CN114062283A - 用于动态迭代基线调整的装置、计算机实现方法和计算机程序产品 - Google Patents

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Abstract

本公开涉及用于动态迭代基线调整的装置、计算机实现方法和计算机程序产品。本公开实施例提供了动态迭代基线调整。这种实施例提供了对要求这种调整的传感器的改进，例如通过更好地计及传感器的基线漂移和/或其他基线不准确。在一个示例上下文中，提供了气体传感器，其执行这种动态迭代基线调整以更好地校准气体传感器的输出值。一些实施例包括：确定测量值集合包括超过基线更新阈值的低点测量值的数目；确定更新基线值集合，例如通过确定基线因素区间集合中的每个基线因素区间的平均低点测量值；以及将基线值集合更新到更新基线值集合；以及可选地，对更新基线值集合执行校正基线算法。更新基线值集合可以用于校正随后测量的原始数据值。

Description

用于动态迭代基线调整的装置、计算机实现方法和计算机程 序产品
技术领域
本公开实施例总体上涉及与一个或多个传感器相关联的基线值的校准，且具体涉及用于在传感器中利用动态迭代基线调整进行基线值调整以计及基线不准确（诸如，基线漂移）的改进方法体系。
背景技术
在传感器（诸如，PPB水平气体传感器）的操作寿命期间，传感器的基线可能变得不准确。例如，一些气体传感器随着传感器随时间老化而经历基线漂移，和/或以其他方式经历由于传感器周围的周边环境的改变（例如，周围湿度和/或温度的改变）而引起的改变。甚至在传感器经受传统灵敏度补偿和/或基线校准之后，这些基线不准确也常常在传感器的性能中引入显著误差。申请人已经发现了关于尝试解决当前基线不准确的当前实现方式的问题。通过所应用的努力、独创性和创新，申请人已经通过下面详细描述的本公开中体现的发展，解决了这些所识别的问题中的许多问题。
发明内容
一般地，本文提供的本公开实施例利用一个或多个动态基线调整迭代算法来在克服一个或多个传感器（诸如，气体传感器）的基线值中的误差方面提供改进。对本领域技术人员来说，在检查以下附图和详细描述时，动态基线调整迭代算法的其他实现方式将是明显的或将变得明显。意图是，所有这种附加实现方式应当被包括在本公开范围内该描述内，且受所附权利要求保护。
一般地，本文提供的本公开实施例利用一个或多个动态基线调整迭代算法来在计及传感器（诸如，气体传感器）中的基线漂移方面提供改进。在这点上，本文描述的实施例中的一个或多个解决了与跟踪且适配成克服基线漂移相关联的问题，以便避免由传感器的基线漂移引起的不准确测量或者基线值的真实值与正在使用的基线值的当前值之间的其他不准确。对本领域技术人员来说，在检查以下附图和详细描述时，动态基线调整迭代算法的其他实现方式将是明显的或将变得明显。意图是，所有这种附加实现方式应当被包括在本公开范围内该描述内，且受所附权利要求保护。
在至少一个示例实施例中，提供了一种计算机实现方法。所述计算机实现方法可由如本文描述的以硬件、软件、固件和/或其组合体现的大量设备、装置、系统和/或组件中的任一个执行。在至少一个示例实施例中，一种示例计算机实现方法包括：确定测量值集合包括超过基线更新阈值的低点测量值的数目，其中所述测量值集合中的每个测量值与温度区间集合中的温度区间相关联，其中所述温度区间集合中的每个温度区间与基线值集合中的基线值相关联，并且其中所述测量值集合包括低点测量值子集，所述低点测量值子集包括低于与所述测量值相对应的温度区间的基线值的每个测量值。所述示例计算机实现方法进一步包括：确定包括所述温度区间集合中的每个温度区间的更新基线值的更新基线值集合，其中所述温度区间集合中的每个温度区间的更新基线值是基于与所述温度区间相关联的低点测量值子集中的至少一个低点测量值来确定的。所述示例计算机实现方法进一步包括：通过针对所述温度区间集合中的每个温度区间将与所述温度区间相关联的基线值集合中的基线值更新到与所述温度区间相关联的更新基线值，来将所述基线值集合更新到所述更新基线值集合。所述示例计算机实现方法进一步包括：对所述更新基线值集合执行校正基线算法。
附加地或可替换地，在计算机实现方法的一些这种示例实施例中，执行校正基线算法包括：基于所述更新基线值集合中的每个更新基线值之间的改变，针对所述温度区间集合中的每个温度区间之间的改变，确定所述更新基线值集合的单调趋势。
附加地或可替换地，在计算机实现方法的一些这种示例实施例中，所述计算机实现方法进一步包括：基于所述测量值集合来确定落在传感器下限以下的测量值的数目；以及基于落在所述传感器下限以下的测量值的数目来设置所述基线更新阈值。
附加地或可替换地，在计算机实现方法的一些这种示例实施例中，所述计算机实现方法进一步包括通过下述操作来设置基线值集合：基于温度区间大小将温度范围分段成所述温度区间集合；以及针对所述温度区间集合中的至少一个温度区间，将出厂默认基线指派为所述温度区间的基线值。
附加地或可替换地，在计算机实现方法的一些这种示例实施例中，所述计算机实现方法进一步包括：针对所述温度区间集合中的至少一个温度区间，基于第一温度区间的第一基线值与第二温度区间的第二基线值之间的线性内插来指派所述基线值，其中所述第一温度区间是邻近较低温度区间，并且所述第二温度区间是邻近较高温度区间。
附加地或可替换地，在计算机实现方法的一些这种示例实施例中，确定所述测量值集合包括超过所述基线更新阈值的测量值的数目包括：针对所述温度区间集合中的每个温度区间：识别与所述温度区间相关联的基线值；从所述测量值集合确定与所述温度区间相关联的测量值子集；以及针对与所述温度区间相关联的测量值子集中的每个测量值：确定所述测量值是否低于所述基线值；以及在所述测量值低于所述基线值的情形中，递增表示低点测量值的数目的计数。
附加地或可替换地，在计算机实现方法的一些这种示例实施例中，所述示例计算机实现方法进一步包括：从所述低点测量值子集确定异常测量值集合；以及通过从所述低点测量值子集移除所述异常测量值集合来生成经更改的低点测量值子集，其中所述更新基线值集合是基于经更改的低点测量值子集来确定的。
附加地或可替换地，在计算机实现方法的一些这种示例实施例中，确定更新基线值集合包括针对所述温度区间集合中的每个温度区间：通过对与所述温度区间相关联的低点测量值子集求平均来确定所述温度区间的平均低点测量值；以及将所述温度区间的更新基线值设置成所述温度区间的平均低点测量值。
附加地或可替换地，在计算机实现方法的一些这种示例实施例中，所述示例计算机实现方法进一步包括：测量与当前操作温度区间相关联的原始数据值；以及基于（1）所述原始数据值和（2）与所述当前操作温度区间相关联的更新基线值来生成校正数据值。
附加地或可替换地，在计算机实现方法的一些这种示例实施例中，所述测量值集合包括从中央服务器或多个所连接的设备接收到的历史测量值。
根据本公开的又一方面，提供了至少一个装置。在一些示例实施例中，一种示例装置包括至少一个处理器和至少一个存储器，所述至少一个存储器具有计算机编码指令存储于其上。在一些这种实施例中，所述计算机编码指令在利用所述至少一个处理器执行时将所述装置配置用于执行本文描述的计算机实现方法中的任一个的操作。在一些其他示例实施例中，一种示例装置包括如本文描述的用于执行本文描述的计算机实现方法中的任一个的每个步骤的部件。
根据本公开的又一方面，提供了至少一个计算机程序产品。在一些示例实施例中，一种示例计算机程序产品包括具有计算机程序代码存储于其上的至少一个非瞬变计算机可读储存介质。在一些这种实施例中，所述计算机程序代码在利用处理器执行时被配置用于执行本文描述的计算机实现方法中的任一个的操作。
附图说明
因此，在已经一般地描述了本公开实施例的情况下，现在将参考附图，附图不必然按比例绘制，并且在附图中：
图1图示了本公开实施例可在其内操作的可特殊配置的系统的框图；
图2图示了根据本公开示例实施例的可特殊配置的示例装置的框图；
图3图示了根据本公开至少一个实施例的描绘用于动态迭代基线调整的示例过程的操作的流程图；
图4图示了根据本公开至少一个实施例的描绘用于动态迭代基线调整的另一示例过程的操作的另一流程图；
图5图示了根据本公开至少一个实施例的描绘用于动态迭代基线调整的另一示例过程的附加操作的另一流程图；
图6图示了根据本公开至少一个实施例的描绘用于动态迭代基线调整的另一示例过程的附加操作的另一流程图；
图7图示了根据本公开至少一个实施例的描绘用于动态迭代基线调整的另一示例过程的附加操作的另一流程图；
图8图示了根据本公开至少一个实施例的描绘用于动态迭代基线调整的另一示例过程的附加操作的另一流程图；以及
图9图示了根据本公开至少一个实施例的描绘用于动态迭代基线调整的另一示例过程的附加操作的另一流程图。
具体实施方式
现在将在下文中参考附图来更充分地描述本公开实施例，在附图中，示出了本公开的一些但不是所有实施例。实际上，本公开实施例可以以许多不同形式体现，而不应被理解为限于本文阐述的实施例，而是，这些实施例被提供以使得本公开将满足适用的法律要求。自始至终，相似的附图标记指代相似的元件。
概览
收集且处理来自环境的样本的样本收集器的使用依赖于来自所述样本收集器的测量结果足够准确。在一个这种示例上下文中，气体传感器用于环境样本收集和处理中的各种目的，例如大气环境监测、恶臭监测、毒气监测等。这种气体传感器监测大量污染物中的任一个，该大量污染物包括而不限于CO、SO2、NO2、O3、VOC等。目前，广泛的监测网络很大程度上基于光学检测方法，其是非常准确的但也是高成本的，从而使得由于成本约束而难以遍及所有区域（例如，在国家和/或地区级别）针对若干实体进一步继续广泛大量地使用这种气体传感器。
可替换的实现方式利用以较低成本在较低准确度下运转的成本不太高的气体传感器。例如，一些实体已经开始部署空气污染监测微站，其利用PPB水平电化学气体传感器作为污染监测方法，取代高成本光学监测方法。然而，这种微站的低准确度使从微站读取的测量值的校正成为必要。这种校正的传统实现方式（例如，利用国家光学站和微站读数的拟合函数以校正该微站）要求高技术阈值，且由于对国家网络和用户的数据处理算法的依赖性而不适于小型仪器，诸如充当微站的独立仪器。这种示例正确方法体系在2019年7月23日提交的名称为“大气污染监测系统的数据校准方法和大气污染监测系统”的中国专利号CN110514626A中描述，该中国专利的内容以其全文通过引用并入本文。
这种样本收集器（诸如，PPB水平气体传感器）进一步易受对这种传感器的检测准确度造成影响的因素影响。例如，随传感器所经历的周围温度和湿度的改变而来的灵敏度和基线的改变以及由于样本收集器的使用和/或老化而引起的基线漂移。在这点上，由基线漂移导致的读数误差可能常常是显著的，即使在执行灵敏度补偿和/或基线校准的情形中亦如此。这种读数误差在更高分辨率传感器（诸如，PPB水平气体传感器）被用在这种样本收集器中的情形中达到不能接受的水平。
