CN107656189A - 一种存储卡集成电路测试用测试台 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种测试台，尤其涉及一种存储卡集成电路测试用测试台。本发明要解决的技术问题是提供一种取出便利、散热效果好的存储卡集成电路测试用测试台。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种存储卡集成电路测试用测试台，包括有支撑柱等；工作板顶部设置有通孔，工作板中部设置有第一凹槽，第一凹槽内设置有放置装置，放置装置底部左右对称式设置有滚动轮，放置装置后侧连接有固定装置，固定装置穿过通孔，工作板底部均匀设置有透气孔，透气孔位于第一凹槽下方，透气孔与第一凹槽连通。本发明达到了取出便利和散热效果好的效果，放置装置中的固定框被用于放置存储卡，使其取出便利，与透气孔配合，便于散热。

Description

一种存储卡集成电路测试用测试台
技术领域
本发明涉及一种测试台，尤其涉及一种存储卡集成电路测试用测试台。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
存储卡，是用于手机、数码相机、便携式电脑、MP3和其他数码产品上的独立存储介质，一般是卡片的形态，故统称为“存储卡”，又称为“数码存储卡”、“数字存储卡”、“储存卡”等。对于计算机而言，集成电路包括中央控制单元(CPU)、内存储器、外存储器、I/O控制电路等。
对集成电路测试，是为了更好地确保存储卡的质量，有利于控制成本，达到利益最大化。
现如今存储卡集成电路测试，就是将存储卡放置于固定的测试卡槽内，取出时，需要用手将其抠出，而且固定的测试卡槽内底部比较封闭，散热效果差，因此亟需研发一种取出便利、散热效果好的存储卡集成电路测试用测试台。
发明内容
(1)要解决的技术问题
本发明为了克服现如今存储卡集成电路测试，就是将存储卡放置于固定的测试卡槽内，取出时，需要用手将其抠出，而且固定的测试卡槽内底部比较封闭，散热效果差的缺点，本发明要解决的技术问题是提供一种取出便利、散热效果好的存储卡集成电路测试用测试台。
(2)技术方案
为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种存储卡集成电路测试用测试台，包括有支撑柱、工作板、放置装置、固定装置、感应器和滚动轮，工作板顶部设置有通孔，工作板中部设置有第一凹槽，第一凹槽内设置有放置装置，放置装置底部左右对称式设置有滚动轮，放置装置后侧连接有固定装置，固定装置穿过通孔，工作板底部均匀设置有透气孔，透气孔位于第一凹槽下方，透气孔与第一凹槽连通，工作板底部左右对称式设置有第二凹槽，第二凹槽位于第一凹槽下方，第二凹槽位于透气孔两侧，左侧的滚动轮位于左侧的第二凹槽内，右侧的滚动轮位于右侧的第二凹槽内，工作板内左右两侧对称式设置有感应器，感应器位于第一凹槽两侧，左侧的工作板底壁左右两侧和前后两侧均对称式设置有支撑柱。
优选地，放置装置包括有连接板、凸起和放置框，第一凹槽内设置有放置框，放置框前后两侧均连接有连接板，前侧的连接板的前侧设置有凸起，凸起位于第一凹槽前侧。
优选地，固定装置包括有U形板、压块、升降杆、卡块、第一弹簧和横杆，后侧的连接板后侧连接有U形板，U形板左右对称式设置有导向孔，第一凹槽内后侧均匀设置有第一弹簧，第一弹簧顶端设置有横杆，横杆顶部中间设置有升降杆，升降杆穿过通孔，升降杆顶端设置有压块，压块位于工作板外方，横杆顶部左右两侧对称式设置有卡块，卡块位于导向孔内。
优选地，还包括有散热装置，散热装置包括有固定槽、电机、滑块、风扇片、连杆、凸轮、固定框和滑轨，工作板底部设置有固定槽，固定槽位于透气孔正下方，固定槽内底部中间设置有电机，电机顶部连接有凸轮，凸轮顶部连接有连杆，连杆顶部左右两侧对称式设置有风扇片，固定槽内底部左右对称式设置有滑轨，滑轨上设置有滑块，滑块顶部之间连接有固定框，凸轮位于固定框内，凸轮与固定框配合。
