CN107422909A - 一种显示面板的触控扫描方法 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种显示面板的触控扫描方法，涉及显示技术领域，包括对显示面板进行多次整面触控扫描，获得触控电极的自电容值，还包括至少一次在两次相邻的整面触控扫描之间对显示面板边缘的第一触控电极和与第一触控电极相邻的位于显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描，获得第一触控电极与第二触控电极之间形成的耦合电容值，并根据自电容值与耦合电容值获得显示面板的触控点。如此方式，在显示面板的边缘发生触控时，能够获得显示面板边缘的第一触控电极与第二触控电极之间的耦合电容值，通过该耦合电容值及自电容值得到的触控点更加准确，有利于减小显示面板边缘部分触控位置的检测误差，提高显示面板的边缘触控特性。

Description

一种显示面板的触控扫描方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种显示面板的触控扫描方法。

背景技术

近年来，数字信息和无线移动通信的技术快速发展，为达到携带便利、体积轻巧化以及操作人性化的目的，许多电子信息产品，如移动电话等的输入方式已由采用传统的键盘或鼠标等装置进行输入转变为使用触控面板作为输入设备，以提升操作的便利性。

触摸屏按照组成结构可以分为：外挂式触摸屏(Add on Mode Touch Panel)、覆盖表面式触摸屏(On Cell Touch Panel)以及内嵌式触摸屏(In Cell Touch Panel)。其中，内嵌式触摸屏是将触摸屏的触控电极设置在显示屏的内部，可以减薄模组整体的厚度，又可以大大降低触摸屏的制作成本，受到消费者和面板厂商的青睐。触摸屏按照工作原理可分为：电阻式触摸屏和电容式触摸屏等。其中，电容式触摸屏能够支持多点触控功能，拥有较高的透光率和较低的整体功耗，其接触面硬度高，使用寿命较长。

目前，现有的一种电容式内嵌触摸屏是将现有的阵列基板上的公共电极在竖直方向上划分成多块，构成触控电极阵列，触控电极阵列位于触摸屏的显示区，参见图1，图1所示为现有技术中包含触控电极阵列的显示面板一种结构示意图。通常，显示面板100上的触控电极阵列中在最外沿的触控电极(即图1中标注B的触控电极)与处在非外沿位置的触控电极的电容环境不同，处于非外沿的触控电极的四周都有别的触控电极，四周的触控电极会与中间的触控电极互相作用产生电容，而处在最外沿的触控电极会有单边或两边没有与其他触控电极相邻，也就是说，处在最外沿的触控电极仅与两个或三个其他触控电极相邻并相互作用产生电容，因此相比处于非外沿位置的触控电极而言处于最外沿位置的触控电极的电容值较小。

在进行触摸检测时，通常是对触控电极阵列中的各触控电极同时施加驱动信号，然后再同时收取所有触控电极反馈的检测信号，重复几次上述过程来获得检测数据，再通过检测数据获得触摸点位置。考虑到现有技术中位于边缘位置的触控电极的电容环境与非边缘位置的触控电极的电容环境不同，位于边缘位置的触控电极的电容较小，当在显示面板的边缘区域发生触控时，由于边缘位置的触控电极的电容环境和非边缘位置的触控的电容环境不同，这就使得在边缘位置发生触控时，所检测到的触控位置与实际触控位置之间会产生较大误差，降低了显示面板的边缘触控特性。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种显示面板的触控扫描方法，有利于减小显示面板边缘部分触控位置的检测误差，提高显示面板的边缘触控特性。

本发明提供了一种显示面板的触控扫描方法，包括对所述显示面板进行多次整面触控扫描，获得触控电极的自电容值，其中，还包括至少一次在两次相邻的所述整面触控扫描之间对所述显示面板边缘的第一触控电极和与所述第一触控电极相邻的位于所述显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描，获得所述第一触控电极与所述第二触控电极之间形成的耦合电容值，并根据所述自电容值与所述耦合电容值获得所述显示面板的触控点。

可选地，其中：

所述在两次相邻的所述整面触控扫描之间对所述显示面板边缘的第一触控电极和与所述第一触控电极相邻的位于所述显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描包括第一耦合触控扫描，所述第一耦合触控扫描包括：

对所述第一触控电极施加驱动信号；

检测所述第一触控电极对所述第二触控电极产生的所述耦合电容值。

可选地，其中：

所述在两次相邻的所述整面触控扫描之间对所述显示面板边缘的第一触控电极和与所述第一触控电极相邻的位于所述显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描包括第二耦合触控扫描，所述第二耦合触控扫描包括：

对所述第二触控电极施加驱动信号；

检测所述第二触控电极对所述第一触控电极产生的所述耦合电容值。

可选地，其中：

所述在两次相邻的所述整面触控扫描之间对所述显示面板边缘的第一触控电极和与所述第一触控电极相邻的位于所述显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描还包括第二耦合触控扫描，包括：

对所述第二触控电极施加驱动信号；

检测所述第二触控电极对所述第一触控电极产生的所述耦合电容值；

其中，所述第二耦合触控扫描在所述第一耦合触控扫描之前或之后。

可选地，其中：

在两次相邻的所述整面触控扫描之间，所述第一耦合触控扫描和所述第二耦合触控扫描交替进行至少一次。

可选地，其中：

一帧时间内对所述显示面板进行四至六次所述整面触控扫描。

可选地，其中：

所述触控扫描方法采用重心算法获得所述显示面板的触控点。

可选地，其中：

所述显示面板还包括：

显示区，以及围绕所述显示区的非显示区；

驱动集成电路、多条触控信号线，所述驱动集成电路位于所述非显示区，所述触控信号线的两端分别与所述驱动集成电路和对应的所述触控电极电连接；

所述驱动集成电路通过所述多条触控信号线对所述触控电极进行多次所述整面触控扫描，获得所述触控电极的所述自电容值；

所述驱动集成电路在两次相邻的所述整面触控扫描之间，还通过所述触控信号线对所述显示面板边缘的所述第一触控电极和与所述第一触控电极相邻的位于所述显示面板次边缘的所述第二触控电极进行触控扫描，获得所述第一触控电极与所述第二触控电极之间形成的所述耦合电容值，并根据所述自电容值与所述耦合电容值获得所述显示面板的触控点。

可选地，其中：

所述显示面板还包括由呈阵列排布的多个所述触控电极构成的自电容式触控电极层。

可选地，其中：

所述显示面板还包括阵列基板，所述阵列基板包括：

多条栅极线，所述多条栅极线沿第一方向排列，且沿第二方向延伸，所述第一方向与所述第二方向交叉；

多条数据线，所述多条数据线沿所述第二方向排列，且沿所述第一方向延伸，所述数据线与所述栅极线绝缘；

所述多条栅极线与所述多条数据线交叉限定多个像素区域；

所述显示面板为液晶显示面板，所述像素区域内设置有像素电极，所述自电容式触控电极层复用为公共电极层；或者，

所述显示面板为有机发光二极管显示面板，所述像素区域内设置有阳极层，所述自电容式触控电极层复用为阴极层。

与现有技术相比，本发明的一种显示面板的触控扫描方法，实现了如下的有益效果：

本申请所提供的显示面板的触控扫描方法，在对显示面板进行触控扫描时，首先对显示面板进行整面触控扫描，获得各触控电极的自电容值，然后判断显示面板的边缘位置是否被触控，若未被触控，则代表不存在边缘触控现象，无需确认边缘触控点，则继续进行整面触控扫描，若边缘位置被触控，为减小边缘位置触控检测过程中出现的检测误差，加入边缘触控检测过程，在整面触控扫描之后对显示面板边缘的第一触控电极和与第一触控电极相邻的位于显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描，获得第一触控电极与第二触控电极之间形成的耦合电容值，根据该耦合电容值可获得一个触控点，然后再对显示面板进行整面触控扫描。与现有技术相比，本申请所提供的触控扫描方法中，在边缘位置发生触控时，增加了对位于边缘位置的第一触控电极和位于次边缘位置的第二触控电极进行触控检测的过程，能够获得到显示面板边缘位置的各第一触控电极与第二触控电极之间的耦合电容值，通过该耦合电容值能得到一个触控点数据。考虑到在整面触控扫描的过程中通过获得的自电容值已能够得到一个触控点数据，在显示面板边缘位置发生触控时，针对边缘位置有针对性地通过各第一触控电极与第二触控电极之间的耦合电容值又能得到一个触控点数据，结合这两个触控点数据得到的最终触控点位置相比现有技术中仅通过对显示面板进行整面触控扫描获得的数据更加准确，因此减小了边缘触控检测过程中出现的检测误差，提高了边缘触控位置的检测准确性，进而有利于提高显示面板边缘的触控特性。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1所示为现有技术中包含触控电极阵列的显示面板一种结构示意图；

图2所示为本申请所提供的显示面板的触控扫描方法的第一种流程图；

图3所示为本申请所提供的显示面板第一种俯视图；

图4所示为本申请所提供的显示面板的触控扫描方法的第二种流程图；

图5所示为本申请所提供的显示面板的触控扫描方法的第三种流程图；

图6所示为本申请所提供的显示面板的触控扫描方法的第四种流程图；

图7所示为本申请所提供的显示面板的第二种俯视图；

图8所示为本申请所提供的显示面板为液晶显示面板的一种俯视图；

图9所示为本申请所提供的显示面板为有机发光二极管显示面板时一个像素单元的构成示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

本申请提供一种显示面板的触控扫描方法，包括对显示面板进行多次整面触控扫描，获得触控电极的自电容值，还包括至少一次在两次相邻的整面触控扫描之间对显示面板边缘的第一触控电极和与第一触控电极相邻的位于显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描，获得第一触控电极与第二触控电极之间形成的耦合电容值，并根据上述自电容值与耦合电容值获得显示面板的触控点。

具体地，图2所示为本申请所提供的显示面板的触控扫描方法的第一种流程图，图3所示为本申请所提供的显示面板第一种俯视图，图3中的每个小方框代表一个触控电极10，位于显示面板100边缘位置的第一触控电极即为图中标注B所对应的电极，位于显示面板100次边缘的第二触控电极即为图中标注A所对应的电极。结合图2和图3，在对显示面板100进行触控扫描时，首先对显示面板100进行一次整面触控扫描，获得各触控电极10的自电容值，然后判断显示面板100的边缘位置是否被触控，若未被触控，则代表不存在边缘触控现象，无需确认边缘触控点，则继续进行整面触控扫描，若边缘位置被触控，为减小边缘位置触控检测过程中出现的检测误差，加入边缘触控检测过程，在整面触控扫描之后对显示面板100边缘的第一触控电极B和与第一触控电极B相邻的位于显示面板100次边缘的第二触控电极A进行触控扫描，获得第一触控电极B与第二触控电极A之间形成的耦合电容值，根据该耦合电容值可获得一个触控点，然后再对显示面板进行整面触控扫描。与现有技术相比，本申请所提供的触控扫描方法中，在边缘位置发生触控时，增加了对位于边缘位置的第一触控电极B和位于次边缘位置的第二触控电极A进行触控检测的过程，能够获得到显示面板100边缘位置的各第一触控电极B与第二触控电极A之间的耦合电容值，通过该耦合电容值能得到一个触控点数据。考虑到在整面触控扫描的过程中通过获得的自电容值已能够得到一个触控点数据，在显示面板100边缘位置发生触控时，针对边缘位置有针对性地通过各第一触控电极B与第二触控电极A之间的耦合电容值又能得到一个触控点数据，结合这两个触控点数据得到的最终触控点位置相比现有技术中仅通过对显示面板100进行整面触控扫描获得的数据更加准确，因此减小了边缘触控检测过程中出现的检测误差，提高了边缘触控位置的检测准确性，进而有利于提高显示面板边缘的触控特性。

可选地，本申请所提供的显示面板的触控扫描方法中，在两次相邻的整面触控扫描之间对显示面板边缘的第一触控电极和与第一触控电极相邻的位于显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描包括第一耦合触控扫描，第一耦合触控扫描包括：

对第一触控电极施加驱动信号；

检测第一触控电极对第二触控电极产生的耦合电容值。

具体地，图4所示为本申请所提供的显示面板的触控扫描方法的第二种流程图，结合图3和图4，在对显示面板100进行整面触控扫描后，当检测到显示面板100的边缘位置发生触控时，则对第一触控电极B和与第一触控电极B相邻的第二触控电极A进行触控扫描，此处触控扫描的方式可包括第一耦合触控扫描，在第一耦合触控扫描的过程中，首先对第一触控电极B施加驱动信号，也就是说对第一触控电极B对应的电容充电，然后接收与第一触控电极B相邻的第二触控电极A反馈的检测信号，从而获得第一触控电极B对第二触控电极A产生的耦合电容值，根据该耦合电容值即可获得在边缘位置发生触控时显示面板100边缘位置的触控点数据。在显示面板100的边缘位置发生触控时，通过第一触控电极B对第二触控电极A产生的耦合电容值得到的触控点数据更有针对性，再结合对显示面板100整面触控扫描获得的触控点数据得到最终的边缘触控点数据更加准确，因此减小了边缘触控检测过程中出现的检测误差，提高了边缘触控位置的检测准确性，进而有利于提高显示面板边缘的触控特性。

