CN107633234B - 指纹识别系统的检测方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种指纹识别系统的检测方法，所述指纹识别系统包括由多个感测电极组成的阵列，所述多个感测电极用于获取指纹的检测信号，所述方法包括：将所述阵列分成多个区域；逐个区域获取检测信号；从所述区域邻近的感测电极获取噪声信号；以及采用所述噪声信号调整所述检测信号。本发明还提供一种指纹识别系统的检测装置，可以提高指纹采集的图像质量，解决指纹识别系统中由于电源的共模干扰导致的图像质量变差的问题。

Description

指纹识别系统的检测方法及装置
技术领域
本发明属于指纹识别领域，更具体地，涉及一种指纹识别系统的检测方法及装置。
背景技术
指纹的纹路因人而异，因此被广泛应用于个人识别领域。尤其，指纹作为个人认证手段而广为应用于金融、犯罪调查、安全等多样的领域。
为了通过识别这种指纹来识别个人而开发了指纹传感器。指纹传感器为使人的手指接触并识别手指的指纹的装置，其被用作能够判断是否为正当的用户的手段。
作为实现指纹识别传感器的方式，已知有光学方式、热感测方式以及电容方式等多样的识别方式。其中，电容方式的指纹识别传感器在人的手指表面接触到导电性感测图案时通过检测基于指纹的谷和脊线的形状的电容变化而获取指纹的模样(指纹图案)。
最近，通过便携式装置不仅可以提供诸如电话、短消息发送服务之类的通信功能，还提供金融、安全等使用个人信息的多样的附加功能，而且，对于便携式装置的锁定装置的必要性显得更为重要。为了提高这种便携式装置的锁定效果，大力开发着安装有借助指纹传感器的锁定装置的终端。
目前，一般采用低压直流电源给指纹识别传感器供电，因此充电电路必不可少。但是不同的充电管理芯片和不同的充电器设备所产生的共模噪声也是不同的，如果这些共模噪声无法得到有效的抑制，就会转移到指纹传感器上，使其采集的指纹图像模糊，影响识别效果。
图1示出了现有技术中指纹识别系统的结构示意图。如图1所示，指纹识别传感器包括由多个感测电极组成的阵列。每个感测电极100都连接一条感测线，用于将感测电极100采集到的指纹信息输出至控制芯片102。
由于控制芯片102的处理能力有限，一般会分时复用一个或多个模数转换器ADC进行图像采集，因此需对感测电极100进行分组形成多个区域，然后分时对多个区域进行图像采集。由于共模噪声也是时变的，因此最终得到的指纹图像上就叠加有共模噪声，影响识别效果。
发明内容
本发明的目的在于提供一种指纹识别系统的检测方法及装置，解决指纹识别系统中由于电源的共模干扰导致的图像质量变差的问题。
根据本发明的一方面，提供一种指纹识别系统的检测方法，所述指纹识别系统包括由多个感测电极组成的阵列，所述多个感测电极用于获取指纹的检测信号，所述方法包括：将所述阵列分成多个区域；逐个区域获取检测信号；从所述区域邻近的感测电极获取噪声信号；以及采用所述噪声信号调整所述检测信号。
优选地，所述多个区域为行区域、列区域和块区域中的至少一种。
优选地，所述方法还包括：在多个扫描周期中逐个区域提供扫描信号。
优选地，所述扫描周期包括多个子周期，在每个扫描子周期中扫描多个所述区域中的至少一个区域。
优选地，在当前扫描子周期调整所述检测信号时，所述噪声信号为当前扫描子周期的前一扫描子周期、后一扫描子周期或者前一扫描周期的噪声信号。
优选地，所述邻近的感测电极包括在选定区域任意相邻位置中至少一个位置的感测电极。
根据本发明的另一方面，提供一种指纹识别系统的检测装置，所述指纹识别系统包括由多个感测电极组成的阵列，所述多个感测电极用于获取指纹的检测信号，所述装置包括：分区模块，用于将所述阵列分成多个区域；第一获取模块，用于逐个区域获取检测信号；第二获取模块，用于从所述区域邻近的感测电极获取噪声信号；以及调整模块，用于采用所述噪声信号调整所述检测信号。
