CN107830928B - 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 - Google Patents
一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 Download PDFInfo
- Publication number
- CN107830928B CN107830928B CN201711281785.4A CN201711281785A CN107830928B CN 107830928 B CN107830928 B CN 107830928B CN 201711281785 A CN201711281785 A CN 201711281785A CN 107830928 B CN107830928 B CN 107830928B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- optical
- industrial personal
- personal computer
- control system
- cirrus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 85
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims abstract description 27
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 34
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 16
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 10
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 4
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 7
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000011160 research Methods 0.000 description 3
- 239000008276 ice cloud Substances 0.000 description 2
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000000571 coke Substances 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
- G01N21/532—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke with measurement of scattering and transmission
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D3/00—Control of position or direction
- G05D3/12—Control of position or direction using feedback
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J2001/4266—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for measuring solar light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N2021/4704—Angular selective
- G01N2021/4707—Forward scatter; Low angle scatter
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
本发明公开了一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计，上位工控机下发测量命令，在确定初始位置后，启动视日轨迹跟踪命令，程序计算出转到太阳方位需要的水平俯仰电机步数，发送给下位机嵌入式控制系统，下位机嵌入式控制电机驱动系统实现水平、俯仰电机转动使探测头到当前太阳的方位后，太阳的影像出现在CCD探测器视场内，启动CCD图像精跟踪，太阳光经所述跟踪成像光学系统后照射在CCD探测器的靶面中心处，对视场内的太阳影像进行采集与存储并发送给上位工控机，上位工控机程序对采集到的图像进行分析是否跟准了太阳。本发明采用了图像跟踪技术替代了四象限跟踪，实现全天候下的跟踪，实现大视场的跟踪。
Description
技术领域
本发明涉及大气科学实验测量仪器技术领域，尤其涉及一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计。
背景技术
