CN107607129B - 数据校准方法、装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种数据校准方法、装置及电子设备，该方法包括：从N1个第一数据点中选择M个第一参考数据点。根据第一校准参数得到校准后的N2个第二数据点，若其中存在至少K个超出预设范围，则表示第一校准参数不适用于当前环境，需要重新获取新的校准参数。上述过程实际是磁力仪自动检测使用环境是否发生变化的过程。在检测出使用环境发生变化后，根据K个第二数据点确定出P个第二参考数据点，并以P个第二参考数据点替换M个第一参考数据点中的P个。再根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数，此时获取的第二校准参数满足当前的使用环境，以实现磁力仪自动生成适用于当前环境的第二校准参数，进而提高了测量数据的准确校准。

Description

数据校准方法、装置及电子设备

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种数据校准方法、装置及电子设备。

背景技术

磁力仪是一种重要的导航工具，能实时提供移动物体的姿态。在没有磁场干扰的环境下，磁力仪可以准确测量出由地磁场产生的磁场的磁场强度。但当使用环境中存在外界磁场干扰时，则会影响磁力仪的测量结果，因此，很有必要对磁力仪的测量结果进行校准。

通常在使用磁力仪之前会对磁力仪进行校准参数的标定，从而，在磁力仪的后续使用过程中，都将以初始标定的校准参数对测量数据进行校准。但在实际应用中，磁力仪可能被应用于环境多种多样的环境中，此初始标定的校准参数未必能够实现对测量结果的准确校准。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种数据校准方法、装置及电子设备，用以实现对磁力仪测量数据的自适应校准，以提高数据测量结果校准的准确性。

