CN107505487A - 一种温升实验的方法、系统及低压成套设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种温升实验的方法、系统及低压成套设备，应用于带分接单元的低压成套设备，低压成套设备的负载端短接，温升实验的方法包括第一程控电源控制母线干线单元上的试验电流达到第一额定电流；第二程控电源判断分接单元中各个支路上的试验电流是否均等于第二额定电流；若否，第二程控电源通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于第二额定电流。通过程控电源改变输出电压来控制各个支路上的试验电流等于其对应的额定电流，不需要人工调节各支路上的阻抗调节器，减小了误差，提高了温升实验结果的准确度，且程控电源体积小，进而减小了整个设备的体积，优化了电路的接线方式，不受场地限制，维护成本低。

Description

一种温升实验的方法、系统及低压成套设备

技术领域

本发明涉及电器测试领域，特别是涉及一种温升实验的方法、系统及低压成套设备。

背景技术

低压成套设备的项目中，温升实验作为一项较为重要的考核内容，得到了人们的广泛关注。在现有技术中，对低压成套设备进行温升实验一般是通过多磁路大电流稳流装置向低压成套设备的进线端通以额定电流，工作人员通过分别调节串联在各个输出电路母线末端上每一路的阻抗调节器，使各个输出电路的电流值达到规定的输出额定电流来实现的，但是当通电一段时间后，温度升高，低压成套设备内部阻抗变大，导致各输出电路的电流下降，为了保证每一个支路上的电流仍符合规定的输出额定电流，需要工作人员不停地手动调节各个输出电路的阻抗调节器，以达到给实际负载供电的要求。

但是，在实际应用中，因为多磁路大电流稳流装置和阻抗调节器体积均较大且连接麻烦，所以在对低压成套设备进行温升实验时，需要将母线干线单元的各相分开一定距离以连接阻抗调节器，在进行垂直温升的时候，需要搭建一个至少6米高的平台来放置连接母线干线单元末端的阻抗调节器以及多磁路大电流稳流装置，以这样的操作方案进行温升实验，不仅会受到场地限制，而且操作困难，维护成本极高。此外，在进行温升实验的过程中，需要工作人员经常对各支路的阻抗进行手动调节，由于人工操作不准确，因此各支路试验电流误差较大，从而影响温升实验结果的准确度。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种温升实验的方法，通过程控电源改变输出电压来控制各个支路上的试验电流等于其对应的额定电流，不需要人工调节各支路上的阻抗调节器，减小了误差，提高了温升实验结果的准确度，且程控电源体积小，进而减小了整个设备的体积，优化了电路的接线方式，维护成本低。本发明的另一目的是提供一种温升实验的系统及低压成套设备。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种温升实验的方法，应用于带分接单元的低压成套设备，所述低压成套设备的负载端短接，所述温升实验的方法包括：

第一程控电源控制母线干线单元上的试验电流达到第一额定电流；

第二程控电源判断分接单元中各个支路上的试验电流是否均等于第二额定电流；

若否，所述第二程控电源通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于所述第二额定电流。

优选的，所述若否之后，所述第二程控电源通过改变输出电压控制待调整支路上的试验电流等于所述第二额定电流之前，该方法还包括：

判断所述待调整支路上的试验电流是否大于所述第二额定电流；

若是，所述第二程控电源输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相反的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流降低到所述第二额定电流；

若否，所述第二程控电源输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流升高到所述第二额定电流。

优选的，在判断所述待调整支路上的试验电流大于所述第二额定电流之后，所述第二程控电源输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相反的电压之前，该方法还包括：

判断所述待调整支路上的试验电流是否小于第一预设值，其中，所述第一预设值大于所述第二额定电流；

若是，控制所述待调整支路上的试验电流小于所述第二额定电流，然后所述第二程控电源输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流升高到所述第二额定电流。

优选的，所述控制所述待调整支路上的试验电流小于所述第二额定电流的过程具体为：

通过增大所述待调整支路上的阻抗来控制所述待调整支路上的试验电流小于所述第二额定电流。

优选的，在判断所述待调整支路上的试验电流小于所述第二额定电流之后，输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相同的电压之前，该方法还包括：