卷云又称冰云，是全球范围最常见的云型之一，大约覆盖地球表面的20％-30％，其辐射特性对全球辐射平衡、气候、对工作于于大气中的光电仪器性能和大气红外背景辐射都有重要的影响，因此对卷云的探测具有重要的意义。目前主要的地基探测手段是激光雷达，由于卷云的位置较高，并且通常光学上很薄，给探测和研究带来了很大困难，对于卷云的观测资料还较少，因此为了加深对卷云的了解和认识，需要发展新的探测手段和方法来获取卷云的光学性质。
由于卷云中冰晶粒子尺度较大，前向散射强，在前向小角度范围内，太阳光的强度随视场有明显的变化，且这些变化随卷云中冰晶粒子形状、粒子尺度和光学厚度变化。因此测量前向小角度不同视场的太阳光有可能区分卷云和气溶胶，并提取粒子光学厚度、有效粒子尺度等信息,并且研究其前向小角散射对仪器探测的影响(卷云与气溶胶相比在0°到5°前向小角内，卷云前向散射相函数变化剧烈而气溶胶粒子的相函数相对来说要平缓的多)。
传统的常用太阳光度计在我国多个典型地区测量的数据对大气环境和辐射传输以及光学工程的应用具有重要的意义。鉴于常用太阳光度计的重要性，一般都是在晴朗大气环境下测量大气粒子，在有云条件下的数据不可用，因此一种能应用于卷云遥感同时也可以测量气溶胶的新型太阳光度计的研制成为必要。
发明内容
本发明目的就是为了弥补已有技术的缺陷，提供一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计。
本发明是通过以下技术方案实现的：
一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计，包括有探测头、CCD探测器、上位工控机、下位机嵌入式控制系统、电机驱动系统和信号处理系统，所述的探测头包括有平行安装的跟踪成像光学系统和光学探测系统，上位工控机下发测量命令，在确定初始位置后，启动视日轨迹跟踪命令，程序计算出转到太阳方位需要的水平俯仰电机步数，发送给下位机嵌入式控制系统，下位机嵌入式控制系统控制电机驱动系统实现水平、俯仰电机转动使探测头到当前太阳的方位后，太阳的影像出现在CCD探测器视场内，启动CCD图像精跟踪，太阳光经所述跟踪成像光学系统后照射在CCD探测器的靶面中心处，对视场内的太阳影像进行采集与存储并发送给上位工控机，上位工控机程序对采集到的图像进行分析是否跟准了太阳，计算太阳光斑中心坐标与CCD探测器视场中心坐标进行比较，控制电机驱动系统调节跟踪成像光学系统逐渐靠近太阳，直到在跟踪误差允许的像数范围内，在判断跟准后，上位工控机下发测量命令，测量时下位机嵌入式控制系统控制电机驱动系统转动光学探测系统进行测量，太阳光信号通过光学探测系统后转化为电压信号，通过信号处理系统处理后将测量数据上传给上位工控机并保存，实现在较短时间内测量并实时跟踪。
所述的跟踪成像光学系统包括有衰减片，在衰减片后方放有一组聚焦透镜一，所述的CCD探测器安装在聚焦透镜一的后方，太阳光先依次经衰减片和聚焦透镜一后照射在CCD探测器的靶面中心处的。
所述的光学探测系统包括有镜筒前端光学系统，镜筒前端光学系统内安装有四个圆形孔径光阑，圆形孔径光阑后安装有一组透镜，透镜后是滤光片转盘，在透镜成像的像平面上放置了可变程控视场光阑来控制仪器探测视场的大小变化，可变程控视场光阑后放置一组合聚焦透镜二，位于组合聚焦透镜二的焦平面上放置安装有光电探测器，测量时下位机嵌入式控制系统控制电机驱动系统，使滤光片转盘顺时针转动90°后可变程控视场光阑孔径大小准确定位到1.2mm、3.95mm、7.9mm位置，对应光学探测系统在0.8°、2.0°、5.0°视场，测量完一个波段后重新找零位，滤光片片转盘上安装有441nm、670nm、880nm三个波段10nm带宽滤光片，完成一次测量需要16S。
所述的信号处理系统包括有依次连接的放大电路、信号选通电路、程控增益电路和AD转换电路，放大电路分别与光电探测器信号输出端连接，AD转换电路信号输出端与下位机嵌入式控制系统连接，光信号经光电转换，再经放大电路、信号选通、程控增益和AD转换后，下位机嵌入式控制系统接收数据并通过串行通信将探测的信号值送给上位工控机保存。
所述的电机驱动系统包括有水平、俯仰、滤光片转盘和可变程控视场光阑四路电机及其驱动器。
所述的四路步进电机驱动器的输入端通过四非门芯片7406和双线八路反相缓冲器74HC240连接到下位机嵌入式控制系统输出端并连接四路步进电机，通过下位机嵌入式控制系统控制电机驱动系统实现俯仰、水平、滤光片转盘和可变程控视场光阑电机的转动，上位工控机与下位机嵌入式控制系统的串行通信由电平转换芯片MAX490和串行通信总线组成，串行通信接口经MAX490和串行通信总线连接到上位工控机RS442串行接口，下位机嵌入式控制系统由单片机ATmega128L芯片、16M晶振和复位芯片DSD1813组成。
所述的探测光学系统通过可变程控视场光阑实现光路的视场大小变化，可变程控视场光阑孔径大小能够连续从1.2mm变化到8mm,对应光路的视场实现从最小0.8°到最大5°视场范围内的变化。
基于该仪器可以多种方法探测卷云的光学特性，一种方法通过前向不同小角度测量得到透射比同一波段下得到不同视场的透射比T0.8，T2.0，T5.0，计算 的比值，结合用离散坐标法DISORT辐射传输软件模拟计算一定有效尺度和光学厚度时，气溶胶和卷云大气条件下前向不同小角下的散射特性值，以及前向不同小角下总透射通量的比值等数据建立的查找表，来推断出卷云的光学厚度和有效尺度大小。另一种方法通过在天空无云情况下的气溶胶研究和太阳路径上有卷云情况下(传统被遗弃的数据)的测量，结合比尔朗伯定律，推断出当前卷云的光学厚度，考虑到仪器探测光学系统在不同视场角下的云的前向散射辐射对云光学厚度的影响，会导致对云的光学厚度值的低估，为此对通过不同视场下测量得到的辐射值比较，研究卷云散射前向小角散射特性，建立合适的冰云散射模型进行修正，从而得到卷云的真实的光学厚度。