优选地，还包括有第二弹簧、扇板、摆杆和条板，固定槽左右两壁均均匀设置有通风孔，固定槽左右两壁均均匀铰接连接有扇板，扇板位于通风孔内，左侧的扇板右侧和右侧的扇板左侧均连接有摆杆，扇板底部与固定槽内底部之间均连接有第二弹簧，固定框左右两侧均连接有条板，条板上均均匀设置有第三凹槽，左侧的摆杆位于左侧的第三凹槽内，右侧的摆杆位于右侧的第三凹槽内。
优选地，还包括有第三弹簧、移动块、插杆和移动槽，第一凹槽内后侧对称式设置有移动槽，移动槽位于升降杆两侧，移动槽内后侧设置有第三弹簧，第三弹簧前侧连接有移动块，U形板后侧对称式设置有插杆，插杆位于导向孔之间的位置，插杆位于移动槽前侧，插杆与移动槽配合。
优选地，还包括有转轴、轴承座、连接杆和压板，连接板中部均设置有轴承座，轴承座上设置有转轴，转轴顶端设置有连接杆，连接杆末端设置有压板。
工作原理：当需要对存储卡进行集成电路测试，人手动按压固定装置，与此同时，拉动放置装置向前运动，滚动轮在第二凹槽内滚动，一段时间后，将存储卡放置于放置装置内，推动放置装置向后运动至复位，固定装置将其固定，此时，给感应器通电，感应器与存储卡接触，会对存储卡进行感应，测试集成电路上的部件系数以及存储集成电路运作程序，在测试过程中，透气孔会进行散热，测试完毕后，感应器断电，人手动按压固定装置，与此同时，拉动放置装置向前运动，一段时间后，人即可从放置装置内取下存储卡，推动放置装置复位。
因为放置装置包括有连接板、凸起和放置框，第一凹槽内设置有放置框，放置框前后两侧均连接有连接板，前侧的连接板的前侧设置有凸起，凸起位于第一凹槽前侧，所以人可以将存储卡放置于放置框内，当放置完好时，存储卡与两侧的感应器接触，手握凸起，可以便利地将连接板和放置框从第一凹槽内拉出或将放置框和连接板推动至第一凹槽内。
因为固定装置包括有U形板、压块、升降杆、卡块、第一弹簧和横杆，后侧的连接板后侧连接有U形板，U形板左右对称式设置有导向孔，第一凹槽内后侧均匀设置有第一弹簧，第一弹簧顶端设置有横杆，横杆顶部中间设置有升降杆，升降杆穿过通孔，升降杆顶端设置有压块，压块位于工作板外方，横杆顶部左右两侧对称式设置有卡块，卡块位于导向孔内，所以当在进行存储卡在进行集成电路测试时，卡块位于导向孔内，将U形板固定，同时将连接板、放置框和放置框内的存储卡固定，当需要将存储卡取出时，手下压压板，压板向下运动，使横杆向下运动，挤压第一弹簧，卡块向下运动至导向孔下方，此时，人即可拉动连接板和放置框向前运动，随后，松开下压压板的手，在第一弹簧的弹力作用下卡块复位。
因为还包括有散热装置，散热装置包括有固定槽、电机、滑块、风扇片、连杆、凸轮、固定框和滑轨，工作板底部设置有固定槽，固定槽位于透气孔正下方，固定槽内底部中间设置有电机，电机顶部连接有凸轮，凸轮顶部连接有连杆，连杆顶部左右两侧对称式设置有风扇片，固定槽内底部左右对称式设置有滑轨，滑轨上设置有滑块，滑块顶部之间连接有固定框，凸轮位于固定框内，凸轮与固定框配合，所以在对存储卡进行集成电路测试时，启动散热装置进行散热，电机通电转动，凸轮随之转动，连杆转动，风扇片转动，产生风，风透过透气孔，吹向正在测试的存储卡，对其进行散热，在此过程中，固定框前后运动使固定槽内的空气运动，使散热效果更佳，存储卡测试完毕后，关闭电机。
因为还包括有第二弹簧、扇板、摆杆和条板，固定槽左右两壁均均匀设置有通风孔，固定槽左右两壁均均匀铰接连接有扇板，扇板位于通风孔内，左侧的扇板右侧和右侧的扇板左侧均连接有摆杆，扇板底部与固定槽内底部之间均连接有第二弹簧，固定框左右两侧均连接有条板，条板上均均匀设置有第三凹槽，左侧的摆杆位于左侧的第三凹槽内，右侧的摆杆位于右侧的第三凹槽内，所以当电机通电转动时，固定框前后运动，带动条板前后运动，使摆杆在条板的推动和第二弹簧的弹力左右下摆动，带动扇板摆动，可以将固定槽内的空气与外界空气流通，从而使散热效果更好。
