CN107607144A - 一种传感器基线漂移校正方法及检测设备 - Google Patents

一种传感器基线漂移校正方法及检测设备 Download PDF

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CN107607144A CN201710846397.XA CN201710846397A CN107607144A CN 107607144 A CN107607144 A CN 107607144A CN 201710846397 A CN201710846397 A CN 201710846397A CN 107607144 A CN107607144 A CN 107607144A
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Abstract

本申请实施例公开了一种传感器基线漂移校正方法及检测设备,用于校正传感器的基线漂移,避免因基线漂移引起传感器的检测数据不准确。本申请实施例方法包括:若采集设备不能在第一时间段内正常工作,则获取所述第一时间段内辅助传感器的第一检测信号;获取函数关系;根据所述第一检测信号与所述函数关系确定所述第一时间段内的第一基线信号;获取所述第一时间段内所述传感器测得的第一实际信号;根据所述第一基线信号与所述第一实际信号对所述传感器的基线漂移进行校正。

Description

一种传感器基线漂移校正方法及检测设备
技术领域
[0001] 本申请涉及电子领域,特别涉及一种传感器基线漂移校正方法及检测设备。
背景技术
[0002] 传感器是一种检测装置,能检测到被测量的信息,并能将检测到的信息,按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出,而受环境变化影响,传感器会出现基线漂移的情况,能够通过采集设备采集传感器的基线信号确定传感器的基线漂移,例如环境中的温度或湿度变化太快,将引起传感器的基线变化,导致检测结果出现较大误差。
[0003] 现有技术对于基线漂移的解决方法是,接收采集传感器的检测信号后,滤波装置对传感器采集的检测信号进行低通滤波处理,然后采样处理装置对低通滤波处理后的信号进行重采样处理,再消除基线漂移装置对重采样处理后的信号进行消除基线漂移处理,最后得到消除基线漂移后的数据。
[0004] 现有技术对于基线漂移的处理,需要增加滤波装置以及采样处理装置,并进行多个处理步骤,增加了处理传感器基线漂移的成本。
发明内容
[0005] 本申请实施例提供了一种传感器基线漂移校正方法及检测设备,用于校正传感器的基线漂移,避免因基线漂移引起传感器的检测数据不准确。
[0006] 有鉴于此,本申请第一方面提供一种传感器基线漂移校正的方法,包括:
[0007] 若采集设备不能在第一时间段内正常工作,则获取所述第一时间段内辅助传感器的第一检测信号;
[0008] 获取函数关系;
[0009] 根据所述第一检测信号与所述函数关系确定所述第一时间段内的第一基线信号;
[0010] 获取所述第一时间段内所述传感器测得的第一实际信号;
[0011] 根据所述第一基线信号与所述第一实际信号对所述传感器的基线漂移进行校正。
[0012] 优选地,所述方法还包括:
[0013] 获取第二检测信号集合与第二基线信号集合,所述第二检测信号集合包括至少一个第二检测信号,所述第二检测信号由所述辅助传感器在第二时间段检测得到,所述第二基线信号集合包括至少一个第二基线信号,所述第二基线信号为所述采集设备在所述第二时间段采集得到,所述第二时间段为所述采集设备正常工作的时间段;
[00M]对所述第二检测信号集合以及所述第二基线信号集合作最小二乘法回归运算得到最优化参数;
[0015] 通过所述最优化参数得到所述函数关系;
[0016] 将所述函数关系存储至第一本地数据库。
[0017] 优选地,所述函数关系,包括:
[0018] A = n* (T-TO) +Α0,
[0019]或,
[0020]
Figure CN107607144AD00061
[0021] 所述A为所述第一基线信号,所述T为所述第一检测信号,所述ri、所述α、所述TO以及所述AO为所述最优化参数。
[0022] 优选地,所述获取函数关系包括:
[0023] 从所述第一本数据库中获取所述函数关系。