本公开实施例提供了动态迭代基线调整。在这点上，动态迭代基线调整更新装置（诸如，样本收集器和/或关联的传感器）所利用的基线值的值。在一些这种实施例中，动态迭代基线调整更新与特定基线因素区间（例如，温度区间、湿度区间、或者影响样本收集器的基线值的其他外部条件）相对应的每个基线值，使得不同基线因素区间处的基线不准确得以改进。该装置和/或关联的传感器可以出于大量目的中的任一个（诸如，以便校正由该装置和/或关联的传感器捕获和/或以其他方式接收到的数据值）而利用更新基线值。在这点上，基线不准确被改进，从而改进了由该装置输出的最终读数的总体准确度。在这点上，与尝试基线校正的传统传感器和/或实现方式相比，本文描述的实施例有利地提供了各种操作条件处的改进准确度。附加地，本文描述的实施例提供了这种优势，而无需增加用户的技术知识和/或实现要求。
定义
在一些实施例中，上面的操作中的一些可以被修改或进一步放大。此外，在一些实施例中，可以包括附加可选操作。对上面的操作的修改、放大或添加可以以任何次序以及以任何组合执行。
受益于在以上描述和关联的附图中呈现的教导的本公开所属领域技术人员将想到本文阐述的本公开的许多修改和其他实施例。因此，应当理解，实施例不限于所公开的具体实施例，并且修改和其他实施例意在被包括在所附权利要求的范围内。此外，尽管以上描述和关联的附图在元件和/或功能的某些示例组合的上下文中描述了示例实施例，但应当领会，在不脱离所附权利要求的范围的情况下，元件和/或功能的不同组合可以由可替换实施例提供。在这点上，例如，如可在一些所附权利要求中阐述的那样，还想到元件和/或功能的与上面明确描述的那些组合不同的组合。尽管本文采用了具体术语，但它们仅在通用和描述性的意义上使用，而不用于限制目的。
术语“样本收集器”指代以硬件、软件、固件和/或其组合体现的下述任何计算设备：其从样本环境收集样本并处理该样本，以执行一个或多个确定。在至少一个示例上下文中，样本收集器由被配置用于确定来自所捕获的气体样本的污染物浓度的电化学气体传感器体现。在至少一个其他示例上下文中，样本收集器由包括用于测量样本内的浓度的化学传感器的另一系统体现。在又至少一个其他示例上下文中，样本收集器由其准确度受随时间的用户使用率影响的另一传感器系统体现。在这点上，应当领会，电化学气体传感器是样本收集器的仅一个非限制性示例。
术语“测量值”指代由传感器测量的感测和/或校正数据值。在一些实施例中，测量值包括所捕获的样本内的粒子的浓度的PPB水平测量结果。例如，在至少一个示例上下文中，测量值表示所捕获的空气样本中的微粒、化合物等的PPB水平浓度。术语“测量值集合”和“测量值的集合”指代包括0个或更多个测量值的一个或多个数据对象。在一些实施例中，不同测量值每一个由不同传感器测量。
术语“低点测量值”指代表示落在对应基线值以下的数值的测量值。术语“低点测量值集合”和“低点测量值的集合”指代包括0个或更多个低点测量值的一个或多个数据对象。
术语“基线更新阈值”指代触发一个或多个基线值的更新的测量值的阈值数目或比例。例如，在一些实施例中，基线更新阈值表示百分比阈值，其中在测量值集合中的低点测量值的比例超过基线更新阈值的情形中，发起用于更新一个或多个基线值的过程。在一些其他实施例中，基线更新阈值表示数目值，其中在测量值集合中的低点测量值的计数超过基线更新阈值的情形中，发起用于更新一个或多个基线值的过程。
术语“基线值”指代当在传感器上不存在负载时的传感器输出。在一些实施例中，基线值由传感器所驱动的当前值表示。术语“基线值集合”和“基线值的集合”指代包括0个或更多个基线值的一个或多个数据对象。在一些实施例中，基线值集合中的每个基线值与温度区间集合中的不同温度区间相关联。
术语“校正基线算法”指代用于调整基线值的一个或多个操作。在一些实施例中，校正基线算法包括用于调整基线值以满足期望值的一个或多个操作。在一些实施例中，例如，校正基线算法包括用于确保温度区间集合的基线值满足一个或多个期望属性（例如，是单调的）的一个或多个操作。
术语“传感器下限”指代传感器可测量的最小值。在一些实施例中，例如，传感器下限指代单个所捕获的样本中特定传感器可测量的最小PPB值。
术语“温度范围”指代特定传感器被配置用于在其内操作或者以其他方式被确定为足够准确和/或以其他方式被批准用于操作的所定义的温度下限和温度上限。
术语“温度区间大小”指代表示收集测量值的每个温度区间的大小的数值。在一些实施例中，温度范围被分段成每一个具有由温度区间大小定义的大小的温度区间的集合。在示例上下文中，例如，利用5摄氏度的温度区间大小以将温度范围划分成温度区间集合（例如，对于-10C至10C的范围，温度区间包括（-10C至-5C、-5C至0C、0C至5C和5C至10C））。应当领会，实施例可以利用任何温度区间大小，且针对大量温度范围中的任一个而配置。
术语“出厂默认基线”指代与传感器的默认配置相关联的基线值。术语“出厂默认基线集合”和“出厂默认基线的集合”指代包括针对任何数目的温度区间而提供的0个或更多个出厂默认基线的一个或多个数据对象。在至少一个示例上下文中，出厂默认基线表示在传感器开始操作且尚未受任何基线改变影响时的初始基线值。
术语“操作条件”指代与影响样本收集器的一个或多个基线值和/或与所收集的样本相关联的测量值的特定样本收集器相关联的环境条件的一个或多个值的集合。在一些这种实施例中，一个或多个操作条件是可使用具体地被配置成测量对应操作条件的关联设备或组件来测量的。操作条件的非限制性示例包括操作温度、湿度等或其任何组合。
术语“基线因素区间”指代用于将多个测量值分区成一个或多个组和/或子集以用于处理的一个或多个操作条件的单个温度值或值范围。在一些实施例中，基线因素区间与用于调整与落在关联基线因素区间内的操作条件相关联的后续测量原始值的特定基线值相关联。基线因素区间的非限制性示例包括温度区间、湿度区间等或其任何组合。在基线因素区间包括温度区间的示例上下文中，例如在测量值与特定操作温度相关联的情形中，基于操作温度和与关联于测量值的温度区间相对应的基线值，将测量值分组到特定温度区间。
术语“温度区间”指代单个温度值或者温度值之间的范围。在一些实施例中，至少一个温度区间由与特定基线值相关联的装置（诸如，样本收集器或者样本收集器的传感器和/或关联处理电路）维持。在这点上，在该装置的操作期间，所捕获的样本可确定为与落在由装置维持的特定温度区间内的特定操作温度相关联。术语“温度区间集合”和“温度区间的集合”指代由一个或多个装置、设备、传感器和/或关联处理电路或系统维持的包括0个或更多个温度区间的一个或多个数据对象。
术语“邻近基线因素区间”指代特定下一可确定基线因素区间，其具有作为基线因素区间集合中的下一较高基线因素区间或下一较低基线因素区间的设置值。在一些实施例中，例如，对于特定基线因素区间，邻近基线因素区间是紧接地高于该特定基线因素区间的基线因素区间或者紧接地低于该特定基线因素的基线因素区间。在一个或多个基线值被内插的一些其他实施例中，邻近基线因素区间是已被设置成出厂默认基线值或已经经由内插而设置的下一较高或较低基线因素区间。在一个或多个实施例中，邻近基线因素区间是高于或低于温度区间集合中的另一温度区间的特定可确定和/或预设温度区间。在一个示例上下文中，温度区间0C-5C与邻近较高温度区间5C-10C相关联，且与邻近较低温度区间-5C-0C相关联。
术语“异常测量值”指代被确定为巨大的测量值，或者在其他情况下指代测量值集合中的最高或最低测量值。在一些实施例中，可基于超过最大阈值或落在最小期望阈值以下确定异常测量值。在一些这种实施例中，异常测量值落在最小传感器界限以下。应当领会，在一个或多个示例实施例中，利用本领域中已知的统计离群值检测算法以识别测量值集合中的异常测量值。
术语“平均低点测量值”指代通过对与特定基线因素区间相关联的一个或多个低点测量值求平均而确定的值。在一些实施例中，平均低点测量值是通过下述操作来确定的：对与特定基线因素区间相关联的一些或所有低点测量值进行求和；以及随后将该和除以在生成该和时利用的测量值的总数。
术语“原始数据值”指代由传感器在操作期间输出的数据值。术语“当前操作基线因素区间”指代与传感器的操作相关联的当前温度落在其内的温度区间。在一个示例上下文中，当前温度4C落在温度区间0-5C内，使得当前操作温度区间是0-5C。
术语“校正数据值”指代被调整以改进数据值的准确度的数据值。在一些实施例中，校正数据值指代由基于与当前操作基线因素区间相对应的基线值而调整的一个或多个传感器确定的原始数据值，该当前操作基线因素区间是基于操作条件的当前测量和/或以其他方式确定的值来确定和/或以其他方式可识别的。
本公开的示例操作系统
图1图示了根据本公开至少一些实施例的本公开实施例可在其中操作的示例系统。如所图示的那样，环境包括样本收集器102。样本收集器102位于样本环境108内。在这点上，样本收集器102可以收集来自样本环境108的样本，例如样本106。可选地，在一个或多个实施例中，样本收集器102可在网络上与一个或多个外部设备通信。在其他实施例中，样本收集器102可在一个或多个网络上与一个或多个外部样本收集器通信。
在一些实施例中，样本收集器102由一个或多个机电和/或电化学测量设备体现，和/或包括一个或多个机电和/或电化学测量设备。在至少一个示例上下文中，样本收集器102包括能够测量来自所捕获的样本的气体浓度和/或微粒的PPB水平气体传感器。例如，样本收集器102可以被用在大量大气环境监测操作、恶臭监测、毒气监测等中的任一个中。这种操作可以由特定区域、环境等中的专用和/或公用实体控制。例如，在一些实施例中，样本收集器102是测量所捕获的样本内的污染物浓度（诸如，CO、SO2、NO2、O3、VOC等的水平）的气体监测系统。在一些示例实施例中，样本收集器102包括微站，其利用PPB水平气体传感器以确定所捕获的空气样本中的这种污染物的准确读数。如所图示的那样，例如在一些实施例中，样本收集器102收集和/或以其他方式接收样本106，然后，样本106由样本收集器102分析以用于大量确定中的任一个，诸如样本106内的致污物浓度。应当领会，在一些实施例中，样本收集器102利用已知样本收集器组件（例如，以硬件、软件、固件和/或其组合体现）和/或已知样本处理组件，例如已知电化学气体传感器实现方式，其在一些实现方式中如本文描述的那样进一步特殊配置。