本发明的原理是：
基于卷云中冰晶粒子尺度较大与气溶胶粒子相比，在其5°散射角范围内其前向散射十分强烈，而气溶胶粒子的相对来说要平缓得多，为此设计5°变视场探测光学系统，通过不同窄视场下前向小角散射信息区分出卷云与气溶胶粒子，研究不同视场下卷云粒子的前向散射特性，通过不同视场的辐射比值提取卷云的光学厚度等光学特性。考虑到有云情况，四象限跟踪时常不准情况，采用图像跟踪的方法。
卷云光学特性测量的太阳光度计工作时必须正面朝南水平摆放，用户通过上位工控机的测量软件下发测量命令后，下位机嵌入式控制系统控制电机驱动控制模块使仪器转向太阳方位，在通过上位机程序判断跟准后进行数据测量，太阳光经探测光学系统接收后转化为电压信号，电信号经过信号处理系统后送入下位机嵌入式控制系统，下位机嵌入式控制系统通过串行通信将探测到的信号值上传给上位工控机显示与存储。
本发明的优点是：1)采用了图像跟踪技术替代了四象限跟踪，实现全天候下的跟踪，实现大视场的跟踪。
2)首次采用可变程控视场光阑实现了不同视场下不同波段的测量，研究卷云的前向小角散射和透射辐射，考虑到仪器视场角大小对大气探测的影响，光学系统实现能够在最大5°视场内的测量。
3)仪器的整体结构不复杂，并且探测时间短，测量效率更高。
附图说明
图1是本发明的结构框图。
图2是本发明的探测流程图。
图3是仪器的探测头结构图。
图4是跟踪成像光学系统的结构示意图。
图5是探测光学系统的结构示意图。
具体实施方式
如图1、2、3所示，一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计，包括有探测头1、CCD探测器2、上位工控机3、下位机嵌入式控制系统4、电机驱动系统5和信号处理系统6，所述的探测头1包括有平行安装的跟踪成像光学系统7和光学探测系统8，上位工控机3下发测量命令，在确定初始位置后，启动视日轨迹跟踪命令，程序计算出转到太阳方位需要的水平俯仰电机步数，发送给下位机嵌入式控制系统4，下位机嵌入式控制系统4控制电机驱动系统5实现水平、俯仰电机转动使探测头到当前太阳的方位后，太阳的影像出现在CCD探测器2视场内，启动CCD图像精跟踪，太阳光经所述跟踪成像光学系统后照射在CCD探测器2的靶面中心处，对视场内的太阳影像进行采集与存储并发送给上位工控机3，上位工控机3程序对采集到的图像进行分析是否跟准了太阳，计算太阳光斑中心坐标与CCD探测器2视场中心坐标进行比较，控制电机驱动系统5调节跟踪成像光学系统7逐渐靠近太阳，直到在跟踪误差允许的像数范围内，在判断跟准后，上位工控机3下发测量命令，测量时下位机嵌入式控制系统4控制电机驱动系统5转动光学探测系统8进行测量，太阳光信号通过光学探测系统8后转化为电压信号，通过信号处理系统6处理后将测量数据上传给上位工控机3并保存，实现在较短时间内测量并实时跟踪。
如图4所示，所述的跟踪成像光学系统7包括有衰减片9，在衰减片9后方放有一组聚焦透镜一10，所述的CCD探测器2安装在聚焦透镜一10的后方，太阳光先依次经衰减片9和聚焦透镜一10后照射在CCD探测器2的靶面中心处的。
如图5所示，所述的光学探测系统8包括有镜筒前端光学系统11，镜筒前端光学系统11内安装有四个圆形孔径光阑12，圆形孔径光阑12后安装有一组透镜13，透镜13后是滤光片转盘14，在透镜13成像的像平面上放置了可变程控视场光阑15来控制仪器探测视场的大小变化，可变程控视场光阑15后放置一组合聚焦透镜二16，位于组合聚焦透镜二16的焦平面上放置安装有光电探测器17，测量时下位机嵌入式控制系统4控制电机驱动系统5，使滤光片转盘14顺时针转动90°后可变程控视场光阑孔径大小准确定位到1.2mm、3.95mm、7.9mm位置，对应光学探测系统在0.8°、2.0°、5.0°视场，测量完一个波段后重新找零位，滤光片片转盘上安装有441nm、670nm、880nm三个波段10nm带宽滤光片，完成一次测量需要16S。
所述的信号处理系统6包括有依次连接的放大电路、信号选通电路、程控增益电路和AD转换电路，放大电路分别与光电探测器信号输出端连接，AD转换电路信号输出端与下位机嵌入式控制系统4连接，光信号经光电转换，再经放大电路、信号选通、程控增益和AD转换后，下位机嵌入式控制系统4接收数据并通过串行通信将探测的信号值送给上位工控机保存。
所述的电机驱动系统5包括有水平、俯仰、滤光片转盘和可变程控视场光阑四路电机及其驱动器。
所述的四路步进电机驱动器的输入端通过四非门芯片7406和双线八路反相缓冲器74HC240连接到下位机嵌入式控制系统输出端并连接四路步进电机，通过下位机嵌入式控制系统控制电机驱动系统实现俯仰、水平、滤光片转盘和可变程控视场光阑电机的转动，上位工控机与下位机嵌入式控制系统的串行通信由电平转换芯片MAX490和串行通信总线组成，串行通信接口经MAX490和串行通信总线连接到上位工控机RS442串行接口，下位机嵌入式控制系统由单片机ATmega128L芯片、16M晶振和复位芯片DSD1813组成。
所述的探测光学系统通过可变程控视场光阑实现光路的视场大小变化，可变程控视场光阑孔径大小能够连续从1.2mm变化到8mm,对应光路的视场实现从最小0.8°到最大5°视场范围内的变化。
Claims (6)