本发明实施例提供一种数据校准方法，包括：

从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个作为M个第一参考数据点；

根据所述第一校准参数对N2个第二数据点进行校准；

若校准后的N2个第二数据点中存在至少K个超出预设范围，则根据所述K个第二数据点，从所述N2个第二数据点中确定P个第二参考数据点；

以所述P个第二参考数据点替换所述M个第一参考数据点中与所述P个第二参考数据点距离最近的P个第一参考数据点；

根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数；

根据所述第二校准参数对所述N2个第二数据点之后采集到的数据点进行校准。

可选地，所述预设范围被预先划分为多个子范围，所述K个第二数据点位于同一子范围内。

可选地，所述根据所述K个第二数据点，从所述N2个第二数据点中确定P个第二参考数据点，包括：

确定所述K个第二数据点分别到所述预设范围对应的参考原点的距离；

计算确定出的K个距离的平均值；

对所述平均值进行校准逆变换，从所述N2个第二数据点中确定与所述校准逆变换结果对应的第二数据点作为所述P个第二参考数据点，P＝1。

可选地，所述计算确定出的K个距离的平均值之前，还包括：

从所述K个距离中滤除最大距离和最小距离；

所述计算确定出的K个距离的平均值，包括：

计算滤除后剩余的距离的平均值。

可选地，所述从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个作为M个第一参考数据点，包括：

根据所述第一校准参数对所述N1个第一数据点进行校准；

根据预设选取规则，从校准后的N1个第一数据点中选择出M个第一数据点；

对所述M个第一数据点进行校准逆变换，所述校准逆变换结果作为所述M个第一参考数据点。

本发明实施例提供一种数据校准装置，包括：

选择模块，用于从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个作为M个第一参考数据点；

校准模块，用于根据所述第一校准参数对N2个第二数据点进行校准；

确定模块，用于若校准后的N2个第二数据点中存在至少K个超出预设范围，则根据所述K个第二数据点，从所述N2个第二数据点中确定P个第二参考数据点；

替换模块，用于以所述P个第二参考数据点替换所述M个第一参考数据点中与所述P个第二参考数据点距离最近的P个第一参考数据点；

获取模块，用于根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数；

所述校准模块，还用于根据所述第二校准参数对所述N2个第二数据点之后采集到的数据点进行校准。

可选地，所述确定模块具体包括：

确定单元，用于确定所述K个第二数据点分别到所述预设范围对应的参考原点的距离；

计算单元，用于计算确定出的K个距离的平均值；

逆变换单元，用于对所述平均值进行校准逆变换，从所述N2个第二数据点中确定与所述校准逆变换结果对应的第二数据点作为所述P个第二参考数据点，P＝1。

可选地，所述装置还包括：

滤除模块，用于从所述K个距离中滤除最大距离和最小距离；

所述计算单元具体用于：计算滤除后剩余的距离的平均值。

可选地，所述选择模块具体包括：

校准单元，用于根据所述第一校准参数对所述N1个第一数据点进行校准；

选择单元，用于根据预设选取规则，从校准后的N1个第一数据点中选择出M个第一数据点；

逆变换单元，用于对所述M个第一数据点进行校准逆变换，所述校准逆变换结果作为所述M个第一参考数据点。

本发明实施例提供一种电子设备，包括：存储器，以及与所述存储器连接的处理器；

所述存储器，用于存储一条或多条计算机指令，其中，所述一条或多条计算机指令供所述处理器调用执行；

所述处理器，用于执行所述一条或多条计算机指令以实现上述涉及到的数据校准方法中的任意一种方法。

本发明实施例提供的数据校准方法、装置及电子设备，磁力仪采集N1个第一数据点，并从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个数据点作为M个第一参考数据点。磁力仪继续采集N2个第二数据点，并利用第一校准参数对此N2个数据点进行校准。磁力仪分别判断校准后的N2个数据点是否处于预设范围内，若校准后的N2个第二数据点中存在K个第二数据点超出预设空间，则表示使用第一校准参数已经不能对数据点进行准确地校准了，此时需要获取新的校准参数，而造成使用第一校准参数校准不准确的原因可能是磁力仪的使用环境发生了改变。上述过程实质上就是磁力仪自动检测使用环境是否发生了改变的过程。当检测出磁力仪的使用环境发生改变时，根据K个超出预设范围的第二数据点确定出P个第二参考数据点。再分别计算P个第二参考数据点与M个第一参考数据点之间的距离。用P个第二参考数据点替换M个第一参考数据点中与P个第二参考数据点距离最近的P个第一参考数据点。由P个第二参考数据点和未替换M-P个第一参考数据点组成替换后的M个第一参考数据点，进而根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数。此时获取的第二校准参数是新的校准参数，是满足于磁力仪当前使用的环境的。上述过程实质上是磁力仪自动生成适用于当前环境的第二校准参数，使得磁力仪可以自动根据使用环境的变化获取与环境相适应的校准参数。最后，磁力仪再基于获取的第二校准参数对N2个第二数据点之后采集到的数据点进行校准，此时得到的校准后的数据都是准确的，提高了数据测量结果校准的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的数据校准方法实施例一的流程图；

图2为将磁力仪采集到的数据点输入数据处理软件后得到的数据处理图；

图3为将已校准数据点输入数据处理软件后得到的数据处理图；

图4为本发明实施例提供的数据校准方法实施例二的流程图；

图5为本发明实施例提供的数据校准装置实施例一的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的数据校准装置实施例二的结构示意图；

图7为本发明实施例提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义，“多种”一般包含至少两种，但是不排除包含至少一种的情况。

应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

应当理解，尽管在本发明实施例中可能采用术语第一、第二、第三等来描述XXX，但这些XXX不应限于这些术语。这些术语仅用来将XXX彼此区分开。例如，在不脱离本发明实施例范围的情况下，第一XXX也可以被称为第二XXX，类似地，第二XXX也可以被称为第一XXX。

取决于语境，如在此所使用的词语“如果”、“若”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地，取决于语境，短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测(陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的商品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种商品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的商品或者系统中还存在另外的相同要素。

图1为本发明实施例提供的数据校准方法实施例一的流程图，本实施例提供的该数据校准方法的执行主体可以为内置有处理器的磁力仪，如图1所示，该方法包括如下步骤：

S101，从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个作为M个第一参考数据点。

用户在一段时间内使用含有磁力仪的电子设备如手机或者虚拟现实(VirtualReality，简称VR)设备后，磁力仪会采集到针对此一段时间内的N1个第一数据点，其中N1＞1，可选地，第一数据点可以表示为(x,y)，其中，x，y可以分别表示平面中某一点在预设坐标系中沿x坐标轴和y坐标轴方向上的磁场强度。若将采集到的N1个第一数据点输入数据分析软件中，根据这些数据点可以绘制出一个椭圆，如图2所示，图2表明N1个第一数据点是未校准的数据点，其中，使用的数据分析软件可以为MATLAB。可选地，磁力仪的数据采集周期可以为6ms。

然后，根据第一校准参数对N1个第一数据点进行校准，得到校准后的N1个第一数据点。此时，若将校准后的N1个第一数据点输入数据分析软件中，可以绘制出一个圆心位于预设坐标系原点的圆，如图3所示。由图3可知，校准后的N1个第一数据点都位于圆内或者圆上。也就是说，经过校准后，磁力仪采集到的N1个第一数据点都是位于一个预设范围内的，同时，根据校准后的N1个第一数据点可以也得到与此预设范围对应的方程。可选地，预设范围可以是一个圆心位于预设坐标系原点且半径为r的圆，圆的方程可以表示为x²+y²＝r²。

接着，从N1个第一数据点中选择出M个数据点，并将此M个数据点作为第一参数数据点，且N1≥M＞1，可选地，可以从N1个第一数据点中任意选择M个作为第一参考数据点。可选地，也可以从N1个第一数据点中选择特定的第一数据点作为第一参考数据点，此特定的第一数据点具有以下特征：将特定的第一数据点经过第一校准参数校准后，得到的校准后数据点在预设坐标系中的某个方向上具有特定磁场强度。例如，可以将校准后数据点位于预设范围边界的数据点对应的未校准数据点选择为特定的第一数据点。位于预设范围边界的数据点举例来说可以是(r,0)、(-r,0)、(0,r)、(0,-r)。同时，记录下选出的M个第一参考数据点。另外，需要说明的是，选择出的第一参考数据点，对其进行校准后应该尽量保证校准后的第一参考数据点平均分布于预设范围内的各个方位，这样可以保证后续获取第二校准参数的准确性，因此，优选地，第一参考数据点M的数量可以为M≥8。

可选地，上述过程中使用到的第一校准参数可以通过以下方式获取第一校准参数。

用户手持含有磁力仪的电子设备，通过在空间中画“8”字的方式以使磁力仪采集到空间中各个方位数据点，采集到这些数据点为N1个第一数据点。由上述描述可知，利用这些数据点可以绘制出一个椭圆，而这个椭圆对应的方程参数即是第一校准参数。可选地，根据N1个第一数据点，可以采用最小二乘法计算得到第一校准参数，具体的计算方式可以参考下述步骤中获取第二校准参数的相关描述。进而，将第一校准参数带入预设形式的校准公式，即可获得相应的校准公式以及校准逆变换公式。

S102，根据第一校准参数对N2个第二数据点进行校准。

在磁力仪采集到N1个数据点后，用户继续使用含有磁力仪的电子设备，磁力仪继续采集到N2个第二数据点，其中N2＞1。此时可以根据第一校准参数分别对N2个第二数据点进行校准，以得到校准后的N2个第二数据点。

S103，若校准后的N2个第二数据点中存在至少K个超出预设范围，则根据K个第二数据点，从N2个第二数据点中确定P个第二参考数据点。

由于在使用第一校准参数对N1个第一数据点进行校准后，即可得到由校准后的N1个第一数据点组成的预设范围以及该预设范围对应的曲线方程。可选地，可以通过以下方式判断校准后的N2个第二数据点是否位于预设范围内。

具体地，将校准后的N2个第二数据点分别带入此预设范围对应的曲线方程的等式左边，从而得到N2个计算值。若某个计算值恰巧等于曲线方程等式右边的值，则表明此计算值对应的校准后第二数据值满足曲线方程，此第二数据点位于预设范围的边界。若某个计算值小于曲线方程等式右边的值，则表明此第二数据点位于预设范围之内。若某个计算值大于曲线方程等式右边的值，则表明此第二数据点位于预设范围之外。通过上述判断过程，当校准后的N2个第二数据点中存在至少K个数据点超出预设范围时，表明磁力仪的使用环境已经发生改变，此时，第一校准参数已经不适用于当前的使用环境了，继续使用第一校准参数对磁力仪在当前使用环境中采集到的数据点进行校准，得到的校准后数据点是不准确的，因此，需要获取新的校准参数。其中，N2≥K＞1，在实际应用中K的取值范围一般为5≤K≤10。