在一些实施例中，可选地，样本收集器102可与中央服务器104通信。在一些这种实施例中，样本收集器102与中央服务器104通信，以获取由中央服务器104收集和/或聚集的测量值。例如在一些上下文中，中央服务器104包括遍及一个或多个环境监测一个或多个收集器设备的公用数据库（例如，由可信公用或专用实体控制）。在这点上，在一些实施例中，样本收集器102获取表示已在一个或多个环境中测量的历史可信样本值的测量值。例如，样本收集器102可以与中央服务器104通信，以获得先前由与样本环境108相关联的中央服务器104捕获和/或接收到的测量值。
样本收集器102可以在配置期间的一个或多个具体时间点处和/或在任何时间处与中央服务器104通信。附加地或可替换地，在一些实施例中，样本收集器102与中央服务器104通信，以自动地或在用户请求时获得至少样本环境108的测量值集合。例如，样本收集器102可以在样本收集器102的初始配置期间与中央服务器104通信。在这点上，样本收集器102与中央服务器104通信，在一些实施例中，当样本收集器102被插入到用户设备（诸如个人台式计算机、膝上型计算机等）中和/或以其他方式与该用户设备通信耦合、和/或直接被插入到中央服务器自身中或以其他方式与中央服务器自身通信耦合时。在其他实施例中，样本收集器102包括实现样本收集器102与至少中央服务器104之间的通信的以硬件、软件、固件等体现的联网电路。在这点上，在一些实施例中，样本收集器102被配置成在有线或无线通信网络上与中央服务器104通信。
本公开的示例装置
在一些实施例中，样本收集器102由一个或多个计算系统（诸如，图2中所示的装置200）体现。在一些实施例中，例如如所图示的那样，装置200包括处理器202、存储器204、输入/输出模块206、通信模块208、样本收集模块210和样本基线调整模块212。在这点上，装置200是使用执行本文描述的操作的一个或多个模块来配置的。
尽管关于功能限制描述了组件，但应当理解，特定实现方式必然包括特定的特殊配置的硬件的使用。还应当理解，本文描述的那些组件中的某些组件可以包括类似或公共的硬件。例如，在一些实施例中，两个模块均利用相同处理器、网络接口、储存介质等，以执行它们关联的功能，使得不是针对每个模块都要求复制的硬件。因此，如本文关于装置200的组件使用的术语“模块”和/或术语“电路”的使用应当被理解成包括被配置成执行与如本文描述的特定模块相关联的功能的特定硬件。
附加地或可替换地，术语“模块”和“电路”应当被宽泛地理解成包括硬件，且在一些实施例中包括对硬件进行配置的软件和/或固件。例如，在一些实施例中，“模块”和/或“电路”包括处理电路、储存介质、网络接口、输入/输出设备等。在一些实施例中，装置200的其他元件提供或补充特定模块的功能。例如，在一些实施例中，处理器202提供处理功能，存储器204提供储存功能，通信模块208将网络接口功能等提供给装置200的其他模块中的一个或多个。
在一些实施例中，处理器202（和/或帮助处理器或以其他方式与处理器相关联的协处理器或任何其他处理电路）可以经由用于在装置200的组件之间传递信息的总线与存储器204通信。在一些实施例中，采取204是非瞬变的，且包括例如一个或多个易失性和/或非易失性存储器。换言之，例如，存储器204由电子储存设备（例如，计算机可读储存介质）体现。附加地或可替换地，在一些实施例中，存储器204被配置成存储用于使装置200能够实施根据本公开示例实施例的各种功能的信息、数据、内容、应用、指令等。在一些实施例中，存储器204至少存储测量值集合（例如，直接或间接从中央服务器获得的测量值的历史记录）以及与测量值集合中的每个测量值相对应的一个或多个操作条件值和/或关联的基线因素区间，使得所存储的数据是可获取的以用于在本文描述的处理操作中的一个或多个中使用。
处理器202可以以大量方式中的任一个体现，且在一些实施例中例如包括被配置成独立执行的一个或多个处理设备。附加地或可替换地，在一些实施例中，处理器202包括经由总线串列地配置的一个或多个处理器，以实现指令的独立执行、流水线操作和/或多线程。术语“处理器”、“处理模块”和“处理电路”的使用应当被理解成包括单核处理器、多核处理器、装置200内部的多个处理器和/或远程或“云”处理器。
在至少一个示例实施例中，处理器202被配置成执行存储器204和/或对处理器202来说以其他方式可访问的另一存储器中存储的计算机编码指令。可替换地或附加地，在一些实施例中，处理器202被配置成执行硬编码功能。由此，不论是由硬件还是软件部件配置还是由其组合配置，处理器202都表示能够在被相应地配置时执行根据本公开实施例的操作的实体（例如，以电路物理地体现）。可替换地或附加地，在另一示例中，在处理器202被体现为软件指令的执行者的情形中，当经由装置200执行指令时，指令将处理器202具体配置成执行本文描述的算法和/或操作。
在至少一个示例上下文中，处理器202被配置成实现从装置200捕获样本，例如经由装置200的一个或多个样本摄入组件。这种样本摄入组件可以包括本领域中的大量已知摄入组件中的任一个。附加地或可替换地，在一些实施例中，处理器202被配置成处理所捕获的样本，诸如以便确定所捕获的样本内的污染物、微粒等的浓度。在一些实施例中，处理器202被配置成将一个或多个子设备用于从环境捕获样本和/或处理该样本，诸如通过激活气体传感器、图像传感器等和/或接收和处理来自这种传感器的输出。
附加地或可替换地，在一些实施例中，处理器202被配置成执行动态迭代基线调整算法，例如以便更新一个或多个基线值以用于在处理传感器输出时使用。在一些这种实施例中，处理器202被配置成获取一个或多个测量变量，从而确定测量变量是否包括具有超过特定基线更新阈值的测量值的数目和/或比例的低点测量值集合，确定更新基线值，并将基线值集合更新到基线因素区间集合中的每个基线因素区间的更新基线值。附加地或可替换地，在一些实施例中，处理器202被配置成执行校正基线算法以调整更新基线值集合。仍附加地或可替换地，在一些实施例中，处理器202被配置成利用更新基线值，以校正一个或多个测量数据值并生成表示来自传感器输出的校正传感器值的校正数据值。
在一些实施例中，装置200包括输入/输出模块206，其单独地或结合处理器202将输出提供给用户，和/或在一些实施例中接收用户输入的指示。在一些实施例中，输入/输出模块206包括预配置和/或动态用户界面，和/或包括用户界面被呈送到的显示器。在一些实施例中，输入/输出模块206包括特殊配置的输入/输出应用、web用户界面、移动应用、桌面应用、可与装置200通信以用于输入和/或输出到用户设备的链接或联网客户端设备等。在一些实施例中，输入/输出模块206附加地或可替换地包括键盘、鼠标、操纵杆、触摸屏、触摸区域、软键、麦克风、扬声器或其他输入/输出机构。在一些实施例中，输入/输出模块206单独地和/或结合处理器202被配置成通过对处理器来说可访问的存储器（例如存储器204等）上存储的计算机程序指令（例如，软件和/或固件）来控制一个或多个用户界面元件的一个或多个功能。在其他实施例中，输入/输出模块206被配置成使得在执行时将被特殊配置成由装置200输出的预定硬编码和/或专用用户界面呈送到显示器。
通信模块208可以以被配置成从网络和/或与装置200通信的任何其他设备、电路或模块接收数据和/或将数据发射到网络和/或与装置200通信的任何其他设备、电路或模块的任何部件体现，该部件诸如是以硬件、软件、固件和/或其任何组合体现的设备或电路。在这点上，在一些实施例中，通信模块208至少包括例如用于实现与有线或无线通信网络的通信的网络接口。例如，在一些实施例中，通信模块208包括一个或多个网络接口卡、天线、总线、交换机、路由器、调制解调器、以及支持硬件和/或软件、或者适于实现经由网络的通信的任何其他设备。附加地或可替换地，在一些实施例中，通信模块208包括用于与天线和/或其他信号发射机、接收机和/或收发器交互以使得经由这种组件传输信号或处理经由这种组件接收到的信号的接收的电路。
在一些实施例中，样本收集模块210包括用于支持与样本收集和处理相关联的功能的硬件、软件、固件和/或其组合。在一些这种实施例中，样本收集模块210包括用于实现样本到装置200中的摄入的一个或多个硬件组件。例如，在一些实施例中，样本收集模块210包括摄入喷嘴、一个或多个风扇、空气电动机和/或其他组件等，其使得能够从与这种组件相关联的环境捕获样本。附加地或可替换地，在一些实施例中，样本收集模块210包括捕获样本和/或实现样本的处理的一个或多个组件。例如，在一些实施例中，样本收集模块210包括气体传感器、图像传感器、和/或被配置成捕获与在样本收集模块210内的介质（例如，捕获所捕获的空气样本内的污染物的膜、粘合剂等）中捕获的样本相关联的数据的其他处理电路。在一些这种实施例中，样本收集模块210包括足以实现从环境捕获样本和随后处理所述样本的硬件、软件和/或固件。应当领会，在一些实施例中，样本收集模块210可以包括分离的处理器、特殊配置的现场可编程门阵列（FPGA）或者特殊配置的专用集成电路（ASIC）。
在一些实施例中，基线调整模块212包括用于支持与动态迭代基线调整相关联的功能的硬件、软件、固件和/或其组合。在一些这种实施例中，基线调整模块212包括下述硬件、软件、固件和/或其组合：其确定测量值集合包括超过基线更新阈值的低点测量值的数目，诸如在测量值集合中的每个测量值与基线因素区间集合中的特定基线因素区间相关联的情况下，以及在基线因素区间集合中的每个基线因素区间与基线值集合中的基线值相关联的情况下，以及在测量值集合包括低点测量值子集、该低点测量值子集包括低于与测量值相对应的基线因素区间的基线值的每个测量值的情况下。附加地，在一些实施例中，基线调整模块212包括下述硬件、软件、固件和/或其组合：其确定包括基线因素区间集合中的每个基线因素区间的更新基线值的更新基线值集合，并通过针对基线因素区间集合中的每个基线因素区间将与温度区间相关联的基线值集合中的基线值更新到与基线因素区间相关联的更新基线值，来将基线值集合更新到更新基线值集合。附加地或可替换地，可选地在一些实施例中，基线调整模块212包括下述硬件、软件、固件和/或其组合：其对更新基线值集合执行校正基线算法，测量与当前操作基线因素区间相关联的原始数据值，和/或基于（1）原始数据值和（2）与当前操作基线因素区间相关联的更新基线值来生成校正数据值。仍附加地或可替换地，可选地在一些实施例中，基线调整模块212包括下述硬件、软件、固件和/或其组合：其基于测量值集合来确定落在传感器下限以下的测量值的数目和/或比例，和/或基于落在传感器下限以下的测量值的数目和/或比例来设置基线更新阈值。仍附加地或可替换地，可选地在一些实施例中，基线调整模块212包括下述硬件、软件、固件和/或其组合：其基于预定的和/或所确定的基线因素区间大小，将基线因素值的范围分段成基线因素区间集合。例如，在一个或多个实施例中，基线调整模块212包括下述硬件、软件、固件和/或其组合：其基于温度区间大小且针对温度区间集合中的至少一个温度区间，将温度范围分段成温度区间集合。附加地或可替换地，在一些实施例中，基线调整模块212包括下述硬件、软件、固件和/或其组合：其将出厂默认基线指派为基线因素区间集合中的一个或多个基线因素区间的基线值，基于第一基线因素区间的第一基线值与第二基线因素区间的第二基线值之间的线性内插来指派基线值，其中第一基线因素区间是邻近较低基线因素区间，并且第二基线因素区间是邻近较高基线因素区间。在一些实施例中，基线调整模块212结合装置200的一个或多个组件（例如，处理器202、存储器204、输入/输出模块206、通信模块208和/或样本收集模块210）执行这种操作中的一个或多个。应当领会，在一些实施例中，基线调整模块212可以包括分离的处理器，特殊配置的FPGA或者特殊配置的ASIC。