[0024] 优选地,所述根据所述第二基线信号与所述实际信号所述传感器的基线漂移进行校正,包括:
[0025] 获取缩放系数;
[0026] 通过所述缩放系数与所述第一基线信号计算得到基线漂移补偿;
[0027] 通过所述基线漂移补偿校正所述实际信号。
[0028] 优选地,所述方法还包括:
[0029] 获取所述第二时间段的所述传感器的第二实际信号;
[0030] 获取所述第二时间段的标准分析仪器的参考取值;
[0031] 根据预置的公式对所述第二实际信号、所述参考取值以及所述第一基线信号进行计算得到所述缩放系数;
[0032] 将所述缩放系数存储至第二本地数据库。
[0033] 优选地,所述预置的公式包括:
[0034] C= (R-kB) /S,所述C为所述参考取值,所述R为所述第二实际信号,所述B为所述第一基线信号,所述S为所述传感器的灵敏度,所述k为所述缩放系数。
[0035] 优选地,所述获取缩放系数,包括:
[0036] 从所述第二本地数据库中获取所述缩放系数。
[0037] 本申请第二方面提供一种检测设备,包括:
[0038] 第一获取模块,若采集设备不能在第一时间段内正常工作,用于获取所述第一时间段内辅助传感器的第一检测信号;
[0039] 第二获取模块,用于获取函数关系,所述函数关系为所述采集设备在第二时间段确定,所述第二时间段为所述采集设备正常工作的时间段;
[0040] 第一确定模块,用于根据所述第一检测信号与所述函数关系确定所述第一时间段内的第一基线信号;
[0041] 第三获取模块,用于获取所述第一时间段内所述传感器测得的第一实际信号;
[0042] 校正模块,用于根据所述第一基线信号与所述第一实际信号所述传感器的基线漂移进行校正。
[0043] 优选地,所述检测设备还包括:
[0044] 第四获取模块,用于获取第二检测信号集合,所述第二检测信号集合包括至少一个第二检测信号,所述第二检测信号由所述辅助传感器在第二时间段检测得到,所述第二时间段为所述采集设备正常工作的时间段;
[0045] 第五获取模块,用于获取第二基线信号集合,所述第二基线信号集合包括至少一个第二基线信号,所述第二基线信号为所述采集设备在所述第二时间段采集得到;
[0046] 运算模块,用于对所述第二检测信号集合以及所述第二基线信号集合作最小二乘 法回归运算得到最优化参数;
[0047] 确定模块,用于通过所述最优化参数确定所述函数关系;
[0048] 存储模块,用于将所述函数关系存储至本地数据库。
[0049] 优选地,所述第二获取模块,用于通过所述最优化参数确定所述函数关系,所述函数关系,包括:
[0050] A = nX (T-TO)+AO或
Figure CN107607144AD00071
,所述A为所述第一基线信号,所述T为 所述第一检测信号,所述η、所述α、所述TO以及所述AO为所述最优化参数。
[0051] 优选地,所述第二获取模块,还用于从所述本数据库中获取所述函数关系。
[0052] 优选地,所述校正模块包括:
[0053] 获取子模块,用于获取缩放系数;
[0054] 计算子模块,用于通过所述缩放系数与所述第二基线信号计算得到基线漂移补偿;
[0055] 校正子模块,用于通过所述基线漂移补偿校正所述实际信号。
[0056] 优选地,所述获取子模块,包括:
[0057] 第一获取单元,用于获取所述第二时间段的所述传感器的第二实际信号;
[0058] 第二获取单元,用于获取所述第二时间段的标准分析仪器的参考取值;
[0059] 计算单元,根据预置的公式对所述第二实际信号、所述参考取值以及所述第一基线信号进行计算得到所述缩放系数。
[0060] 优选地,所述计算单元,根据预置的公式对所述第二实际信号、所述参考取值以及所述第一基线信号进行计算得到所述缩放系数,所述预置的公式包括:
[0061] C= (R-kB) /S,所述C为所述参考取值,所述R为所述第二实际信号,所述B为所述第一基线信号,所述S为所述传感器的灵敏度,所述k为所述缩放系数。
[0062] 本申请第三方面提供一种检测设备,包括:
[0063] 处理器、存储器、总线以及输入输出接口;
[0064] 所述存储器中存储有程序代码;
[0065] 所述处理器调用所述存储器中的程序代码时执行本申请第一方面所述方法的步 骤。