为了获取新的校准参数，需要根据K个超出预设范围的校准后第二数据点，从N2个第二数据点中确定出P个第二参考数据点，其中，1≤P＜K。

可选地，可以从K个校准后第二数据点中任意选出P个数据点，可以根据校准逆变换公式，对P个数据点进行校准逆变换，以得到P个数据点对应的未校准数据点，将P个未校准数据点确定为第二参考数据点，其中，用于表示校准后的数据点与未校准的数据点之间的转换关系的校准公式以及校准逆变换公式会在本实施例的后续步骤中详细介绍。

S104，以P个第二参考数据点替换M个第一参考数据点中与P个第二参考数据点距离最近的P个第一参考数据点。

S105，根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数。

S106，根据第二校准参数对N2个第二数据点之后采集到的数据点进行校准。

分别计算每个第二参考数据点到M个第一参考数据点之间的距离，以得到M*P个距离值，其中，每个距离值都对应于一个第一参考数据点和一个第二参考数据点。可选地，可以由一个第二参考数据点分别到M个第一参考数据点之间的距离值组成一个数值组。因此，P个第二参考数据点也就对应于P个数值组。从每个数值组中选择出最小的一个距离值，并用此距离值对应的第二参考数据点替换此距离对应的第一参考数据点。

最终得到替换后的M个第一参考数据点，此替换后的M个第一参考数据点实际上是由P个第二参考数据点和替换前的M-P个第一参考数据点组成的。再根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数。可选地，可以采取以下方式获取第二校准参数。

由替换后的M个第一参考数据点围成的图形是一个椭圆，此椭圆的标准方程可以表示为：

其中，(X0,Y0)表示椭圆中心，a和b分别表示椭圆长半轴和短半轴，β表示椭圆长半轴与X轴交角。

对上述标准方程进行整理后，椭圆方程可以变形为：

x²+Axy+By²+Cx+Dy+E＝0

其中，

将替换后的M个第一参考数据点分别代入变形后的椭圆方程中，根据最小二乘法可以计算出A、B、C、D、E，再根据A～E计算得到由替换后的M个第一参考点构成的椭圆的椭圆参数，此椭圆参数即为第二校准参数：

将第二校准参数代入预设形式的标准校准公式中即可获取第二校准参数对应的校准公式，磁力仪采集到数据点后，可以根据校准公式对采集到的数据点进行校准。

其中，校准公式可以为：

相应地，校准逆变换公式可以为：

获取到第二校准参数后，可以利用校准公式(1)对N2个第二数据点之后磁力仪采集到的数据点进行校准。此时得到的第二校准参数与第一校准参数相比是更适用于磁力仪当前使用环境的，对采集到的数据点的校准效果也是更好的。

本实施例中，磁力仪采集N1个第一数据点，并从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个数据点作为M个第一参考数据点。磁力仪继续采集N2个第二数据点，并利用第一校准参数对此N2个数据点进行校准。磁力仪分别判断校准后的N2个数据点是否处于预设范围内，若校准后的N2个第二数据点中存在K个第二数据点超出预设空间，则表示使用第一校准参数已经不能对数据点进行准确地校准了，此时需要获取新的校准参数，而造成使用第一校准参数校准不准确的原因可能是磁力仪的使用环境发生了改变。上述过程实质上就是磁力仪自动检测使用环境是否发生了改变的过程。当检测出磁力仪的使用环境发生改变时，根据K个超出预设范围的第二数据点确定出P个第二参考数据点。再分别计算P个第二参考数据点与M个第一参考数据点之间的距离。用P个第二参考数据点替换M个第一参考数据点中与P个第二参考数据点距离最近的P个第一参考数据点。由P个第二参考数据点和未替换M-P个第一参考数据点组成替换后的M个第一参考数据点，进而根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数。此时获取的第二校准参数是新的校准参数，是满足于磁力仪当前使用的环境的。上述过程实质上是磁力仪自动生成适用于当前环境的第二校准参数，使得磁力仪可以自动根据使用环境的变化获取与环境相适应的校准参数。最后，磁力仪再基于获取的第二校准参数对N2个第二数据点之后采集到的数据点进行校准，此时得到的校准后的数据都是准确的，提高了数据测量结果校准的准确性。

