件的底面时,两个所述拼接长方体相对于两者的接触面对称设置。在其中一个实施例中,两个所述拼接长方体的接触面的底边为四个直角三棱镜的棱。这样,可以实现相应的全反射效果。又如,在测量所述微型复杂件的底面时,还分别从两个所述拼接长方体的侧面提供微光照明,所述微光照明的发光方向垂直于所述拼接长方体的侧面,以在所述拼接长方体内部的两个直角三棱镜的拼接面上实现与二次元测量平台的检测面相反的全反射,从而在提供辅助照明的同时,避免对于二次元测量仪测量所述微型复杂件的底面造成干扰。
一个例子是,所述微型复杂件具有底面,以便能够放置于二次元测量平台上;又一个例子是,二次元测量平台上设置有固定结构,所述固定结构用于将所述微型复杂件固定于二次元测量平台上;例如,所述固定结构通过所述微型复杂件的底部将所述微型复杂件固定于二次元测量平台上。例如,所述微型复杂件为六面体或者具有类似于六面体结构;例如,所述微型复杂件大体上具有六个不规则面,每一不规则面为多个平面及/或曲面的组合。在其中一个实施例中,所述微型复杂件具有六侧面。
在其中一个实施例中,所述微型复杂件为牙齿矫治托槽、智能手表按键或USB接口金属件。这样,所述微型复杂件的多面检测方法能够对牙齿矫治托槽、智能手表按键或USB接口金属件等微型复杂件实现全尺寸检测,还解决了因微型复杂件测量面轴线与二次元测量平面轴线不重合导致的品质测量难题。
采用上述任一实施例所述微型复杂件的多面检测方法,能够精确测量微型复杂件的各个面的微结构,可以对于具有多项需要控制的微结构的各种复杂结构的微型复杂件实现全尺寸测量,简化了测量工序,降低了品质检测的难度,提升了测量效率。
本发明又一个实施例是,一种微型复杂件的多面检测方法,其包括以下各步骤。放置步骤:将所述微型复杂件置于二次元测量平台上;顶面测量步骤:测量所述微型复杂件于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸;侧面测量步骤:对于所述微型复杂件的每一侧面,将一个拼接长方体的一侧面与所述微型复杂件待测量的一侧面相接触,并使所述微型复杂件相对于所述拼接长方体位于预设位置,其中,所述拼接长方体由两个相同的直角三棱镜拼接而成;测量所述拼接长方体对所述微型复杂件的该侧面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸;直至测量完成所述微型复杂件的每一侧面的尺寸;底面测量步骤:将两个所述拼接长方体对称并排置于所述二次元测量平台上,将所述微型复杂件置于其中一个所述拼接长方体上,测量另一个所述拼接长方体对所述微型复杂件的底面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸。
一个例子是,侧面测量步骤中,或者在测量所述微型复杂件的侧面时,或者对于所述微型复杂件的每一侧面进行测量时,二次元测量平台、二次元测量仪及拼接长方体保持不动,通过移动或旋转所述微型复杂件以使所述微型复杂件待测量的一侧面与所述拼接长方体的一侧面相接触,这样,无需调整二次元测量平台、二次元测量仪及拼接长方体的位置或测量参数,从而可以实现快速、高效的二次元测量;又如,二次元测量平台、二次元测量仪及拼接长方体保持不动,通过自动移动或旋转所述微型复杂件以使所述微型复杂件待测量的一侧面与所述拼接长方体的一侧面相接触,从而能够实现自动测量所述微型复杂件每一侧面的效果。
下面以牙齿矫治托槽为例对本发明及其各实施例做出进一步说明,可以理解的是,下面的实施例不仅适用于牙齿矫治托槽,还适用于各种微型复杂件例如智能手表按键或USB接口金属件等,可延伸至所有小尺寸复杂结构件的尺寸精确高效测量乃至全尺寸精确高效测量。
本实施例提供了一种牙齿矫治托槽的全尺寸检测方法,可以精确高效地检测托槽全尺寸,还能解决因测量面轴线与二次元测量平面轴线不重合导致的品质测量难题。
测量牙齿矫治托槽所需设备及材料包括二次元光学检测仪及三棱镜,于二次元光学检测仪上形成二次元测量平台,具体说明如下。
二次元光学检测仪1台;其中,二次元光学检测仪亦称为影像测量仪,是利用光学原理对待测物进行高倍率放大成像,经过CCD摄像系统将放大后物体轮廓(线条)传入计算机内用对应的软件进行分析计算所需的尺寸、角度、形状等。采用常规市场所售二次元光学检测仪即可。
三棱镜4块;其规格如下:横截面为等腰直角三角形,腰长为10mm,高为30mm。例如,三棱镜侧面及三角形底边所在面为磨砂不透光面,其他两面为透明透光面。例如,三棱镜材质为亚克力。
将4块三棱镜两两拼接在一起,形成两个长方体。三角形底边所在面为拼接结合面,即拼接面。
将牙齿矫治托槽放置在二次元测量平台上,接触面为与其轴线二次元测量平台轴线重合的面。测量其检测面上尺寸。
将上述一个长方体放置在牙齿矫治托槽旁边,并与牙齿矫治托槽接触但不重合,接触位置为三棱镜高的中点位置。
长方体的摆放方式如图1所示,具体为与牙齿矫治托槽的待测量的一侧面接触位置为两个三棱镜边的重合位置。两个相同的直角三棱镜,包括第一直角三棱镜110与第二直角三棱镜120拼接而成一个拼接长方体100,第一直角三棱镜110与第二直角三棱镜120均为全反射棱镜即等腰直角三棱镜;牙齿矫治托槽200的一侧面与所述拼接长方体的一侧面相接触,所述预设位置的中点或者中心为两所述直角三棱镜的接触面的棱的中点位置,即拼接长方体100的与牙齿矫治托槽200相接触的一侧面300的棱的中点位置,中点位置的延伸线310平分该侧面300;测量所述拼接长方体对所述微型复杂件的该侧面的反射投影210于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸即可。