优选地，所述多个区域为行区域、列区域和块区域中的至少一种。
优选地，所述检测装置还包括：扫描模块，用于在多个扫描周期中逐个区域提供扫描信号。
优选地，所述扫描周期包括多个子周期，在每个扫描子周期中扫描所述多个区域中的至少一个区域。
优选地，在当前扫描子周期调整所述检测信号时，所述噪声信号为当前扫描子周期的前一扫描子周期、后一扫描子周期或者前一扫描周期的噪声信号。
优选地，所述邻近的感测电极包括在选定区域任意相邻位置中至少一个位置的感测电极。
本发明提供的指纹识别系统的检测方法及装置，通过将阵列分成多个区域，逐个区域获取检测信号；并从所述区域邻近的感测电极获取噪声信号，以及采样该噪声信号调整所述检测信号，可以提高指纹采集的图像质量，解决指纹识别系统中由于电源的共模干扰导致的图像质量变差的问题。
附图说明
通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
图1示出了现有技术中指纹识别系统的结构示意图；
图2示出了本发明实施例提供的指纹识别系统的检测方法的流程图；
图3a-图3c分别示出了本发明实施例提供的阵列分成区域的示意图；
图4示出了本发明实施例提供的指纹识别系统的检测装置的结构示意图。
具体实施方式
以下将参照附图更详细地描述本发明的各种实施例。在各个附图中，相同的元件采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。
本发明可以各种形式呈现，以下将描述其中一些示例。在通篇说明书及权利要求书当中所提及的「包含」是为一开放式的用语，故应解释成「包含但不限定于」。
图2示出了本发明实施例提供的指纹识别系统的检测方法的流程图。所述指纹识别系统至少包括一个由M*N个感测电极组成的二维阵列，其中，M和N均为大于1的整数。所述多个感测电极用于获取指纹的检测信号。如图2所示，所述指纹识别系统的检测方法包括以下步骤。
在步骤S01中，将所述阵列分成多个区域。
在本实施例中，所述多个区域为行区域、列区域和块区域中的至少一种。
具体地，每个区域为多个感测电极组成的S*T阵列，其中，S和T为正整数。其中，M＝a*S，N＝b*T，a和b均为正整数。当S＝1时，所述阵列被划分成多个行区域。当T＝1时，所述阵列被划分成多个列区域。当S＞1，T＞1时，所述阵列被划分成多个块区域。
图3a-图3c分别示出了本发明实施例提供的阵列分成区域的示意图。如图3a所示，每个行区域以4个感测电极为例。如图3b所示，每个列区域以4个感测电极为例。如图3c所示，每个块区域为8个感测电极组成的2*4阵列。
在步骤S02中，逐个区域获取检测信号。
在本实施例中，对多个区域进行逐个扫描，并从每个区域的感测电极获取指纹的检测信号。
具体地，在多个扫描周期中逐个区域提供扫描信号并获取检测信号。其中，每个扫描周期包括多个扫描子周期，在每个扫描子周期中扫描多个所述区域中的至少一个区域。
以行区域为例，在每个扫描周期中向一行中的多个行区域逐个提供扫描信号。在每个扫描子周期中扫描一行中多个行区域中的至少一个行区域。
以列区域为例，在每个扫描周期中向一列中的多个列区域逐个提供扫描信号。在每个扫描子周期中扫描一列中多个列区域中的至少一个列区域。
以块区域为例，在每个扫描周期中向一行中的块区域或向一列中的块区域逐个提供扫描信号。在每个扫描子周期中扫描一行中多个块区域中的至少一个块区域或一列中多个块区域中的至少一个块区域。
在步骤S03中，从所述区域邻近的感测电极获取噪声信号。
在本实施例中，在对选定区域进行扫描获取检测信号的同时，从该选定区域邻近的感测电极获取噪声信号。
在本实施例中，所述邻近的感测电极包括在选定区域任意相邻位置中至少一个位置的感测电极。例如，在选定区域的前、后、上、下之中至少一个位置的感测电极。