1.一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计，其特征在于：包括有探测头、CCD探测器、上位工控机、下位机嵌入式控制系统、电机驱动系统和信号处理系统，所述的探测头包括有平行安装的跟踪成像光学系统和光学探测系统，上位工控机下发测量命令，在确定初始位置后，启动视日轨迹跟踪命令，程序计算出转到太阳方位需要的水平俯仰电机步数，发送给下位机嵌入式控制系统，下位机嵌入式控制系统控制电机驱动系统实现水平、俯仰电机转动使探测头到当前太阳的方位后，太阳的影像出现在CCD探测器视场内，启动CCD图像精跟踪，太阳光经所述跟踪成像光学系统后照射在CCD探测器的靶面中心处，对视场内的太阳影像进行采集与存储并发送给上位工控机，上位工控机程序对采集到的图像进行分析是否跟准了太阳，计算太阳光斑中心坐标并且将所计算的所述太阳光斑中心坐标与CCD探测器视场中心坐标进行比较，控制电机驱动系统调节跟踪成像光学系统逐渐靠近太阳，直到在跟踪误差允许的像数范围内，在判断跟准后，上位工控机下发测量命令，测量时下位机嵌入式控制系统控制电机驱动系统转动光学探测系统进行测量，太阳光信号通过光学探测系统后转化为电压信号，通过信号处理系统处理后将测量数据上传给上位工控机并保存，实现在较短时间内测量并实时跟踪;
所述的光学探测系统包括有镜筒前端光学系统，镜筒前端光学系统内安装有四个圆形孔径光阑，圆形孔径光阑后安装有一组透镜，透镜后是滤光片转盘，在透镜成像的像平面上放置了可变程控视场光阑来控制仪器探测视场的大小变化，可变程控视场光阑后放置一组合聚焦透镜二，位于组合聚焦透镜二的焦平面上放置安装有光电探测器，测量时下位机嵌入式控制系统控制电机驱动系统，使滤光片转盘顺时针转动90°后可变程控视场光阑孔径大小准确定位到1.2mm、3.95mm、7.9mm位置，对应光学探测系统在0.8°、2.0°、5.0°视场，测量完一个波段后重新找零位，滤光片转盘上安装有441nm、670nm、880nm三个波段10nm带宽滤光片，完成一次测量需要16S。
2.根据权利要求1所述的一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计，其特征在于：所述的跟踪成像光学系统包括有衰减片，在衰减片后方放有一组聚焦透镜一，所述的CCD探测器安装在聚焦透镜一的后方，太阳光先依次经衰减片和聚焦透镜一后照射在CCD探测器的靶面中心处的。
3.根据权利要求1所述的一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计，其特征在于：所述的信号处理系统包括有依次连接的放大电路、信号选通电路、程控增益电路和AD转换电路，放大电路分别与光电探测器信号输出端连接，AD转换电路信号输出端与下位机嵌入式控制系统连接，光信号经光电转换，再经放大电路、信号选通、程控增益和AD转换后，下位机嵌入式控制系统接收数据并通过串行通信将探测的信号值送给上位工控机保存。
4.根据权利要求1所述的一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计，其特征在于：所述的电机驱动系统包括有水平、俯仰、滤光片转盘和可变程控视场光阑四路步进电机及四路步进电机驱动器。
5.根据权利要求4所述的一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计，其特征在于：所述的四路步进电机驱动器的输入端通过四非门芯片7406和双线八路反相缓冲器74HC240连接到下位机嵌入式控制系统输出端并连接四路步进电机，通过下位机嵌入式控制系统控制电机驱动系统实现俯仰、水平、滤光片转盘和可变程控视场光阑电机的转动，上位工控机与下位机嵌入式控制系统的串行通信由电平转换芯片MAX490和串行通信总线组成，串行通信接口经MAX490和串行通信总线连接到上位工控机RS442串行接口，下位机嵌入式控制系统由单片机ATmega128L芯片、16M晶振和复位芯片DSD1813组成。
6.根据权利要求1所述的一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计，其特征在于：所述的光学探测系统通过可变程控视场光阑实现光路的视场大小变化，可变程控视场光阑孔径大小能够连续从1.2mm变化到8mm,对应光路的视场实现从最小0.8°到最大5°视场范围内的变化。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201711281785.4A CN107830928B (zh) | 2017-12-07 | 2017-12-07 | 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201711281785.4A CN107830928B (zh) | 2017-12-07 | 2017-12-07 | 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN107830928A CN107830928A (zh) | 2018-03-23 |
| CN107830928B true CN107830928B (zh) | 2019-10-01 |
Family