因为还包括有第三弹簧、移动块、插杆和移动槽，第一凹槽内后侧对称式设置有移动槽，移动槽位于升降杆两侧，移动槽内后侧设置有第三弹簧，第三弹簧前侧连接有移动块，U形板后侧对称式设置有插杆，插杆位于导向孔之间的位置，插杆位于移动槽前侧，插杆与移动槽配合，所以当卡块位于导向孔内，固定装置将放置装置固定时，第三弹簧处于压缩状态，当卡块从导向孔内抽出时，在弹簧的弹力作用下，移动块向前运动，插杆从移动槽内抽出，推动连接板和U形板向前运动。
因为还包括有转轴、轴承座、连接杆和压板，连接板中部均设置有轴承座，轴承座上设置有转轴，转轴顶端设置有连接杆，连接杆末端设置有压板，所以当存储卡放置于放置框上时，转动连接杆，使压板摆动至存储卡顶部，将存储卡压住，可以防止其随意移动。
本发明的感应器和电机的控制方式是通过控制器来自动控制，控制器的控制电路通过本领域的技术人员简单编程即可实现，属于本领域的公知常识，并且本发明主要用来保护机械装置，所以本发明不再详细解释控制方式和电路连接。
(3)有益效果
本发明达到了取出便利和散热效果好的效果，放置装置中的固定框被用于放置存储卡，使其取出便利，与透气孔配合，便于散热，固定装置将测试的存储卡固定，固定时，有利于高效稳固地进行检测，而且本装置的散热装置加强了散热效果，使本装置散热功能强。
附图说明
图1为本发明的第一种主视结构示意图。
图2为本发明的第一种部分俯视结构示意图。
图3为本发明的放置装置俯视结构示意图。
图4为本发明的固定装置的主视结构示意图。
图5为本发明的第二种主视结构示意图。
图6为本发明的散热装置的主视结构示意图。
图7为本发明的部分主视结构示意图。
图8为本发明的第二种部分俯视结构示意图。
图9为本发明的第三种部分俯视结构示意图。
附图中的标记为：1-支撑柱，2-工作板，3-放置装置，31-连接板，32-凸起，33-放置框，4-第一凹槽，5-固定装置，51-导向孔，52-U形板，53-压块，54-升降杆，55-卡块，56-第一弹簧，57-横杆，6-通孔，7-感应器，8-透气孔，9-滚动轮，10-第二凹槽，11-散热装置，111-固定槽，112-电机，113-滑块，114-风扇片，115-连杆，116-凸轮，117-固定框，118-滑轨，12-通风孔，13-第三凹槽，14-第二弹簧，15-扇板，16-摆杆，17-条板，18-第三弹簧，19-移动块，20-插杆，21-移动槽，22-转轴，23-轴承座，24-连接杆，25-压板。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。
实施例1
一种存储卡集成电路测试用测试台，如图1-9所示，包括有支撑柱1、工作板2、放置装置3、固定装置5、感应器7和滚动轮9，工作板2顶部设置有通孔6，工作板2中部设置有第一凹槽4，第一凹槽4内设置有放置装置3，放置装置3底部左右对称式设置有滚动轮9，放置装置3后侧连接有固定装置5，固定装置5穿过通孔6，工作板2底部均匀设置有透气孔8，透气孔8位于第一凹槽4下方，透气孔8与第一凹槽4连通，工作板2底部左右对称式设置有第二凹槽10，第二凹槽10位于第一凹槽4下方，第二凹槽10位于透气孔8两侧，左侧的滚动轮9位于左侧的第二凹槽10内，右侧的滚动轮9位于右侧的第二凹槽10内，工作板2内左右两侧对称式设置有感应器7，感应器7位于第一凹槽4两侧，左侧的工作板2底壁左右两侧和前后两侧均对称式设置有支撑柱1。
实施例2
一种存储卡集成电路测试用测试台，如图1-9所示，包括有支撑柱1、工作板2、放置装置3、固定装置5、感应器7和滚动轮9，工作板2顶部设置有通孔6，工作板2中部设置有第一凹槽4，第一凹槽4内设置有放置装置3，放置装置3底部左右对称式设置有滚动轮9，放置装置3后侧连接有固定装置5，固定装置5穿过通孔6，工作板2底部均匀设置有透气孔8，透气孔8位于第一凹槽4下方，透气孔8与第一凹槽4连通，工作板2底部左右对称式设置有第二凹槽10，第二凹槽10位于第一凹槽4下方，第二凹槽10位于透气孔8两侧，左侧的滚动轮9位于左侧的第二凹槽10内，右侧的滚动轮9位于右侧的第二凹槽10内，工作板2内左右两侧对称式设置有感应器7，感应器7位于第一凹槽4两侧，左侧的工作板2底壁左右两侧和前后两侧均对称式设置有支撑柱1。
