CN107707316A - 一种线损获取方法、设备及计算机可读存储介质 - Google Patents

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    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
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Abstract

本发明公开了一种线损获取方法、设备及计算机可读存储介质,针对现有方案存在的线损值不精确、同频段内平坦性差的缺陷,本发明的线损获取方法,在检测测试连接器件在测试频段中多个测试信道下的初始线损值后,通过计算各初始线损值的平均线损、离散度和标准方差,然后基于平均线损、离散度和标准方差对该测试频段中各初始线损值进行修正处理得到最终线损值。本发明还提供一种终端及计算机可读存储介质,能够保证修正所得的各最终线损值能够尽可能地基于平均线损进行收敛分布,从而降低修正所得的各最终线损值间的离散度,提升测试频段内最终线损值的平坦度和精准性。保证基于最终线损值的终端射频性能测试更为客观、准确,降低生产成本。

Description

一种线损获取方法、设备及计算机可读存储介质
技术领域
本发明涉及通信技术领域,更具体地说,涉及一种线损获取方法、设备及计算机可读存储介质。
背景技术
随着通信技术的发展,用户对终端射频性能的要求也越来越高。所以,为了保证终端出厂之后能够正常通信,具有优良的射频性能,每一个终端出厂之前,都需要经历严格的射频测试。射频测试时,测试人员通过射频线缆和夹具连接端子将待测试终端同测试仪连接起来,然后利用测试仪对能够表征待测试终端射频性能的各项参数进行检测。其中,发射功率就是非常重要的一个被检测参数。在对发射功率这一参数进行测试时,是由待测试终端向测试仪发送射频信号,然后通过测试仪确定待测试终端发射更能够率的大小,并确定该发射功率是否满足要求。由于待测试终端是通过夹具连接端子和射频线缆连接到测试以上的,而射频线缆和夹具连接端子必然会对射频信号的功率产生影响,导致测试仪检测所得功率与终端实际的发射功率存在偏差。
为了尽量消除射频线缆和夹具连接端子对待测试终端发射功率检测结果的影响,需要先确定出射频信号在通过夹具连接端子和射频线缆时,所对应的功率损耗,即线损值的大小。在传统方案当中,测试人员会选用标准金板,然后控制标准金板按照既定发射功率向测试仪发送射频信号,然后计算该既定发射功率同测试仪所接收射频信号的功率的差值,将该差值作为夹具连接端子和射频线缆整体在该既定发射功率下的线损值。为了客观评价待测试终端某一频段下的射频性能,测试人员需要在该频段下选择多个既定发射功率,最终得到不同既定发射功率所对应的线损值。
不过,标准金板的最大发射功率会随着外部环境因素(温度、外部干扰)和其本身发射信号的频繁程度的变化而出现偏差,导致检测所得线损不准确,具体表现为同频段各信道的线损值不平坦,进而导致对待测试终端的测试结果不客观,生产成本上升。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于:解决通过现有方案获取的线损值不精确、同频段内平坦性差,从而导致线损值不准确,影响对待测试终端测试的问题,针对该技术问题,提供一种线损获取方法、设备及计算机可读存储介质。
为解决上述技术问题,本发明提供一种线损获取方法,所述线损获取方法包括:
检测测试连接器件在测试频段中多个测试信道下的初始线损值,所述测试连接器件为在射频测试中连接测试仪与待测试终端的器件,在检测线损时,所述测试连接器件用于连接测试仪与标准金板;
计算各所述初始线损值的平均线损、离散度和标准方差;
基于所述平均线损、离散度和所述标准方差对各所述测试信道对应的初始线损值进行收敛修正处理得到最终线损值。
可选的,所述检测测试连接器件在测试频段中多个测试信道的初始线损值包括:
基于所述标准金板的属性文件确定所述标准金板在各所述测试信道上的实际发射功率,所述属性文件中包括所述标准金板在所述测试频段中各所述测试信道上的最大发射功率;
控制所述标准金板在各所述测试信道上按照对应的实际发射功率向测试仪发送射频信号;
根据所述测试仪对所述标准金板所发射射频信号的接收情况和所述实际发射功率确定所述测试连接器件在各所述测试信道下的初始线损值。
可选的,所述控制所述标准金板在各所述测试信道上按照对应的实际发射功率向测试仪发送射频信号包括:
针对所述测试频段的一测试信道,控制所述标准金板按照所述实际发射功率向所述测试仪进行N次射频信号发送,且相邻两次射频信号发送过程间的时间间隔大于预设时长T,所述N大于等于2;
所述根据所述测试仪对所述标准金板所发射射频信号的接收情况和所述实际发射功率确定所述测试连接器件在各所述测试信道下的初始线损值包括:
根据所述测试仪对所述标准金板发射的N个射频信号的接收功率确定平均接收功率,所述接收功率为所述测试仪接收到的射频信号的功率值;
计算所述实际发射功率和所述平均接收功率间的差值作为所述测试连接器件在所述测试信道下的初始线损值。
可选的,所述根据所述测试仪对所述标准金板发射的N个射频信号的接收功率确定平均接收功率包括:
筛除N个接收功率中的最大值和最小值;
计算剩余的N-2个接收功率间的平均值作为所述平均接收功率。
可选的,所述计算剩余的N-2个接收功率间的平均值作为所述平均接收功率包括:
若N-2的值大于等于预设次数,则计算所述剩余的N-2个接收功率间的算术平均值作为所述平均接收功率;
若N-2的值小于预设次数,则计算所述剩余的N-2个接收功率间的几何平均值作为所述平均接收功率。
可选的,所述基于所述标准金板的属性文件确定所述标准金板在各所述测试信道上的实际发射功率包括:
针对所述测试频段的一测试信道,若判定所述属性文件中所记载的最大发射功率超过所述测试仪的饱和门限,则选用低于所述饱和门限的发射功率值作为所述测试信道对应的实际发射功率;
若判定所述属性文件中所记载的最大发射功率小于等于所述测试仪的饱和门限,则直接采用所述最大发射功率作为所述测试信道对应的实际发射功率。
可选的,所述基于所述平均线损、离散度和所述标准方差对各所述测试信道对应的初始线损值进行收敛修正处理得到最终线损值包括:
针对某一初始线损值,将所述初始线损值的离散度同预设偏差门限进行比较,确定所述离散度大于所述预设偏差门限;
根据各所述初始线损值同平均线损间的大小关系分别确定针对各所述初始线损值的修正策略,并根据各所述修正策略完成对对应初始线损值的修正,所述平均线损为所述测试频段下各测试信道初始线损值的算术平均值。
可选的,所述根据各所述初始线损值同平均线损间的大小关系分别确定针对各所述初始线损值的修正策略,并根据各所述修正策略完成对对应初始线损值的修正包括:
根据所述初始线损值和所述初始线损值的离散度计算所述测试频段中各测试信道初始线损值的离散因子;
若所述初始线损值大于所述平均线损,则根据以下公式完成修正:
最终线损值=初始线损值-标准方差*离散因子;
若所述初始线损值小于所述平均线损,则根据以下公式完成修正:
最终线损值=初始线损值+标准方差*离散因子。
进一步地,本发明还提供了一种线损获取设备,所述线损获取设备包括处理器、存储器及通信总线;
所述通信总线用于实现处理器和存储器之间的连接通信;
所述处理器用于执行存储器中存储的一个或者多个程序,以实现如上任一项所述的线损获取方法的步骤。
进一步地,本发明还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现如上任一项所述的线损获取方法的步骤。
有益效果