在一个或多个示例实施例中，装置200由被特殊配置用于执行如本文描述的动态迭代基线调整的现有传感器系统体现。例如，在一些这种实施例中，装置200被特殊配置成使得与样本处理传感器（例如，电化学传感器）相关联的处理电路（例如，处理器202）和/或样本处理器传感器自身被配置成自动地以预定间隔和/或在具体输入时执行本文描述的动态迭代基线调整。在这点上，一些这种实施例由用于执行本文描述的操作的专门软件指令特殊配置的现有硬件体现。
在一些实施例中，将上述组件中的一个或多个进行组合以形成单个模块。例如，在一些实施例中，样本收集模块210和基线调整模块212被组合成单个模块。附加地或可替换地，将基线调整模块212和/或样本收集模块210与处理器202进行组合。经组合的模块可以被配置成执行上面关于各个模块描述的功能中的一些或全部。附加地或可替换地，在一些实施例中，上面描述的模块中的一个或多个可以被配置成执行关于其他模块中的一个或多个描述的动作中的一个或多个。
本公开的示例过程
在已经描述了用于发起具体过程的示例装置和接口的情况下，现在将讨论包括由上面描述的系统的装置、设备和/或子系统执行的各种操作的示例流程图。应当领会，流程图中的每一个描绘了可由上面描述的装置、系统或设备中的一个或多个执行的示例计算机实现过程。关于下面的流程图，在一些或所有实施例中，所描绘的操作框中的一个或多个可以是可选的。利用虚线（短划线）描绘可选操作框。
应当领会，本文关于图3-9描绘和描述的特定操作图示了特定过程的具体操作或步骤。进一步地，在这点上，过程可由系统、装置、设备等的计算机硬件、软件、固件和/或其组合实现为计算机实现方法。在其他实施例中，各种框表示能够由装置、设备、系统等执行的操作。例如，计算机编码指令可以被特殊编程用于执行所描绘且被存储以供装置执行（例如，被存储在装置的一个或多个存储器设备中以供装置的一个或多个处理器执行）的各种操作。在其他实施例中，提供了能够执行由各种框描绘的操作的计算机程序产品。例如，在一些实施例中，计算机程序产品包括具有计算机程序代码存储于其上的一个或多个非瞬变存储器设备和/或其他计算机可读储存介质，该计算机程序代码在利用处理器、装置等执行时被配置用于执行过程中描绘的操作。
图3图示了根据本公开至少一个实施例的用于动态迭代基线调整的示例过程。所图示的示例过程300可以由本文描述的设备中的任一个执行。例如，在一个或多个实施例中，所描绘的过程由装置200所体现的样本收集器102执行。
如所图示的那样，过程300在操作302处开始。在操作302处，装置200包括用于确定是否已经达到测量值的历史记录的结尾的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，装置200被配置成维持、识别和/或以其他方式获取测量值的历史记录（例如，测量值集合）。测量值的历史集合可以表示先前测量（诸如，由中央可信系统和/或与之相关联的设备）的样本的值。在这点上，在至少一个上下文中，测量值的历史记录表示用于在调整由装置200维持的基线值时使用的可信测量值。在这点上，在一些实施例中，装置200获取测量值的历史记录集合，并通过前进到操作304来迭代经过每个历史测量值，直到测量值的所有历史记录已经被处理为止。
在未达到历史记录的结尾的情形中，历史记录包括要处理的后续测量值，并且流程继续到操作304。在操作304处，装置200包括用于将测量值与当前基线值进行比较的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，测量值的每个记录包括和/或以其他方式关联于与在其内测量了样本的操作条件相关联的一个或多个特定基线因素区间。在一些这种实施例中，装置200识别与测量值的记录相关联的基线因素区间，并利用基线因素区间以识别适当的对应基线值以用于比较。例如，在一些实施例中，装置200维持与基线因素区间集合相关联的当前基线值集合，使得装置200可以从当前基线值集合识别与特定历史记录的适当基线因素区间相对应的当前基线值。在一些这种实施例中，装置200将测量值与当前基线值进行比较，以确定测量值是否表示当前基线值以下的值，或者测量值是否表示等于或大于当前基线值的值。
在操作306处，装置200包括用于确定测量值是否低于当前基线值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。如所图示的那样，在测量值被确定为不低于关联的当前基线值的情形中，流程返回到操作302。在这点上，装置200开始处理历史记录的下一测量值，如果存在的话。否则，在测量值确定测量值低于关联的当前基线值的情形中，流程前进到操作308。
在操作308处，装置200包括用于将低于当前基线值的测量值记入日志的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些实施例中，装置200维持表示低于其对应当前基线值的测量值的数目的计数器或其他数据值。在一些这种实施例中，装置200在操作308处递增计数器。在其他实施例中，装置200将表示测量数据值的记录标记为低于当前基线值，使得装置200可以在处理历史日志中的所有测量值时基于所标记的记录的数目来确定被确定为低于其关联当前基线值的测量值的总数。在完成操作308时，流程返回到操作302以用于处理测量值的下一记录，如果存在的话。
在操作302处，在装置200确定达到历史记录的测量值的结尾（例如，已经根据操作302-308处理测量值集合中的所有测量值）的情形中，流程前进到操作310。在操作310处，装置200包括用于确定是否超过基线更新阈值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。例如，在一些实施例中，装置200确定测量值集合中的低点测量值（例如，低于其对应基线值的测量值）的比例是否超过基线更新阈值，诸如在基线更新阈值表示比例阈值的情况下。在其他实施例中，装置200确定低点测量值（例如，低于关联当前基线值的测量值）的计数是否超过基线更新阈值，诸如在基线更新阈值表示数值计数阈值的情况下。在这点上，基线更新阈值可以表示在发起一个或多个基线值的调整之前从测量值集合确定的低点测量值的数目或比例。例如，在一些实施例中，维持低于该测量值的关联基线值的测量值的计数，并且低点测量值的计数或比例被确定为超过基线更新阈值，装置发起动态迭代基线值更新过程的一个或多个操作，以将基线值集合中的每个基线值从当前值更新到更新基线值，如本文描述的那样。基线更新阈值是以本文描述的大量方式中的任一个设置的。
在基线更新阈值未被低于基线因素区间的关联当前基线值的测量值的计数或比例超过、未超过基线更新阈值的情形中，流程结束。在一些这种情形中，装置200确定不需要基线更新，使得装置200继续利用当前基线值。在一些实施例中，在结束流程时，装置200等待预定长度的时间，等待直到预定事件发生，和/或以其他方式发起用于动态迭代基线更新的后续过程，例如经由本文描述的过程。例如，在一些实施例中，装置200每月、每双周、每周或者以另一预定时间间隔发起过程。应当领会，装置200可以用于捕获和/或处理一个或多个样本，同时等待用于动态迭代基线调整的下一过程开始。
在基线更新阈值未被低于测量值的关联当前基线值的测量值的计数或比例超过的情形中，流程前进到操作312。在操作312处，装置200包括用于确定是否已经达到基线因素区间序列的结尾的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在这点上，由装置200获取、识别和/或以其他方式维持的测量值集合与基线因素区间集合相关联，使得装置200进一步维持和/或以其他方式存储与基线因素区间集合中的每个基线因素区间相关联的基线值。在一些实施例中，装置200迭代经过基线因素区间集合中的每个基线因素区间，以更新与每个基线因素区间相关联的当前基线值。在这点上，在装置200确定尚未达到基线因素区间序列结尾的情形中，流程继续到操作314以用于处理基线因素区间序列中的下一基线因素区间。
在操作314处，装置200包括用于执行针对下一基线因素区间的基线处理和更新的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在这点上，在一些实施例中，装置200识别测量值集合中的与下一基线因素区间相关联的测量值，使得可以出于更新与基线因素区间相关联的基线值的目的而处理所识别的与特定基线因素区间相关联的测量值。在一些实施例中，装置200处理与特定基线因素区间相关联的低点测量值，以确定新的更新基线值。在各种实施例中，装置200利用用于基于与特定基线因素区间相关联的低点测量值中的一些或全部来确定更新基线值的一个或多个算法。在至少一个示例实施例中，装置200确定来自与基线因素区间相关联的一个或多个低点测量值的平均测量值，以用于设置为与基线因素区间相关联的更新基线值。应当领会，在一些这种实施例中，装置200针对基线因素区间集合中的每个基线因素区间重复这种处理。
在操作316处，装置200包括用于调整基线值集合的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，装置200对更新基线值集合执行校正基线算法。在这点上，在一些这种实施例中，对更新基线值集合进行校正以满足期望值、特性（例如，由期望物理特性或者更新基线值集合的值之间的关系定义）等。在一些这种实施例中，经调整的更新基线值的集合被用作新的更新基线值集合以用于使用。在一些实施例中，装置200存储经调整的更新基线值集合以用于进一步利用，如本文描述的那样。
