CN107807280A - 一种fpga焊点电阻检测电路 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种FPGA焊点电阻检测电路,由内部检测电路和外部检测电路组成,可以对FPGA引脚的焊点电阻进行检测,同时该引脚可以用于输出信号Sig的传输,并在重建的输出信号Sig_R处重建。基于时分复用,由测试逻辑输出控制信号控制多路选择器输出,检测过程由输出检测信号、反馈信号通过放电、充电外部电路(主要是C1)并基于充电时间计算焊点电阻R0,不进行检测时由电阻R2、电容C2在Sig_R处保持Sig信号,并提供驱动负载Rin需要的能量。基于该电路的FPGA焊点电阻检测,可以将待测引脚用于功能设计,且具有较低的检测功耗。
Description
技术领域
本发明属于电子技术与可靠性技术领域,具体涉及一种FPGA焊点电阻检测电路。
背景技术
随着电子技术的发展,FPGA应运而生,且在电路系统中的应用也日益广泛。在航天等领域,FPGA的使用因任务的日益复杂也越来越多。航天领域的特殊需求,对其中的电子系统等装备的可靠性要求很高。而航天产品的微振动、交变温度应力等,容易使电路系统中的焊点特别是大型BGA封装的焊点发生失效。对焊点失效的提前预测,可有效的预防故障的发生,对系统的可靠性提升具有重要作用。
故障与健康管理等领域的有关研究表明,焊点的失效,前期表现为焊点电阻的增加。因此,对FPGA的焊点电阻进行测量,可有效预测FPGA焊点失效,对包含FPGA的电子系统的可靠性保证,具有重要作用。航天系统的资源、能量有限,这要求检测系统尽量少的使用系统硬件资源,并具有较低的功耗。
为了满足上述资源、能源的需求,借鉴当前焊点故障检测方法,提出一种可以将被检测焊点用于FPGA功能设计的FPGA焊点电阻低功耗在线检测电路。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种FPGA焊点电阻检测电路。
本发明的FPGA焊点电阻检测电路 包括内部检测电路和外部检测电路;
所述的内部检测电路,包括FPGA内部的测试逻辑、多路选择器和连接线路,基于时分复用,测试逻辑输出控制信号控制多路选择器选择功能信号Sig或者检测信号,多路选择器的输出连接到测试逻辑;
所述的时分复用,是指小部分时间用于测试,大部分时间用于输出Sig;所述的小部分时间用于测试,指测试逻辑对FPGA引脚的焊点电阻进行测试;所述的测试逻辑对FPGA引脚的焊点电阻进行测试,是指测试信号先输出低电平信号,对引脚寄生电容C0和外部电路进行放电,将FPGA引脚电压放电到0V,然后测试信号输出高电平,将FPGA引脚电压提高,由反馈信号检测从低电平到高电平的变化时刻,从充电到前述变化时刻的时间可以单调递增的表征FPGA引脚焊点电阻R0的大小;所述的大部分时间用于输出Sig,指多路选择器选择Sig输出到FPGA引脚;
所述的外部检测电路由一个电阻器R2和两个电容器C1和C2组成;所述的电阻器R2的两端分别与电容器C1和电容器C2连接;所述的电容器C1和电容器C2的没有与R2连接的一端接地;所述的电阻器R2与电容器C1连接的一端与FPGA的引脚连接,电阻器R2与电容器C2连接的一端为Sig_R信号。
本发明的FPGA焊点电阻检测电路的具有以下优点:
1.本发明的FPGA焊点电阻检测电路可以对FPGA引脚焊点进行在线检测,即被检测焊点电阻的FPGA引脚可以用作低频信号输出引脚,节省FPGA的引脚资源。
2.本发明的FPGA焊点电阻检测电路只检测一个焊点,只需要3个外部电阻和电容,布局布线具有灵活性。
3.本发明的FPGA焊点电阻检测电路具有很低的测试功率,节约能源。
附图说明
图1为本发明的FPGA焊点电阻检测电路的结构图;
图2为本发明的FPGA焊点电阻检测电路的内部检测电路的工作原理图;
图3为本发明的FPGA焊点电阻检测电路提供的实验测得的时间与电阻之间的关系示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例详细说明本发明。
本实施例不以任何形式限制本发明,凡采取等同替换的方式所获得的技术方案,均落在本发明的保护范围内。
本发明的FPGA焊点电阻检测电路检测电路包括内部检测电路和外部检测电路;
所述的内部检测电路,包括FPGA内部的测试逻辑、多路选择器和连接线路,基于时分复用,测试逻辑输出控制信号控制多路选择器选择功能信号Sig或者检测信号,多路选择器的输出连接到测试逻辑;
所述的时分复用,是指小部分时间用于测试,大部分时间用于输出Sig;所述的小部分时间用于测试,指测试逻辑对FPGA引脚的焊点电阻进行测试;所述的测试逻辑对FPGA引脚的焊点电阻进行测试,是指测试信号先输出低电平信号,对引脚寄生电容C0和外部电路进行放电,将FPGA引脚电压放电到0V,然后测试信号输出高电平,将FPGA引脚电压提高,由反馈信号检测从低电平到高电平的变化时刻,从充电到前述变化时刻的时间可以单调递增的表征FPGA引脚焊点电阻R0的大小;所述的大部分时间用于输出Sig,指多路选择器选择Sig输出到FPGA引脚;