放置装置3包括有连接板31、凸起32和放置框33，第一凹槽4内设置有放置框33，放置框33前后两侧均连接有连接板31，前侧的连接板31的前侧设置有凸起32，凸起32位于第一凹槽4前侧。
实施例3
一种存储卡集成电路测试用测试台，如图1-9所示，包括有支撑柱1、工作板2、放置装置3、固定装置5、感应器7和滚动轮9，工作板2顶部设置有通孔6，工作板2中部设置有第一凹槽4，第一凹槽4内设置有放置装置3，放置装置3底部左右对称式设置有滚动轮9，放置装置3后侧连接有固定装置5，固定装置5穿过通孔6，工作板2底部均匀设置有透气孔8，透气孔8位于第一凹槽4下方，透气孔8与第一凹槽4连通，工作板2底部左右对称式设置有第二凹槽10，第二凹槽10位于第一凹槽4下方，第二凹槽10位于透气孔8两侧，左侧的滚动轮9位于左侧的第二凹槽10内，右侧的滚动轮9位于右侧的第二凹槽10内，工作板2内左右两侧对称式设置有感应器7，感应器7位于第一凹槽4两侧，左侧的工作板2底壁左右两侧和前后两侧均对称式设置有支撑柱1。
放置装置3包括有连接板31、凸起32和放置框33，第一凹槽4内设置有放置框33，放置框33前后两侧均连接有连接板31，前侧的连接板31的前侧设置有凸起32，凸起32位于第一凹槽4前侧。
固定装置5包括有U形板52、压块53、升降杆54、卡块55、第一弹簧56和横杆57，后侧的连接板31后侧连接有U形板52，U形板52左右对称式设置有导向孔51，第一凹槽4内后侧均匀设置有第一弹簧56，第一弹簧56顶端设置有横杆57，横杆57顶部中间设置有升降杆54，升降杆54穿过通孔6，升降杆54顶端设置有压块53，压块53位于工作板2外方，横杆57顶部左右两侧对称式设置有卡块55，卡块55位于导向孔51内。
实施例4
一种存储卡集成电路测试用测试台，如图1-9所示，包括有支撑柱1、工作板2、放置装置3、固定装置5、感应器7和滚动轮9，工作板2顶部设置有通孔6，工作板2中部设置有第一凹槽4，第一凹槽4内设置有放置装置3，放置装置3底部左右对称式设置有滚动轮9，放置装置3后侧连接有固定装置5，固定装置5穿过通孔6，工作板2底部均匀设置有透气孔8，透气孔8位于第一凹槽4下方，透气孔8与第一凹槽4连通，工作板2底部左右对称式设置有第二凹槽10，第二凹槽10位于第一凹槽4下方，第二凹槽10位于透气孔8两侧，左侧的滚动轮9位于左侧的第二凹槽10内，右侧的滚动轮9位于右侧的第二凹槽10内，工作板2内左右两侧对称式设置有感应器7，感应器7位于第一凹槽4两侧，左侧的工作板2底壁左右两侧和前后两侧均对称式设置有支撑柱1。
放置装置3包括有连接板31、凸起32和放置框33，第一凹槽4内设置有放置框33，放置框33前后两侧均连接有连接板31，前侧的连接板31的前侧设置有凸起32，凸起32位于第一凹槽4前侧。
固定装置5包括有U形板52、压块53、升降杆54、卡块55、第一弹簧56和横杆57，后侧的连接板31后侧连接有U形板52，U形板52左右对称式设置有导向孔51，第一凹槽4内后侧均匀设置有第一弹簧56，第一弹簧56顶端设置有横杆57，横杆57顶部中间设置有升降杆54，升降杆54穿过通孔6，升降杆54顶端设置有压块53，压块53位于工作板2外方，横杆57顶部左右两侧对称式设置有卡块55，卡块55位于导向孔51内。
还包括有散热装置11，散热装置11包括有固定槽111、电机112、滑块113、风扇片114、连杆115、凸轮116、固定框117和滑轨118，工作板2底部设置有固定槽111，固定槽111位于透气孔8正下方，固定槽111内底部中间设置有电机112，电机112顶部连接有凸轮116，凸轮116顶部连接有连杆115，连杆115顶部左右两侧对称式设置有风扇片114，固定槽111内底部左右对称式设置有滑轨118，滑轨118上设置有滑块113，滑块113顶部之间连接有固定框117，凸轮116位于固定框117内，凸轮116与固定框117配合。