根据镜面反射原理,长方体会将接触长方体的牙齿矫治托槽面的投影反射到长方体的另外一个表面,即为正对二次元投影检测面(亦可理解为二次元投影仪的投影面),用二次元对反射投影进行尺寸测量,即为牙齿矫治托槽侧面的尺寸。
采用上述方法对牙齿矫治托槽其他三侧面的尺寸进行测量。
然后,将两块长方体水平放置在检测平台上,并接触。接触面皆为三棱镜高与三角形腰长所在平面。摆放方式为接触面底边为4个三棱镜重合线。
将牙齿矫治托槽放置在一个长方体上面,牙齿矫治托槽接触面为同轴线面。如图2所示,两个相同的直角三棱镜,包括第一直角三棱镜110与第二直角三棱镜120拼接而成一个拼接长方体100,另两个相同的直角三棱镜,包括第三直角三棱镜410与第四直角三棱镜420拼接而成一个拼接长方体100,第一直角三棱镜110、第二直角三棱镜120、第三直角三棱镜410与第四直角三棱镜420均为等腰直角三棱镜;一个拼接长方体100与另一个拼接长方体400对称并排置于所述二次元测量平台上,牙齿矫治托槽200置于另一个所述拼接长方体400上,于一个拼接长方体100朝向所述二次元测量平台的检测面上出现牙齿矫治托槽200的底面的反射投影220。这样,在另外一个长方体上会出现接触面底面的反射投影,正对二次元投影检测面。用二次元对反射投影进行尺寸测量,即为牙齿矫治托槽底部面尺寸。
这样,即可完成牙齿矫治托槽6个面的全尺寸检测。
例如,将4块三棱镜拼接。将牙齿矫治托槽放置在二次元测量平台上,接触面为与其轴线二次元测量平台轴线重合的面,测得其检测面上尺寸。将上述制作好的一个长方体放置在牙齿矫治托槽旁边,分别测得牙齿矫治托槽四个侧面尺寸。将两块长方体水平放置在检测平台上,测得牙齿矫治托槽底部面尺寸。即可完成牙齿矫治托槽6个面的全尺寸检测。
需要说明的是,本发明的其它实施例还包括,上述各实施例中的技术特征相互组合所形成的、能够实施的微型复杂件的多面检测方法。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种微型复杂件的多面检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
将所述微型复杂件置于二次元测量平台上;
测量所述微型复杂件于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸;
对于所述微型复杂件的每一侧面,将一个拼接长方体的一侧面与所述微型复杂件待测量的一侧面相接触,并使所述微型复杂件相对于所述拼接长方体位于预设位置,其中,所述拼接长方体由两个相同的直角三棱镜拼接而成;测量所述拼接长方体对所述微型复杂件的该侧面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸;直至测量完成所述微型复杂件的每一侧面的尺寸;
将两个所述拼接长方体对称并排置于所述二次元测量平台上,将所述微型复杂件置于其中一个所述拼接长方体上,测量另一个所述拼接长方体对所述微型复杂件的底面的反射投影于所述二次元测量平台的检测面上的尺寸。
2.根据权利要求1所述多面检测方法,其特征在于,所述微型复杂件与所述二次元测量平台的接触面为所述微型复杂件的轴线与二次元测量平台的轴线相重合的一面。
3.根据权利要求1所述多面检测方法,其特征在于,所述预设位置的中点为任一所述直角三棱镜的棱的中点位置。
4.根据权利要求3所述多面检测方法,其特征在于,所述预设位置的中点为两所述直角三棱镜的接触面的棱的中点位置。
5.根据权利要求1所述多面检测方法,其特征在于,预先将两个相同的直角三棱镜拼接为一个所述拼接长方体。
6.根据权利要求5所述多面检测方法,其特征在于,所述直角三棱镜为等腰直角三棱镜。
7.根据权利要求1所述多面检测方法,其特征在于,在测量所述微型复杂件的底面时,两个所述拼接长方体相对于两者的接触面对称设置。
8.根据权利要求7所述多面检测方法,其特征在于,两个所述拼接长方体的接触面的底边为四个直角三棱镜的棱。
9.根据权利要求1至8中任一项所述多面检测方法,其特征在于,所述微型复杂件为牙齿矫治托槽、智能手表按键或USB接口金属件。
10.根据权利要求9所述多面检测方法,其特征在于,所述微型复杂件具有六侧面。
CN201710859950.3A 2017-09-21 2017-09-21 微型复杂件的多面检测方法 Active CN107860310B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710859950.3A CN107860310B (zh) 2017-09-21 2017-09-21 微型复杂件的多面检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710859950.3A CN107860310B (zh) 2017-09-21 2017-09-21 微型复杂件的多面检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107860310A true CN107860310A (zh) 2018-03-30
CN107860310B CN107860310B (zh) 2020-04-21