在一个优选地实施例中，所述指纹识别系统包括由多个二维阵列形成的三维阵列，每个二维阵列均由M*N个感测电极组成的。所述邻近的感测电极还包括在选定区域的前一阵列、后一阵列、上一阵列、下一阵列之中至少一个位置的感测电极。
在步骤S04中，采用所述噪声信号调整所述检测信号。
在本实施例中，在当前扫描子周期调整所述检测信号时，所述噪声信号为当前扫描子周期的前一扫描子周期、后一扫描子周期或者前一扫描周期的噪声信号。
如图3a所示，以指纹识别系统包括12*12个感测电极组成的阵列为例，每个感测电极用坐标(i,j)表示，其中，i，j均为自然数。其中，所述阵列被划分成行区域，且每个行区域包括4个感测电极，则扫描该阵列需要12个扫描周期，每个扫描周期包括3个扫描子周期。邻近的感测电极为选定区域的后方感测电极和下方感测电极。
在第一扫描周期中，向第一行中的3个行区域提供扫描信号以获取检测信号。该第一扫描周期包括第一扫描子周期至第三扫描子周期。
在第一扫描子周期中，对第一行区域中的感测电极P(0,0)～P(0,3)进行扫描并获取检测信号D(0,0)～D(0,3)，同时从第一行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第一行区域的后方感测电极P(0,4)和下方感测电极P(1,1)为例，对应的噪声信号为Dn(0,4)和Dn(1,1)。
在第二扫描子周期中，对第二行区域中的感测电极P(0,4)～P(0,7)进行扫描并获取检测信号D(0,4)～D(0,7)，同时从第二行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第二行区域的后方感测电极P(0,8)和下方感测电极P(1,5)为例，对应的噪声信号为Dn(0,8)和Dn(1,5)。
在第三扫描子周期中，对第三行区域中的感测电极P(0,8)～P(0,11)进行扫描并获取检测信号D(0,8)～D(0,11)，同时从第三行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第三行区域的下方感测电极P(1,9)例，对应的噪声信号为Dn(1,9)。
在第二扫描周期中，向第二行中的3个行区域提供扫描信号以获取检测信号。该第二扫描周期包括第四扫描子周期至第六扫描子周期。
在第四扫描子周期中，对第四行区域中的感测电极P(1,0)～P(1,3)进行扫描并获取检测信号D(1,0)～D(1,3)，同时从第四行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第四行区域的后方感测电极P(1,4)和下方感测电极P(2,1)为例，对应的噪声信号为Dn(1,4)和Dn(2,1)。
在第五扫描子周期中，对第五行区域中的感测电极P(1,4)～P(1,7)进行扫描并获取检测信号D(1,4)～D(1,7)，同时从第五行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第五行区域的后方感测电极P(1,8)和下方感测电极P(2,5)为例，对应的噪声信号为Dn(1,8)和Dn(2,5)。
在第六扫描子周期中，对第六行区域中的感测电极P(1,8)～P(1,11)进行扫描并获取检测信号D(1,8)～D(1,11)，同时从第六行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第六行区域的下方感测电极P(2,9)例，对应的噪声信号为Dn(2,9)。
以此类推，扫描完整个阵列，然后采用噪声信号调整检测信号。
在第一扫描周期中，对第二扫描子周期进行调整时，第二扫描子周期和第一扫描子周期中重复采集的感测电极为P(0,4)，由此得到第二扫描子周期与第一扫描子周期之间的噪声差异ΔD(0,4)＝Dn(0,4)-D(0,4)，将第二扫描子周期获取的检测信号加上该噪声差异得到第二扫描子周期调整后的检测信号。
即：D’(0,4)＝D(0,4)+ΔD(0,4)，D’(0,5)＝D(0,5)+ΔD(0,4)，……，D’(0,7)＝D(0,7)+ΔD(0,4)。
为了连续调整数据，对第二扫描子周期中获取的噪声信号也进行调整，即Dn’(0,8)＝Dn(0,8)+ΔD(0,8)，Dn’(1,5)＝Dn(1,5)+ΔD(0,8)。
对第三扫描子周期进行调整时，第三扫描子周期和第二扫描子周期中重复采集的感测电极为P(0,8)，由此得到第三扫描子周期与第二扫描子周期之间的噪声差异ΔD(0,8)＝Dn’(0,8)-D(0,8)，将第三扫描子周期获取的检测信号加上该噪声差异得到第三扫描子周期调整后的检测信号。
即：D’(0,8)＝D(0,8)+ΔD(0,8)，D’(0,9)＝D(0,9)+ΔD(0,8)，……，D’(0,11)＝D(0,11)+ΔD(0,8)。
为了连续调整数据，对第三扫描子周期中获取的噪声信号也进行调整，即Dn’(1,9)＝Dn(1,9)+ΔD(0,8)。
在第二扫描周期中，对第四扫描子周期进行调整时，第四扫描子周期与第一扫描周期中重复采集的感测电极为P(1,1)，由此得到第四扫描子周期与第一扫描周期之间的噪声差异为ΔD(1,1)＝Dn(1,1)-D(1,1)，将第四扫描子周期获取的检测信号加上该噪声差异得到第四扫描子周期调整后的检测信号。
即：D’(1,0)＝D(1,0)+ΔD(1,1)，D’(1,1)＝D(1,1)+ΔD(1,1)，……，D’(1,3)＝D(1,3)+ΔD(1,1)。
为了连续调整数据，对第四扫描子周期中获取的噪声信号也进行调整。即：Dn’(1,4)＝Dn(1,4)+ΔD(1,1)，Dn’(2,1)＝Dn(2,1)+ΔD(1,1)。
对第五扫描子周期进行调整时，第五扫描子周期与前面所有的扫描子周期中重复采集的感测电极有两个，选择其中一个进行调整即可。
选择第五扫描子周期与第一扫描周期中重复采集的感测电极P(1,7)，由此得到第四扫描子周期与第一扫描周期之间的噪声差异为ΔD(1,7)＝Dn’(1,7)-D(1,7)，将第五扫描子周期获取的检测信号加上该噪声差异得到第五扫描子周期调整后的检测信号。
即：D’(1,4)＝D(1,4)+ΔD(1,7)，D’(1,5)＝D(1,5)+ΔD(1,7)，……，D’(1,7)＝D(1,7)+ΔD(1,7)。
或者选择第五扫描子周期与第四扫描子周期中重复采集的感测电极P(1,4)，由此得到第四扫描子周期与第一扫描周期之间的噪声差异为ΔD(1,4)＝Dn(1,4)-D(1,4)，将第五扫描子周期获取的检测信号加上该噪声差异得到第五扫描子周期调整后的检测信号。
即：D’(1,4)＝D(1,4)+ΔD(1,4)，D’(1,5)＝D(1,5)+ΔD(1,4)，……，D’(1,7)＝D(1,7)+ΔD(1,4)。
通过反复迭代，得到整个阵列调整后的检测信号。
本发明提供的指纹识别系统的检测方法，通过将阵列分成多个区域，逐个区域获取检测信号；并从所述区域邻近的感测电极获取噪声信号，以及采样该噪声信号调整所述检测信号，可以提高指纹采集的图像质量，解决指纹识别系统中由于电源的共模干扰导致的图像质量变差的问题。
图4示出了本发明实施例提供的指纹识别系统的检测装置的结构示意图。所述指纹识别系统至少包括一个由M*N个感测电极组成的二维阵列，其中，M和N均为大于1的整数。所述多个感测电极用于获取指纹的检测信号。如图4所示，所述指纹识别系统的检测装置包括分区模块10、第一获取模块20、第二获取模块30和调整模块40。
其中，分区模块10用于将所述阵列分成多个区域。
在本实施例中，所述多个区域为行区域、列区域和块区域中的至少一种。
具体地，每个区域为多个感测电极组成的S*T阵列，其中，S和T为正整数。其中，M＝a*S，N＝b*T，a和b均为正整数。当S＝1时，所述阵列被划分成多个行区域。当T＝1时，所述阵列被划分成多个列区域。当S＞1，T＞1时，所述阵列被划分成多个块区域。
图3a-图3c分别示出了本发明实施例提供的阵列分成区域的示意图。如图3a所示，每个行区域以4个感测电极为例。如图3b所示，每个列区域以4个感测电极为例。如图3c所示，每个块区域为8个感测电极组成的2*4阵列。
第一获取模块20用于逐个区域获取检测信号。
在本实施例中，第一获取模块20包括多个模数转换电路ADC，每个区域中的感测电极的个数与第一模块20中模数转换电路ADC的个数相同。第一获取模块20对多个区域进行逐个扫描，并从每个区域的感测电极获取指纹的检测信号。
具体地，在多个扫描周期中逐个区域提供扫描信号并获取检测信号。其中，每个扫描周期包括多个扫描子周期，在每个扫描子周期中扫描多个所述区域中的至少一个区域。
以行区域为例，在每个扫描周期中向一行中的多个行区域逐个提供扫描信号。在每个扫描子周期中扫描一行中多个行区域中的至少一个行区域。
以列区域为例，在每个扫描周期中向一列中的多个列区域逐个提供扫描信号。在每个扫描子周期中扫描一列中多个列区域中的至少一个列区域。
以块区域为例，在每个扫描周期中向一行中的块区域或向一列中的块区域逐个提供扫描信号。在每个扫描子周期中扫描一行中多个块区域中的至少一个块区域或一列中多个块区域中的至少一个块区域。
第二获取模块30用于从所述区域邻近的感测电极获取噪声信号。
在本实施例中，在对选定区域进行扫描获取检测信号的同时，从该选定区域邻近的感测电极获取噪声信号。
在本实施例中，所述邻近的感测电极包括在选定区域任意相邻位置中至少一个位置的感测电极。例如，在选定区域的前、后、上、下之中至少一个位置的感测电极。
在一个优选地实施例中，所述指纹识别系统包括由多个二维阵列形成的三维阵列，每个二维阵列均由M*N个感测电极组成的。所述邻近的感测电极还包括在选定区域的前一阵列、后一阵列、上一阵列、下一阵列之中至少一个位置的感测电极。
第二获取模块30包括多个模数转换电路ADC，其中，所述区域邻近的感测电极的个数与第二获取模块30的模数转换电路ADC的个数相同。
调整模块40，用于采用所述噪声信号调整所述检测信号。
在本实施例中，在当前扫描子周期调整所述检测信号时，所述噪声信号为当前扫描子周期的前一扫描子周期、后一扫描子周期或者前一扫描周期的噪声信号。
如图3a所示，以指纹识别系统包括12*12个感测电极组成的阵列为例，每个感测电极用坐标(i,j)表示，其中，i，j均为自然数。其中，所述阵列被划分成行区域，且每个行区域包括4个感测电极，则扫描该阵列需要12个扫描周期，每个扫描周期包括3个扫描子周期。邻近的感测电极为选定区域的后方感测电极和下方感测电极。
在第一扫描周期中，向第一行中的3个行区域提供扫描信号以获取检测信号。该第一扫描周期包括第一扫描子周期至第三扫描子周期。
在第一扫描子周期中，对第一行区域中的感测电极P(0,0)～P(0,3)进行扫描并获取检测信号D(0,0)～D(0,3)，同时从第一行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第一行区域的后方感测电极P(0,4)和下方感测电极P(1,1)为例，对应的噪声信号为Dn(0,4)和Dn(1,1)。
在第二扫描子周期中，对第二行区域中的感测电极P(0,4)～P(0,7)进行扫描并获取检测信号D(0,4)～D(0,7)，同时从第二行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第二行区域的后方感测电极P(0,8)和下方感测电极P(1,5)为例，对应的噪声信号为Dn(0,8)和Dn(1,5)。
在第三扫描子周期中，对第三行区域中的感测电极P(0,8)-P(0,11)进行扫描并获取检测信号D(0,8)～D(0,11)，同时从第三行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第三行区域的下方感测电极P(1,9)例，对应的噪声信号为Dn(1,9)。
在第二扫描周期中，向第二行中的3个行区域提供扫描信号以获取检测信号。该第二扫描周期包括第四扫描子周期至第六扫描子周期。
在第四扫描子周期中，对第四行区域中的感测电极P(1,0)～P(1,3)进行扫描并获取检测信号D(1,0)～D(1,3)，同时从第四行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第四行区域的后方感测电极P(1,4)和下方感测电极P(2,1)为例，对应的噪声信号为Dn(1,4)和Dn(2,1)。
在第五扫描子周期中，对第五行区域中的感测电极P(1,4)～P(1,7)进行扫描并获取检测信号D(1,4)～D(1,7)，同时从第五行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第五行区域的后方感测电极P(1,8)和下方感测电极P(2,5)为例，对应的噪声信号为Dn(1,8)和Dn(2,5)。
在第六扫描子周期中，对第六行区域中的感测电极P(1,8)～P(1,11)进行扫描并获取检测信号D(1,8)～D(1,11)，同时从第六行区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，以邻近的感测电极为第六行区域的下方感测电极P(2,9)例，对应的噪声信号为Dn(2,9)。
以此类推，扫描完整个阵列，然后采用噪声信号调整检测信号。
在第一扫描周期中，对第二扫描子周期进行调整时，第二扫描子周期和第一扫描子周期中重复采集的感测电极为P(0,4)，由此得到第二扫描子周期与第一扫描子周期之间的噪声差异ΔD(0,4)＝Dn(0,4)-D(0,4)，将第二扫描子周期获取的检测信号加上该噪声差异得到第二扫描子周期调整后的检测信号。
即：D’(0,4)＝D(0,4)+ΔD(0,4)，D’(0,5)＝D(0,5)+ΔD(0,4)，……，D’(0,7)＝D(0,7)+ΔD(0,4)。
为了连续调整数据，对第二扫描子周期中获取的噪声信号也进行调整，即Dn’(0,8)＝Dn(0,8)+ΔD(0,8)，Dn’(1,5)＝Dn(1,5)+ΔD(0,8)。
对第三扫描子周期进行调整时，第三扫描子周期和第二扫描子周期中重复采集的感测电极为P(0,8)，由此得到第三扫描子周期与第二扫描子周期之间的噪声差异ΔD(0,8)＝Dn’(0,8)-D(0,8)，将第三扫描子周期获取的检测信号加上该噪声差异得到第三扫描子周期调整后的检测信号。
即：D’(0,8)＝D(0,8)+ΔD(0,8)，D’(0,9)＝D(0,9)+ΔD(0,8)，……，D’(0,11)＝D(0,11)+ΔD(0,8)。
为了连续调整数据，对第三扫描子周期中获取的噪声信号也进行调整，即Dn’(1,9)＝Dn(1,9)+ΔD(0,8)。
在第二扫描周期中，对第四扫描子周期进行调整时，第四扫描子周期与第一扫描周期中重复采集的感测电极为P(1,1)，由此得到第四扫描子周期与第一扫描周期之间的噪声差异为ΔD(1,1)＝Dn(1,1)-D(1,1)，将第四扫描子周期获取的检测信号加上该噪声差异得到第四扫描子周期调整后的检测信号。
即：D’(1,0)＝D(1,0)+ΔD(1,1)，D’(1,1)＝D(1,1)+ΔD(1,1)，……，D’(1,3)＝D(1,3)+ΔD(1,1)。
为了连续调整数据，对第四扫描子周期中获取的噪声信号也进行调整。即：Dn’(1,4)＝Dn(1,4)+ΔD(1,1)，Dn’(2,1)＝Dn(2,1)+ΔD(1,1)。
对第五扫描子周期进行调整时，第五扫描子周期与前面所有的扫描子周期中重复采集的感测电极有两个，选择其中一个进行调整即可。