在一些实施例中，在完成操作316时再次发起过程300。在一些这种实施例中，装置200继续执行过程300，直到确定操作310未被满足（例如，未超过基线更新阈值）。在一些这种实施例中，迭代地更新基线值集合，直到由基线值集合表示的当前基线值足以由装置200利用。在一些这种实施例中，执行动态基线调整的迭代方式防止过多调整基线值，且类似地防止过低调整基线值。在这点上，所描述的用于动态迭代基线调整的过程表示相比于用于调整基线值的传统过程改进的方法体系。
图4图示了根据本公开至少一个实施例的用于动态迭代基线调整的示例过程。所图示的示例过程400可以由本文描述的设备中的任一个执行。例如，在一个或多个实施例中，过程300由装置200所体现的样本收集器102执行。
过程400在操作402处开始。在操作402处，装置200包括用于确定测量值集合包括超过基线更新阈值的低点测量值的数目的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，基线更新阈值是以大量方式中的任一个设置的。例如，在一些实施例中，基线更新阈值是经由本文描述的过程设置的，例如，如关于图5描述的那样。在其他实施例中，基线更新阈值是基于用户输入值来设置的。在又其他实施例中，基线更新阈值是利用用于处理一个或多个测量值的大量算法中的任一个从所述一个或多个测量值导出的。
在一些实施例中，装置200识别和/或以其他方式获取由装置200存储的测量值集合，其中每个测量值包括和/或以其他方式关联于特定基线因素区间，使得基线因素区间集合中的每个基线因素区间定义测量值子集。在一些这种实施例中，装置200确定基线因素区间集合中的每个基线因素区间的低点测量值子集和/或基线因素区间集合中的每个基线因素区间的低点测量值的数目。例如，在一些实施例中，装置200将关联于特定基线因素区间的每个测量值与关联于特定基线因素区间的基线值进行比较，其中在测量值的值低于对应基线值的情形中，测量值被识别为低点测量值。在这点上，在一些这种实施例中，装置200针对基线因素区间集合中的每个基线因素区间重复这种处理，以识别基线因素区间集合中的所有基线因素区间的低点测量值子集。装置200可以基于低点测量值子集来识别低点测量值的数目和/或比例超过基线更新阈值。
在操作404处，装置200包括用于确定包括基线因素区间集合中的每个基线因素区间的更新基线值的更新基线值集合的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，更新基线值集合包括与测量值集合中的测量值相对应的每个基线因素区间的更新基线值。在一个或多个示例实施例中，任何基线因素区间的更新基线值是基于测量值集合的子集（诸如，与该基线因素区间相关联的一个或多个测量值）来确定的。在一些这种实施例中，装置200识别包括与特定基线因素区间相关联的每个低点测量值的测量值子集，并处理与特定基线因素区间相关联的低点测量值，以确定该特定基线因素区间的对应更新基线值。例如，在至少一个示例实施例中，装置200基于所识别的与特定基线因素区间相关联的测量值子集来执行至少一个算法，以确定该特定基线因素区间的更新基线值，如本文描述的那样。在一些这种实施例中，装置200以该方式确定基线因素区间集合中的每个基线因素区间的更新基线值。
在操作406处，装置200包括用于通过针对基线因素区间集合中的每个基线因素区间将与基线因素区间相关联的基线值集合中的基线值更新到与基线因素区间相关联的更新基线值集合中的更新基线值来将基线值集合更新到更新基线值集合的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在这点上，装置200将与特定基线因素区间相关联的由装置200存储和/或以其他方式维持的当前基线值更新到由与该特定基线因素区间相关联的更新基线值表示的值，并针对基线因素区间集合中的每个基线因素区间这样做。在一些实施例中，例如，装置200维持基线因素-基线表，该基线因素-基线表将基线因素区间集合中的每个基线因素区间映射到表示基线值的特定当前值。在一些这种实施例中，装置200将每个基线因素值的当前基线值更新到更新基线集合的对应更新基线值。在这点上，所存储的基线因素-基线表表示更新基线值集合的更新值，以供装置200随后获取和/或使用。在其他实施例中，由装置200维持表示更新基线值集合的一个或多个数据对象，以供装置200随后获取和/或使用。
在可选操作408处，装置200包括用于对更新基线值集合执行校正基线算法的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，校正基线算法调整更新基线值中的一个或多个的值。在一些这种实施例中，对更新基线值中的一个或多个进行更新，使得更新基线值和/或更新基线值集合满足一个或多个期望特性、关系等。例如，在一些实施例中，校正基线算法确保更新基线值集合维持期望的单调关系。应当领会，在一些实施例中，装置200被配置成针对任何数目的期望关系、特性等执行一个或多个校正基线算法。在一些实施例中，装置200利用由装置200存储和/或以其他方式维持的所存储的基线因素-基线表来对更新基线值集合执行校正基线算法。在至少一个示例上下文中，校正基线算法具体被配置成确保更新基线值集合满足至少一个自然规律，例如电化学的基本定律。
应当领会，更新基线值集合可以用于大量操作中的任一个。在可选操作410处，装置200包括用于测量与当前操作基线因素区间相关联的原始数据值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些实施例中，装置200包括一个或多个气体传感器、摄入组件等，以实现样本的摄入和/或样本的处理以确定原始数据值。在一些这种实施例中，原始数据值表示从样本处理的一个或多个特性。例如，在一些上下文中，原始数据值表示所捕获和/或以其他方式接收到的样本内的特定微粒的浓度。附加地或可替换地，在一些实施例中，装置200包括基线因素测量器，其确定原始数据值与之相关联的操作基线因素区间。例如，在一些实施例中，装置200确定在对应操作基线因素区间内在特定操作条件处捕获了与原始数据值相关联的所捕获的样本。在这点上，在一些这种实施例中，装置200确定特定操作基线因素处于由装置200维持的当前操作基线因素区间内。在其他实施例中，装置200接收表示在其处捕获了样本的操作基线因素的数据值，并从所接收到的与所捕获的样本相关联的操作基线因素确定当前操作基线因素区间。可替换地或附加地，在一些实施例中，装置200接收与关联于原始数据值的所捕获的样本相关联的操作基线因素区间。
在可选操作412处，装置200包括用于基于（1） 原始数据值和（2）与当前操作基线因素区间相关联的更新基线值来生成校正数据值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，基于与当前操作基线因素区间相关联的更新基线值来调整原始数据值，使得所生成的校正数据值准确地表示当前操作基线因素区间处的测量值。在这点上，校正数据值表示被调整以计及原始数据值中的不准确（例如，由于基线漂移和/或影响用于测量原始数据值的传感器的其他不准确）的原始数据值。在这点上，校正数据值表示要以相比于原始数据值改进的准确度测量的特性的真实值。
在一些实施例中，装置200被配置成将校正数据值输出到显示器，使得装置200的用户可以查看例如校正数据值。在其他实施例中，装置200在将任何数据输出到显示器之前进一步处理校正数据值。例如，在装置200体现气体传感器的一个示例上下文中，装置200将校正数据值除以对应基线因素区间处的传感器灵敏度，并将结果输出到显示器。在这点上，例如，在一些实施例中，装置200输出校正数据值或从它导出的多个关联数据值中的任一个。
图5图示了根据本公开至少一个实施例的用于动态迭代基线调整的示例过程的示例附加操作。所图示的示例过程500可以由本文描述的设备中的任一个执行。例如，在一个或多个实施例中，所描绘的过程由装置200所体现的样本收集器102执行。
过程500在操作502处开始。在一些实施例中，在完成过程500时，流程返回到一个或多个其他操作。例如，如所图示的那样，在一些实施例中，在完成操作504时，如本文关于过程400描绘和描述的那样，流程前进到操作402。在其他实施例中，流程可以结束或者前进到本文描述的流程中的一个或多个的另一操作。
在操作502处，装置200包括用于基于测量值集合确定落在传感器下限以下的测量值的数目的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，装置200将每个测量值与传感器下限进行比较，以确定测量值是否落在传感器下限以下。附加地或可替换地，在一些这种实施例中，装置200标记和/或以其他方式标示落在传感器下限以下的测量值，使得落在传感器下限以下的测量值的数目基于所标记的测量值可确定。附加地或可替换地，在一些实施例中，装置200存储和/或以其他方式维持表示落在传感器下限以下的测量值的数目的计数的数据值，并在将测量值集合中的测量值与传感器下限进行比较时递增计数，以确定测量值低于传感器下限。在这点上，在完成针对测量值集合中的所有测量值的迭代时，计数表示落在传感器下限以下的测量值的数目。附加地或可替换地，表示落在传感器下限以下的测量值的数目的计数可使用，以导出这种测量值与特定测量值集合中的测量值的总数相比的比例。
在一些实施例中，传感器下限表示下述值：在该值以下，装置200中的和/或以其他方式与装置200相关联的特定传感器不能运转或者以其他方式被确定为不以足够准确度运转。例如，在一个示例上下文中，装置200包括和/或以其他方式关联于确定特定浓度的气体传感器，并且传感器下限表示气体传感器被配置成识别的最低微粒浓度。在一些这种实施例中，装置200确定来自关联传感器的传感器下限。在其他实施例中，装置200接收（例如，作为用户输入或通过与另一设备的通信）关联传感器的传感器下限，并存储和/或以其他方式维持传感器下限以用于随后获取。
在操作504处，装置200包括用于基于落在传感器下限以下的测量值的数目更新基线更新阈值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，装置200设置基线更新阈值的值，该值等于落在传感器下限以下的测量值的数目。可替换地或附加地，在一些实施例中，装置200设置基线更新阈值的值，该值等于落在传感器下限以下的测量值的数目与测量值的总数的比例（例如，处于传感器界限以下的测量值的比例）。在这点上，在一些这种实施例中，装置200在一个或多个后续确定中利用经更新的基线更新阈值，例如以便确定是否发起如本文描述的用于动态迭代调整的一个或多个过程，诸如在本文描述的过程300的操作310处。