Family

ID=61698274

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710859950.3A Active CN107860310B (zh) 2017-09-21 2017-09-21 微型复杂件的多面检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107860310B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109029204A (zh) * 2018-10-19 2018-12-18 淄柴动力有限公司 机体错面尺寸测量装置及方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU550527A1 (ru) * 1975-06-17 1977-03-15 Научно-исследовательский институт часовой промышленности Проектор дл измерени параметров сечени кристаллов
US4509837A (en) * 1980-08-29 1985-04-09 Michiel Kassies Real image projection device
CN101504376A (zh) * 2009-03-11 2009-08-12 张勇 球形物体表面光学检测的方法及装置
CN102889865A (zh) * 2011-07-20 2013-01-23 昆山德盛精密模具有限公司 投影机测量辅助工具
CN204439022U (zh) * 2015-03-26 2015-07-01 翊腾电子科技(昆山)有限公司 一种取像机构及应用该取像机构的自动测量设备
CN205245992U (zh) * 2015-12-16 2016-05-18 苏州晶昶光电有限公司 一种影像测量仪
CN205991778U (zh) * 2016-07-08 2017-03-01 广东天行测量技术有限公司 一种多面成像快速测量夹具
CN205991938U (zh) * 2016-07-08 2017-03-01 广东天行测量技术有限公司 一种高效全方位影像测量仪

