CN107610626A - 一种lcm的id检测治具的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明是一种LCM的ID检测治具的检测方法,所述的检测方法步骤为：1、开启ID检测治具的电源，ID检测电路开始检测产品ID状态；2、如果产品ID脚状态正常，硬件提示电路的LED会亮灯，测试正常进行，继续测试直到程序结束；3、如果产品ID脚状态异常，硬件提示电路的LED不亮灯，MCU检测到ID异常，启动内部锁定程序，画面显示“ID fail”且画面被锁定，测试无法继续，判定产品ID功能不良，测试结束，模组显示技术领域。目的是提供一款能够将不良品拦截出来，避免发生客诉，提高产品品质和客户满意度的LCM的ID检测治具的检测方法。

Description

一种LCM的ID检测治具的检测方法

技术领域

本发明涉及模组显示技术，特别是一种LCM的ID检测治具的检测方法。

背景技术

随着数字化信息的发达，手持显示设备种类和需求越来越多，很多较大规模的ODM厂商为了降低显示屏供应风险，通常会采用多家的LCM来兼容，由于不同搭配设计出来的产品在同一个主板上是不能共用一份系统代码的，因此就需要在屏上设计一个ID PIN,供主板做选择，通过ID识别主板可以根据不同的配置给各个LCM分配对应的驱动程序。目前在LCM生产中，很多治具对ID PIN是不做监测的。

发明内容

本发明的目的是在于解决上述现有的技术的不足，而提供一种LCM的ID检测治具的检测方法。

一种LCM的ID检测治具的检测方法,所述的检测方法步骤为：

1、开启ID检测治具的电源，ID检测电路开始检测产品ID状态；

2、如果产品ID脚状态正常，硬件提示电路的LED会亮灯，测试正常进行，继续测试直到程序结束；

3、如果产品ID脚状态异常，硬件提示电路的LED不亮灯，MCU检测到ID异常，启动内部锁定程序，画面显示"ID fail”且画面被锁定，测试无法继续，判定产品ID功能不良，测试结束。

采用上述技术方案的有益效果是：本发明专利通过设计硬件电路加软件控制相结合的方式，能准确地检测出产品ID电路功能失效引起的不良问题，相比普通治具能很有效的将不良品拦截出来，避免发生客诉，提高产品品质和客户满意度。

附图说明

图1为本发明的流程图。

具体实施方式

以下结合附图和本发明优选的具体实施例对本发明的内容作进一步地说明。所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。

如图1中所示，本方案中所述的一种一种LCM的ID检测治具的检测方法，所述的检测方法步骤为：

1、开启ID检测治具的电源，ID检测电路开始检测产品ID状态；

2、如果产品ID脚状态正常，硬件提示电路的LED会亮灯，测试正常进行，继续测试直到程序结束；

3、如果产品ID脚状态异常，硬件提示电路的LED不亮灯，MCU检测到ID异常，启动内部锁定程序，画面显示“ID fail”且画面被锁定，测试无法继续，判定产品ID功能不良，测试结束。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (1)

1.一种LCM的ID检测治具的检测方法,其特征在于，所述的检测方法步骤为：

1、开启ID检测治具的电源，ID检测电路开始检测产品ID状态；

2、如果产品ID脚状态正常，硬件提示电路的LED会亮灯，测试正常进行，继续测试直到程序结束；

3、如果产品ID脚状态异常，硬件提示电路的LED不亮灯，MCU检测到ID异常，启动内部锁定程序，画面显示“ID fail”且画面被锁定，测试无法继续，判定产品ID功能不良，测试结束。