所述的外部检测电路由一个电阻器R2和两个电容器C1和C2组成;所述的电阻器R2的两端分别与电容器C1和电容器C2连接;所述的电容器C1和电容器C2的没有与R2连接的一端接地;所述的电阻器R2与电容器C1连接的一端与FPGA的引脚连接,电阻器R2与电容器C2连接的一端为Sig_R信号。
实施例1
取被检测焊点电阻的变换范围为0-500欧姆。
电路的结构如图1所示,R0表示待测焊点电阻,C0表示寄生电容,R2、C1、C2分别为外部测试电路中的电阻电容,Rin为模拟的被驱动的负载的输入电阻。
表1给出了外部检测电路参数,具体分析如下。为了保证测量精度,C1必须远大于分布电容C0,然而太大的C1将增加能量开销。在常规的PCB中,C0一般为几pF,C1选择1nF,其值超过C0的100倍,故忽略C0。基于XC6SLX9-TQG144BIV1141的实验结果显示,当IO电压为3.3V时,从0到1跳变的门限电压约为1.7,1到0的跳变电压也约为1.7V,且温度在10-85摄氏度之间时该电压基本不变。基于RC电路的充放电特性可知,C1的放(充)电时间随着R0的增加而增加,当R为最大值500欧姆时,放(充)电时间最长,从3.3V放电到1.7V(从0V充电到1.7V),最多需要0.5us。测试过程输出信号由R2和C2形成的滤波器保持。滤波器的时间常数越大,可输出的信号的带宽就越窄。这里,取时间常数为R0和C1的10倍。时间常数由R2和C2的乘积,太小的C2将减小信号Sig_R的驱动能力,最终选择C2取C1相同的值,1nF;R2取R0的10倍,即5.1千欧姆。取脉冲放(充)电的时间比例为1/8(12.5%),则增个放(充)电过程最多4us,假设输入阻抗为1M欧姆,由于输入阻抗Rin形成的电压降(升)最多为14mV,比较小,忽略不计。
焊点电阻检测过程由内部检测电路的测试逻辑控制,测试逻辑主要包括6个状态(state~state5),原理如图2所示。State0为常规输出状态,将信号Sig输出到PIN,然后在Sig_R处重建,其中计时器t用于计算Sig稳定输出一个稳定值的保持时间,当计时器达到20us时,即认为PIN已经输出了一个确定值足够长时间,C2已经近乎被完全放电到0V(充电到3.3V)。当计时器时间大于20us后,则进入state1。State1中,将计数器t1清0,并状态锁存当前输出的Sig信号到Sig_r,假定Sig信号为高电平1(低电平0),随后直接进入state2。在state2,PIN输出一个与Sig_r相反的电平0(1),对引脚进行放电(充电),同时将计数器t2清0,随后进入state3。在state3中,计数器t2累加,PIN输出高阻,等待C2反过来给引脚充电。当t2=6使,进入state3。State4设置PIN为输入,检查PIN状态,如果已经没有达到门限值,电平还是为1(0),即与Sig_R相同,则返回state2继续放电(充电),否则,放电(充电)结束,计数器t1累加,进入state5。在State5时,t1与放电次数成线性关系,可以根据t1计算出R0(还与Sig_R有关)。由于在测试过程中PIN上的电平发生变化,将影响C2的电量,所以将计时器t清0,重新计时,准备开始下一次测试。系统复位时,也直接进入state5,将t清0。
基于Xilinx公司的XC6SLX9-TQG144BIV1141 FPGA,对该检测电路进行实验测试。图3给出了不同R0下测得的t1,在Sig=0或Sig=1的情况下,t1均随R0的增加而增加。表2显示了该检测方法的功率(一共包含4个测试点),其功率消耗最大约为8.6mW,单个焊点检测消耗的功率不超过2.2mW。
表1
表2
Claims (1)
1.一种FPGA焊点电阻检测电路,其特征在于:所述的检测电路包括内部检测电路和外部检测电路;
所述的内部检测电路,包括FPGA内部的测试逻辑、多路选择器和连接线路,基于时分复用,测试逻辑输出控制信号控制多路选择器选择功能信号Sig或者检测信号,多路选择器的输出连接到测试逻辑;
所述的时分复用,是指小部分时间用于测试,大部分时间用于输出Sig;所述的小部分时间用于测试,指测试逻辑对FPGA引脚的焊点电阻进行测试;所述的测试逻辑对FPGA引脚的焊点电阻进行测试,是指测试信号先输出低电平信号,对引脚寄生电容C0和外部电路进行放电,将FPGA引脚电压放电到0V,然后测试信号输出高电平,将FPGA引脚电压提高,由反馈信号检测从低电平到高电平的变化时刻,从充电到前述变化时刻的时间可以单调递增的表征FPGA引脚焊点电阻R0的大小;所述的大部分时间用于输出Sig,指多路选择器选择Sig输出到FPGA引脚;
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