判断所述待调整支路上的所述试验电流是否大于第二预设值，其中，所述第二预设值小于所述第二额定电流；

若是，控制所述待调整支路上的试验电流小于所述第二预设值，然后所述第二程控电源输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流升高到所述第二额定电流。

优选的，所述控制所述待调整支路上的试验电流小于第二预设值的过程具体为：

通过增大所述待调整支路上的阻抗来控制所述待调整支路上的试验电流小于所述第二预设值。

为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种温升实验的系统，应用于带分接单元的低压成套设备，所述低压成套设备的负载端短接，所述温升实验的系统包括：

第一程控电源，用于控制母线干线单元上的试验电流达到第一额定电流；

第二程控电源，用于判断分接单元中各个支路上的试验电流是否均等于第二额定电流；

若否，所述第二程控电源还用于通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于所述第二额定电流。

优选的，所述若否之后，所述第二程控电源通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于所述第二额定电流之前，所述第二程控电源还用于判断所述待调整支路上的试验电流是否大于所述第二额定电流；

若是，所述第二程控电源具体用于输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相反的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流降低到所述第二额定电流；

若否，所述第二程控电源具体用于输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流升高到所述第二额定电流。

为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种低压成套设备，包含如上述任意一项所述的温升实验系统。

优选的，所述低压成套设备为母线槽。

本发明提供了一种温升实验的方法，应用于带分接单元的低压成套设备，低压成套设备的负载端短接，温升实验的方法包括第一程控电源控制母线干线单元上的试验电流达到第一额定电流；第二程控电源判断分接单元中各个支路上的试验电流是否均等于第二额定电流；若否，第二程控电源通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于第二额定电流。

可见，应用本发明的方案，在进行温升实验时不需要通过调节分接单元中各支路上的阻抗调节器来保证各支路上的试验电流达到额定电流，而是将低压成套设备的负载端短接，通过第一程控电源控制母线干线单元上的实验电流达到其对应的额定电流后，通过第二程控电源改变输出电压来控制各个支路上的试验电流等于其对应的额定电流，操作简单，不需要人工调节各支路上的阻抗调节器，减小了各支路上的试验电流的误差，提高了温升实验结果的准确度，且程控电源体积较小，进而减小了整个设备的体积，并且不需要将母线干线单元的各相分开一定距离，优化了电路的接线方式，且不受场地限制，维护成本低。

本发明还提供了一种温升实验的系统及低压成套设备，具有如上述实验方法相同的有益效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明所提供的一种温升实验方法的流程图；

图2为本发明所提供的一种温升实验系统的结构示意图。

具体实施方式

本发明的核心是提供一种温升实验的方法，通过程控电源改变输出电压来控制各个支路上的试验电流等于其对应的额定电流，不需要人工调节各支路上的阻抗调节器，减小了误差，提高了温升实验结果的准确度，且程控电源体积小，进而减小了整个设备的体积，优化了电路的接线方式，维护成本低。本发明的另一核心是提供一种温升实验的系统及低压成套设备。

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参照图1，图1为本发明所提供的一种温升实验方法的流程图，应用于带分接单元的低压成套设备，低压成套设备的负载端短接，包括：

步骤1：第一程控电源控制母线干线单元上的试验电流达到第一额定电流；

具体的，在对带分解单元的低压成套设备进行温升实验时，首先通过第一程控电源控制母线干线单元上的试验电流达到其对应的额定电流，由于低压成套设备的负载端短接，保证了此时母线干线单元上的试验电流不仅满足其额定电流要求，而且不再变化，为后续更精确的控制分接单元中各支路上的试验电流提供了基础，且程控电源体积较小，进而减小了整个设备的体积。

步骤2：第二程控电源判断分接单元中各个支路上的试验电流是否均等于第二额定电流；

具体的，带分接单元的低压成套设备可以连接更多的负载，为了达到给实际负载供电的要求，需要分接单元中各支路上的试验电流均满足其对应的额定电流，但是在进行温升实验的过程中，随着温度的变化，低压成套设备的内部阻抗会相应变化，进而各支路上的试验电流也会随之变化，有可能此时某一支路上的试验电流不满足其对应的额定电流，导致无法给实际负载正常供电，所以需要判断分接单元中各个支路上的试验电流是否均等于其对应的额定电流，以便后续对不满足要求的试验电流进行调整，以达到给实际负载供电的要求。

步骤3：若否，第二程控电源通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于第二额定电流。

具体的，分接单元中任意一条支路均可为待调整支路，第二程控电源通过改变输出电压的方法来控制待调整支路上的试验电流等于其对应的额定电流，操作简单，不需要人工调节各支路上的阻抗调节器，减小了各支路上的试验电流的误差，提高了温升实验结果的准确度，且程控电源体积较小，从而减小了整个设备的体积，也不再需要将母线干线单元的各相分开一定距离，优化了电路的接线方式，且不受场地限制，维护成本低。

本发明提供了一种温升实验的方法，应用于带分接单元的低压成套设备，低压成套设备的负载端短接，温升实验的方法包括第一程控电源控制母线干线单元上的试验电流达到第一额定电流；第二程控电源判断分接单元中各个支路上的试验电流是否均等于第二额定电流；若否，第二程控电源通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于第二额定电流。

可见，应用本发明的方案，在进行温升实验时不需要通过调节分接单元中各支路上的阻抗调节器来保证各支路上的试验电流达到额定电流，而是将低压成套设备的负载端短接，通过第一程控电源控制母线干线单元上的实验电流达到其对应的额定电流后，通过第二程控电源改变输出电压来控制各个支路上的试验电流等于其对应的额定电流，操作简单，不再需要人工调节各支路上的阻抗调节器，减小了各支路上的试验电流的误差，提高了温升实验结果的准确度。且程控电源体积较小，进而减小了整个设备的体积，并且不需要将母线干线单元的各相分开一定距离，优化了电路的接线方式，且不受场地限制，维护成本低。

在上述实施例的基础上：

作为一种优选的实施例，若否之后，第二程控电源通过改变输出电压控制待调整支路上的试验电流等于第二额定电流之前，该方法还包括：

判断待调整支路上的试验电流是否大于第二额定电流；

若是，第二程控电源输出一个与待调整支路上的试验电流相位相反的电压，以控制待调整支路上的试验电流降低到第二额定电流；

若否，第二程控电源输出一个与待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制待调整支路上的试验电流升高到第二额定电流。

具体的，为了使温升实验的结果更加准确，当待调整支路上的试验电流和第二额定电流不相等时，第二程控电源会对其大小关系进行进一步的判断，然后根据大小关系对待调整支路上的试验电流进行相应的控制，当待调整支路上的试验电流大于第二额定电流时，第二程控电源输出一个与待调整支路上的试验电流相位相反的电压，当待调整支路上的试验电流小于第二额定电流时，第二程控电源输出一个与待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以上述改变输出电压的方式来控制待调整支路上的试验电流等于第二额定电流，操作简单，不再需要人工调节各支路上的阻抗调节器，减小了各支路上的试验电流的误差，提高了温升实验结果的准确度。

作为一种优选的实施例，在判断待调整支路上的试验电流大于第二额定电流之后，第二程控电源输出一个与待调整支路上的试验电流相位相反的电压之前，该方法还包括：

判断待调整支路上的试验电流是否小于第一预设值，其中，第一预设值大于第二额定电流；

若是，控制待调整支路上的试验电流小于第二额定电流，然后第二程控电源输出一个与待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制待调整支路上的试验电流升高到第二额定电流。

具体的，当待调整支路上的试验电流大于第二额定电流时，可能存在一条或多条待调整支路上的试验电流与第二额定电流之间的偏差并不明显，满足这种偏差范围内的、且大于第二额定电流的任意值均可为第一预设值，本发明在此不做限定。