还包括有第二弹簧14、扇板15、摆杆16和条板17，固定槽111左右两壁均均匀设置有通风孔12，固定槽111左右两壁均均匀铰接连接有扇板15，扇板15位于通风孔12内，左侧的扇板15右侧和右侧的扇板15左侧均连接有摆杆16，扇板15底部与固定槽111内底部之间均连接有第二弹簧14，固定框117左右两侧均连接有条板17，条板17上均均匀设置有第三凹槽13，左侧的摆杆16位于左侧的第三凹槽13内，右侧的摆杆16位于右侧的第三凹槽13内。
还包括有第三弹簧18、移动块19、插杆20和移动槽21，第一凹槽4内后侧对称式设置有移动槽21，移动槽21位于升降杆54两侧，移动槽21内后侧设置有第三弹簧18，第三弹簧18前侧连接有移动块19，U形板52后侧对称式设置有插杆20，插杆20位于导向孔51之间的位置，插杆20位于移动槽21前侧，插杆20与移动槽21配合。
还包括有转轴22、轴承座23、连接杆24和压板25，连接板31中部均设置有轴承座23，轴承座23上设置有转轴22，转轴22顶端设置有连接杆24，连接杆24末端设置有压板25。
工作原理：当需要对存储卡进行集成电路测试，人手动按压固定装置5，与此同时，拉动放置装置3向前运动，滚动轮9在第二凹槽10内滚动，一段时间后，将存储卡放置于放置装置3内，推动放置装置3向后运动至复位，固定装置5将其固定，此时，给感应器7通电，感应器7与存储卡接触，会对存储卡进行感应，测试集成电路上的部件系数以及存储集成电路运作程序，在测试过程中，透气孔8会进行散热，测试完毕后，感应器7断电，人手动按压固定装置5，与此同时，拉动放置装置3向前运动，一段时间后，人即可从放置装置3内取下存储卡，推动放置装置3复位。
因为放置装置3包括有连接板31、凸起32和放置框33，第一凹槽4内设置有放置框33，放置框33前后两侧均连接有连接板31，前侧的连接板31的前侧设置有凸起32，凸起32位于第一凹槽4前侧，所以人可以将存储卡放置于放置框33内，当放置完好时，存储卡与两侧的感应器7接触，手握凸起32，可以便利地将连接板31和放置框33从第一凹槽4内拉出或将放置框33和连接板31推动至第一凹槽4内。
因为固定装置5包括有U形板52、压块53、升降杆54、卡块55、第一弹簧56和横杆57，后侧的连接板31后侧连接有U形板52，U形板52左右对称式设置有导向孔51，第一凹槽4内后侧均匀设置有第一弹簧56，第一弹簧56顶端设置有横杆57，横杆57顶部中间设置有升降杆54，升降杆54穿过通孔6，升降杆54顶端设置有压块53，压块53位于工作板2外方，横杆57顶部左右两侧对称式设置有卡块55，卡块55位于导向孔51内，所以当在进行存储卡在进行集成电路测试时，卡块55位于导向孔51内，将U形板52固定，同时将连接板31、放置框33和放置框33内的存储卡固定，当需要将存储卡取出时，手下压压板25，压板25向下运动，使横杆57向下运动，挤压第一弹簧56，卡块55向下运动至导向孔51下方，此时，人即可拉动连接板31和放置框33向前运动，随后，松开下压压板25的手，在第一弹簧56的弹力作用下卡块55复位。
因为还包括有散热装置11，散热装置11包括有固定槽111、电机112、滑块113、风扇片114、连杆115、凸轮116、固定框117和滑轨118，工作板2底部设置有固定槽111，固定槽111位于透气孔8正下方，固定槽111内底部中间设置有电机112，电机112顶部连接有凸轮116，凸轮116顶部连接有连杆115，连杆115顶部左右两侧对称式设置有风扇片114，固定槽111内底部左右对称式设置有滑轨118，滑轨118上设置有滑块113，滑块113顶部之间连接有固定框117，凸轮116位于固定框117内，凸轮116与固定框117配合，所以在对存储卡进行集成电路测试时，启动散热装置11进行散热，电机112通电转动，凸轮116随之转动，连杆115转动，风扇片114转动，产生风，风透过透气孔8，吹向正在测试的存储卡，对其进行散热，在此过程中，固定框117前后运动使固定槽111内的空气运动，使散热效果更佳，存储卡测试完毕后，关闭电机112。
因为还包括有第二弹簧14、扇板15、摆杆16和条板17，固定槽111左右两壁均均匀设置有通风孔12，固定槽111左右两壁均均匀铰接连接有扇板15，扇板15位于通风孔12内，左侧的扇板15右侧和右侧的扇板15左侧均连接有摆杆16，扇板15底部与固定槽111内底部之间均连接有第二弹簧14，固定框117左右两侧均连接有条板17，条板17上均均匀设置有第三凹槽13，左侧的摆杆16位于左侧的第三凹槽13内，右侧的摆杆16位于右侧的第三凹槽13内，所以当电机112通电转动时，固定框117前后运动，带动条板17前后运动，使摆杆16在条板17的推动和第二弹簧14的弹力左右下摆动，带动扇板15摆动，可以将固定槽111内的空气与外界空气流通，从而使散热效果更好。
因为还包括有第三弹簧18、移动块19、插杆20和移动槽21，第一凹槽4内后侧对称式设置有移动槽21，移动槽21位于升降杆54两侧，移动槽21内后侧设置有第三弹簧18，第三弹簧18前侧连接有移动块19，U形板52后侧对称式设置有插杆20，插杆20位于导向孔51之间的位置，插杆20位于移动槽21前侧，插杆20与移动槽21配合，所以当卡块55位于导向孔51内，固定装置5将放置装置3固定时，第三弹簧18处于压缩状态，当卡块55从导向孔51内抽出时，在弹簧的弹力作用下，移动块19向前运动，插杆20从移动槽21内抽出，推动连接板31和U形板52向前运动。
因为还包括有转轴22、轴承座23、连接杆24和压板25，连接板31中部均设置有轴承座23，轴承座23上设置有转轴22，转轴22顶端设置有连接杆24，连接杆24末端设置有压板25，所以当存储卡放置于放置框33上时，转动连接杆24，使压板25摆动至存储卡顶部，将存储卡压住，可以防止其随意移动。
本发明的感应器7和电机112的控制方式是通过控制器来自动控制，控制器的控制电路通过本领域的技术人员简单编程即可实现，属于本领域的公知常识，并且本发明主要用来保护机械装置，所以本发明不再详细解释控制方式和电路连接。
以上所述实施例仅表达了本发明的优选实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形、改进及替代，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (7)

1.一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，包括有支撑柱(1)、工作板(2)、放置装置(3)、固定装置(5)、感应器(7)和滚动轮(9)，工作板(2)顶部设置有通孔(6)，工作板(2)中部设置有第一凹槽(4)，第一凹槽(4)内设置有放置装置(3)，放置装置(3)底部左右对称式设置有滚动轮(9)，放置装置(3)后侧连接有固定装置(5)，固定装置(5)穿过通孔(6)，工作板(2)底部均匀设置有透气孔(8)，透气孔(8)位于第一凹槽(4)下方，透气孔(8)与第一凹槽(4)连通，工作板(2)底部左右对称式设置有第二凹槽(10)，第二凹槽(10)位于第一凹槽(4)下方，第二凹槽(10)位于透气孔(8)两侧，左侧的滚动轮(9)位于左侧的第二凹槽(10)内，右侧的滚动轮(9)位于右侧的第二凹槽(10)内，工作板(2)内左右两侧对称式设置有感应器(7)，感应器(7)位于第一凹槽(4)两侧，左侧的工作板(2)底壁左右两侧和前后两侧均对称式设置有支撑柱(1)。