图4为本发明实施例提供的数据校准方法实施例二的流程图，如图4所示，该方法可以包括如下步骤：

S201，从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个作为M个第一参考数据点。

在获取第一校准参数的基础上，除了实施例一中涉及到的选取第一参考数据点的方式，可选地，还可以采用以下方式选取M个第一参考数据点。

首先，利用第一校准参数对N1个第一数据点进行校准。

进而，根据预设选取规则，从校准后的N1个第一数据点中选择出M个第一数据点。

可选地，根据实施例一中的相关描述可知，校准后的N1个第一数据点都是位于一个圆内的，且圆心位于平面中预设坐标系的坐标原点，圆的半径为r。此预设的选取规则具体可以为：在预设坐标系中预设几条直线例如，x＝0，y＝0，y＝x，y＝-x，计算出这几条预设直线与圆的交点，并将计算出的交点作为在校准后的N1个第一数据点中选择出的M个第一数据点。

最后，根据实施例一中的(2)式，对从校准后的N1个第一数据点中选择出的M个第一数据点进行校准逆变换。进行校准逆变换后可以得到与校准后的M个第一数据点对应的未校准的M个第一数据点，并将此未校准的M个第一数据点确定为M个第一参考数据点。

S202，根据第一校准参数对N2个第二数据点进行校准。

上述步骤S202的执行过程与前述实施例的相应步骤相似，可以参见如图1所示实施例中的相关描述，在此不再赘述。

S203，判断校准后的N2个第二数据点中是否存在至少K个超出预设范围，若存在至少K个超出预设范围，则执行步骤S204。

当判断出N2个第二数据点中存在K个数据点超出预设范围时，此时磁力仪检测出第一校准参数已经不适用于当前使用环境，也即是检测出磁力仪的使用环境发生改变，此时需要获取第二校准参数。具体的判断过程可以参见如图1所示实施例中的相关描述，在此不再赘述。

为了进一步使磁力仪能够更加准确地检测出使用环境是否发生改变，可选地，可以预先将预设范围划分为多个子范围，若判断出在同一子范围内存至少K个第二数据点超出该子范围，则表明磁力仪的使用环境已经发生变化。因为在实际应用中，在用户使用含有磁力仪的电子设备的过程中，磁力仪采集到的数据点有可能是由于用户发出相应动作而产生的，这个是有效的数据点；磁力仪采集到的数据点也有可能是用户在发出其他操作后对磁力仪产生影响从而产生的，这种数据点可以理解为是一个噪点，噪点实质上是一个无效点，并且噪点出现在预设范围中的哪个子范围是具有很强的随机性的。

因此，可以将磁力仪使用环境发生变化的检测条件设定为：存在至少K个第二数据点超出预设范围，并且K个第二数据点都在同一子范围。只有当上述条件满足时，才判定磁力仪的使用环境已经发生变化，这样可以大大减少噪点对磁力仪使用环境检测的影响，使磁力仪能够准确地检测出使用环境是否已经发生改变。

S204，确定K个第二数据点分别到预设范围对应的参考原点的距离。

S205，计算确定出的K个距离的平均值。

S206，对平均值进行校准逆变换，从N2个第二数据点中确定与校准逆变换结果对应的第二数据点作为P个第二参考数据点，P＝1。

计算K个超出预设范围的第二数据点分别到预设范围对应的参考原点的距离，从而得到K个距离值。再计算此K个距离值的平均值。进一步地，可以对此平均值利用实施例一中的(2)式进行校准逆变换，将校准逆变换的结果作为第二参考数据点。

S207，以P个第二参考数据点替换M个第一参考数据点中与P个第二参考数据点距离最近的P个第一参考数据点。

S208，根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数。

S209，根据第二校准参数对N2个第二数据点之后采集到的数据点进行校准。

上述步骤S207-S209的执行过程与前述实施例的相应步骤相似，可以参见如图1所示实施例中的相关描述，在此不再赘述。

另外，本实施例中的上述描述中也提到了，磁力仪采集到的数据点有可能是噪点，而噪点会对第二参考数据点的确定产生影响，也进而会影响到获取第二校准参数的准确性。因此，可选地，在步骤S205之前，还可以进行以下操作：