具体的，当待调整支路上的试验电流大于第二额定电流且小于第一预设值时，第二程控电源如果直接输出反向电压来控制待调整支路上的试验电流等于第二额定电流，由于此时的试验电流与第二额定电流之间相差很小，可能控制不准确，所以本发明在处理这类待调整支路上的试验电流时首先控制待调整支路上的试验电流小于第二额定电流，再通过第二程控电源输出一个与待调整支路上的试验电流相位相同的电压，来控制待调整支路上的试验电流升高到第二额定电流，操作简单，进一步提高了温升实验结果的准确度。

作为一种优选的实施例，控制待调整支路上的试验电流小于第二额定电流的过程具体为：

通过增大待调整支路上的阻抗来控制待调整支路上的试验电流小于第二额定电流。

具体的，在实际应用中，当待调整支路上的试验电流与第二额定电流之间的偏差并不明显时，可以通过增大待调整支路上的阻抗来控制待调整支路上的试验电流小于第二额定电流，以便进行后续操作，为对待调整支路上的试验电流进行更精确的控制提供了基础。具体的，这里的增大待调整支路上的阻抗可以通过在待调整支路上接入额外的阻抗来实现。

当然，除了可以通过增大待调整支路上的阻抗来控制待调整支路上的试验电流小于第二额定电流，还可以为其他控制方式，本发明在此不做限定。

作为一种优选的实施例，在判断待调整支路上的试验电流小于第二额定电流之后，输出一个与待调整支路上的试验电流相位相同的电压之前，该方法还包括：

判断待调整支路上的试验电流是否大于第二预设值，其中，第二预设值小于第二额定电流；

若是，控制待调整支路上的试验电流小于第二预设值，然后第二程控电源输出一个与待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制待调整支路上的试验电流升高到第二额定电流。

具体的，当待调整支路上的试验电流小于第二额定电流时，可能存在一条或多条待调整支路上的试验电流与第二额定电流之间的偏差并不明显，满足这种偏差范围内的、且小于第二额定电流的任意值均可为第二预设值，本发明在此不做限定。

具体的，当待调整支路上的试验电流小于第二额定电流且大于第二预设值时，第二程控电源如果直接输出反向电压来控制待调整支路上的试验电流等于第二额定电流，由于此时的试验电流与第二额定电流之间相差很小，可能控制不准确，所以本发明在处理这类待调整支路上的试验电流时首先控制待调整支路上的试验电流小于第二预设值，再通过第二程控电源输出一个与待调整支路上的试验电流相位相同的电压，来控制待调整支路上的试验电流升高到第二额定电流，操作简单，进一步减小了待调整支路上的试验电流的误差，提高了温升实验结果的准确度。

作为一种优选的实施例，控制待调整支路上的试验电流小于第二预设值的过程具体为：

通过增大待调整支路上的阻抗来控制待调整支路上的试验电流小于第二预设值。

具体的，在实际应用中，当待调整支路上的试验电流与第二额定电流之间的偏差并不明显时，可以通过增大待调整支路上的阻抗来控制待调整支路上的试验电流小于第二预设值，操作简单，为对待调整支路上的试验电流进行更精确的控制提供了基础。具体的，这里的增大待调整支路上的阻抗可以通过在待调整支路上接入额外的阻抗来实现。

当然，除了可以通过调节待调整支路上的阻抗来控制待调整支路上的试验电流小于第二预设值，还可以为其他控制方式，本发明在此不做限定。

综上所述，带分接单元的低压成套设备应用本发明的方案进行温升实验时，不受试验场地限制，主辅回路各自连接一个程控电源，每个回路的额定电流由各自对应的程控电源提供，且主回路上的额定电流等于分接单元中各个支路上的额定电流之和，且各个支路各自对应的输出回路输出与额定电流相等的试验电流，当带分接单元的低压成套设备进行温升实验的过程中阻抗发生变化时，会自动调节各个输出回路上的试验电流，以保持各自对应的输出回路的试验电流与额定试验电流一致，进而保持动态平衡。

请参照图2，图2为本发明所提供的一种温升实验系统的结构示意图，应用于带分接单元的低压成套设备，低压成套设备的负载端短接，包括：

第一程控电源1，用于控制母线干线单元上的试验电流达到第一额定电流；

第二程控电源2，用于判断分接单元中各个支路上的试验电流是否均等于第二额定电流；

若否，第二程控电源2还用于通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于第二额定电流。

作为一种优选的实施例，若否之后，第二程控电源2通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于第二额定电流之前，第二程控电源2还用于判断待调整支路上的试验电流是否大于第二额定电流；

若是，第二程控电源2具体用于输出一个与待调整支路上的试验电流相位相反的电压，以控制待调整支路上的试验电流降低到第二额定电流；

若否，第二程控电源2具体用于输出一个与待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制待调整支路上的试验电流升高到第二额定电流。

对于本发明提供的一种温升实验系统的介绍请参照上述实施例，本发明在此不再赘述。

为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种低压成套设备，包含如上述任意一项的温升实验系统。

作为一种优选的实施例，低压成套设备为母线槽。

对于本发明提供的一种低压成套设备的介绍请参照上述实施例，本发明在此不再赘述。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种温升实验的方法，应用于带分接单元的低压成套设备，其特征在于，所述低压成套设备的负载端短接，所述温升实验的方法包括：

第一程控电源控制母线干线单元上的试验电流达到第一额定电流；

第二程控电源判断分接单元中各个支路上的试验电流是否均等于第二额定电流；

若否，所述第二程控电源通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于所述第二额定电流。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若否之后，所述第二程控电源通过改变输出电压控制待调整支路上的试验电流等于所述第二额定电流之前，该方法还包括：

判断所述待调整支路上的试验电流是否大于所述第二额定电流；

若是，所述第二程控电源输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相反的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流降低到所述第二额定电流；

若否，所述第二程控电源输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流升高到所述第二额定电流。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在判断所述待调整支路上的试验电流大于所述第二额定电流之后，所述第二程控电源输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相反的电压之前，该方法还包括：

判断所述待调整支路上的试验电流是否小于第一预设值，其中，所述第一预设值大于所述第二额定电流；

若是，控制所述待调整支路上的试验电流小于所述第二额定电流，然后所述第二程控电源输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流升高到所述第二额定电流。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述控制所述待调整支路上的试验电流小于所述第二额定电流的过程具体为：

通过增大所述待调整支路上的阻抗来控制所述待调整支路上的试验电流小于所述第二额定电流。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在判断所述待调整支路上的试验电流小于所述第二额定电流之后，输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相同的电压之前，该方法还包括：

判断所述待调整支路上的所述试验电流是否大于第二预设值，其中，所述第二预设值小于所述第二额定电流；

若是，控制所述待调整支路上的试验电流小于所述第二预设值，然后所述第二程控电源输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流升高到所述第二额定电流。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述控制所述待调整支路上的试验电流小于第二预设值的过程具体为：

通过增大所述待调整支路上的阻抗来控制所述待调整支路上的试验电流小于所述第二预设值。

7.一种温升实验的系统，应用于带分接单元的低压成套设备，其特征在于，所述低压成套设备的负载端短接，所述温升实验的系统包括：

第一程控电源，用于控制母线干线单元上的试验电流达到第一额定电流；

第二程控电源，用于判断分接单元中各个支路上的试验电流是否均等于第二额定电流；

若否，所述第二程控电源还用于通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于所述第二额定电流。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述若否之后，所述第二程控电源通过改变输出电压来控制待调整支路上的试验电流等于所述第二额定电流之前，所述第二程控电源还用于判断所述待调整支路上的试验电流是否大于所述第二额定电流；

若是，所述第二程控电源具体用于输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相反的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流降低到所述第二额定电流；

若否，所述第二程控电源具体用于输出一个与所述待调整支路上的试验电流相位相同的电压，以控制所述待调整支路上的试验电流升高到所述第二额定电流。

9.一种低压成套设备，其特征在于，包含如权利要求7-8任意一项所述的温升实验系统。

10.根据权利要求9所述的低压成套设备，其特征在于，所述低压成套设备为母线槽。