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU550527A1 (ru) * 1975-06-17 1977-03-15 Научно-исследовательский институт часовой промышленности Проектор дл измерени параметров сечени кристаллов
US4509837A (en) * 1980-08-29 1985-04-09 Michiel Kassies Real image projection device
CN101504376A (zh) * 2009-03-11 2009-08-12 张勇 球形物体表面光学检测的方法及装置
CN102889865A (zh) * 2011-07-20 2013-01-23 昆山德盛精密模具有限公司 投影机测量辅助工具
CN204439022U (zh) * 2015-03-26 2015-07-01 翊腾电子科技(昆山)有限公司 一种取像机构及应用该取像机构的自动测量设备
CN205245992U (zh) * 2015-12-16 2016-05-18 苏州晶昶光电有限公司 一种影像测量仪
CN205991778U (zh) * 2016-07-08 2017-03-01 广东天行测量技术有限公司 一种多面成像快速测量夹具
CN205991938U (zh) * 2016-07-08 2017-03-01 广东天行测量技术有限公司 一种高效全方位影像测量仪

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109029204A (zh) * 2018-10-19 2018-12-18 淄柴动力有限公司 机体错面尺寸测量装置及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN107860310B (zh) 2020-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Huang et al. High-speed 3-D shape measurement based on digital fringe projection
CN106767535B (zh) 非接触式复合测量仪及其测量方法
CN106643563B (zh) 一种桌面式大视场三维扫描装置及方法
JP2012132910A (ja) 構造化照明を用いるエッジ検出
TR201811449T4 (tr) Üç boyutlu nesnelerin doğrusal boyutlarını gözetlemek için yöntem.
CN108362479A (zh) 一种虚像像距测量系统和虚像像距的确定方法
JP2018163092A (ja) 表面形状測定装置及びそのスティッチング測定方法
CN107860310A (zh) 微型复杂件的多面检测方法
US10107747B2 (en) Method, system and computer program for determining a reflectance distribution function of an object
CN110806181A (zh) 基于彩色相机的高精度光学引伸计及测量方法
JP2003090781A (ja) 光学素子の検査装置および光学素子の検査方法
KR102192341B1 (ko) 스마트폰 기반 이동 촬영형 시설물 점검 장치
CN116297531B (zh) 机器视觉检测方法、系统、介质及设备
JP3899623B2 (ja) 画像検査・測定装置
CN109741294B (zh) 瞳距测试方法及设备
CN115014724B (zh) 一种衍射光波导的测试系统、方法和装置
US10613308B2 (en) Method and microscope for measuring and calculating heights on curved surface of microscope slide
CN109829897A (zh) 一种齿轮毛刺检测方法及齿轮高精度视觉测量系统
CN110044928A (zh) 一种空间编码光场对曲面玻璃表面缺陷的检测装置
EP3385663A1 (en) Height measuring and estimation method of uneven surface of microscope slide, and microscope
CN210346608U (zh) 用于产品曲面镜面三维轮廓检测装置
KR101606720B1 (ko) 3차원 표면 측정 장치 및 방법
JP7152925B2 (ja) 投影機付き工作機械
CN204479039U (zh) 基于高精度光栅投影装置的光路系统
WO2022181128A1 (ja) 三次元計測システム

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20190808

Address after: 523000 No. 2 Weifeng Road, Niushan External Economic Industrial Park, Dongcheng Street, Dongguan City, Guangdong Province

Applicant after: Dongguan Hua Jing powder metallurgy company limited

Address before: 523000 No. 2 Weifeng Road, Niushan External Economic Industrial Park, Dongcheng Street, Dongguan City, Guangdong Province

Applicant before: Dongguan Hua Jing powder metallurgy company limited

Applicant before: Guangdong wins smart group Limited by Share Ltd

TA01 Transfer of patent application right
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant