CN107480065A - 一种缺陷管理方法及设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种缺陷管理方法及设备，涉及软件缺陷管理技术。本文公开的缺陷管理方法，包括：从预先配置的缺陷模板中提取缺陷信息；在缺陷的生命周期内根据所提取的缺陷信息确定缺陷状态；从所述缺陷模板中导出缺陷状态为确认缺陷的缺陷信息，进行多维度缺陷分析。

Description

一种缺陷管理方法及设备
技术领域
本发明涉及软件缺陷管理，具体涉及一种缺陷管理方案。
背景技术
在软件项目开发的过程中，缺陷管理是一个不可避免的环节。没有任何一个项目或者任何一个人可以保证自己的开发的软件不存在任何缺陷，而出现缺陷后，如何深入分析，快速修复，并对后续的开发和交付产生恰如其分的指导作用，是一个软件开发领域持续讨论的话题。
发明内容
本发明提供一种缺陷管理方法及设备，可以解决相关技术中软件开发生无法深入分析修复缺陷的问题。
为了解决上述技术问题，本发明公开了一种缺陷管理方法，包括：
从预先配置的缺陷模板中提取缺陷信息；
在缺陷的生命周期内根据所提取的缺陷信息确定缺陷状态；
从所述缺陷模板中导出缺陷状态为确认缺陷的缺陷信息，进行多维度缺陷分析。
可选地，上述方法中，所述缺陷模板中的缺陷信息包括如下信息：
缺陷标识，缺陷优先级、缺陷发生位置、缺陷状态、缺陷描述、打开时间、结束时间、确认时间。
可选地，上述方法中，所述缺陷模板中的缺陷信息还包括：
影响版本、打开原理、是否自动化。
可选地，上述方法中，所述缺陷状态至少包括确认缺陷、有争议、关闭、打开、已修复。
可选地，上述方法中，所述多维度缺陷分析包括如下一种或几种分析：
缺陷易发生的模块/人/时间段；
缺陷发生的原因；
缺陷的数量以及在项目/产品阶段的趋势；
指导缺失用例的补充，包括补充用例的顺序或者优先级。
本文还公开了一种缺陷管理设备，包括：
第一单元，从预先配置的缺陷模板中提取缺陷信息；
第二单元，在缺陷的生命周期内根据所提取的缺陷信息确定缺陷状态；
第三单元，从所述缺陷模板中导出缺陷状态为确认缺陷的缺陷信息，进行多维度缺陷分析。
可选地，上述设备中，所述缺陷模板中的缺陷信息包括如下信息：
缺陷标识，缺陷优先级、缺陷发生位置、缺陷状态、缺陷描述、打开时间、结束时间、确认时间。
可选地，上述设备中，所述缺陷模板中的缺陷信息还包括：
影响版本、打开原理、是否自动化。
可选地，上述设备中，所述缺陷状态至少包括确认缺陷、有争议、关闭、打开、已修复。
可选地，上述设备中，所述第三单元，进行的多维度缺陷分析包括如下一种或几种分析：
缺陷易发生的模块/人/时间段；
缺陷发生的原因；
缺陷的数量以及在项目/产品阶段的趋势；
指导缺失用例的补充，包括补充用例的顺序或者优先级。
借助缺陷跟踪管理工具JIRA完成了缺陷工作流和缺陷模版的配置，并且通过对已有缺陷的分析，在人力资源有限的情况下，完成了有目的性的自动化测试用例的覆盖，规范化了项目产生的缺陷的管理流程，标准化缺陷信息，提供了多维度的分析方式，并且避免了研发人员在简单问题定位上的重复性劳动，从而节约时间去做更多更深入的优化，提高了工作的效率。具体地，具有如下有益效果：
通过预定义缺陷模板使得缺陷信息规范化，避免了由于缺陷信息看不懂，不确定，二义性等问题带来的沟通成本；
合理的缺陷流程，方便对缺陷现状的把控和管理；
深入的缺陷分析，能让已经发生的缺陷产生最大的价值，通过分析数据来完成对易发缺陷的规避，指导如自动化测试开发，开发规范等等工作的进行，最终达到减少缺陷数量的目的。
附图说明
图1为本发明实施例中缺陷管理方法流程图；
图2为本发明实施例中基于物理主机CPU共享L2缓存的虚拟机CPU绑定流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文将结合附图对本发明技术方案作进一步详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例和实施例中的特征可以任意相互组合。
本申请发明人结合相关技术在项目开发的经历，针对缺陷有效信息不足，缺陷修复慢，周期长，重复打开率高，缺陷后续分析不足等痛点，提出一种缺陷管理方法,其主要由三部分构成：缺陷模版，缺陷工作流和缺陷分析方案。该方法的实现过程如图1所示，主要包括如下步骤操作：
步骤100，从预先配置的缺陷模板中提取缺陷信息；
步骤200，在缺陷的生命周期内根据所提取的缺陷信息确定缺陷状态；
步骤300，从缺陷模板中导出缺陷状态为确认缺陷的缺陷信息，进行多维度缺陷分析。
其中，缺陷模版中主要包含了具体的缺陷所需的基本信息(即缺陷信息)。例如缺陷标识(如缺陷主题)，缺陷优先级、缺陷发生位置、缺陷状态、缺陷描述、打开时间、结束时间、确认时间。还可以包括影响版本、打开原理、是否自动化等信息。
缺陷工作流主要包括对缺陷的生命周期的一个描述，以及缺陷在开发人员，测试人员或者其他项目人员的操作下，状态(即缺陷状态)流转的一个过程。其中，缺陷状态至少包括确认缺陷、有争议、关闭、打开、已修复。
缺陷分析方案主要是在缺陷的生命周期中，和生命周期结束后对缺陷的常用分析维度的阐述(即多维度缺陷分析)，通过分析可以最大化缺陷的价值，反哺项目开发的过程，最终达到减少开发过程中缺陷的目的。具体地，多维度缺陷分析包括如下一种或几种分析：
缺陷易发生的模块/人/时间段；
缺陷发生的原因；
缺陷的数量以及在项目/产品阶段的趋势；
指导缺失用例的补充，包括补充用例的顺序或者优先级。
另外，本实施例还公开一种缺陷管理设备，包括：
第一单元，从预先配置的缺陷模板中提取缺陷信息。
缺陷模板中的缺陷信息包括如下信息：
缺陷标识，缺陷优先级、缺陷发生位置、缺陷状态、缺陷描述、打开时间、结束时间、确认时间。
可选地，在上述缺陷信息的基础上，还可以包括：影响版本、打开原理、是否自动化等信息。
第二单元，在缺陷的生命周期内根据所提取的缺陷信息确定缺陷状态。
本文中涉及的缺陷状态至少包括确认缺陷、有争议、关闭、打开、已修复。
第三单元，从所述缺陷模板中导出缺陷状态为确认缺陷的缺陷信息，进行多维度缺陷分析。
上述第三单元可以实现如下任一种或几种多维度缺陷分析：
缺陷易发生的模块/人/时间段；
缺陷发生的原因；
缺陷的数量以及在项目/产品阶段的趋势；
指导缺失用例的补充，包括补充用例的顺序或者优先级。
下面结合附图说明上述方案的具体实施。
一种缺陷管理方法，包括如下操作：
首先，配置缺陷管理模板；
进行缺陷管理需要依赖于一个具体的缺陷管理软件，如QC，JIRA，bugtrack等。在缺陷管理软件上，针对预先配置的缺陷模板来配置一个完整生命周期的缺陷应当包括的所有信息(即可通过配置缺陷模板的多个字段分别携带各种缺陷信息)。
其中，配置的缺陷模板定义了将缺陷生命周期中需要填写的内容(即将缺陷信息标准化)，主要包括如表1所示各字段：
表1为缺陷模板各字段定义表
表1
然后，在缺陷管理软件中根据缺陷管理模型的缺陷工作流来配置相应的工作流。
具体地，缺陷管理工作过程如图2所法，包括如下操作：
1：QA或者RD新创建或者导入一个缺陷。
2：缺陷创建人员指定的问题责任人，若认为缺陷不合理，增加备注说明后，将缺陷状态修改为有争议。
3：缺陷创建人员指定的问题责任人，若通过缺陷的描述认可缺陷的合理性，将缺陷状态修改为确认。
4：经过评审，如果由于某些原因导致确认状态的缺陷，是存在争议的，则将缺陷状态由确认修改为有争议。
5：经过评审，如果认为状态为有争议的缺陷是合理的，则将缺陷状态由有争议修改为确认。
6：缺陷修复人员(通常是RD)认为当前状态为重新打开的缺陷不合理，则将该缺陷状态由重新打开修改为有争议。
7：缺陷修复人员(通常是RD)认为当前状态为重新打开的缺陷是合理的，则将该缺陷状态由重新打开修改为确认。
8：缺陷修复人员(通常是RD)完成状态为确认的缺陷的修复，并通过自测验证后，将该缺陷状态由确认修改为已修复。
9：经过缺陷提出人员的验收(通常是QA)，验证状态为已修复的缺陷仍然存在问题后，增加缺陷备注信息，并将该缺陷状态由已修复修改为重新打开。
10：经过评审，认为当前状态为有争议的缺陷是一个无效缺陷，则将该缺陷状态由有争议修改为关闭。
11：经过缺陷提出人员的验收(通常是QA)，验证状态为已修复的缺陷确实被修复后，将该缺陷的状态由已修复修改为关闭。
12：经过评审，公认状态的缺陷需要修复，将该缺陷的状态由公认修改为确认，并指定修复人。
13：经过评审，当前状态为有争议的缺陷是有效的，但是近期不予修复，需要将该缺陷的状态由有争议修改为公认，同时增加备注信息进行说明。
最后，通过缺陷管理软件的导出功能，将缺陷数据导出，并进行缺陷分析，对缺陷进行多维度的深入分析。
具体地，缺陷分析可以是指从缺陷管理软件导出缺陷的数据后，对缺陷进行多维度的分析的方式。缺陷分析能有效的完成对现有缺陷数据的利用，通过统计来分析，统计分析主要包括如下几个方面：
1、缺陷易发生的模块/人/时间段
2、缺陷发生的原因
3、缺陷的数量以及在项目/产品阶段的趋势
4、指导缺失用例的补充，包括补充用例的顺序或者优先级
具体如下：
缺陷易发生的模块/人/时间段，可以通过按照模块/经办人/缺陷当前状态来完成上述统计，其意义在于找到易发生缺陷的模块/人/时间段，根据具体的缺陷来进行评审，找到缺陷高发的原因。
缺陷发生的原因，该字段记录了缺陷打开的原因，由缺陷经办人在定位缺陷问题的时候填写。其值与具体的项目/产品紧耦合，根据业务需要进行原因枚举。根据缺陷发生的原因进行数量统计，可以指导RD，QA人员通过其他方式(如补充自动化测试用例，规范化开发过程)来对高频率发生的缺陷进行规避。
缺陷的数量以及在项目/产品阶段的趋势，通过对缺陷在项目/产品的生命周期内的趋势统计，来分析缺陷易发的时间段，通过其他手段来避免缺陷的增加，并对后续项目/产品的开发带来指导。
指导缺失用例的补充，包括补充用例的顺序或者优先级，通过上述的多维度分析，可以有选择性的通过补充测试用例来避免项目/产品开发或者迭代的过程中，引入新的缺陷。
从上述实施例可以看出，本申请技术方案在项目/产品的研发过程中设计合理的缺陷模板(字段信息，即缺陷信息)，以及完善的缺陷工作流来控制缺陷的状态流转，贯穿缺陷管理的整个生命周期。同时通过相应的缺陷分析方案，对导出的缺陷数据进行分析。可见，优化了软件开发和测试的过程，对缺陷的管理流程标准化，方便统计分析。并且，对缺陷的数据价值最大化，分析缺陷产生的真正原因，并通过其他手段来降低缺陷发生的频率(如修改开发流程，指导单元测试/集成测试等测试用例开发)。
本领域普通技术人员可以理解上述方法中的全部或部分步骤可通过程序来指令相关硬件完成，所述程序可以存储于计算机可读存储介质中，如只读存储器、磁盘或光盘等。可选地，上述实施例的全部或部分步骤也可以使用一个或多个集成电路来实现。相应地，上述实施例中的各模块/单元可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。本申请不限制于任何特定形式的硬件和软件的结合。
以上所述，仅为本发明的较佳实例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种缺陷管理方法，其特征在于，包括：
从预先配置的缺陷模板中提取缺陷信息；
在缺陷的生命周期内根据所提取的缺陷信息确定缺陷状态；
从所述缺陷模板中导出缺陷状态为确认缺陷的缺陷信息，进行多维度缺陷分析。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷模板中的缺陷信息包括如下信息：
缺陷标识，缺陷优先级、缺陷发生位置、缺陷状态、缺陷描述、打开时间、结束时间、确认时间。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述缺陷模板中的缺陷信息还包括：
影响版本、打开原理、是否自动化。
4.如权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，
所述缺陷状态至少包括确认缺陷、有争议、关闭、打开、已修复。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述多维度缺陷分析包括如下一种或几种分析：
缺陷易发生的模块/人/时间段；
缺陷发生的原因；
缺陷的数量以及在项目/产品阶段的趋势；
指导缺失用例的补充，包括补充用例的顺序或者优先级。
6.一种缺陷管理设备，其特征在于，包括：
第一单元，从预先配置的缺陷模板中提取缺陷信息；
第二单元，在缺陷的生命周期内根据所提取的缺陷信息确定缺陷状态；
第三单元，从所述缺陷模板中导出缺陷状态为确认缺陷的缺陷信息，进行多维度缺陷分析。
7.如权利要求6所述的设备，其特征在于，所述缺陷模板中的缺陷信息包括如下信息：
缺陷标识，缺陷优先级、缺陷发生位置、缺陷状态、缺陷描述、打开时间、结束时间、确认时间。
8.如权利要求7所述的设备，其特征在于，所述缺陷模板中的缺陷信息还包括：
影响版本、打开原理、是否自动化。
9.如权利要求6、7或8所述的设备，其特征在于，
所述缺陷状态至少包括确认缺陷、有争议、关闭、打开、已修复。
10.如权利要求9所述的设备，其特征在于，所述第三单元，进行的多维度缺陷分析包括如下一种或几种分析：
缺陷易发生的模块/人/时间段；
缺陷发生的原因；
缺陷的数量以及在项目/产品阶段的趋势；
指导缺失用例的补充，包括补充用例的顺序或者优先级。
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