2.根据权利要求1所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，放置装置(3)包括有连接板(31)、凸起(32)和放置框(33)，第一凹槽(4)内设置有放置框(33)，放置框(33)前后两侧均连接有连接板(31)，前侧的连接板(31)的前侧设置有凸起(32)，凸起(32)位于第一凹槽(4)前侧。
3.根据权利要求2所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，固定装置(5)包括有U形板(52)、压块(53)、升降杆(54)、卡块(55)、第一弹簧(56)和横杆(57)，后侧的连接板(31)后侧连接有U形板(52)，U形板(52)左右对称式设置有导向孔(51)，第一凹槽(4)内后侧均匀设置有第一弹簧(56)，第一弹簧(56)顶端设置有横杆(57)，横杆(57)顶部中间设置有升降杆(54)，升降杆(54)穿过通孔(6)，升降杆(54)顶端设置有压块(53)，压块(53)位于工作板(2)外方，横杆(57)顶部左右两侧对称式设置有卡块(55)，卡块(55)位于导向孔(51)内。
4.根据权利要求3所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，还包括有散热装置(11)，散热装置(11)包括有固定槽(111)、电机(112)、滑块(113)、风扇片(114)、连杆(115)、凸轮(116)、固定框(117)和滑轨(118)，工作板(2)底部设置有固定槽(111)，固定槽(111)位于透气孔(8)正下方，固定槽(111)内底部中间设置有电机(112)，电机(112)顶部连接有凸轮(116)，凸轮(116)顶部连接有连杆(115)，连杆(115)顶部左右两侧对称式设置有风扇片(114)，固定槽(111)内底部左右对称式设置有滑轨(118)，滑轨(118)上设置有滑块(113)，滑块(113)顶部之间连接有固定框(117)，凸轮(116)位于固定框(117)内，凸轮(116)与固定框(117)配合。
5.根据权利要求4所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，还包括有第二弹簧(14)、扇板(15)、摆杆(16)和条板(17)，固定槽(111)左右两壁均均匀设置有通风孔(12)，固定槽(111)左右两壁均均匀铰接连接有扇板(15)，扇板(15)位于通风孔(12)内，左侧的扇板(15)右侧和右侧的扇板(15)左侧均连接有摆杆(16)，扇板(15)底部与固定槽(111)内底部之间均连接有第二弹簧(14)，固定框(117)左右两侧均连接有条板(17)，条板(17)上均均匀设置有第三凹槽(13)，左侧的摆杆(16)位于左侧的第三凹槽(13)内，右侧的摆杆(16)位于右侧的第三凹槽(13)内。
6.根据权利要求5所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，还包括有第三弹簧(18)、移动块(19)、插杆(20)和移动槽(21)，第一凹槽(4)内后侧对称式设置有移动槽(21)，移动槽(21)位于升降杆(54)两侧，移动槽(21)内后侧设置有第三弹簧(18)，第三弹簧(18)前侧连接有移动块(19)，U形板(52)后侧对称式设置有插杆(20)，插杆(20)位于导向孔(51)之间的位置，插杆(20)位于移动槽(21)前侧，插杆(20)与移动槽(21)配合。
7.根据权利要求6所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，还包括有转轴(22)、轴承座(23)、连接杆(24)和压板(25)，连接板(31)中部均设置有轴承座(23)，轴承座(23)上设置有转轴(22)，转轴(22)顶端设置有连接杆(24)，连接杆(24)末端设置有压板(25)。
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