[0066] 本申请实施例第四方面提供一种存储介质,需要说明的是,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产口的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,用于储存为上述设备所用的计算机软件指令,其包含用于执行上述第一方面至第二方面中任一方面为终端设备所设计的 程序。
[0067] 该存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(英文缩写R0M,英文全称:Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(英文缩写:RAM,英文全称:Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0068] 本申请实施例第五方面提供了一种计算机程序产品,该计算机程序产品包括计算机软件指令,该计算机软件指令可通过处理器进行加载来实现上述第一方面的传感器基线漂移校正方法中的流程。
[0069] 从以上技术方案可以看出,本申请实施例具有以下优点:
[0070] 若采集设备不能正常工作,则获取辅助传感器的检测信号以及函数关系,根据该函数关系以及检测信号推导出传感器的基线信号,并根据该基线信号对传感器的实际信号的基线漂移进行校正。即使在采集设备不能正常工作时,也能够获取到传感器的基线信号,并利用基线信号以及实际信号对传感器进行基线漂移校正,无需再对检测信号进行滤波、重采样处理,无需再添加滤波装置以及采样处理装置。
附图说明
[0071] 图1为本申请实施例中传感器的结构图;
[0072] 图2为本申请实施例中传感器基线漂移校正方法的一个流程示意图;
[0073] 图3为本申请实施例中传感器基线漂移校正方法的另一个流程示意图;
[0074] 图4为本申请实施例检测设备的一个实施例示意图;
[0075] 图5为本申请实施例检测设备的另一个实施例示意图;
[0076] 图6为本申请实施例检测设备的另一个实施例示意图。
具体实施方式
[0077] 本申请实施例提供了一种传感器基线漂移校正方法及检测设备,用于校正传感器的基线漂移,避免因基线漂移引起传感器的检测数据不准确。
[0078] 本申请实施例中传感器的结构如图1所示,传感器由敏感元件、转换元件、电源以及变换电路构成,首先由敏感元件直接检测到被测量,例如应变式压力传感器的弹性膜片就是敏感元件,作用是将压力转换成弹性膜片的变形。将与被测量有确定关系的物理量信号向转换元件输出,转换元件将敏感元件输出的物理量信号转换为电信号,转换元件是将敏感元件的输出量转换成电信号的部分,一般不直接感受被测量,例如应变式压力传感器中的应变片就是转换元件,作用是将弹性膜片的变形转换成电阻值的变化,需要说明的是,并不是所有的传感器都必须含有转换元件,如果敏感元件可以直接输出电信号,就不需要转换元件,例如压电传感器、热电偶、热电阻、光电器件等;变换电路负责对转换元件输出的电信号进行放大调制,将转换元件输出的电信号放大,转变成易于处理、显示和记录的信号,变换电路的类型视传感器的类型而定,通常采用的有电桥电路、放大器电路、变阻器电路和振荡器电路等;转换元件和变换电路一般还需要电源供电,需要外部接电源的称为无源传感器,不需要外部接电源的称为有源传感器。例如电阻、电感和电容式传感器就是无源传感器,工作时需要外部供电电源,而压电式传感器、热电偶是有源传感器,工作时不需要外部电源供电。
[0079] 传感器是将非电量,例如物理量、化学量等,按一定规律转换成便于测量、传输和控制的电量,是利用物理或化学学科的效应,例如压电效应、热电效应、守恒原理或物理定律等,以及材料特性按一定工艺实现的。在实际应用中,传感器在长期使用中,传感器的检测结果将发生变化,例如环境中的温度或湿度,使得传感器的检测结果发生基线漂移。