基于步骤S204中计算得到的K个第二数据点分别到预设范围对应的参考原点的距离，从K个距离值中滤除最大距离和最小距离。由于最大距离和最小距离最有可能是噪点与参考原点之间的距离，因此，滤除过程可以最大限度的减少噪点对第二参考数据点确定的影响。进而，计算滤除过程后剩余的距离的平均值。再根据剩余的距离的平均值确定出P个第二参考数据点。

最终，基于确定出的第二参考数据点，执行步骤S207-S209从而获取第二校准参数，具体的过程可以参见实施例一中的相关描述，在此不再赘述。

本实施例中，根据预设的选取规则从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个第一参考数据点，这样可以保证选取出的第一参考数据点均匀分布于预设范围内并且数据点的数量较少，磁力仪可以以数量较少的第一参考数据点为基础获取与第一参考数据点相同数量的替换后的第一参考数据点，并最终以数量较少的替换后的第一参考数据点获取第二校准参数，减小获取第二校准参数过程中的计算量。另外，将检测磁力仪使用环境是否发生变化的条件设定为：存在至少K个第二数据点超出预设范围，并且K个第二数据点都在同一子范围，也即是对超出预设范围的K个第二数据点增加了范围的限制，这样能够大大减少噪点对磁力仪使用环境检测的影响，从而提高检测使用环境的准确性。同时，计算K个超出预设范围的第二数据点到参考原点之间距离，并滤除其中的最大距离和最小距离，这样的滤除过程可以减少噪点对第二参考数据点确定的干扰，再根据滤除后的剩余距离值计算出平均值，根据平均值确定用于替换第一参考数据点的第二参考数据点，进而获得第二校准参数，同时也减少了噪点对获取的第二校准参数的影响。

图5为本发明实施例提供的数据校准装置实施例一的结构示意图，如图5所示，该数据校准装置包括：选择模块11、校准模块12、确定模块13、替换模块14、获取模块15。

选择模块11，用于从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个作为M个第一参考数据点。

校准模块12，用于根据第一校准参数对N2个第二数据点进行校准。

确定模块13，用于若校准后的N2个第二数据点中存在至少K个超出预设范围，则根据K个第二数据点，从N2个第二数据点中确定P个第二参考数据点。

替换模块14，用于以P个第二参考数据点替换M个第一参考数据点中与P个第二参考数据点距离最近的P个第一参考数据点。

获取模块15，用于根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数。

校准模块12，还用于根据第二校准参数对N2个第二数据点之后采集到的数据点进行校准。

图5所示装置可以执行图1所示实施例的方法，本实施例未详细描述的部分，可参考对图1所示实施例的相关说明。该技术方案的执行过程和技术效果参见图1所示实施例中的描述，在此不再赘述。

图6为本发明实施例提供的数据校准装置实施例二的结构示意图，如图6所示，在图5所示实施例基础上，该数据校准装置中的确定模块13具体包括：

确定单元131，用于确定K个第二数据点分别到预设范围对应的参考原点的距离。

计算单元132，用于计算确定出的K个距离的平均值。

逆变换单元133，用于对平均值进行校准逆变换，从N2个第二数据点中确定与校准逆变换结果对应的第二数据点作为P个第二参考数据点，P＝1。

可选地，预设范围被预先划分为多个子范围，K个第二数据点位于同一子范围内。

可选地，该数据校准装置还包括：滤除模块21。

滤除模块21，用于从K个距离中滤除最大距离和最小距离。

计算单元132具体用于：计算滤除后剩余的距离的平均值。

可选地，该数据校准装置中的选择模块11具体包括：

校准单元111，用于根据第一校准参数对N1个第一数据点进行校准。

选择单元112，用于根据预设选取规则，从校准后的N1个第一数据点中选择出M个第一数据点。

逆变换单元113，用于对M个第一数据点进行校准逆变换，校准逆变换结果作为M个第一参考数据点。

图6所示装置可以执行图4所示实施例的方法，本实施例未详细描述的部分，可参考对图4所示实施例的相关说明。该技术方案的执行过程和技术效果参见图4所示实施例中的描述，在此不再赘述。

图7为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图，如图7所示，该电子设备包括：存储器31，以及与存储器连接的处理器32。