图6图示了根据本公开至少一个实施例的用于动态迭代基线调整（具体用于设置默认基线值）的示例过程的示例附加操作。所图示的示例过程600可以由本文描述的设备中的任一个执行。例如，在一个或多个实施例中，所描绘的过程由装置200所体现的样本收集器102执行。
过程600在可选操作602处开始。在一些实施例中，在完成过程600时，流程返回到一个或多个其他操作。例如，如所图示的那样，在一些实施例中，在完成操作606时，如本文关于过程400描绘和描述的那样，流程前进到操作402。在其他实施例中，流程可以结束或者前进到本文描述的流程中的一个或多个的另一操作。
在可选操作602处，装置200包括用于基于基线因素区间大小将基线因素范围分段成基线因素区间集合的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些实施例中，基线因素区间大小由装置200预定和/或以其他方式维持。在其他实施例中，装置200接收基线因素区间大小，例如在装置200的配置期间自动地从另一设备接收，和/或装置响应于用户输入数据而接收基线因素区间大小。在一些这种实施例中，装置200的用户将基线因素区间大小输入到装置200，以用于在对基线因素范围进行分段时使用。在又其他实施例中，在没有这种分段的情况下，装置200被预配置为包括基线因素区间集合。
在操作604处，装置200包括用于针对基线因素区间集合中的至少一个基线因素区间将出厂默认基线指派为基线因素区间的基线值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，装置200从另一设备接收至少一个基线因素区间的至少一个出厂默认基线，诸如在装置200的配置期间。在其他实施例中，装置200响应于用户输入从装置200的用户和/或与装置200通信耦合的另一设备接收至少一个基线因素区间的至少一个出厂默认基线。附加地或可替换地，在一些实施例中，装置200被预配置成存储和/或以其他方式维持基线因素区间集合中的至少一个基线因素区间的一个或多个出厂默认基线。
在一些实施例中，与基线因素区间集合中的每个基线因素区间相关联的基线值被指派给出厂默认基线。在其他实施例中，基线因素区间中的一个或多个不被设置成出厂默认基线。在可选操作606处，装置200包括用于针对基线因素区间集合中的至少一个基线因素区间基于（1）第一基线因素区间的第一基线值与（2）第二基线因素区间的第二基线值之间的内插指派基线值（例如在第一基线因素区间是邻近较低基线因素区间的情况下以及在第二基线因素区间是邻近较高基线因素区间的情况下）的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，例如，基于邻近较低基线因素区间与邻近较高基线因素区间之间的线性内插来确定一个或多个基线值。在一些实施例中，在后续内插中利用通过内插而确定的基线值，以指派另一基线值。在其他实施例中，利用其他内插算法以指派基线值集合中的一个或多个基线值。在这种实施例中的一个或多个中，装置200在本文描述的一个或多个操作中利用所指派的基线值。
图7图示了根据本公开至少一个实施例的用于动态迭代基线调整（具体用于通过移除异常测量值集合来更改低点测量值子集）的示例过程的示例附加操作。所图示的示例过程700可以由本文描述的设备中的任一个执行。例如，在一个或多个实施例中，所描绘的过程由装置200所体现的样本收集器102执行。
过程700在操作702处开始。在一些实施例中，在完成过程600时，流程返回到一个或多个其他操作。例如，如所图示的那样，在一些实施例中，在完成操作606时，如本文关于过程400描绘和描述的那样，流程前进到操作702。在其他实施例中，流程可以结束或者前进到本文描述的流程中的一个或多个的另一操作。
在操作702处，装置200包括用于从低点测量值子集确定异常测量值集合的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些实施例中，装置200通过确定表示装置200内的和/或与装置200相关联的传感器的操作范围外的测量结果的一个或多个测量值，来确定异常测量值集合。附加地或可替换地，在一些实施例中，装置200通过识别落在与装置200内的和/或与装置200相关联的传感器相关联的传感器下限以下的所有测量值，来确定异常测量值集合。仍附加地或可替换地，在一些实施例中，装置200利用一个或多个异常值检测算法来确定异常测量值集合。例如，在一些实施例中，装置200通过从期望值、界限值等识别处于阈值以上的测量值，来确定异常值集合。
在至少一个实施例中，装置200利用预定比例的最大测量值和最小测量值以确定异常测量值集合中的一个或多个测量值。例如，在一些实施例中，预定比例的最大测量值（例如，测量值集合中的最高测量值）被确定为异常测量值，和/或相同比例或第二预定比例的最小测量值（例如，测量值集合中的最低测量值）被类似地确定为异常测量值。附加地或可替换地，在一些实施例中，将测量值集合中的测量值的可确定和/或预定标准差用于确定测量值集合中的一个或多个异常测量值。例如，在一个或多个实施例中，落在从测量值集合的均值测量值和/或测量值集合的中位数测量值的预定数目的标准差外的测量值被确定为要从考虑中移除的异常测量值。在一个示例上下文中，从测量值集合的均值测量值多于一（1）个标准差和/或从测量值集合的中位数测量值多于一（1）个标准差的测量值被确定为异常测量值。在这点上，在一个或多个示例上下文中，出于生成更新基线值集合的目的而从考虑中移除异常测量值。
在操作704处，装置200包括用于生成经更改的低点测量值子集的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，经更改的低点测量值子集是通过从低点测量值子集移除异常测量值集合来生成的。在这点上，经更改的低点测量值子集移除异常测量值的考虑，该考虑在一些上下文中包括不要针对由装置200执行的一个或多个后续确定而考虑的极值。例如，在一些这种实施例中，经更改的低点测量值子集用于基于基线因素区间的一个或多个低点测量值来确定和/或以其他方式更新一个或多个基线值，例如在本文描述的过程400的操作404处。应当领会，在一些实施例中，“移除”每个异常测量值不在物理上要求从一个或多个数据对象移动和/或删除数据，且在一些实施例中是通过下述操作来完成的：将具有指示测量值的数据标示的每个异常测量值标记为异常测量值，以从进一步考虑中移除它作为低点测量值子集的一部分。
图8图示了根据本公开至少一个实施例的用于动态迭代基线调整（具体用于确定测量值集合包括超过基线更新阈值的低点测量值的数目）的示例过程的示例附加操作。所图示的示例过程800可以由本文描述的设备中的任一个执行。例如，在一些实施例中，所描绘的过程由装置200所体现的样本收集器102执行。
过程800在操作802处开始。在一些实施例中，在完成过程600时，流程返回到一个或多个其他操作。例如，如所图示的那样，在一些实施例中，在完成操作606时，如本文关于过程400描绘和描述的那样，流程前进到操作702。在其他实施例中，流程可以结束或者前进到本文描述的流程中的一个或多个的另一操作。
在操作802处，装置200包括用于确定在基线因素区间集合中是否存在下一基线因素区间的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在这点上，在一些这种实施例中，装置200迭代经过基线因素区间集合中的每个基线因素区间。在一些这种实施例中，装置200针对要处理的下一特定基线因素区间执行一个或多个操作，例如，操作804-814中的一个或多个。在这点上，在装置200确定在基线因素区间集合中存在下一基线因素区间的情形中，流程前进到操作804。在装置200未识别出基线因素区间集合中的下一基线因素区间的情形中，流程结束或者前进到另一过程的操作，诸如，本文描述的过程400的操作404。
在操作804处，装置200包括用于识别与基线因素区间相关联的基线值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，装置200确定与正在处理的特定基线因素区间相关联的基线值的当前值。例如，在一些实施例中，装置200维持和/或以其他方式存储基线因素-基线表，使得装置200通过获取针对该特定基线因素区间的基线因素-基线表中的当前值来识别与基线因素区间相关联的基线值。
在操作806处，装置200包括用于从测量值集合确定与基线因素区间相关联的测量值子集的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些实施例中，存储测量值集合中的与关联于与测量值相对应的样本的特定基线因素区间相关联的每个测量值。在一些这种实施例中，装置200查询和/或以其他方式搜索与正在处理的特定基线因素区间相关联的测量值的测量值集合。在这点上，装置200可以确定与正在处理的特定基线因素区间相关联的任何数目的测量值。
在操作808处，装置200包括用于确定在与正在处理的基线因素区间相关联的测量值子集中是否存在下一测量值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在这点上，在一些这种实施例中，装置200迭代经过与正在处理的基线因素区间相关联的每个测量值，例如，操作810-814中的一个或多个。在一些这种实施例中，装置200针对要处理的下一特定基线因素区间执行一个或多个操作，例如，操作804-814中的一个或多个。在这点上，在装置200确定在与正在处理的基线因素区间相关联的测量值子集中存在下一测量值的情形中，流程前进到操作810，例如以便处理下一所识别的测量值。在装置200未识别出测量值子集中的下一测量值的情形中，流程返回到操作802。
在操作810处，装置200包括用于确定测量值是否低于与正在处理的基线因素区间相关联的基线值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，装置200将测量值与基线值进行比较以确定测量值是否低于基线值。应当领会，每个测量值可能基于每个测量值与基线值之间的比较而产生不同结果。
在操作808处，装置200包括用于确定测量值是否被确定为低于正在处理的基线因素区间的基线值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，这种确定是基于操作810的结果来作出的。在这点上，在一些这种实施例中，在装置200确定测量值低于正在处理的基线因素区间的基线值的情形中，流程前进到操作814。在这点上，装置200继续处理后续测量值，如果这种测量值存在的话。在装置200确定测量值不低于正在处理的基线值的情形中，流程返回到操作808。