[0080] 需要说明的是,在本申请中,传感器可以包括一氧化碳(英文缩写:C0,英文全称:Carbon monoxide)传感器、一氧化氮(英文缩写:N0,英文全称:Nitric Oxide)传感器、二氧化氮(英文缩写:N〇2,英文全称:Nitrogen dioxide)传感器、二氧化硫(英文缩写:S〇2,英文全称:Sulfur dioxide)传感器、臭氧(英文缩写:〇3,英文全称:Ozone)传感器、挥发性有机 物(英文缩写:VOCs,英文全称:Volatile organic compounds)传感器、二氧化碳(英文缩写:C〇2,英文全称:Carbon dioxide)传感器或颗粒物(英文缩写:PM,英文全称:Particulate Matter)传感器,具体此处不作限定。被测量可以是CO、NO、N〇2、S〇2、〇3、VOCs、C〇2SPM,具体此处不作限定。
[0081]下面结合说明书附图对本申请实施例的流程进行具体说明,请参阅图2,本申请实施例中传感器基线漂移校正方法的一个流程示意图,包括:
[0082] 201、获取第一时间段内辅助传感器的第一检测信号;
[0083] 在本申请实施例中,若采集设备不能正常工作,获取第一时间段内辅助传感器的第一检测信号,该第一检测信号由辅助传感器检测得到。需要说明的是,该辅助传感器可以是温度传感器,也可以是湿度传感器,具体此处不作限定。
[0084] 202、获取函数关系;
[0085] 该函数关系可以用于表示辅助传感器的检测信号与传感器基线信号的关系。
[0086] 需要说明的是,本实施例中对步骤201与步骤202的执行顺序不作限定,可以先执行步骤201,后执行步骤202,也可以先执行步骤202,后执行步骤201,还可以同时执行步骤201与202,具体此处不作限定。
[0087] 203、根据第一检测信号与函数关系确定第一时间段内的第一基线信号;
[0088] 该函数关系可以用于表示第一检测信号与第一基线信号的关系,因此可以根据该函数关系与第一检测信号确定第一基线信号,若采集设备正常工作,该第一基线信号可以由采集设备采集得到。
[0089] 204、获取第一时间段内传感器测得的第一实际信号;
[0090] 在本申请实施例中,该第一实际信号为传感器在第一时间段内检测被测量物体得至IJ,该第一实际信号可以为电信号。
[0091] 需要说明的是,本实施例中对步骤203与步骤204的执行顺序不作限定,可以先执行步骤203,后执行步骤204,也可以先执行步骤204,后执行步骤203,还可以同时执行步骤203与204,具体此处不作限定。
[0092] 205、根据第一基线信号与第一实际信号对传感器的基线漂移进行校正。
[0093] 获取到第一基线信号与第一实际信号后,利用该第一基线信号与第一实际信号对传感器的基线漂移进行校正。
[0094] 在本申请实施例中,即使采集设备不能正常工作,即采集设备不能采集到正常的基线信号,也可以通过辅助设备的检测信号与函数关系确定该基线信号,并利用该基线信号与传感器的检测信号对传感器的基线漂移进行校正。
[0095] 在实际应用中,若不能采集到CO传感器的基线信号,则获取温度传感器的检测到的温度信号,以及函数关系,通过该温度信号与函数关系确定该基线信号,并利用该基线信号与传感器的实际信号进行基线漂移校正。
[0096] 下面对本申请实施例进行进一步的说明,请参阅图3,本申请实施例中传感器基线漂移校正方法的另一个流程示意图,包括:
[0097] 301、判断采集设备是否正常工作,若是,则执行步骤304,若否,则执行步骤302;
[0098] 在本申请实施例中,判断采集设备是否正常工作,即判断采集设备能否采集到传感器正常的基线信号,若不能采集到该基线信号,则执行步骤302,若能采集到该基线信号, 则执行步骤304。
[0099] 302、获取第一时间段内辅助传感器的第一检测信号;
[0100] 在本申请实施例中,若采集设备不能正常工作,获取第一时间段内辅助传感器的第一检测信号,该第一检测信号由辅助传感器检测得到。需要说明的是,该辅助传感器可以是温度传感器,也可以是湿度传感器,具体此处不作限定。
[0101] 303、获取函数关系;
[0102] 该函数关系可以根据采集设备正常工作时采集到的数据确定,首先获取采集设备正常工作的第二时间段内的第二检测信号集合以及第二基线信号集合,该第二检测信号集合至少包括两个辅助传感器的第二检测信号,该第二基线信号至少包括两个采集设备采集到的第二基线信号,对该第二检测信号集合以及第二基线信号集合作最小二乘法回归运算,以得到第二基线信号与第二检测信号的函数关系,可以将该函数关系存储在本地数据库,使用时直接从该本地数据库中提取。