本发明提供一种线损获取方法、设备及计算机可读存储介质,针对现有方案存在的获取线损值不精确、同频段内平坦性差的缺陷,本发明提供的线损获取方法,在检测测试连接器件在测试频段中多个测试信道下的初始线损值后,通过计算各初始线损值的平均线损、离散度和标准方差,然后基于平均线损、离散度和标准方差对该测试频段中各测试信道对应的初始线损值进行收敛修正处理得到最终线损值。由于收敛修正处理基于各初始线损值间的平均线损、离散度和标准方差进行,所以,修正所得的各最终线损值能够尽可能地基于平均线损进行收敛分布。从而降低修正所得的各最终线损值间的离散度,提升测试频段内最终线损值的平坦度和精准性。保证基于最终线损值的终端射频性能测试更为客观、准确,提升待测试终端直接通过测试的直通率,降低生产成本。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:
图1为实现本发明各个实施例一个可选的移动终端的硬件结构示意图。
图2为本发明提供的获取线损时各设备之间的连接关系示意图;
图3为本发明第一实施例提供的线损获取方法的一种流程图;
图4为本发明第一实施例中检测测试连接器件在同一测试频段下多个测试信道初始线损值的一种流程图;
图5为本发明第一实施例中为标准金板设置针对某一测试信道的实际发射功率的一种流程图;
图6为本发明第一实施例提供的基于平均线损、离散度和标准方差对各测试信道对应的初始线损值进行收敛修正处理得到最终线损值的一种流程图;
图7为本发明第二实施例提供的线损获取方法的一种流程图;
图8为本发明各实施例提供的线损获取设备的一种硬件结构示意图。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
在后续的描述中,使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本发明的说明,其本身没有特定的意义。因此,“模块”、“部件”或“单元”可以混合地使用。
终端可以以各种形式来实施。例如,本发明中描述的终端可以包括诸如手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、个人数字助理(Personal Digital Assistant,PDA)、便捷式媒体播放器(Portable Media Player,PMP)、导航装置、可穿戴设备、智能手环、计步器等移动终端,以及诸如数字TV、台式计算机等固定终端。
后续描述中将以移动终端为例进行说明,本领域技术人员将理解的是,除了特别用于移动目的的元件之外,根据本发明的实施方式的构造也能够应用于固定类型的终端。
请参阅图1,其为实现本发明各个实施例的一种移动终端的硬件结构示意图,该移动终端100可以包括:RF(Radio Frequency,射频)单元101、WiFi模块102、音频输出单元103、A/V(音频/视频)输入单元104、传感器105、显示单元106、用户输入单元107、接口单元108、存储器109、处理器110、以及电源111等部件。本领域技术人员可以理解,图1中示出的移动终端结构并不构成对移动终端的限定,移动终端可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
下面结合图1对移动终端的各个部件进行具体的介绍:
射频单元101可用于收发信息或通话过程中,信号的接收和发送,具体的,将基站的下行信息接收后,给处理器110处理;另外,将上行的数据发送给基站。通常,射频单元101包括但不限于天线、至少一个放大器、收发信机、耦合器、低噪声放大器、双工器等。此外,射频单元101还可以通过无线通信与网络和其他设备通信。
WiFi属于短距离无线传输技术,移动终端通过WiFi模块102可以帮助用户收发电子邮件、浏览网页和访问流式媒体等,它为用户提供了无线的宽带互联网访问。虽然图1示出了WiFi模块102,但是可以理解的是,其并不属于移动终端的必须构成,完全可以根据需要在不改变发明的本质的范围内而省略。
音频输出单元103可以在移动终端100处于呼叫信号接收模式、通话模式、记录模式、语音识别模式、广播接收模式等等模式下时,将射频单元101或WiFi模块102接收的或者在存储器109中存储的音频数据转换成音频信号并且输出为声音。而且,音频输出单元103还可以提供与移动终端100执行的特定功能相关的音频输出(例如,呼叫信号接收声音、消息接收声音等等)。音频输出单元103可以包括扬声器、蜂鸣器等等。
A/V输入单元104用于接收音频或视频信号。A/V输入单元104可以包括图形处理器(Graphics Processing Unit,GPU)1041和麦克风1042,图形处理器1041对在视频捕获模式或图像捕获模式中由图像捕获装置(如摄像头)获得的静态图片或视频的图像数据进行处理。处理后的图像帧可以显示在显示单元106上。经图形处理器1041处理后的图像帧可以存储在存储器109(或其它存储介质)中或者经由射频单元101或WiFi模块102进行发送。麦克风1042 可以在电话通话模式、记录模式、语音识别模式等等运行模式中经由麦克风1042接收声音(音频数据),并且能够将这样的声音处理为音频数据。处理后的音频(语音)数据可以在电话通话模式的情况下转换为可经由射频单元101发送到移动通信基站的格式输出。麦克风1042可以实施各种类型的噪声消除(或抑制)算法以消除(或抑制)在接收和发送音频信号的过程中产生的噪声或者干扰。
移动终端100还包括至少一种传感器105,比如光传感器、运动传感器以及其他传感器。具体地,光传感器包括环境光传感器及接近传感器,其中,环境光传感器可根据环境光线的明暗来调节显示面板1061的亮度,接近传感器可在移动终端100移动到耳边时,关闭显示面板1061和/或背光。作为运动传感器的一种,加速计传感器可检测各个方向上(一般为三轴)加速度的大小,静止时可检测出重力的大小及方向,可用于识别手机姿态的应用(比如横竖屏切换、相关游戏、磁力计姿态校准)、振动识别相关功能(比如计步器、敲击)等;至于手机还可配置的指纹传感器、压力传感器、虹膜传感器、分子传感器、陀螺仪、气压计、湿度计、温度计、红外线传感器等其他传感器,在此不再赘述。
显示单元106用于显示由用户输入的信息或提供给用户的信息。显示单元106可包括显示面板1061,可以采用液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)、有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)等形式来配置显示面板1061。
用户输入单元107可用于接收输入的数字或字符信息,以及产生与移动终端的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。具体地,用户输入单元107可包括触控面板1071以及其他输入设备1072。
进一步的,触控面板1071可覆盖显示面板1061,当触控面板1071检测到在其上或附近的触摸操作后,传送给处理器110以确定触摸事件的类型,随后处理器110根据触摸事件的类型在显示面板1061上提供相应的视觉输出。虽然在图1中,触控面板1071与显示面板1061是作为两个独立的部件来实现移动终端的输入和输出功能,但是在某些实施例中,可以将触控面板1071与显示面板1061集成而实现移动终端的输入和输出功能,具体此处不做限定。
接口单元108用作至少一个外部装置与移动终端100连接可以通过的接口。例如,外部装置可以包括有线或无线头戴式耳机端口、外部电源(或电池充电器)端口、有线或无线数据端口、存储卡端口、用于连接具有识别模块的装置的端口、音频输入/输出(I/O)端口、视频I/O端口、耳机端口等等。接口单元108可以用于接收来自外部装置的输入(例如,数据信息、电力等等)并且将接收到的输入传输到移动终端100内的一个或多个元件或者可以用于在移动终端100和外部装置之间传输数据。