在操作814处，装置200包括用于递增表示低点测量值的数目的计数的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，装置200维持表示低点测量值的数目的计数作为具有特定值的数据对象。在这点上，计数可以是通过加到计数的当前值来递增的。在其他实施例中，装置200通过使用一个或多个数据标示对测量值和/或关联记录进行标记来递增表示低点测量值的数目的计数。在一些这种实施例中，装置200通过识别被标记为低于其对应基线值的测量值集合中的测量值的数目来确定低点测量值的数目的计数。在递增计数时，流程返回到操作808，例如用于基线因素区间的下一测量值的后续处理，如果存在的话，或者以便前进到后续基线因素区间的处理，如果存在的话。
在这点上，在一些实施例中，重复过程800的操作，使得与每个基线因素区间相关联的测量值被处理和考虑。在一些这种实施例中，装置200处理测量值集合，使得计数表示整个测量值集合的低点测量值的总数。在一些实施例中，装置200针对一个或多个操作（例如，如本文描述的过程400的操作404处的确定）而利用表示测量值集合中的低点测量值的数目的计数。
图9图示了根据本公开至少一个实施例的用于动态迭代基线调整（具体用于确定更新基线值集合）的示例过程的示例附加操作。所图示的示例过程900可以由本文描述的设备中的任一个执行。例如，在一个或多个实施例中，所描绘的过程由装置200所体现的样本收集器102执行。
过程900在操作902处开始。在一些实施例中，在完成过程900时，流程返回到一个或多个其他操作。例如，如所图示的那样，在一些实施例中，在完成操作902时，如本文关于过程400描绘和描述的那样，流程前进到可选操作408。在其他实施例中，流程可以结束或者前进到本文描述的流程中的一个或多个的另一操作。
在操作902处，装置200包括用于确定在基线因素区间集合中是否存在下一基线因素区间的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在这点上，在一些这种实施例中，装置200迭代经过基线因素区间集合中的每个基线因素区间。在一些这种实施例中，装置200针对要处理的下一特定基线因素区间执行一个或多个操作，例如，操作904-906中的一个或多个。在这点上，在装置200确定在基线因素区间集合中存在下一基线因素区间的情形中，流程前进到操作904。在装置200未识别出基线因素区间集合中的下一基线因素区间的情形中，流程结束或者前进到另一过程的操作，诸如，本文描述的过程400的可选操作408。
在操作904处，装置200包括用于确定基线因素区间的平均低点测量值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，装置200通过对与基线因素区间相关联的低点测量值子集求平均来确定基线因素区间的平均低点测量值。在这点上，在一些这种实施例中，装置200识别与基线因素区间相关联的一个或多个低点测量值，例如，低于与基线因素区间相对应的基线值的测量值。在一些这种实施例中，装置200对与特定基线因素区间相关联的所有低点测量值求平均。在其他实施例中，装置200对与正在处理的基线因素区间相关联的低点测量值子集求平均。例如，在一些实施例中，装置200在确定平均低点测量值之前移除一个或多个异常测量值，如本文描述的那样。在这点上，在一些这种实施例中，装置200基于与正在处理的基线因素区间相关联的经更改的低点测量值子集，来确定基线因素区间的平均低点测量值。
在操作906处，装置200包括用于将基线因素区间的更新基线值设置成基线因素区间的平均低点测量值的部件，诸如基线调整模块212、样本收集模块210、通信模块208、输入/输出模块206、处理器202等。在一些这种实施例中，装置200存储基线因素区间的平均低点测量值，作为与正在处理的基线因素区间相关联的基线值的值。在一些这种实施例中，装置200将基线-基线因素表更新成包括与正在处理的基线因素区间相关联的平均低点测量值。例如，在一些这种实施例中，装置200更新与正在处理的基线因素区间相关联的基线因素-基线表的数据记录，使得该数据记录包括和/或以其他方式表示作为更新基线值的平均低点测量值。
在一些实施例中，流程返回到操作902。在这点上，在一些这种实施例中，装置200针对基线因素区间集合中的所有基线因素区间而重复。在这点上，与基线因素区间集合中的基线因素区间相关联的每个基线值被设置成更新基线值。在一个或多个实施例中，在一个或多个操作（例如，如本文描述的过程400的可选操作408）中利用表示更新基线值集合的更新基线值。
结论
尽管上面已经描述了示例处理系统，但可以在其他类型的数字电子电路中、或者在包括本说明书中公开的结构及其结构等同物的计算机软件、固件或硬件中、或者在它们中的一个或多个的组合中实现本文描述的功能操作和主题的实现方式。
可以在数字电子电路中、或者在包括本说明书中公开的结构及其结构等同物的计算机软件、固件或硬件中、或者在它们中的一个或多个的组合中实现本文描述的操作和主题的实施例。本文描述的主题的实施例可以被实现为一个或多个计算机程序，即，在计算机储存介质上编码以供信息/数据处理装置执行或者以控制信息/数据处理装置的操作的计算机程序指令的一个或多个模块。可替换地或附加地，可以在人工生成的传播信号（例如，机器生成的电信号、光信号或电磁信号）上对程序指令进行编码，该人工生成的传播信号被生成以对用于传输到合适接收机装置的信息/数据进行编码以供信息/数据处理装置（诸如，样本收集器）执行。计算机储存介质可以是下述各项或者被包括在下述各项中：计算机可读储存设备、计算机可读储存衬底、随机或串行存取存储器阵列或设备、或者它们中的一个或多个的组合。此外，尽管计算机储存介质不是传播信号，但计算机储存介质可以是在人工生成的传播信号中编码的计算机程序指令的源或目的地。计算机储存介质还可以是一个或多个分离的物理组件或介质（例如，多个CD、盘或其他储存设备）或者被包括在该一个或多个分离的物理组件或介质中。
本文描述的操作可以被实现为由信息/数据处理装置对一个或多个计算机可读储存设备上存储或从其他源接收到的信息/数据执行的操作。可替换地或附加地，操作可以被实现为计算机实现方法的操作。可替换地或附加地，操作可以被实现为由以硬件、软件、固件和/或其组合体现的一个或多个装置和/或系统执行的操作。
术语“数据处理装置”涵盖了用于处理数据的所有种类的装置、设备和机器，作为示例包括可编程处理器、计算机、片上系统、或者上述各项中的多个或上述各项的组合。装置可以包括专用逻辑电路，例如FPGA或ASIC。除硬件外，装置还可以包括创建针对所考虑的计算机程序的执行环境的代码，例如，构成处理器固件、协议栈、储存库管理系统、操作系统、跨平台运行时环境、虚拟机、或者它们中的一个或多个的组合的代码。装置和执行环境可以实现各种不同计算模型基础设施，诸如web服务、分布式计算和网格计算基础设施。附加地或可替换地，装置可以包括用于样本收集和/或处理的专门硬件，例如使得装置体现针对特定类型的样本介质的样本收集器（例如气体传感器、液体传感器等）。样本收集和/或处理硬件、软件和/或固件可以出于这种目的以本领域中已知的大量方式中的任一个体现，且在一些实施例中可以被配置成利用本文描述的动态迭代基线调整过程来运转。
可以以任何形式的编程语言编写计算机程序（也被称为程序、软件、软件应用、脚本或代码），该编程语言包括经编译或解释的语言、说明性或过程语言，并且其可以以任何形式部署，该形式包括作为独立程序或者作为模块、组件、子例程、对象或者适于在计算环境中使用的其他单元。计算机程序可以但不必对应于文件系统中的文件。程序可以被存储在文件的保持其他程序或信息/数据的部分（例如，在标记语言文档中存储的一个或多个脚本）中、被存储在专用于所考虑的程序的单个文件中、或者被存储在多个经协调的文件（例如，存储一个或多个模块、子程序或代码部分的文件）中。计算机程序可以被部署成在一个计算机上或者在位于一个站点处或跨多个站点分布且由通信网络互连的多个计算机或计算设备上执行。
本文描述的过程和逻辑流程可以由一个或多个可编程处理器执行，该一个或多个可编程处理器执行一个或多个计算机程序以通过在输入信息/数据上操作并生成输出来执行动作。作为示例，适于执行计算机程序的处理器包括通用微处理器和专用微处理器两者、以及任何种类的数字计算机的任何一个或多个处理器。一般地，处理器将从只读存储器或随机存取存储器或这两者接收指令和信息/数据。计算机的必要元件是用于根据指令执行动作的处理器和用于存储指令和数据的一个或多个存储器设备。一般地，计算机还将包括或操作耦合以从用于存储数据的一个或多个大容量储存器设备（例如，磁盘、磁光盘或光盘）接收信息/数据、或者将信息/数据传送到该一个或多个大容量储存器设备、或者这两者。然而，计算机不必具有这种设备。适于存储计算机程序指令和信息/数据的设备包括所有形式的非易失性存储器、介质和存储器设备，作为示例，其包括：半导体存储器设备，例如EPROM、EEPROM和闪速存储器设备；磁盘，例如内部硬盘或可移除盘；磁光盘；以及CD-ROM和DVD-ROM盘。处理器和存储器可以由专用逻辑电路补充或者被并入到专用逻辑电路中。仍附加地或可替换地，如本文描述的那样，计算机可以包括专门的样本收集和/或处理硬件、软件和/或固件。
为了提供与用户的交互，可以在具有用于将信息/数据显示给用户的显示设备（例如，CRT（阴极射线管）或LCD（液晶显示器）监测器）以及用户可借以提供输入到计算机的用户输入按钮、显示器和/或外设（例如，鼠标或轨迹球）的计算机上实现本文描述的主题的实施例。也可以使用其他种类的设备以提供与用户的交互；例如，给用户提供的反馈可以是任何形式的感官反馈，例如视觉反馈、听觉反馈或触觉反馈；并且来自用户的输入可以以任何形式接收，该形式包括声学、话音或触觉输入。附加地，计算机可以通过将文档发送到用户所使用的设备以及从用户所使用的设备接收文档来与用户交互；例如，通过响应于从用户的客户端设备上的网页浏览器接收到的请求而将网页发送到网页浏览器。
尽管本说明书包含许多具体实现细节，但这些不应当被理解为对任何公开内容或可要求保护的内容的范围的限制，而是应当被理解为专用于特定公开内容的特定实施例的特征的描述。还可以在单个实施例中组合地实现本文在分离的实施例的上下文中描述的某些特征。相反，还可以分离地在多个实施例中或者以任何合适子组合实现在单个实施例的上下文中描述的各种特征。此外，尽管特征可以在上面被描述为以某些组合进行操作且甚至最初被由此要求保护，但在一些情况下，可以从组合中删去来自要求保护的组合的一个或多个特征，并且可以将要求保护的组合导向到子组合或子组合的变型。