[0103] 在实际应用中,第二检测信号集合与第二基线信号集合通常可以包括大量的第二检测信号以及第二基线信号,基于大量的第二检测信号以及第二基线信号作最小二乘法回归运算,可以得到更接近的函数关系。
[0104] 确定该函数关系的过程可以是,选择采集设备的正常工作时间段,采集得到该时 间段的信号函数为A (t),单位为毫伏,t为时间,辅助传感器在该时间段的检测信号函数为T(t),单位为毫伏,t为时间,将同一时间采得的A值与T值--对应,并进而画出A与T的二维 散图,以函数A = Il* (T-To) +AO或
Figure CN107607144AD00101
为函数模型,对该二维散图作最小 二乘法的回归运算,得到最优化参数η、α、Το以及Ao,并得到A与T的函数关系,该函数关系为A=n* (T-To)+AO或
Figure CN107607144AD00102
,其中η、α、Τ〇以及Ao前述计算得到,可以将该函数 存储至本地数据库中,使用该函数关系时从本地数据库中提取。
[0105] 304、确定第一时间段内的第一基线信号;
[0106] 若采集设备正常工作,则该第一基线信号由采集设备在第一时间段内采集得到;若采集设备不能正常工作,则该第一基线信号通过由步骤304获取的函数关系与步骤302获取的第一时间段内辅助传感器的第一检测信号得到。
[0107] 305、获取第一时间段内传感器测得的第一实际信号;
[0108] 第一实际信号由传感器在第一时间段检测得到的信号。
[0109] 需要说明的是,本实施例中对步骤304与步骤305的执行顺序不作限定,可以先执行步骤304,后执行步骤305,也可以先执行步骤305,后执行步骤304,还可以同时执行步骤304与305,具体此处不作限定。
[0110] 306、获取缩放系数;
[0111] 该缩放系数可以通过计算得到,首先获取由传感器检测被测量得到的实际信号、传感器的基线信号以及标准分析仪器检测同一被测量的参考取值,通过公式、获取的实际信号、基线信号以及参考取值计算得到缩放系数。该公式可以是C= (R_kB)/S,其中,C为参考取值,R为实际信号,单位可以是毫伏,B为基线信号,单位可以是毫伏,S为传感器灵敏度,单位为十亿分之一(英文缩写:ppb,英文全称:part per billion)每毫伏,k为缩放系数,可以通过该公式计算得到该缩放系数,可以将该缩放系数存储至本地数据库中,需要使用时 直接从本地数据库中提取。
[0112] 需要说明的是,传感器灵敏度可以从本地数据库中获取,也可以通过该公式计算得到,若通过该公式计算得到,则至少需要两组实际信号、基线信号以及参考取值。
[0113] 307、通过缩放系数与第一基线信号计算得到基线漂移补偿;
[0114] 该基线漂移补偿为基线信号进行缩放该缩放系数处理后得到。
[0115] 308、根据基线漂移补偿对第一实际信号进行校正。
[0116] 可以扣除该第一实际信号中的漂移补偿,得到扣除漂移补偿后的信号。
[0117] 在本申请实施例中,可以通过扣除传感器检测得到的实际信号中的基线信号对传感器的基线漂移进行校正,该基线信号可以由采集设备采集得到,也可以由辅助传感器的检测信号与函数关系推导得到,可以使用多种得到基线信号的方式,并能得到扣除基线漂移后的传感器测量值。
[0118] 在实际应用场景中,若被测为气体C0,C0传感器与标准分析仪器同时运行一段时间,一般可以选择两天至三天,其中CO传感器的检测值为W⑴毫伏,该CO传感器的基线信号为B (t)毫伏,t为时间,则可以认为环境中的CO浓度为:
[0119] [⑶]elec⑴=(W⑴-k*B⑴)/S,其中,[C0]elec⑴为环境中CO浓度,k为未知的缩放系数,S为传感器灵敏度。
[0120] 需要说明的是,S可以从本地数据库中获取,也可以通过该计算得到,具体此处不作限定。
[0121] 还需要说明的是,该CO传感器的基线信号可以由采集设备采集得到,若采集设备不能正常工作,则该基线信号可以由辅助传感器与CO传感器的检测信号根据函数关系推导得到。
[0122] 同时,标准分析仪器测得的环境中的CO浓度为[C0]ref(t),由于标准分析仪器与CO传感器两种测量是在同一时间段以及同样的采样频率下完成,可以设置k的初始值为1,若S值为未知,则设S的初始值可以为CO传感器的典型灵敏度值,S卩0.5毫伏每ppb,该[CO] ref (t)为左值,上述公式的右值,(W⑴-k*B(t))/S的值为右值,通过常用的多系数非线性回归方法,例如多系数Marquardt-Levenberg回归方法,最小化[CO] eiec和[CO] ref之间的残差,计算得到k值以及若S值为未知时的S值。
[0123] 然后将计算得到的k值以及S值代入上述公式,
[0124] [C0]elec⑴=(W⑴_k*B(t))/S,并通过CO传感器的测量信号与基线信号计算得到基线漂移校准后的CO浓度值。
[0125] 上述对本申请实施例中的传感器基线漂移校正方法进行了说明,下面对本申请实施例中的检测设备进行说明,如图4所示,本申请实施例检测设备的一个实施例示意图,包括:
[0126] 第一获取模块401,若采集设备不能在第一时间段内正常工作,用于获取第一时间段内辅助传感器的第一检测信号;
[0127] 第二获取模块402,用于获取函数关系,该函数关系为该采集设备在第二时间段确定,该第二时间段为该采集设备正常工作的时间段;
[0128] 第一确定模块403,用于根据该第一检测信号与所述函数关系确定该第一时间段内的第一基线信号;
[0129] 第三获取模块404,用于获取该第一时间段内该传感器测得的第一实际信号;
[0130] 校正模块405,用于根据该第一基线信号与该第一实际信号对该传感器的基线漂移进行校正。
[0131] 如图5所示,本申请实施例检测设备的另一个实施例示意图,包括:
[0132] 本申请实施例中第一获取模块501、第二获取模块502、第一确定模块503、第三获取模块504以及校正模块505的功能与前述图4所示的实施例中描述的内容类似,此处不再 赘述。
[0133] 第四获取模块506,用于获取第二检测信号集合,该第二检测信号集合包括至少一个第二检测信号,该第二检测信号由该辅助传感器在第二时间段检测得到,该第二时间段为该采集设备正常工作的时间段;
[0134] 第五获取模块507,用于获取第二基线信号集合,该第二基线信号集合包括至少一个第二基线信号,该第二基线信号为该采集设备在该第二时间段采集得到;
[0135] 运算模块508,用于对该第二检测信号集合以及该第二基线信号集合作最小二乘法回归运算得到最优化参数;
[0136] 确定模块509,用于通过该最优化参数确定该函数关系;
[0137] 存储模块510,用于将该确定模块确定的函数关系存储至本地数据库。
[0138] 可选地,在本申请的一些实施例中,该函数关系包括:
[0139] A = nX (T-TO)+AO或
Figure CN107607144AD00121
,该A为该第一基线信号,该T为该第一 检测信号,该n、a、TO以及AO为最优化参数。
[0140] 可选地,在本申请的一些实施例中,
[0141] 第二获取模块402,还用于从所述本数据库中获取所述函数关系。
[0142] 可选地,在本申请的一些实施例中,校正模块505还包括:
[0143] 获取子模块5051,用于获取缩放系数;
[0144] 计算子模块5052,用于通过该缩放系数与该第二基线信号计算得到基线漂移补偿;
[0145] 校正子模块5053,用于通过该基线漂移补偿校正该第一实际信号。
[0146] 可选地,在本申请的一些实施例中,获取子模块5051还包括:
[0147] 第一获取单元50511,用于获取该第二时间段的该传感器的第二实际信号;
[0148] 第二获取单元50512,用于获取该第二时间段的标准分析仪器的参考取值;
[0149] 计算单元50513,根据预置的公式对该第二实际信号、该参考取值以及该第一基线信号进行计算得到该缩放系数。
[0150] 可选地,在本申请的一些实施例中,预置的公式包括:
[0151] C= (R-kB)/S,该C为该参考取值,该R为该第二实际信号,该B为该第一基线信号,该S为该传感器的灵敏度,该k为该缩放系数。
[0152] 图6是本申请实施例的一种检测设备示意图,该检测设备600可因配置或性能不同而产生比较大的差异,可以包括一个或一个以上中央处理器(central processing units,CPU) 622 (例如,一个或一个以上处理器)和存储器632, 一个或一个以上存储应用程序642或数据644的存储介质630 (例如一个或一个以上海量存储设备)。其中,存储器632和存储介质630可以是短暂存储或持久存储。存储在存储介质630的程序可以包括一个或一个以上模块 (图示没标出),每个模块可以包括对检测设备中的一系列指令操作。更进一步地,中央处理器622可以设置为与存储介质630通信,在检测设备600上执行存储介质630中的一系列指令操作。
[0153] 检测设备600还可以包括一个或一个以上电源626, 一个或一个以上有线或无线网络接口 650, 一个或一个以上输入输出接口 658,和/或,一个或一个以上操作系统641,例如Windows ServerTM,Mac OS XTM,UnixTM, LinuxTM,FreeBSDTM等等。
[0154] 上述实施例中由检测设备所执行的步骤可以基于该图6所示的检测设备结构。
[0155] 所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统,装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
[0156] 在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统,装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
[0157] 所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0158] 另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
[0159] 所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请图2至图3中各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(R0M,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random AccessMemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0160] 以上所述,以上实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (17)

1. 一种传感器基线漂移校正的方法,其特征在于,包括: 若采集设备不能在第一时间段内正常工作,则获取所述第一时间段内辅助传感器的第 一检测信号; 获取函数关系; 根据所述第一检测信号与所述函数关系确定所述第一时间段内的第一基线信号; 获取所述第一时间段内所述传感器测得的第一实际信号; 根据所述第一基线信号与所述第一实际信号对所述传感器的基线漂移进行校正。
2. 根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括: 获取第二检测信号集合与第二基线信号集合,所述第二检测信号集合包括至少两个第 二检测信号,所述第二检测信号由所述辅助传感器在第二时间段检测得到,所述第二基线 信号集合包括至少两个第二基线信号,所述第二基线信号为所述采集设备在所述第二时间 段采集得到,所述第二时间段为所述采集设备正常工作的时间段; 对所述第二检测信号集合以及所述第二基线信号集合作最小二乘法回归运算得到最 优化参数; 通过所述最优化参数得到所述函数关系; 将所述函数关系存储至第一本地数据库。
3. 根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述函数关系,包括: A = T1* (T-TO)+AO, 或,
Figure CN107607144AC00021
所述A为所述第一基线信号,所述T为所述第一检测信号,所述II、所述α、所述TO以及所 述AO为所述最优化参数。
4. 根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述获取函数关系,包括: 从所述第一本地数据库中获取所述函数关系。
5. 根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述第二基线信号 与所述实际信号所述传感器的基线漂移进行校正,包括: 获取缩放系数; 通过所述缩放系数与所述第一基线信号计算得到基线漂移补偿; 通过所述基线漂移补偿校正所述第一实际信号。