ID=61641705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201711281785.4A Active CN107830928B (zh) | 2017-12-07 | 2017-12-07 | 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN107830928B (zh) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109540843A (zh) * | 2018-11-01 | 2019-03-29 | 安徽四创电子股份有限公司 | 一种基于图像变视场的卷云探测仪 |
| CN114427908A (zh) * | 2021-12-13 | 2022-05-03 | 中国船舶重工集团公司第七一六研究所 | 一种高精度自动化地空辐射计 |
| CN114563082B (zh) * | 2022-03-31 | 2023-10-20 | 中国科学院大气物理研究所 | 可编程太阳前向消光和小角散射光谱探测系统及探测方法 |
| CN115468503B (zh) * | 2022-09-15 | 2023-04-07 | 中国科学院大气物理研究所 | 一种同时反演薄冰云光学厚度和有效半径的遥感方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102680088B (zh) * | 2012-05-18 | 2014-08-06 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 | 基于ccd自动跟踪的双筒多视场太阳辐射计 |
| CN102722183B (zh) * | 2012-06-15 | 2014-03-12 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 | 双筒多视场太阳光度计图像跟踪系统及算法 |
-
2017
- 2017-12-07 CN CN201711281785.4A patent/CN107830928B/zh active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN107830928A (zh) | 2018-03-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN107830928B (zh) | 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 | |
| CN101995233B (zh) | 用于太阳精密跟踪的数字式光电角度传感器 | |
| CN103743485B (zh) | 用于同步探测地物光与天空光的全偏振光谱成像系统 | |
| CN102053050B (zh) | 用ccd或cmos为光电探测器件的粒度对中测量方法 | |
| CN102722183B (zh) | 双筒多视场太阳光度计图像跟踪系统及算法 | |
| CN102507148B (zh) | 多象限光电探测器检测系统 | |
| CN106370297B (zh) | 一种高精度自动化太阳光度计 | |
| CN109115339B (zh) | 一种基于aotf和强度调制高速高光谱全偏振成像装置及方法 | |
| CN102635056A (zh) | 一种沥青路面构造深度的测量方法 | |
| CN108318458B (zh) | 一种适用于不同天气条件下的室外典型地物pBRDF的测量方法 | |
| CN116380256A (zh) | 基于雾霾衰减系数的短波红外全偏振成像装置与方法 | |
| WO2023029344A1 (zh) | 一种互补单像素质心探测系统及方法 | |
| US11828905B2 (en) | Dual line diode array device and measurement method and measurement device for particle velocity | |
| CN108333085B (zh) | 一种具有电容及颜色补偿的光电式垂线含沙量检测方法 | |
| CN109029714A (zh) | 一种新型多功能太阳光度计 | |
| CN103134664B (zh) | 一种基于凸面反射镜的在轨光学卫星相机mtf测量方法 | |
| CN105300519A (zh) | 一种用于地物波谱特性的测量装置和方法 | |
| CN107589465A (zh) | 一种半球形结构的激光告警系统 | |
| CN102062595B (zh) | 一种线阵ccd太阳跟踪角度偏差检测仪 | |
| CN105043305B (zh) | 一种量子关联自准直仪及测角方法 | |
| CN201540198U (zh) | 一种光学系统弥散斑和色偏差测试装置 | |
| CN102636267A (zh) | 天空亮度仪 | |
| CN202915918U (zh) | 一种多偏振度图像采集控制系统 | |
| CN104316084A (zh) | 一种太阳跟踪误差检测装置 | |
| KR20110123954A (ko) | 태양 위치 감측 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |