CN107506268A - 一种ic在量产阶段写入唯一id的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种IC在量产阶段写入唯一ID的方法，该方法首先在LoadBoard设计固定的硬件存储单元，该硬件存储单元存放一个可用的已购买的唯一ID，量产测试时，读取该硬件存储单元的ID，写入待测的IC中即可。本发明能够使IC在量产阶段存入唯一ID，还可以解决通过网络共享方案导致的需要巨大经济、时间投入的问题。

Description

一种IC在量产阶段写入唯一ID的方法
技术领域
本发明属于芯片测试技术领域，特别涉及IC在量生阶段写入ID的方法。
背景技术
目前物联网已经渐渐的从概念转变为新兴的事物。空调、电子秤、冰箱、洗衣机、投影仪、摄像机等各种各样的电子设备均开始接入网络。设备接入时多通过蓝牙、wifi等协议。而电子设备接入的一个必要条件是每个设备有一个唯一ID，或者说Mac地址。该Mac地址存储于电子设备负责RF部分的IC芯片中。
市面上，写入ID(Mac地址)的操作多在PCBA阶段完成，即将所有器件贴片到PCB板上完成模组装配以后，再由模组的制造商，为每个模组写入该ID(Mac地址)到芯片里。这样的弊端很多，如，不同模组由于形状功能等各不相同，很难实现100％的自动化写入，需要手动放置；每个ID(Mac地址)都需要向特定的机构购买，模组制造商必须每次购买一定数量，很有可能因为对于产品市场不好，导致部分ID(Mac地址)浪费，且操作也很繁琐；对于模组制造商质量管控的能力要求较高，由于非100％自动操作，容易出现两个ID重复的现象，这样导致两个设备相遇时，无法正常工作。
因此，对于模组制造商来说，他们更希望购买来的RF IC芯片在出厂时已经内置了ID(Mac地址)。对于IC厂商来说，要实现出厂内置ID(Mac地址)同样难度。对于每一颗IC写入唯一ID(Mac地址)地址，则必须在量产测试阶段进行。量产测试需要保证每一颗IC都写入唯一的ID(Mac地址)，则需要信息的同步。即不同的产地，不同的设备，不同时刻写入到当前IC的Mac地址都是已购买的、且未使过用的。一个理想的方法是建立网络共享机制，不同的测试设备通过网络互联，通过远端服务器进行不同设备的ID(Mac地址)分配。但是，这同样有难度，第一是投入问题，建立一个这种机制的成本过于巨大；其次，目前的多数IC设计公司，IC测试多是由代工厂进行，而且出于供应链的考虑，多是由两家以上的代工厂同时生产。因此不同的代工厂如何协调建立上述互联的网络机制同样难度重重。
发明内容
基于此，因此本发明的首要目地是提供一种IC在量产阶段写入唯一ID的方法，该方法能够使IC在量产阶段存入唯一ID(Mac地址)。
本发明的另一个目地在于提供一种IC在量产阶段写入唯一ID的方法，该方法解决通过网络共享方案导致的需要巨大经济、时间投入的问题，且易于实现。
为实现上述目的，本发明的技术方案为：
一种IC在量产阶段写入唯一ID的方法，其特征在于该方法首先在LoadBoard设计固定的硬件存储单元，该硬件存储单元存放一个可用的已购买的唯一ID(Mac地址)，量产测试时，读取该硬件存储单元的ID，写入待测的IC中即可。
LoadBorad是连接待测芯片和测试设备的板卡，该板卡由IC设计公司，在开发量产程序时设计。因此，不论是自己的IC测试厂生产还是由代工厂生产，该LoadBoard对于IC设计公司来说都是可控的。LoadBoard是量产测试开发必要的硬件，不论是否加入该存储单元都需要设计，因此，本方案在成本上优势显著，几乎不需要增加成本就可以实现。
本方案的核心是将唯一ID(Mac地址)存储在每一块LoadBoard上。然后量产时，读取LoadBoard上的ID(Mac地址)写入芯片。存储单元肯定不是无限的空间，因此采用枚举的方式列出每一个ID(Mac地址)是不现实的，因此本方案，设计一个硬件存储单元，来解决数据大量存储的问题。
由于每个ID(Mac地址)都是唯一的，因此必须100％保证每一颗IC写入的ID(Mac地址)都是未使用的。因此不能出现读错的情况。而大规模量产时，每天测试的芯片都可以达到KK级别。本发明采用将异常检测和增加CRC4校验码的方式，发现任何异常和不匹配CRC4校验码，立即返回错误，停止烧写ID(Mac地址)，以进行纠错报警。
所述硬件存储单元分为两个区，即主存储区和镜像存储区，其中，主存储区用于记录日常生产过程中，唯一ID(Mac地址)的使用情况和主存储区的使用寿命等情况，镜像存储区用于对主存储区内容进行备份。
进一步，将主存储区按页单元分为两部分，即“首页”和“当前使用页”，目的是根据不同部分的使用情况，决定使用寿命；其中，首页只进行读操作，因此其使用次数不受限制，该部分包括1)“当前使用页”指针P，该指针指向第二部分“当前使用页”，2)起始地址，记录可用ID(Mac地址)段的起始地址3)结束地址，记录可用ID(Mac地址)段的结束地址；当前使用页，由于需要频繁的擦写，当前使用页的地址是变化的，具体位置有首页中的指针决定；当前使用页使用寿命达到理论值的2/3后，则需要放弃使用；该部分包括：1)当前地址，记录ID(Mac地址)段目前正在使用的地址，2)当前使用页次数，记录当前使用页已经擦写的次数，3)CRC校验码，该部分所有内容生成的CRC校验码。
更进一步，镜像存储区同样按页分为两个部分，具体内部划分与主存储区完全相同。
进一步，所述方法还设置有纠错机制，首先，读取数据结构体数据，然后检测当前页指针是否合理、判断起始地址是否全为0或F、判断结束地址是否全为0或F、判断当前地址是否位于起始结束之间、判断当前页CRC码是否正确，如果任何一项为否，则为异常，返回错误结果，停止将ID写入IC的操作。
具体地说，本发明所实现的方法，包括步骤如下：
S101、设计LoadBoard，将硬件存储单元焊接到LoadBoard上；
S102、将ID段，烧写到硬件存储单元中；
S103、加载量产测试程序；
S104、执行量产测试程序，根据量产测试程序，测试常规测试项目，直到所有的测试项均完成；有任何测试不通过则跳到212，否则继续。
S105、调用量产程序中的读写模块，将硬件存储单元中的所有内容读取到链表结构中；
S106、调用量产程序的纠错模块，对链表结构中的数据进行纠错检查。如果数据无异常则继续；
S107、调用量产程序的备份模块，备份当前链表的信息到log文件中，同时每隔500次，将硬件存储单元的主存储模块的内容备份到镜像模块中；
S108、检测待测IC芯片中是否已经写入ID，如果写入通过则继续，
S109、调用量产程序的读写模块，将当前地址+1，并且更新当前页使用次数和CRC校验码值，一起写入LoadBoard上的硬件存储单元；
S110、根据待测IC本身的时序要求，将当前地址写入待测IC芯片中；
S111、执行量产测试程序，直到待测的所有IC全部测试完成。
本发明所实现的IC在量产阶段写入唯一ID的方法，能够IC在量产阶段存入唯一ID，还可以通过网络共享方案导致的需要巨大经济、时间投入的问题，且易于实现、成本低。
附图说明
图1是本发明所实施的总体架构框图。
图2是本发明所实施硬件存储单元的框图。
图3是本发明所实施软件读写模块流程图。
图4是本发明所实施软件纠错模块流程图。
图5是本发明所实施软件备份模块流程图。
图6是本发明所实施量产模块流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
图1所示，为本发明所实现的IC在量产阶段写入唯一ID(Mac地址)的方案。整个方案由硬件存储单元、软件读写模块、软件纠错模块、软件备份模块组成。
该方法首先在LoadBoard设计固定的存储单元，该存储单元存放一个可用的已购买的唯一ID(Mac地址)，量产测试时，读取该存储单元的ID(Mac地址)，写入待测的IC中即可。
LoadBorad是连接待测芯片和测试设备的板卡，该板卡由IC设计公司，在开发量产程序时设计。因此，不论是自己的IC测试厂生产还是由代工厂生产，该LoadBoard对于IC设计公司来说都是可控的。LoadBoard是量产测试开发必要的硬件，不论是否加入该存储单元都需要设计，因此，本方案在成本上优势显著，几乎不需要增加成本就可以实现。
本方案的核心是将唯一ID(Mac地址)存储在每一块LoadBoard上。然后量产时，读取LoadBoard上的ID(Mac地址)写入芯片。存储单元肯定不是无限的空间，因此采用枚举的方式列出每一个ID(Mac地址)是不现实的，因此本方案，设计一个硬件存储单元，来解决数据大量存储的问题。
结合图2所示，硬件存储单元：硬件存储单元是本方案的核心。将本应共享在服务器端的ID(Mac地址)，直接固化在LoadBoard的硬件存储单元上。由于不管有多少台设备，不管IC量产测试的产地在哪，只要进行量产测试，则必须使用LoadBoard，因此只要维护好LoadBoard(即硬件存储单元)，则可对所有的ID(Mac地址)进行维护。
硬件存储单元分为两个区，即主存储区和镜像存储区。主存储区用于记录日常生产过程中，唯一ID(Mac地址)的使用情况和主存储区的使用寿命等情况，镜像存储区用于对主存储区内容进行备份，每当主存储区使用500次后，对主存储区进行内容进行备份。
其中，主存储区按页单元分为两部分，即“首页”和“当前使用页”，目的是根据不同部分的使用情况，决定使用寿命。
首页。首页只进行读操作，因此其使用次数不受限制。该部分包括1)“当前使用页”指针P，该指针指向第二部分“当前使用页”。2)起始地址，记录可用ID(Mac地址)段的起始地址3)结束地址，记录可用ID(Mac地址)段的结束地址
当前使用页。由于需要频繁的擦写，当前使用页的地址是变化的，具体位置有首页中的指针决定。当前使用页使用寿命达到理论值的2/3后，则需要放弃使用。该部分包括：1)当前地址，记录ID(Mac地址)段目前正在使用的地址。2)当前使用页次数。记录当前使用页已经擦写的次数3)CRC校验码，该部分所有内容生成的CRC校验码。
镜像存储区同样按页分为两个部分，具体内部划分与主存储区完全相同。
结合图3所示，软件读写包括读流程和写流程，主要功能是对硬件存储单元的内容进行读写操作。
读流程如下：
1)读取当前页指针P；
2)读取起始地址和结束地址；
3)根据当前页指针P计算出当前使用页地址；
4)读取当前使用页内的，当前地址，使用次数和CRC；
5)将上述内容存入链表。
写流程如下：
1)将当前地址+1，当前页使用次数+1；
2)计算出新的CRC；
3)将上述数据写入到主存储区。
结合图4所示，在读写过程中不可避免地会产生错误，因此需要纠错机制，纠错机制主要功能是对读写存入连边结构中的数据进行纠错处理。由于该方案应用量产环境，因此任何的读写问题错误都有可能导致写入IC的ID(Mac地址)异常。因此，在软件中单独建立一个纠错模块，来检测和避免任何可能发生的异常。附图4为软件纠错模块的操作流程。具体包括检测当前页指针是否合理、判断起始地址是否全为0或F、判断结束地址是否全为0或F、判断当前地址是否位于起始结束之间、判断当前页CRC码是否正确，该模块如果检测到异常。返回错误结果，停止将ID(Mac地址)写入IC的操作。如下均被视为异常：
-当前页指针P，超出存储区的合理空间视为异常。
-起始地址和结束地址为全0或者全F视为异常。
-当前地址超出起始地址和结束地址的空间，视为异常。
-由所有数据计算出的CRC和链表中存储的CRC不同视为异常。
结合图5所示，对于硬件存储单元的存储内容还需要进行备份，避免硬件存储单元因意外情况导致损坏时，ID段(Mac地址段)全部丢失的情况。同时解决地址段长期使用时，无法追踪ID段(Mac地址地址段)使用情况的问题。具体步骤如下：
101、读取已经存入链表中的数据(包括主存储区和镜像存储区内容)。
102、将此时信息备份到本地log文件中。
103、判断主存储区是否为空，如果为空，则将镜像区的内容(当前地址+500，其他不变)，备份到主存储区。“当前地址+500”是由于主存储区没500次操作往镜像区备份一次。
104、判断镜像区是否为空，如果为空，则将主存储区的内容备份当镜像区。
105、分析当前页的使用次数。如果是500的整数倍，将数据从主存储区备份到镜像存储区。
106、分析当前页的使用次数。如果已经达到理论读写测试的2/3，当前页指针P+1，当前页不在使用。
107、返回备份完成结果。
结合图6所示，本发明所实现量产方法包括步骤如下：
201、准备阶段，设计LoadBoard，将硬件存储单元焊接到LoadBoard上。
202、准备阶段，将一个1000w的ID(Mac地址)段，烧写硬件存储单元中。
203、准备阶段，将已烧写ID(Mac地址)段的LoadBoard发往测试厂(可以是代工厂)
204、量产开始，安装好LoadBoard，加载量产测试程序
205、根据量产测试程序，测试常规测试项目。直到所有的测试项均完成，有任何测试不通过则跳到212，否则继续。
206、调用量产程序中的读写模块，将硬件存储单元中的所有内容读取到链表结构中。
207、调用量产程序的纠错模块。根据纠错模块的操作步骤，对链表结构中的数据进行纠错检查。如果数据无异常则继续。否则直接跳到212。
208、调用量产程序的备份模块。备份当前链表的信息到log文件中。同时每隔500次，将硬件存储单元的主存储模块的内容备份到镜像模块中
209、检测待测IC芯片中是否已经写入ID(Mac地址)。如果写入通过则继续，否则跳到212。
210、调用量产程序的读写模块。将当前地址+1，并且更新当前页使用次数和CRC校验码值，一起写入LoadBoard上的硬件存储单元
211、根据待测IC本身的时序要求，将当前地址写入待测IC芯片中，通过则继续，否则跳到212。
212、重复205-211直到待测的所有IC全部测试完成。
213、代工厂将测试报告、和本次生成的log文件，一起回复给测试工程师。
因此，本发明所实现的IC在量产阶段写入唯一ID的方法，能够使IC在量产阶段存入唯一ID，还可以解决通过网络共享方案导致的需要巨大经济、时间投入的问题，且易于实现、成本低。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种IC在量产阶段写入唯一ID的方法，其特征在于该方法首先在LoadBoard设计固定的硬件存储单元，该硬件存储单元存放一个可用的唯一ID，量产测试时，读取该硬件存储单元的ID，写入待测的IC中即可。
2.如权利要求1所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法，其特征在于该方法采用将异常检测和增加CRC4校验码的方式，发现任何异常和不匹配CRC4校验码，立即返回错误，停止烧写ID，以进行纠错。
3.如权利要求1所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法，其特征在于所述硬件存储单元分为两个区，即主存储区和镜像存储区，其中，主存储区用于记录日常生产过程中，唯一ID的使用情况和主存储区的使用寿命情况，镜像存储区用于对主存储区内容进行备份。
4.如权利要求3所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法，其特征在于将主存储区按页单元分为两部分，即“首页”和“当前使用页”，首页只进行读操作，该部分包括1)“当前使用页”指针P，该指针指向第二部分“当前使用页”，2)起始地址，记录可用ID段的起始地址，3)结束地址，记录可用ID段的结束地址；当前使用页，当前使用页的地址是变化的，具体位置有首页中的指针决定；当前使用页使用寿命达到理论值的2/3后，则需要放弃使用；该部分包括：1)当前地址，记录ID(Mac地址)段目前正在使用的地址，2)当前使用页次数，记录当前使用页已经擦写的次数，3)CRC校验码，记录所有内容生成的CRC校验码。
5.如权利要求4所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法，其特征在于镜像存储区同样按页分为两个部分，具体内部划分与主存储区完全相同。
6.如权利要求1所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法，其特征在于所述方法还设置有纠错机制，首先，读取数据结构体数据，然后检测当前页指针是否合理、判断起始地址是否全为0或F、判断结束地址是否全为0或F、判断当前地址是否位于起始结束之间、判断当前页CRC码是否正确，如果任何一项为否，则为异常，返回错误结果，停止将ID写入IC的操作。
7.如权利要求1所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法，其特征在于该方法，包括步骤如下：
S101、设计LoadBoard，将硬件存储单元焊接到LoadBoard上；
S102、将ID段，烧写到硬件存储单元中；
S103、加载量产测试程序；
S104、执行量产测试程序，根据量产测试程序，测试常规测试项目，直到所有的测试项均完成；有任何测试不通过则跳到212，否则继续。
S105、调用量产程序中的读写模块，将硬件存储单元中的所有内容读取到链表结构中；
S106、调用量产程序的纠错模块，对链表结构中的数据进行纠错检查。如果数据无异常则继续；
S107、调用量产程序的备份模块，备份当前链表的信息到log文件中，同时每隔500次，将硬件存储单元的主存储模块的内容备份到镜像模块中；
S108、检测待测IC芯片中是否已经写入ID，如果写入通过则继续，
S109、调用量产程序的读写模块，将当前地址+1，并且更新当前页使用次数和CRC校验码值，一起写入LoadBoard上的硬件存储单元；
S110、根据待测IC本身的时序要求，将当前地址写入待测IC芯片中；
S111、执行量产测试程序，直到待测的所有IC全部测试完成。
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Application publication date: 20171222