存储器31，用于存储一条或多条计算机指令，其中，一条或多条计算机指令供处理器32调用执行。

处理器32，用于执行一条或多条计算机指令以实现图1和图4所示实施例的方法，并且可选地，图5-6涉及的数据校准装置可以内置于电子设备中。

需要说明的是，此电子设备可以是手机或者各种类型的头戴式虚拟现实设备，比如头戴式虚拟现实(Virtual Reality，简称VR)盒子、头戴式VR一体机等等。

并且，本实施例未详细描述的部分，可参考对图1和图4所示实施例的相关说明。该技术方案的执行过程和技术效果参见图1和图4所示实施例中的描述，在此不再赘述。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以产品的形式体现出来，该计算机产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机装置(可以是个人计算机，服务器，或者网络装置等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种数据校准方法，其特征在于，包括：

从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个作为M个第一参考数据点；

根据所述第一校准参数对N2个第二数据点进行校准；

若校准后的N2个第二数据点中存在至少K个超出预设范围，则根据所述K个第二数据点，从所述N2个第二数据点中确定P个第二参考数据点；

以所述P个第二参考数据点替换所述M个第一参考数据点中与所述P个第二参考数据点距离最近的P个第一参考数据点；

根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数；

根据所述第二校准参数对在所述N2个第二数据点之后采集到的数据点进行校准。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设范围被预先划分为多个子范围，所述K个第二数据点位于同一子范围内。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述K个第二数据点，从所述N2个第二数据点中确定P个第二参考数据点，包括：

确定所述K个第二数据点分别到所述预设范围对应的参考原点的距离；

计算确定出的K个距离的平均值；

对所述平均值进行校准逆变换，从所述N2个第二数据点中确定与所述校准逆变换结果对应的第二数据点作为所述P个第二参考数据点。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述计算确定出的K个距离的平均值之前，还包括：

从所述K个距离中滤除最大距离和最小距离；

所述计算确定出的K个距离的平均值，包括：

计算滤除后剩余的距离的平均值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个作为M个第一参考数据点，包括：

根据所述第一校准参数对所述N1个第一数据点进行校准；

根据预设选取规则，从校准后的N1个第一数据点中选择出M个第一数据点；

对所述M个第一数据点进行校准逆变换，所述校准逆变换结果作为所述M个第一参考数据点。

6.一种数据校准装置，其特征在于，包括：

选择模块，用于从使用第一校准参数进行校准的N1个第一数据点中选择出M个作为M个第一参考数据点；

校准模块，用于根据所述第一校准参数对N2个第二数据点进行校准；

确定模块，用于若校准后的N2个第二数据点中存在至少K个超出预设范围，则根据所述K个第二数据点，从所述N2个第二数据点中确定P个第二参考数据点；

替换模块，用于以所述P个第二参考数据点替换所述M个第一参考数据点中与所述P个第二参考数据点距离最近的P个第一参考数据点；

获取模块，用于根据替换后的M个第一参考数据点获取第二校准参数；

所述校准模块，还用于根据所述第二校准参数对在所述N2个第二数据点之后采集到的数据点进行校准。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述确定模块具体包括：

确定单元，用于确定所述K个第二数据点分别到所述预设范围对应的参考原点的距离；

计算单元，用于计算确定出的K个距离的平均值；

逆变换单元，用于对所述平均值进行校准逆变换，从所述N2个第二数据点中确定与所述校准逆变换结果对应的第二数据点作为所述P个第二参考数据点。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

滤除模块，用于从所述K个距离中滤除最大距离和最小距离；

所述计算单元具体用于：计算滤除后剩余的距离的平均值。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述选择模块具体包括：

校准单元，用于根据所述第一校准参数对所述N1个第一数据点进行校准；

选择单元，用于根据预设选取规则，从校准后的N1个第一数据点中选择出M个第一数据点；

逆变换单元，用于对所述M个第一数据点进行校准逆变换，所述校准逆变换结果作为所述M个第一参考数据点。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器，以及与所述存储器连接的处理器；

所述存储器，用于存储一条或多条计算机指令，其中，所述一条或多条计算机指令供所述处理器调用执行；

所述处理器，用于执行所述一条或多条计算机指令以实现权利要求1-5中任一项所述的方法。

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