CN107544011A - 用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统 - Google Patents

Abstract

本发明提出用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路，为维护人员提供维护依据，提前做好防范，减小不必要的损失。该结构建立于芯片上，包括：阈值设置模块，参数检测模块，比较模块，信息发送模块等。所述阈值设置模块，用以选择可以用来检测芯片状态的模块以及失效值；所述参数检测模块，用以实时获取芯片工作状态参数；所述比较模块，用以将即时的芯片工作参数与阈值数值进行比较；所述信息发送模块，可以将比较结果发送到相关人员设备处，由工作人员决定具体的维护工作内容。

Description

用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统

技术领域

本发明涉及集成电路领域，尤其涉及整机工作系统功率器件、高可靠性器件等领域。

背景技术

随着商业系统和工业的飞速发展，各界对电路系统的要求也越来越高。从以前的功能需求慢慢转变成可靠性需求。为了应对日益升高的工业界需要，电路系统的工作模式和机制也在有着不同程度的改进。对于一些对国民生产生活有较大影响的行业，如电力系统、水利系统等，尤其需要保证工作系统的可靠性，否则将带来难以估量的损失。

众所周知，一个大的电路系统，归根结底，其核心为控制芯片以及相关的功率器件、高可靠性器件。这些元件的工作与否直接影响到整个系统能否正常运转。因此，保证这些关键部件的正常使用是保证整个系统正常运转的前提，如何维持这些关键部件的正常使用也越来越受到业界重视。

基于下述考虑，芯片的自检电路受到业界的广泛关注：

1，对高可靠性器件而言，需要长期稳定的工作。一旦出现损坏且未及时更换，将会对整个系统产生不良影响，造成巨大损失。；

2，对于芯片、功率器件和高可靠性器件，有时因为技术水平所限，无法制造出长寿命的器件。为了应对工作系统的需要，常常采用定期更换的方法来简介满足长寿命器件的要求。但对于更换周期，不同的系统会有不同的损耗时间，无法一概而论，这就给不同系统的维护造成了一定的困难；

3，通常器件为电学元件，拥有不同的电学参数。而这些电学参数必须同时满足一定的要求时才能使得器件或者芯片正常工作。因此，在监测过程中，通常要对多个参数进行监测。

发明内容

本发明提出了一种用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统，包括：阈值设置模块，参数检测模块，比较模块，信息发送模块以及各模块间的连接电路。四个模块以及连接电路构成芯片自检电路整体。整个电路有输出和输入端口，便于获取和发送信息。

可选的，所述阈值设置模块包含参数种类选择部分以及数值设定部分。参数种类选择将要检测的参数，数值设定则用于设置检测阈值，即用于与实际值相比较的标准。

可选的，所述参数检测模块可以根据阈值设置模块所设置的参数种类，对参数值进行采样获取，并通过连接电路将所得值送到比较模块。

可选的，所述比较模块将参数检测模块传输来的参数值与阈值设置模块所设置的阈值进行比较，得出比较结果，并将比较结果送到信息发送模块。

可选的，所述信息发送模块将；比较模块所得结果发送给维护人员。

可选的，所述连接电路用于传递信号，不限定具体结构，只需保证传递所需信号的功能。

附图说明

图1为本发明所对应的工作系统。

图2为本发明的自检电路整体架构。

具体实施方式

针对背景技术提及的问题，本申请发明人分析得出：如果能够提出一种芯片自检电路，使其可以针对不同的芯片或器件参数进行检测，使得维护人员可以通过检测结果对芯片或器件进行维护或者更换，则就不会产生背景技术提到的问题。

基于上述想法，本发明实施例提出如下用于芯片自检进而预测电路系统失效的电路，该结构包括：

阈值设置模块，参数检测模块，比较模块，信息发送模块等。所述阈值设置模块，用以选择可以用来检测芯片状态的模块以及失效值；所述参数检测模块，用以实时获取芯片工作状态参数；所述比较模块，用以将即时的芯片工作参数与阈值数值进行比较；所述信息发送模块，可以将比较结果发送到相关人员设备处，由工作人员决定具体的维护工作内容。

下面结合说明书附图对上述用于芯片自检进而预测电路系统失效的电路进行详细阐述。

尽管下面将参照附图对本发明进行更详细的描述，其中表示了本发明的优选实施例，应该理解本领域技术人员可以修改在此描述的本发明而仍然实现本发明的有利效果。因此，下列描述应当被理解为对于本领域技术人员的广泛知道，而并不作为对本发明的限制。

为了清楚，不描述实际实施例的全部特征。在下列描述中，不详细描述公知的功能和结构，因为它们会使本发明由于不必要的细节而混乱。应当认为在任何实际实施例的开发中，必须作出大量实施细节以实现开发者的特定目标，例如按照有关系统或有关商业的限制，由一个实施例改变为另一个实施例。另外，应当认为这种开发工作可能是复杂和耗费时间的，但是对于本领域技术人员来说仅仅是常规工作。

在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本发明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。

下面分别给出上述封装结构的具体实施例，以便于理解上述封装结构。

图示1为本芯片自检电路的示意图，其具体参数和所用器件可能会根据实际情况有所改变。整体而言，在电路工作过程中，工作系统1在工作过程中产生的各种参数传递到芯片自检电路2，通过芯片自检电路2的一系列处理，将处理结果告知工作人员，工作人员根据检测结果对设备进行维护。对于芯片自检电路内部而言，首先利用阈值设置模块3，对所关心的参数进行选择和设置数值，当工作系统1工作时传递的参数传输到芯片自检电路2时，这些参数通过参数检测模块4，选择出所需要的参数，并将这些参数值发送到比较模块5，在比较模块5中将这些参数值与阈值设置模块3中对应的值进行比较，并将比较结果通过信息发送模块6发送给工作人员，由工作人员进行下一步的判断，采取措施对工作系统进行维护。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (6)

1.一种用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统，其特征在于，包括：

阈值设置模块，参数检测模块，比较模块，信息发送模块以及各模块间的连接电路；四个模块以及连接电路构成芯片自检电路整体；整个电路有输出和输入端口，便于获取和发送信息。

2.如权利要求1所述的电路系统，其特征在于，所述阈值设置模块包含参数种类选择部分以及数值设定部分；参数种类选择将要检测的参数，数值设定则用于设置检测阈值，即用于与实际值相比较的标准。

3.如权利要求1所述的电路系统，其特征在于，所述参数检测模块可以根据阈值设置模块所设置的参数种类，对参数值进行采样获取，并通过连接电路将所得值送到比较模块。

4.如权利要求1所述的电路系统，其特征在于，所述比较模块将参数检测模块传输来的参数值与阈值设置模块所设置的阈值进行比较，得出比较结果，并将比较结果送到信息发送模块。

5.如权利要求1所述的电路系统，其特征在于，所述信息发送模块将；比较模块所得结果发送给维护人员。

6.如权利要求1所述的电路系统，其特征在于，所述连接电路用于传递信号，不限定具体结构，只需保证传递所需信号的功能。