存储器109可用于存储软件程序以及各种数据。存储器109可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能、图像播放功能等)等;存储数据区可存储根据手机的使用所创建的数据(比如音频数据、电话本等)等。此外,存储器109可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。
处理器110是移动终端的控制中心,利用各种接口和线路连接整个移动终端的各个部分,通过运行或执行存储在存储器109内的软件程序和/或模块,以及调用存储在存储器109内的数据,执行移动终端的各种功能和处理数据,从而对移动终端进行整体监控。处理器110可包括一个或多个处理单元;优选的,处理器110可集成应用处理器和调制解调处理器,其中,应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等,调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是,上述调制解调处理器也可以不集成到处理器110中。
移动终端100还可以包括给各个部件供电的电源111(比如电池),优选的,电源111可以通过电源管理系统与处理器110逻辑相连,从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。
基于上述移动终端硬件结构以及通信网络系统,提出本发明方法各个实施例。
第一实施例:
本实施例提供一种线损获取方法,用以解决现有方案获取的同频段线损值平坦性差、精确度差的问题。为了便于理解本实施例中提供的线损获取方法,下面首先对获取线损的相关基础原理进行简单介绍,请参见图2中获取线损的一种示意图:
在获取线损值的时候,需要使用到以下器件:标准金板10、测试连接器件20测试仪30以及线损获取设备40。其中,标准金板10也称金机,其类似于一个待测试终端,只不过相对于真正的待测试终端而言,标准金板10的各项射频性能参数都是已知的。待测试终端的硬件结构等可以参见前述介绍。标准金板10的射频性能参数在获取线损的时候,主要是作为一个标准,从而衡量测试连接器件20的线损值。在线损获取阶段,测试连接器件20实际上是一个被检测对象,在经历线损获取阶段之前,测试连接器件20的线损是未知的,而在结合标准金板10的射频性能参数获取到测试连接器件20的线损值之后,就可以将该测试连接器件20用到对待测试终端的射频性能参数检测阶段了。在待测试终端射频性能参数检测阶段,测试连接器件20的角色就变成了测试连接工具。在线损获取阶段和待测试终端射频性能参数的测试阶段,测试仪30都是用于检测通过测试连接器件20发送的信号的接收功率等参数的仪器。线损获取设备40可用于控制标准金板10按照一定的要求向测试仪30发送信号,以及根据测试仪的接收功率和标准金板10的实际发射功率计算线损值等。
下面结合图3中提供的线损获取方法的流程图对本实施例提供的线损获取方法进行介绍:
S302、检测测试连接器件在测试频段中多个测试信道下的初始线损值。
在保证标准金板按照如图2的方式与测试仪进行连接之后,线损获取设备可以控制标准金板按照一定的实际发射功率向测试仪发送射频信号,从而根据测试仪对射频信号的接收情况确定出测试连接器件的初始线损值。为了全面考虑测试连接器件在一个频段中不同频率信道下的线损情况,在本实施例中,线损获取设备会控制标准金板分别在同一测试频段中多个不同测试信道下按照符合要求的实际发射功率分别向测试仪发送射频信号。
可以理解的是,下一测试频段下,选择来发射射频信号的测试信道越多,就越能够全面、详细地了解测试连接器件在改测试频段下的线损情况,但同时这样获取线损的工作量也就越多。为了尽量平衡检测工作量和线损情况详细程度的矛盾,本实施例的一种实施示例当中,线损获取设备将会在一个测试频段中按照频率高、中、低三个等级选择三个测试信道来点检初始线损值。当然,毫无疑义的是,线损获取设备还可以选择比三个更多的测试信道来进行初始线损值的点检。
在本实施例中,提供了一种检测测试连接器件在同一测试频段下多个测试信道初始线损值的方案,请参见图4:
S402、基于标准金板的属性文件确定标准金板在各测试信道上的实际发射功率。
由于每一个标准金板都有自己的属性文件,在属性文件当中,包含了记录了该标准金板的PSN号(Production Serial Number,生产序列号)、制作时间戳、CRC(CyclicRedundancy Check,循环冗余校验码)文件校验码,以及各制式中各测试频段下测试信道标称的最大发射功率。基于属性文件中的最大发射功率,线损获取设备可以确定出该标准金板在各个测试信道下的实际发射功率:在通常情况下,线损获取设备可以直接控制标准金板按照属性文件中记载的最大发射功率来向测试仪发送射频信号。例如,针对某一测试频段中的A、B、C三个测试信道,属性文件中记载的标称最大发射功率如表1所示:
表1
测试信道 最大发射功率
A P1
B P2
C P3
所以,针对测试信道A,线损获取设备可以将P1设置为标准金板的实际发射功率;针对测试信道B,则将P2作为标准金板的实际发射功率,而当标准金板需要使用测试信道C向测试仪发送射频信号的时候,线损获取设备则可控制标准金板按照最大发射功率P3来进行射频信号发送。应当理解是,在绝大多数情况下,同一测试频段下各测试信道的实际发射功率值是不同的,但是,本实施例中并不排除针对某些频率比较接近的测试信道,标准金板会采用相同实际发射来进行射频信号发射的情况。
不过,标准金板的属性文件当中,针对各测试信道所记载的最大发射功率有可能会超过测试仪VSA(Vector Signal Aanlysis,矢量信号分析)信号输入端口的饱和门限。例如,在标准金板的属性文件中,为检测测试连接器件在GSM低频场景下线损所设置的最大发射功率就可能会超过CMW500综测仪VSA信号输入端口的饱和功率2W(即32dBm)。在这种情况下,可能会导致CMW500综测仪实际测量到的接收功率会比GSM高频场景下的接收功率还低1~2dBm,这显然是不正确的。所以,为了避免直接以属性文件中超过测试仪饱和门限的最大发射功率作为实际发射功率,从而导致初始线损值检测不准确的问题,本实施例中,线损获取设备为标准金板设置针对某一测试信道的实际发射功率时,会按照图5中的方案进行:
S502、线损获取设备判断属性文件中针对某一测试信道的最大发射功率是否超过测试仪的饱和门限。
如果线损获取设备经过判断,发现属性文件中所记载的针对测试信道C的最大发射功率为P3,而P3大于了测试仪的饱和门限Pmax,则执行S504;否则,例如,线损获取设备确定针对测试信道B的最大发射功率为P2,而P2小于Pmax,因此,线损获取设备可以控制进入S506。
S504、线损获取设备选用低于饱和门限的发射功率值作为该测试信道对应的实际发射功率。
线损获取设备经过判断,发现针对测试信道C的最大发射功率为P3大于测试仪的饱和门限Pmax,因此,线损获取设备从小于饱和门限Pmax的功率值中选择一个作为针对测试信道C的实际发射功率值。
S506、线损获取设备直接采用最大发射功率作为测试信道对应的实际发射功率。
针对测试信道B,由于属性文件中所记载的最大发射功率并没有超过测试仪的饱和门限Pmax,因此,线损获取设备可以直接将该最大发射功率设置成标准金板在测试信道B上的实际发射功率。
在实际应用中,标准金板的属性文件中可能没有直接记载针对各测试信道的最大发射功率值,而是记载了标准金板在对应测试信道上的发射功率等级。不过可以理解的是,根据功率等级与功率值的大小对应关系,线损获取设备可以确定如果标准金板采用该功率等级进行射频信号发送,是否会超过测试仪的饱和门限。如果没有超过,则控制标准金板直接按照该发射功率等级对应的发射功率进行信号发送。但如果线损获取设备确定功率等级所对应的功率值已经超过了测试仪的饱和门限,则线损获取设备可以控制标准金板在实际进行射频信号发送的时候,回退一个或多个功率等级,也即选择一个发射功率不会超过测试仪饱和门限的等级进行射频信号发送。
S404、控制标准金板在各测试信道上按照对应的实际发射功率向测试仪发送射频信号。
确定出针对各测试信道的实际发射功率之后,线损获取设备可以控制标准金板按照实际发射功率在对应的测试信道上向测试仪发送射频信号。
S406、根据测试仪对标准金板所发射射频信号的接收情况和实际发射功率确定测试连接器件在各测试信道下的初始线损值。
当测试仪接收到标准金板通过某一测试信道发送的射频信号后,可以确定出自己接收到的该射频信号的功率值,即接收功率。随后,线损获取设备就可以根据该接收功率和该测试信道对应的实际发射功率确定出测试连接器件在该测试信道下的初始线损值。具体地,初试线损值为实际发射功率与接收功率的差值。
S304、计算各初始线损值的平均线损、离散度和标准方差。
当线损获取设备控制标准金板通过测试频段下的各个测试信道分别向测试仪发送了射频信号之后,线损获取设备就可以以及前面的介绍计算出测试连接器件在该测试频段的各测试信道下的初始线损值。例如,针对测试信道A,测试连接设备的初始线损值为d1,针对测试信道B,测试连接设备的初始线损值为d2;而在测试信道C下,测试连接设备的初始线损值则为d3。当然,在其他示例当中,如果针对同一测试频段所设置的测试信道数量大于3,则所得的初始线损值的个数也应当大于3。
对于该测试频段下的初始线损值d1、d2和d3,线损获取设备可以计算出各初始线损值的平均线损、离散度和标准方差。其中,平均线损即为各初始线损值的平均值,而离散度则是各初始线损值同该平均线损之间的差值的绝对值,标准方差的计算公式请参照如下所示:
其中,Xi为初始线损值,而X为平均线损,在本实施例中,平均线损为测试频段下各测试信道初始线损值的算术平均值。N为该测试频段下测试信道的个数,也即初始线损值的个数,S为标准方差。
S306、基于平均线损、离散度和标准方差对各测试信道对应的初始线损值进行收敛修正处理得到最终线损值。
计算得到测试连接器件各初始线损值在对应测试频段下的平均线损、离散度和标准方差之后,线损获取设备可以基于该平均线损、离散度和标准方差对初始线损值进行收敛修正处理得到各初始线损值所对应的最终线损值。例如,线损获取设备可以按照如图6所示的方案进行:
S602、针对某一初始线损值,将其离散度同预设偏差门限进行比较,确定离散度大于预设偏差门限。
随后,线损获取设备将初始线损值的离散度同预设偏差门限进行大小比较,从而确定该初始线损值的离散度同预设偏差门限之间的大小关系。
S604、根据各初始线损值同平均线损间的大小关系分别确定针对各初始线损值的修正策略,并根据各修正策略完成对对应初始线损值的修正。
如果线损获取设备确定某个初始线损值的离散度大于预设偏差门限,则说明该初始线损值与平均线损之间的差距较大,因此需要被修正。否则,如果线损获取设备确定该初始线损值与平均线损之间的差距较小,没有在很大程度上造成测试频段内线损值不平坦,因此,可以不用进行修正。在本实施例的一种示例当中,可以将预设偏差门限设置为0.1,如果某个初始线损值的离散度大于0.1,则说明该初始线损值需要被修正,否则,不需要进行修正处理,可以直接将该初始线损值作为最终线损值。下面提供一个对初始线损值进行修正的具体方案:
为了修正初始线损值,需要根据离散度和各初始线损值计算测试频段中各测试信道初始线损值的离散因子。为了计算离散因子,线损获取设备首先需要基于各初始线损值计算出在该测试频段下的各初始线损值中,最大的离散度,即最大离散度DIFmax的值。根据前面的介绍可知,一个初始线损值的离散度DIF等于该初始线损值同平均线损之间差值的绝对值。而最大离散度DIFmax则是各个初始线损值离散度中最大的一个。所以,为了获得最大离散度DIFmax,线损获取设备可以线计算出所有初始线损值中的离散度DIF,然后选择最大的一个作为最大离散度DIFmax
得到最大离散度DIFmax之后,线损获取设备分别计算每一个初始线损值的离散因子。具体的,线损获取设备计算该初始线损值的离散度DIF和最大离散度DIFmax之间的比值作为该初始线损值的离散因子。
在该示例的方案当中,针对需要修正的初始线损值,其修正方案中包括两种修正策略,线损获取设备需要依据待修正的初始线损值同平均线损之间的相对关系确定选择哪一种修正策略来最该待修正的初始线损值进行收敛修正处理:
第一种,如果该初始线损值大于平均线损值,则最终线损值=初始线损值-标准方差*离散因子;而如果初始线损值小于平均线损,最终线损值=初始线损值+标准方差*离散因子。
在本实施例中提供的线损获取方法,通过线损获取设备控制标准金板通过测试频段下多个测试信道向测试仪发送射频信号,然后根据测试仪对射频信号的接收情况计算出测试连接器件在该测试频段各测试信道下的初始线损值。随后计算出该测试频道下各初始线损值的平均线损、离散度和标准方差,并基于平均线损、离散度和标准方差对各初始线损值进行收敛修正处理,所以通过对初始线损值进行收敛修正所得到的该测试频段内的各最终线损值,在测试频段内是基于平均线损进行收敛分布的,从而保证测试频段内最终线损值的平坦性,提升测试频段内最终线损值的精确性。进而保证在对待测试终端进行测试时,能够尽可能准确地获取其射频性能情况,避免多次测试,提升了生产效率,降低了生产成本。
更进一步的,由于本实施例提供的线损获取方法,线损获取设备控制标准金板向测试仪发送射频信号的时候,会保证标准金板的实际发射功率值不会超过测试仪的饱和门限,从而能够保证初始线损值的准确性,进一步也就保证了最终线损值的可靠性。
第二实施例:
本实施例将在第一实施例的基础上,继续对本发明提供的线损获取方法进行介绍,请参见图7:
S702、获取标准金板的属性文件。
由于本实施例中也会根据标准金板的属性文件来设置标准金板在各测试信道向测试仪发送射频信号的实际发射功率,所以,本实施例中,线损获取设备也会获取标准金板的属性文件。
S704、判断获取到的属性文件是否有效。
获取到标准金板的属性文件之后,线损获取设备可以根据属性文件中制作时间戳,从而结合属性文件的有效期来判定该属性文件是否过期,如果已经过期,则可能需要重新选择标准金板,或者重新制作该标准金板的属性文件。如果该属性文件仍处于有效期内,则可以进入S706。通常,一个标准金板的有效期为6个月,例如,某个标准金板的属性文件中所记载的制作时间戳是2017年2月23日,则该属性文件的过期日为2017年8月23日,超过2017年8月23日,就不能直接根据该标准金板来对测试连接器件的线损值进行检测了。
应当理解的是,如果线损获取设备获取到的标准金板和属性文件不对应,则根据错误的属性文件无法获得正确的实际发射功率,会严重影响线损点检结果的正确性和有效性。所以,在本实施例中,为了保证线损设备获取到的标准金板和属性文件是对应的,线损获取设备还会在检测有属性文件有效性之前或之后,将属性文件中的PSN号和标准金板自身的PSN号进行比较,确定是否一致,如果不一致,则需要重新获取该标准金板的属性文件。
S706、根据属性文件中标称的最大发射功率确定标准金板在同一测试频段各测试信道下的实际发射功率。
得到正确的属性文件之后,线损获取设备会根据属性文件中所记录的该标准金板在测试频段各测试信道下标称的最大发射功率或最大发射功率等级,按照第一实施例中的而极少确定出对应的实际发射功率,针对确定实际发射功率的细节,这里不再赘述。