选择第五扫描子周期与第一扫描周期中重复采集的感测电极P(1,7)，由此得到第四扫描子周期与第一扫描周期之间的噪声差异为ΔD(1,7)＝Dn’(1,7)-D(1,7)，将第五扫描子周期获取的检测信号加上该噪声差异得到第五扫描子周期调整后的检测信号。
即：D’(1,4)＝D(1,4)+ΔD(1,7)，D’(1,5)＝D(1,5)+ΔD(1,7)，……，D’(1,7)＝D(1,7)+ΔD(1,7)。
或者选择第五扫描子周期与第四扫描子周期中重复采集的感测电极P(1,4)，由此得到第四扫描子周期与第一扫描周期之间的噪声差异为ΔD(1,4)＝Dn(1,4)-D(1,4)，将第五扫描子周期获取的检测信号加上该噪声差异得到第五扫描子周期调整后的检测信号。
即：D’(1,4)＝D(1,4)+ΔD(1,4)，D’(1,5)＝D(1,5)+ΔD(1,4)，……，D’(1,7)＝D(1,7)+ΔD(1,4)。
通过反复迭代，得到整个阵列调整后的检测信号。
本发明提供的指纹识别系统的检测装置，通过将阵列分成多个区域，逐个区域获取检测信号；并从所述区域邻近的感测电极获取噪声信号，以及采样该噪声信号调整所述检测信号，可以提高指纹采集的图像质量，解决指纹识别系统中由于电源的共模干扰导致的图像质量变差的问题。
依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明的保护范围应当以本发明权利要求所界定的范围为准。

Claims (8)

1.一种指纹识别系统的检测方法，所述指纹识别系统包括由多个感测电极组成的阵列，所述多个感测电极用于获取指纹的检测信号，所述方法包括：
将所述阵列分成多个区域；
在多个扫描周期中逐个区域提供扫描信号；
逐个区域获取检测信号；
从所述区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，所述邻近的感测电极包括在选定区域任意相邻位置中至少一个位置的感测电极；以及
采用所述噪声信号调整所述检测信号；
其中，在调整当前周期的检测信号时对当前扫描周期的噪声信号也进行调整。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其中，所述多个区域为行区域、列区域和块区域中的至少一种。
3.根据权利要求1所述的检测方法，其中，所述扫描周期包括多个子周期，在每个扫描子周期中扫描多个所述区域中的至少一个区域。
4.根据权利要求3所述的检测方法，其中，在当前扫描子周期调整所述检测信号时，所述噪声信号为当前扫描子周期的前一扫描子周期、后一扫描子周期或者前一扫描周期的噪声信号。
5.一种指纹识别系统的检测装置，所述指纹识别系统包括由多个感测电极组成的阵列，所述多个感测电极用于获取指纹的检测信号，所述装置包括：
分区模块，用于将所述阵列分成多个区域；
扫描模块，用于在多个扫描周期中逐个区域提供扫描信号；
第一获取模块，用于逐个区域获取检测信号；
第二获取模块，用于从所述区域邻近的感测电极获取噪声信号，其中，所述邻近的感测电极包括在选定区域任意相邻位置中至少一个位置的感测电极；以及
调整模块，用于采用所述噪声信号调整所述检测信号；
其中，所述调整模块在调整当前周期的检测信号时对当前扫描周期的噪声信号也进行调整。
6.根据权利要求5所述的检测装置，其中，所述多个区域为行区域、列区域和块区域中的至少一种。
7.根据权利要求5所述的检测装置，其中，所述扫描周期包括多个子周期，在每个扫描子周期中扫描所述多个区域中的至少一个区域。
8.根据权利要求7所述的检测装置，其中，在当前扫描子周期调整所述检测信号时，所述噪声信号为当前扫描子周期的前一扫描子周期、后一扫描子周期或者前一扫描周期的噪声信号。
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