6. 根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括: 获取所述第二时间段的所述传感器的第二实际信号; 获取所述第二时间段的标准分析仪器的参考取值; 根据预置的公式对所述第二实际信号、所述参考取值以及所述第一基线信号进行计算 得到所述缩放系数; 将所述缩放系数存储至第二本地数据库。
7. 根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述预置的公式包括: C = (R-kB) /S,所述C为所述参考取值,所述R为所述第二实际信号,所述B为所述第一基 线信号,所述S为所述传感器的灵敏度,所述k为所述缩放系数。
8. 根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述获取缩放系数,包括: 从所述第二本地数据库中获取所述缩放系数。
9. 一种检测设备,其特征在于,包括: 第一获取模块,若采集设备不能在第一时间段内正常工作,用于获取所述第一时间段 内辅助传感器的第一检测信号; 第二获取模块,用于获取函数关系,所述函数关系为所述采集设备在第二时间段确定, 所述第二时间段为所述采集设备正常工作的时间段; 第一确定模块,用于根据所述第一检测信号与所述函数关系确定所述第一时间段内的 第一基线信号; 第三获取模块,用于获取所述第一时间段内所述传感器测得的第一实际信号; 校正模块,用于根据所述第一基线信号与所述第一实际信号对所述传感器的基线漂移 进行校正。
10. 根据权利要求9所述的检测设备,其特征在于,所述检测设备还包括: 第四获取模块,用于获取第二检测信号集合,所述第二检测信号集合包括至少一个第 二检测信号,所述第二检测信号由所述辅助传感器在第二时间段检测得到,所述第二时间 段为所述采集设备正常工作的时间段; 第五获取模块,用于获取第二基线信号集合,所述第二基线信号集合包括至少一个第 二基线信号,所述第二基线信号为所述采集设备在所述第二时间段采集得到; 运算模块,用于对所述第二检测信号集合以及所述第二基线信号集合作最小二乘法回 归运算得到最优化参数; 确定模块,用于通过所述最优化参数确定所述函数关系; 存储模块,用于将所述确定模块确定的函数关系存储至本地数据库。
11. 根据权利要求10所述的检测设备,其特征在于, 所述第二获取模块,用于通过所述最优化参数确定所述函数关系,所述函数关系,包 括: Α = ηΧ(Τ_ΊΌ)+Α(Μ
Figure CN107607144AC00031
,所述A为所述第一基线信号,所述T为所述 第一检测信号,所述η、所述α、所述TO以及所述AO为所述最优化参数。
12. 根据权利要求10或11所述的检测设备,其特征在于, 所述第二获取模块,还用于从所述本数据库中获取所述函数关系。
13. 根据权利要求9至11中任一项所述的检测设备,其特征在于,所述校正模块包括: 获取子模块,用于获取缩放系数; 计算子模块,用于通过所述缩放系数与所述第二基线信号计算得到基线漂移补偿; 校正子模块,用于通过所述基线漂移补偿校正所述第一实际信号。
14. 根据权利要求13所述的检测设备,其特征在于,所述获取子模块,包括: 第一获取单元,用于获取所述第二时间段的所述传感器的第二实际信号; 第二获取单元,用于获取所述第二时间段的标准分析仪器的参考取值; 计算单元,根据预置的公式对所述第二实际信号、所述参考取值以及所述第一基线信 号进行计算得到所述缩放系数。
15. 根据权利要求14所述的检测设备,其特征在于, 所述计算单元,根据预置的公式对所述第二实际信号、所述参考取值以及所述第一基 线信号进行计算得到所述缩放系数,所述预置的公式包括: C = (R-kB) /S,所述C为所述参考取值,所述R为所述第二实际信号,所述B为所述第一基 线信号,所述S为所述传感器的灵敏度,所述k为所述缩放系数。
16. —种检测设备,其特征在于,包括: 处理器、存储器、总线以及输入输出接口; 所述存储器中存储有程序代码; 所述处理器调用所述存储器中的程序代码时执行权利要求1至8中任一项所述方法的 步骤。
17. —种计算机可读存储介质,包括指令,当所述指令在计算机上运行时,使得计算机 执行如权利要求1至8中任意一项所述的方法。
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