应当理解的是,在本实施例的其他一些示例当中,线损获取设备也可以通过其他方式来为标准金板确定在不同测试信道下的实际发射功率,例如,由测试人员根据经验值来预设各测试信道下的发射功率对应表,在该发射功率对应表中包括了各测试频段的各测试信道所对应的实际发射功率。线损获取设备可以直接查询该发射功率对应表,从而得到对应的实际发射功率。当然,本发明提供的线损设备还可以通过其他任意可行的方式来设置标准金板的实际发射功率,不限于这里所列举的方式。
S708、控制标准金板按照对应的实际发射功率通过测试连接器件在同一测试频段各测试信道下向测试仪进行射频信号发送。
应当理解的是,在进行射频信号发送之前,首先要保证标准金板同测试仪之间已经通过测试连接器件连接完成。在本实施例中测试连接器件包括射频线缆以及夹具连接端子。若在另外一些测试方案当中,对待测试终端进行测试时,需要使用到其他连接器件,则测试连接器件不仅限于射频线缆与夹具连接端子的组合。
为标准金板确定出在一个测试频段下各测试信道对应的实际发射功率之后,线损获取设备就可以控制标准金板通过测试连接器件根据对应的实际发射功率在对应测试信道上向测试仪发送射频信号。例如,针对某一个测试频段下的测试信道A,线损获取设备控制标准金板按照实际发射功率P1进行射频信号发送,而针对另一测试信道B,线损获取设备则控制标准金板按照测试信道B所对应的实际发射功率P2进行射频信号发送。
在第一实施例当中,仅介绍了针对某一个测试信道,进行一次射频信号发送,随后,根据测试仪的接收情况计算出测试连接器件在该测试信道下的初始线损值。但可以理解的是,如果仅根据一个射频信号的实际发射功率和接收功率计算测试连接器件在该信号频率下的初始线损值,有可能会出现初始线损值受到干扰影响从而出现较大偏差的情形。所以,针对该问题,本实施例提供一种解决思路:
针对测试频段的中的某个测试信道,线损获取设备可以控制标准金板按照对应的实际功率向测试仪进行N次射频信号发送,其中N大于等于2。这样,测试仪侧可以根据这N次射频信号的接收情况得到接收功率的平均值,从而避免偶然因素对接收功率的影响。
S710、根据测试仪对标准金板发送的各射频信号的接收功率计算出测试连接器件在该测试频段各测试信道下的初始线损值。
例如,对于测试信道A,标准金板所采用的实际发射功率均是P1,并且进行4次射频信号发送,针对这四个射频信号,测试仪接收到射频信号后测得的接收功率分别是P1.1、P1.2和P1.3、P1.4,则平均接收功率为PA=(P1.1+P1.2+P1.3+P1.4)/4。对应的,针对测试信道A的初始线损值就为P1-PA。
可以理解的是,在针对同一测试信道进行多次射频信号收发时,正常情况下,测试仪对接收功率的多次检测结果应当是比较接近的,并且在平均接收功率上下进行波动。但如果多次检测结果中的一部分与其他结果相差较大,则会影响后续对平均接收功率的计算,进而影响初始线损值的准确程度,所以,在本实施中,线损获取设备从测试仪处获取到测试仪对各射频信号的接收结果之后,会去除其中的最大值与最小值,然后再对剩余的接收功率进行平均,求得平均接收功率。
另外,对于样本较少(即参与计算平均接收功率的接收功率值较少),考虑到非线性的因素,为了压低异常(离散度较大的)接收功率值对平均接收功率的拔高效应,本实施例中采用几何平均值算法计算其平均接收功率。所以,对于除去最大接收功率值以及最小接收功率值的情况,若N-2的值大于等于预设次数,则线损获取设备计算剩余的N-2个接收功率间的算术平均值作为平均接收功率,但如果N-2小于预设次数,线损获取设备则会计算剩余的N-2个接收功率间的几何平均值作为平均接收功率。在本实施例中的一些示例当中,预设次数为3次。计算得到平均接收功率之后,线损获取设备计算实际发射功率同该平均接收功率之间的差值作为测试连接器件在对应测试信道下的初始线损值。
另外,标准金板在持续的射频信号发送之后,自身温度等参数会出现变化,而标准金板的温度则很有可能会导致其发射功率出现偏差,所以,为了避免连续射频信号发送给检测结果带来的误差,在本实施例中,线损获取设备会控制标准金板任意相邻两次射频信号发送过程之间的时间间隔不能小于预设时长T。
S712、计算该测试频段下各初始线损值的平均线损、离散度和标准方差。
本实施例中对于计算各初始线损值之间的平均线损标准方差,以及各初始线损值的离散度的过程,请参照第一实施例的介绍,这里不再赘述。
例如,针对某一测试频段线损获取设备分别获取了序号分别为1~5五个测试信道的初始线损值,具体情况,请参见表2:
表2
测试信道序号 1 2 3 4 5
初始线损值 0.98 1.22 1.08 1.19 1.28
线损获取设备计算确定,这5个测试信道下的初始线损值的平均线损为1.15,标准方差为0.1196。针对测试信道1,其离散度为0.17;针对测试信道2,其离散度为0.07;针对测试信道3,其离散度为0.07,针对测试信道4,其离散度为0.04;针对测试信道5,其离散度为0.13。
S714、将初始线损值的离散度同预设偏差门限进行比较,判断是否需要对该初始线损值进行收敛修正。
计算出平均线损、离散度和标准方差之后,线损获取设备需要分别确定是否需要对对应初始线损值进行收敛修正处理。具体的,线损获取设备将各初始线损值的离散度同预设偏差门限进行比较,判断该初始线损值的离散度是否大于预设偏差门限,如果是,则判定需要进行收敛修正处理,执行S716,否则,执行S720。
S716、将待修正的初始线损值同平均线损进行比较,为该待修正的初始线损值选择修正策略。
所以,如果预设偏差门限等于0.1,只需要对测试信道1和测试信道5所对应的初始线损值进行收敛修正处理。在对待修正的初始线损值进行修正的时候,需要根据其与平均线损之间的大小关系选择对应的修正策略:如果某个初始线损值需要修正的原因在于其比平均线损小很多,则需要对其进行一定程度的增加修正,否则对其进行一定程度的减少修正,以便让其更加接近平均线损,从而提升测试频段内最终线损值的平坦性。
S718、根据选定的修正策略对该初始线损值进行修正处理得到最终线损值。
所以,如果通过比较,发现某个待修正的初始线损值小与平均线损,则线损获取设备通过公式:
最终线损值=初始线损值+标准方差*离散因子;
计算得到其最终线损。否则通过如下公式计算其最终线损:
最终线损值=初始线损值-标准方差*离散因子。
S720、直接将初始线损值作为最终线损值。
如果线损获取设备将某个初始线损值的离散度同预设偏差门限进行比较时,发现该初始线损值的离散度小于等于预设偏差门限,则判断该初始线损值不需要进行修正,可以直接将其作为对应测试信道的最终线损值。
本实施例提供的线损获取方法,在正式进行线损点检之间线损获取设备会通过一系列的措施来保证标准金板及标准金板属性文件的有效性,从而保证线损检测结果的有效性。另一方面,在点检初始线损值时,线损获取设备又通过控制射频信号发送时间间隔、多次检测取均值以及筛除最值等方式来保证初始线损值尽可能符合实际情况,进一步提升了线损获取的准确性。最后,再根据各个初始线损值的平均线损、离散度等参数对初始线损值进行收敛修正,提升测试频段内各最终线损值的平坦度,提升了线损值的准确性,保证基于这些最终线损值的终端射频性能参数检测能够更准确。
第三实施例:
本实施例首先提供一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质当中存储有一个或多个计算机程序,这些计算机程序可供处理器读取、编译并执行,从而实现对应的方法流程。在本实施例中,计算机可读存储介质当中存储有可以实现前述实施例中线损获取方法的计算机程序。
另外,本实施例还提供一种线损获取设备,请参见图8,该线损获取设备包括处理81、存储器80和通信总线83。其中通信总线83用于实现处理器81和存储器82之间的连接通信,存储器82作为一种计算机可读存储介质,其中存储有线损获取程序,处理器81可以通过执行该计算机程序实现前述实施例中介绍的线损获取方法。
可以理解的是,本实施例中的线损获取设备可以是一台单独的实体设备,也可以是通过多台分别实现不同功能的实体设备共同构成。
在保证标准金板按照如图2的方式与测试仪进行连接之后,处理器81可以控制标准金板按照一定的实际发射功率向测试仪发送射频信号,从而根据测试仪对射频信号的接收情况确定出测试连接器件的初始线损值。为了全面考虑测试连接器件在一个频段中不同频率信道下的线损情况,在本实施例中,处理器81会控制标准金板分别在同一测试频段中多个不同测试信道下按照符合要求的实际发射功率分别向测试仪发送射频信号。
可以理解的是,下一测试频段下,选择来发射射频信号的测试信道越多,就越能够全面、详细地了解测试连接器件在改测试频段下的线损情况,但同时这样获取线损的工作量也就越多。为了尽量平衡检测工作量和线损情况详细程度的矛盾,本实施例的一种实施示例当中,处理器81将会在一个测试频段中按照频率高、中、低三个等级选择三个测试信道来点检初始线损值。当然,毫无疑义的是,处理器81还可以选择比三个更多的测试信道来进行初始线损值的点检。
在本实施例中,提供了一种检测测试连接器件在同一测试频段下多个测试信道初始线损值的方案:
首先,处理器81基于标准金板的属性文件确定标准金板在各测试信道上的实际发射功率。由于每一个标准金板都有自己的属性文件,在属性文件当中,包含了记录了该标准金板的PSN号、制作时间戳、CRC文件校验码,以及各制式中各测试频段下测试信道标称的最大发射功率。基于属性文件中的最大发射功率,处理器81可以确定出该标准金板在各个测试信道下的实际发射功率:在通常情况下,处理器81可以直接控制标准金板按照属性文件中记载的最大发射功率来向测试仪发送射频信号。例如,针对某一测试频段中的A、B、C三个测试信道,属性文件中记载的标称最大发射功率如表1所示。所以,针对测试信道A,处理器81可以将P1设置为标准金板的实际发射功率;针对测试信道B,则将P2作为标准金板的实际发射功率,而当标准金板需要使用测试信道C向测试仪发送射频信号的时候,处理器81则可控制标准金板按照最大发射功率P3来进行射频信号发送。应当理解是,在绝大多数情况下,同一测试频段下各测试信道的实际发射功率值是不同的,但是,本实施例中并不排除针对某些频率比较接近的测试信道,标准金板会采用相同实际发射来进行射频信号发射的情况。
不过,标准金板的属性文件当中,针对各测试信道所记载的最大发射功率有可能会超过测试仪VSA信号输入端口的饱和门限。例如,在标准金板的属性文件中,为检测测试连接器件在GSM低频场景下线损所设置的最大发射功率就可能会超过CMW500综测仪VSA信号输入端口的饱和功率2W(即32dBm)。在这种情况下,可能会导致CMW500综测仪实际测量到的接收功率会比GSM高频场景下的接收功率还低1~2dBm,这显然是不正确的。所以,为了避免直接以属性文件中超过测试仪饱和门限的最大发射功率作为实际发射功率,从而导致初始线损值检测不准确的问题,本实施例中,处理器81为标准金板设置针对某一测试信道的实际发射功率时,处理器81可以判断属性文件中针对某一测试信道的最大发射功率是否超过测试仪的饱和门限。
如果处理器81经过判断,发现属性文件中所记载的针对测试信道C的最大发射功率为P3,而P3大于了测试仪的饱和门限Pmax,则选用低于饱和门限的发射功率值作为该测试信道对应的实际发射功率;否则,例如,处理器81确定针对测试信道B的最大发射功率为P2,而P2小于Pmax,因此,处理器81可以直接采用最大发射功率作为测试信道对应的实际发射功率。
处理器81经过判断,发现针对测试信道C的最大发射功率为P3大于测试仪的饱和门限Pmax,因此,处理器81从小于饱和门限Pmax的功率值中选择一个作为针对测试信道C的实际发射功率值。
针对测试信道B,由于属性文件中所记载的最大发射功率并没有超过测试仪的饱和门限Pmax,因此,处理器81可以直接将该最大发射功率设置成标准金板在测试信道B上的实际发射功率。
在实际应用中,标准金板的属性文件中可能没有直接记载针对各测试信道的最大发射功率值,而是记载了标准金板在对应测试信道上的发射功率等级。不过可以理解的是,根据功率等级与功率值的大小对应关系,处理器81可以确定如果标准金板采用该功率等级进行射频信号发送,是否会超过测试仪的饱和门限。如果没有超过,则控制标准金板直接按照该发射功率等级对应的发射功率进行信号发送。但如果处理器81确定功率等级所对应的功率值已经超过了测试仪的饱和门限,则处理器81可以控制标准金板在实际进行射频信号发送的时候,回退一个或多个功率等级,也即选择一个发射功率不会超过测试仪饱和门限的等级进行射频信号发送。
确定出针对各测试信道的实际发射功率之后,处理器81可以控制标准金板按照实际发射功率在对应的测试信道上向测试仪发送射频信号。然后根据测试仪对标准金板所发射射频信号的接收情况和实际发射功率确定测试连接器件在各测试信道下的初始线损值。
当测试仪接收到标准金板通过某一测试信道发送的射频信号后,可以确定出自己接收到的该射频信号的功率值,即接收功率。随后,处理器81就可以根据该接收功率和该测试信道对应的实际发射功率确定出测试连接器件在该测试信道下的初始线损值。具体地,初试线损值为实际发射功率与接收功率的差值。
当处理器81控制标准金板通过测试频段下的各个测试信道分别向测试仪发送了射频信号之后,处理器81就可以以及前面的介绍计算出测试连接器件在该测试频段的各测试信道下的初始线损值。例如,针对测试信道A,测试连接设备的初始线损值为d1,针对测试信道B,测试连接设备的初始线损值为d2;而在测试信道C下,测试连接设备的初始线损值则为d3。当然,在其他示例当中,如果针对同一测试频段所设置的测试信道数量大于3,则所得的初始线损值的个数也应当大于3。
对于该测试频段下的初始线损值d1、d2和d3,处理器81可以计算出各初始线损值的平均线损、离散度和标准方差。其中,平均线损即为各初始线损值的平均值,而离散度则是各初始线损值同该平均线损之间的差值的绝对值,标准方差的计算公式请参照如下所示:
其中,Xi为初始线损值,而X为平均线损,在本实施例中,平均线损为测试频段下各测试信道初始线损值的算术平均值。N为该测试频段下测试信道的个数,也即初始线损值的个数,S为标准方差。
计算得到测试连接器件各初始线损值在对应测试频段下的平均线损、离散度和标准方差之后,处理器81可以基于该平均线损、离散度和标准方差对初始线损值进行收敛修正处理得到各初始线损值所对应的最终线损值。
针对某一初始线损值,处理器81将其离散度同预设偏差门限进行比较,从而确定该初始线损值的离散因子同预设偏差门限之间的大小关系。如果处理器81确定某个初始线损值的离散度大于预设偏差门限,则说明该初始线损值与平均线损之间的差距较大,因此需要被修正。否则,如果处理器81确定该初始线损值与平均线损之间的差距较小,没有在很大程度上造成测试频段内线损值不平坦,因此,可以不用进行修正。在本实施例的一种示例当中,可以将预设偏差门限设置为0.1,如果某个初始线损值的离散度大于0.1,则说明该初始线损值需要被修正,否则,不需要进行修正处理,可以直接将该初始线损值作为最终线损值。下面提供一个对初始线损值进行修正的具体方案:
在该示例的方案当中,针对需要修正的初始线损值,其修正方案中包括两种修正策略,处理器81需要依据待修正的初始线损值同平均线损之间的相对关系确定选择哪一种修正策略来最该待修正的初始线损值进行收敛修正处理:
为了计算离散因子,处理器81首先需要基于各初始线损值计算出在该测试频段下的各初始线损值中,最大的离散度,即最大离散度DIFmax的值。根据前面的介绍可知,一个初始线损值的离散度DIF等于该初始线损值同平均线损之间差值的绝对值。而最大离散度DIFmax则是各个初始线损值离散度中最大的一个。所以,为了获得最大离散度DIFmax,处理器81可以线计算出所有初始线损值中的离散度DIF,然后选择最大的一个作为最大离散度DIFmax
得到最大离散度DIFmax之后,处理器81分别计算每一个初始线损值的离散因子。具体的,处理器81计算该初始线损值的离散度DIF和最大离散度DIFmax之间的比值作为该初始线损值的离散因子。
第一种,如果该初始线损值大于平均线损值,则最终线损值=初始线损值-标准方差*离散因子;而如果初始线损值小于平均线损,最终线损值=初始线损值+标准方差*离散因子。
在本实施例中提供的线损获取设备,通过处理器控制标准金板通过测试频段下多个测试信道向测试仪发送射频信号,然后根据测试仪对射频信号的接收情况计算出测试连接器件在该测试频段各测试信道下的初始线损值。随后计算出该测试频道下各初始线损值的平均线损、离散度和标准方差,并基于平均线损、离散度和标准方差对各初始线损值进行收敛修正处理,所以通过对初始线损值进行收敛修正所得到的该测试频段内的各最终线损值,在测试频段内是基于平均线损进行收敛分布的,从而保证测试频段内最终线损值的平坦性,提升测试频段内最终线损值的精确性。进而保证在对待测试终端进行测试时,能够尽可能准确地获取其射频性能情况,避免多次测试,提升了生产效率,降低了生产成本。
更进一步的,由于本实施例提供的线损获取方法,处理器控制标准金板向测试仪发送射频信号的时候,会保证标准金板的实际发射功率值不会超过测试仪的饱和门限,从而能够保证初始线损值的准确性,进一步也就保证了最终线损值的可靠性。
第四实施例:
本实施例将在第三实施例的基础上,继续对本发明提供的线损获取设备进行介绍,请继续结合图8:
由于本实施例中也会根据标准金板的属性文件来设置标准金板在各测试信道向测试仪发送射频信号的实际发射功率,所以,本实施例中,处理器81也会获取标准金板的属性文件。
获取到标准金板的属性文件之后,处理器81可以根据属性文件中制作时间戳,从而结合属性文件的有效期来判定该属性文件是否过期,如果已经过期,则可能需要重新选择标准金板,或者重新制作该标准金板的属性文件。如果该属性文件仍处于有效期内,则可以进入S706。通常,一个标准金板的有效期为6个月,例如,某个标准金板的属性文件中所记载的制作时间戳是2017年2月23日,则该属性文件的过期日为2017年8月23日,超过2017年8月23日,就不能直接根据该标准金板来对测试连接器件的线损值进行检测了。
应当理解的是,如果处理器81获取到的标准金板和属性文件不对应,则根据错误的属性文件无法获得正确的实际发射功率,会严重影响线损点检结果的正确性和有效性。所以,在本实施例中,为了保证线损设备获取到的标准金板和属性文件是对应的,处理器81还会在检测有属性文件有效性之前或之后,将属性文件中的PSN号和标准金板自身的PSN号进行比较,确定是否一致,如果不一致,则需要重新获取该标准金板的属性文件。
得到正确的属性文件之后,处理器81会根据属性文件中所记录的该标准金板在测试频段各测试信道下标称的最大发射功率或最大发射功率等级,按照第一实施例中的而极少确定出对应的实际发射功率,针对确定实际发射功率的细节,这里不再赘述。
应当理解的是,在本实施例的其他一些示例当中,处理器81也可以通过其他方式来为标准金板确定在不同测试信道下的实际发射功率,例如,由测试人员根据经验值来预设各测试信道下的发射功率对应表,在该发射功率对应表中包括了各测试频段的各测试信道所对应的实际发射功率。处理器81可以直接查询该发射功率对应表,从而得到对应的实际发射功率。当然,本发明提供的线损设备还可以通过其他任意可行的方式来设置标准金板的实际发射功率,不限于这里所列举的方式。
随后,处理器81控制标准金板按照对应的实际发射功率通过测试连接器件在同一测试频段各测试信道下向测试仪进行射频信号发送。应当理解的是,在进行射频信号发送之前,首先要保证标准金板同测试仪之间已经通过测试连接器件连接完成。在本实施例中测试连接器件包括射频线缆以及夹具连接端子。若在另外一些测试方案当中,对待测试终端进行测试时,需要使用到其他连接器件,则测试连接器件不仅限于射频线缆与夹具连接端子的组合。
为标准金板确定出在一个测试频段下各测试信道对应的实际发射功率之后,处理器81就可以控制标准金板通过测试连接器件根据对应的实际发射功率在对应测试信道上向测试仪发送射频信号。例如,针对某一个测试频段下的测试信道A,处理器81控制标准金板按照实际发射功率P1进行射频信号发送,而针对另一测试信道B,处理器81则控制标准金板按照测试信道B所对应的实际发射功率P2进行射频信号发送。
在第一实施例当中,仅介绍了针对某一个测试信道,进行一次射频信号发送,随后,根据测试仪的接收情况计算出测试连接器件在该测试信道下的初始线损值。但可以理解的是,如果仅根据一个射频信号的实际发射功率和接收功率计算测试连接器件在该信号频率下的初始线损值,有可能会出现初始线损值受到干扰影响从而出现较大偏差的情形。所以,针对该问题,本实施例提供一种解决思路:
针对测试频段的中的某个测试信道,处理器81可以控制标准金板按照对应的实际功率向测试仪进行N次射频信号发送,其中N大于等于2。这样,测试仪侧可以根据这N次射频信号的接收情况得到接收功率的平均值,从而避免偶然因素对接收功率的影响。
处理器81可以根据测试仪对标准金板发送的各射频信号的接收功率计算出测试连接器件在该测试频段各测试信道下的初始线损值。例如,对于测试信道A,标准金板所采用的实际发射功率均是P1,并且进行4次射频信号发送,针对这四个射频信号,测试仪接收到射频信号后测得的接收功率分别是P1.1、P1.2和P1.3、P1.4,则平均接收功率为PA=(P1.1+P1.2+P1.3+P1.4)/4。对应的,针对测试信道A的初始线损值就为P1-PA。
可以理解的是,在针对同一测试信道进行多次射频信号收发时,正常情况下,测试仪对接收功率的多次检测结果应当是比较接近的,并且在平均接收功率上下进行波动。但如果多次检测结果中的一部分与其他结果相差较大,则会影响后续对平均接收功率的计算,进而影响初始线损值的准确程度,所以,在本实施中,处理器81从测试仪处获取到测试仪对各射频信号的接收结果之后,会去除其中的最大值与最小值,然后再对剩余的接收功率进行平均,求得平均接收功率。
另外,对于样本较少(即参与计算平均接收功率的接收功率值较少),考虑到非线性的因素,为了压低异常(离散度较大的)接收功率值对平均接收功率的拔高效应,本实施例中采用几何平均值算法计算其平均接收功率。所以,对于除去最大接收功率值以及最小接收功率值的情况,若N-2的值大于等于预设次数,则处理器81计算剩余的N-2个接收功率间的算术平均值作为平均接收功率,但如果N-2小于预设次数,处理器81则会计算剩余的N-2个接收功率间的几何平均值作为平均接收功率。在本实施例中的一些示例当中,预设次数为3次。计算得到平均接收功率之后,处理器81计算实际发射功率同该平均接收功率之间的差值作为测试连接器件在对应测试信道下的初始线损值。
另外,标准金板在持续的射频信号发送之后,自身温度等参数会出现变化,而标准金板的温度则很有可能会导致其发射功率出现偏差,所以,为了避免连续射频信号发送给检测结果带来的误差,在本实施例中,处理器81会控制标准金板任意相邻两次射频信号发送过程之间的时间间隔不能小于预设时长T。
得到初始线损值后,处理器81计算该测试频段下各初始线损值的平均线损、离散度和标准方差。对于计算各初始线损值之间的平均线损标准方差,以及各初始线损值的离散度的过程,请参照第三实施例的介绍,这里不再赘述。