类似地，尽管在附图中按特定次序描绘了操作，但这不应当被理解为要求应当按所示的特定次序或按顺序的次序执行这种操作或者应当执行所有所图示的操作以实现期望结果。在某些情形中，多任务和并行处理可以是有利的。此外，上面描述的实施例中的各种系统组件的分离不应当被理解为在所有实施例中都要求这种分离，并且应当理解，一般可以在单个软件产品中将所描述的程序组件和系统集成在一起，或者将所描述的程序组件和系统封装到多个软件产品中。
因此，已经描述了主题的特定实施例。其他实施例处于所附权利要求的范围内。在一些情况下，权利要求中记载的动作可以按不同的次序执行且仍实现期望结果。附加地，附图中描绘的过程不必然要求所示的特定次序或顺序的次序以实现期望结果。在某些实现方式中，多任务和并行处理可以是有利的。

Claims (20)

1.一种计算机实现方法，包括：
确定测量值集合包括超过基线更新阈值的低点测量值的数目，其中所述测量值集合中的每个测量值与基线因素区间集合中的基线因素区间相关联，其中所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间与基线值集合中的基线值相关联，并且其中所述测量值集合包括低点测量值子集，所述低点测量值子集包括低于与所述测量值相对应的基线因素区间的基线值的每个测量值；
确定包括所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间的更新基线值的更新基线值集合，其中所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间的更新基线值是基于与所述基线因素区间相关联的低点测量值子集中的至少一个低点测量值来确定的；
通过针对所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间将与所述基线因素区间相关联的基线值集合中的基线值更新到与所述基线因素区间相关联的更新基线值，来将所述基线值集合更新到所述更新基线值集合；以及
对所述更新基线值集合执行校正基线算法。
2.根据权利要求1所述的方法，其中执行校正基线算法包括：
基于所述更新基线值集合中的每个更新基线值之间的改变，针对所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间之间的改变，确定所述更新基线值集合的单调趋势。
3.根据权利要求1所述的方法，所述方法进一步包括：
基于所述测量值集合来确定落在传感器下限以下的测量值的数目；以及
基于落在所述传感器下限以下的测量值的数目来设置所述基线更新阈值。
4.根据权利要求1所述的方法，所述方法进一步包括：
通过下述操作来设置基线值集合：
基于基线因素区间大小将基线因素范围分段成所述基线因素区间集合；以及
针对所述基线因素区间集合中的至少一个基线因素区间，将出厂默认基线指派为所述基线因素区间的基线值。
5.根据权利要求4所述的方法，所述方法进一步包括：
针对所述基线因素区间集合中的至少一个基线因素区间，基于第一基线因素区间的第一基线值与第二基线因素区间的第二基线值之间的线性内插来指派所述基线值，其中所述第一基线因素区间是邻近较低基线因素区间，并且所述第二基线因素区间是邻近较高基线因素区间。
6.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述测量值集合包括超过所述基线更新阈值的测量值的数目包括：
针对所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间：
识别与所述基线因素区间相关联的基线值；
从所述测量值集合确定与所述基线因素区间相关联的测量值子集；以及
针对与所述基线因素区间相关联的测量值子集中的每个测量值：
确定所述测量值是否低于所述基线值；以及
在所述测量值低于所述基线值的情形中，递增表示低点测量值的数目的计数。
7.根据权利要求1所述的方法，所述方法进一步包括：
从所述低点测量值子集确定异常测量值集合；以及
通过从所述低点测量值子集移除所述异常测量值集合来生成经更改的低点测量值子集，
其中所述更新基线值集合是基于经更改的低点测量值子集来确定的。
8.根据权利要求1所述的方法，其中确定更新基线值集合包括：
针对所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间：
通过对与所述基线因素区间相关联的低点测量值子集求平均来确定所述基线因素区间的平均低点测量值；以及
将所述基线因素区间的更新基线值设置成所述基线因素区间的平均低点测量值。
9.根据权利要求1所述的方法，所述方法进一步包括：
测量与当前操作基线因素区间相关联的原始数据值；以及
基于（1）所述原始数据值和（2）与所述当前操作基线因素区间相关联的更新基线值来生成校正数据值。
10.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量值集合包括从中央服务器或多个所连接的设备接收到的历史测量值。
11.一种包括至少一个处理器和至少一个存储器的装置，所述至少一个存储器具有计算机编码指令存储于其上，其中所述计算机编码指令在利用所述至少一个处理器执行时将所述装置配置成：
确定测量值集合包括超过基线更新阈值的低点测量值的数目，其中所述测量值集合中的每个测量值与基线因素区间集合中的基线因素区间相关联，其中所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间与基线值集合中的基线值相关联，并且其中所述测量值集合包括低点测量值子集，所述低点测量值子集包括低于与所述测量值相对应的基线因素区间的基线值的每个测量值；
确定包括所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间的更新基线值的更新基线值集合，其中所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间的更新基线值是基于与所述基线因素区间相关联的低点测量值子集中的至少一个低点测量值来确定的；
通过针对所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间将与所述基线因素区间相关联的基线值集合中的基线值更新到与所述基线因素区间相关联的更新基线值，来将所述基线值集合更新到更新基线值集合；以及
对所述更新基线值集合执行校正基线算法。
12.根据权利要求11所述的装置，其中为了执行校正基线算法，所述装置被配置成：
基于所述更新基线值集合中的每个更新基线值之间的改变，针对所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间之间的改变，确定所述更新基线值集合的单调趋势。
13.根据权利要求11所述的装置，所述装置进一步被配置成：
基于所述测量值集合来确定落在传感器下限以下的测量值的数目；以及
基于落在所述传感器下限以下的测量值的数目来设置所述基线更新阈值。
14.根据权利要求11所述的装置，所述装置进一步被配置成：
设置基线值集合，其中为了设置基线值集合，所述装置被配置成：
基于基线因素区间大小将基线因素范围分段成所述基线因素区间集合；以及
针对所述基线因素区间集合中的至少一个基线因素区间，将出厂默认基线指派为所述基线因素区间的基线值。
15.根据权利要求14所述的装置，所述装置进一步被配置成：
针对所述基线因素区间集合中的至少一个基线因素区间，基于第一基线因素区间的第一基线值与第二基线因素区间的第二基线值之间的线性内插来指派所述基线值，其中所述第一基线因素区间是邻近较低基线因素区间，并且所述第二基线因素区间是邻近较高基线因素区间。
16.根据权利要求11所述的装置，其中为了确定所述测量值集合包括超过所述基线更新阈值的测量值的数目，所述装置被配置成：
针对所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间：
识别与所述基线因素区间相关联的基线值；
从所述测量值集合确定与所述基线因素区间相关联的测量值子集；以及
针对与所述基线因素区间相关联的测量值子集中的每个测量值：
确定所述测量值是否低于所述基线值；以及
在所述测量值低于所述基线值的情形中，递增表示低点测量值的数目的计数。
17.根据权利要求11所述的装置，所述装置进一步被配置成：
从所述低点测量值子集确定异常测量值集合；以及
通过从所述低点测量值子集移除所述异常测量值集合来生成经更改的低点测量值子集，
其中所述更新基线值集合是基于经更改的低点测量值子集来确定的。
18.根据权利要求11所述的装置，其中为了确定更新基线值集合，所述装置被配置成：
针对所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间：
通过对与所述基线因素区间相关联的低点测量值子集求平均来确定所述基线因素区间的平均低点测量值；以及
将所述基线因素区间的更新基线值设置成所述基线因素区间的平均低点测量值。
19.根据权利要求11所述的装置，所述装置进一步被配置成：
测量与当前操作基线因素区间相关联的原始数据值；以及
基于（1）所述原始数据值和（2）与所述当前操作基线因素区间相关联的更新基线值来生成校正数据值。
20.一种包括至少一个非瞬变计算机可读储存介质的计算机程序产品，所述至少一个非瞬变计算机可读储存介质具有计算机程序代码存储于其上，其中所述计算机程序代码在利用至少一个处理器执行时将所述处理器配置用于：
确定测量值集合包括超过基线更新阈值的低点测量值的数目，其中所述测量值集合中的每个测量值与基线因素区间集合中的基线因素区间相关联，其中所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间与基线值集合中的基线值相关联，并且其中所述测量值集合包括低点测量值子集，所述低点测量值子集包括低于与所述测量值相对应的基线因素区间的基线值的每个测量值；
确定包括所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间的更新基线值的更新基线值集合，其中所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间的更新基线值是基于与所述基线因素区间相关联的低点测量值子集中的至少一个低点测量值来确定的；
通过针对所述基线因素区间集合中的每个基线因素区间将与所述基线因素区间相关联的基线值集合中的基线值更新到与所述基线因素区间相关联的更新基线值，来将所述基线值集合更新到更新基线值集合；以及
对所述更新基线值集合执行校正基线算法。
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