例如,针对某一测试频段处理器81分别获取了序号分别为1~5五个测试信道的初始线损值,具体情况,请参见表2。处理器81计算确定,这5个测试信道下的初始线损值的平均线损为1.15,标准方差为0.1196。针对测试信道1,其离散度为0.17;针对测试信道2,其离散度为0.07;针对测试信道3,其离散度为0.07,针对测试信道4,其离散度为0.04;针对测试信道5,其离散度为0.13。
计算出平均线损、离散度和标准方差之后,处理器81需要分别确定是否需要对对应初始线损值进行收敛修正处理。具体的,处理器81将各初始线损值的离散度同预设偏差门限进行比较,判断该初始线损值的离散度是否大于预设偏差门限,如果是,则判定需要进行收敛修正处理,执行处理器将待修正的初始线损值同平均线损进行比较,为该待修正的初始线损值选择修正策略,否则,执行直接将初始线损值作为最终线损值。
如果预设偏差门限等于0.1,只需要对测试信道1和测试信道5所对应的初始线损值进行收敛修正处理。在对待修正的初始线损值进行修正的时候,需要根据其与平均线损之间的大小关系选择对应的修正策略:如果某个初始线损值需要修正的原因在于其比平均线损小很多,则需要对其进行一定程度的增加修正,否则对其进行一定程度的减少修正,以便让其更加接近平均线损,从而提升测试频段内最终线损值的平坦性。
如果通过比较,发现某个待修正的初始线损值小与平均线损,则处理器81通过公式:
最终线损值=初始线损值+标准方差*离散因子;
计算得到其最终线损。否则通过如下公式计算其最终线损:
最终线损值=初始线损值-标准方差*离散因子。
如果处理器81将某个初始线损值的离散度同预设偏差门限进行比较时,发现该初始线损值的离散度小于等于预设偏差门限,则判断该初始线损值不需要进行修正乐意直接将其作为对应测试信道的最终线损值。
本实施例提供的线损获取设备,在正式进行线损点检之间处理器会通过一系列的措施来保证标准金板及标准金板属性文件的有效性,从而保证线损检测结果的有效性。另一方面,在点检初始线损值时,处理器又通过控制射频信号发送时间间隔、多次检测取均值以及筛除最值等方式来保证初始线损值尽可能符合实际情况,进一步提升了线损获取的准确性。最后,再根据各个初始线损值的平均线损、离散度等参数对初始线损值进行收敛修正,提升测试频段内各最终线损值的平坦度,提升了线损值的准确性,保证基于这些最终线损值的终端射频性能参数检测能够更准确。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端(可以是手机,计算机,服务器,空调器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
上面结合附图对本发明的实施例进行了描述,但是本发明并不局限于上述的具体实施方式,上述的具体实施方式仅仅是示意性的,而不是限制性的,本领域的普通技术人员在本发明的启示下,在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下,还可做出很多形式,这些均属于本发明的保护之内。

Claims (10)

1.一种线损获取方法,其特征在于,所述线损获取方法包括:
检测测试连接器件在测试频段中多个测试信道下的初始线损值,所述测试连接器件为在射频测试中连接测试仪与待测试终端的器件,在检测线损时,所述测试连接器件用于连接测试仪与标准金板;
计算各所述初始线损值的平均线损、离散度和标准方差;
基于所述平均线损、离散度和所述标准方差对各所述测试信道对应的初始线损值进行收敛修正处理得到最终线损值。
2.如权利要求1所述的线损获取方法,其特征在于,所述检测测试连接器件在测试频段中多个测试信道的初始线损值包括:
基于所述标准金板的属性文件确定所述标准金板在各所述测试信道上的实际发射功率,所述属性文件中包括所述标准金板在所述测试频段中各所述测试信道上的最大发射功率;
控制所述标准金板在各所述测试信道上按照对应的实际发射功率向测试仪发送射频信号;
根据所述测试仪对所述标准金板所发射射频信号的接收情况和所述实际发射功率确定所述测试连接器件在各所述测试信道下的初始线损值。
3.如权利要求2所述的线损获取方法,其特征在于,所述控制所述标准金板在各所述测试信道上按照对应的实际发射功率向测试仪发送射频信号包括:
针对所述测试频段的一测试信道,控制所述标准金板按照所述实际发射功率向所述测试仪进行N次射频信号发送,且相邻两次射频信号发送过程间的时间间隔大于预设时长T,所述N大于等于2;
所述根据所述测试仪对所述标准金板所发射射频信号的接收情况和所述实际发射功率确定所述测试连接器件在各所述测试信道下的初始线损值包括:
根据所述测试仪对所述标准金板发射的N个射频信号的接收功率确定平均接收功率,所述接收功率为所述测试仪接收到的射频信号的功率值;
计算所述实际发射功率和所述平均接收功率间的差值作为所述测试连接器件在所述测试信道下的初始线损值。
4.如权利要求3所述的线损获取方法,其特征在于,所述根据所述测试仪对所述标准金板发射的N个射频信号的接收功率确定平均接收功率包括:
筛除N个接收功率中的最大值和最小值;
计算剩余的N-2个接收功率间的平均值作为所述平均接收功率。
5.如权利要求4所述的线损获取方法,其特征在于,所述计算剩余的N-2个接收功率间的平均值作为所述平均接收功率包括:
若N-2的值大于等于预设次数,则计算所述剩余的N-2个接收功率间的算术平均值作为所述平均接收功率;
若N-2的值小于预设次数,则计算所述剩余的N-2个接收功率间的几何平均值作为所述平均接收功率。
6.如权利要求2所述的线损获取方法,其特征在于,所述基于所述标准金板的属性文件确定所述标准金板在各所述测试信道上的实际发射功率包括:
针对所述测试频段的一测试信道,若判定所述属性文件中所记载的最大发射功率超过所述测试仪的饱和门限,则选用低于所述饱和门限的发射功率值作为所述测试信道对应的实际发射功率;
若判定所述属性文件中所记载的最大发射功率小于等于所述测试仪的饱和门限,则直接采用所述最大发射功率作为所述测试信道对应的实际发射功率。
7.如权利要求1-6任一项所述的线损获取方法,其特征在于,所述基于所述平均线损、离散度和所述标准方差对各所述测试信道对应的初始线损值进行收敛修正处理得到最终线损值包括:
针对某一初始线损值,将所述初始线损值的离散度同预设偏差门限进行比较,确定所述离散度大于所述预设偏差门限;
根据各所述初始线损值同平均线损间的大小关系分别确定针对各所述初始线损值的修正策略,并根据各所述修正策略完成对对应初始线损值的修正,所述平均线损为所述测试频段下各测试信道初始线损值的算术平均值。
8.如权利要求7所述的线损获取方法,其特征在于,所述根据各所述初始线损值同平均线损间的大小关系分别确定针对各所述初始线损值的修正策略,并根据各所述修正策略完成对对应初始线损值的修正包括:
根据所述初始线损值和所述初始线损值的离散度计算所述测试频段中各测试信道初始线损值的离散因子;
若所述初始线损值大于所述平均线损,则根据以下公式完成修正:
最终线损值=初始线损值-标准方差*离散因子;
若所述初始线损值小于等于所述平均线损,则根据以下公式完成修正:
最终线损值=初始线损值+标准方差*离散因子。
9.一种线损获取设备,其特征在于,所述线损获取设备包括处理器、存储器及通信总线;
所述通信总线用于实现处理器和存储器之间的连接通信;
所述处理器用于执行存储器中存储的一个或者多个程序,以实现如权利要求1至8中任一项所述的线损获取方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现如权利要求1至8中任一项所述的线损获取方法的步骤。
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