可选地，在两次相邻的整面触控扫描之间对显示面板边缘的第一触控电极和与第一触控电极相邻的位于显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描包括第二耦合触控扫描，第二耦合触控扫描包括：

对第二触控电极施加驱动信号；

检测第二触控电极对第一触控电极产生的耦合电容值。

具体地，图5所示为本申请所提供的显示面板的触控扫描方法的第三种流程图，结合图3和图5，在对显示面,100进行整面触控扫描后，当检测到显示面板100的边缘位置发生触控时，则对第一触控电极B和与第一触控电极B相邻的第二触控电极A进行触控扫描，此处触控扫描的方式可包括第二耦合触控扫描，在第二耦合触控扫描的过程中，首先对第二触控电极A施加驱动信号，也就是说对第二触控电极A对应的电容充电，然后接收与第二触控电极A相邻的第一触控电极B反馈的检测信号，从而获得第二触控电极A对第一触控电极B产生的耦合电容值，根据该耦合电容值即可获得在边缘位置发生触控时显示面板100边缘位置的触控点数据。在显示面板100的边缘位置发生触控时，通过第二触控电极A对第一触控电极B产生的耦合电容值得到的触控点数据更有针对性，再结合对显示面板整面触控扫描获得的触控点数据得到最终的边缘触控点数据更加准确，因此减小了边缘触控检测过程中出现的检测误差，提高了边缘触控位置的检测准确性，进而有利于提高显示面板边缘的触控特性。

需要说明的是，图4和图5两个实施例中，在显示面板发生边缘触控时，在两次整面触控扫描之间分别加入第一耦合触控扫描和第二耦合触控扫描，通过第一耦合触控扫描和第二耦合触控扫描均能获得第一触控电极与第二触控电极之间形成的耦合电容值，均能有针对性地得到边缘触控时边缘触控点数据，再结合整面触控扫描获得的触控点数据得到更加准确的边缘触控点数据，均能减小边缘触控检测过程中出现的检测误差，提高边缘触控位置的检测准确性，进而有利于提高显示面板边缘的触控特性。

可选地，在两次相邻的整面触控扫描之间对显示面板边缘的第一触控电极和与第一触控电极相邻的位于显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描还包括第二耦合触控扫描，包括：

对第二触控电极施加驱动信号；

检测第二触控电极对第一触控电极产生的耦合电容值；

其中，第二耦合触控扫描在第一耦合触控扫描之前或之后。

具体地，图6所示为本申请所提供的显示面板的触控扫描方法的第四种流程图，结合图3和图6，在对显示面板100进行整面触控扫描后，当检测到显示面板100的边缘位置发生触控时，则对第一触控电极B和与第一触控电极B相邻的第二触控电极A进行触控扫描，此处触控扫描的方式可包括依次执行的第一耦合触控扫描和第二耦合触控扫描。在第一耦合触控扫描的过程中，首先对第一触控电极B施加驱动信号，也就是说对第一触控电极B对应的电容充电，然后接收与第一触控电极B相邻的第二触控电极A反馈的检测信号，从而获得第一触控电极B对第二触控电极A产生的耦合电容值，根据该耦合电容值即可获得在边缘位置发生触控时显示面板100边缘位置的第一触控点数据。在第二耦合触控扫描的过程中，首先对第二触控电极A施加驱动信号，也就是说对第二触控电极A对应的电容充电，然后接收与第二触控电极A相邻的第一触控电极B反馈的检测信号，从而获得第二触控电极A对第一触控电极B产生的耦合电容值，根据该耦合电容值即可获得在边缘位置发生触控时显示面板100边缘位置的第二触控点数据。通过第一耦合触控扫描和第二耦合触控扫描分别对显示面板100边缘位置的触控点进行检测，获得第一触控点数据和第二触控点数据，结合第一触控点数据、第二触控点数据和整面触控扫描过程中得到的触控点数据，获得到边缘触控过程中的触控点位置更加准确，能够进一步减小边缘触控检测过程中出现的检测误差，进一步提高了边缘触控位置的检测准确性，更加有利于提高显示面板100边缘的触控特性。

需要说明的是，图6所示实施例中，先执行第一耦合触控扫描，再执行第二耦合触控扫描，除此种方式外，还可先执行第二耦合触控扫描，再执行第一耦合触控扫描，本申请对此不作具体限定。

可选地，在两次相邻的整面触控扫描之间，第一耦合触控扫描和第二耦合触控扫描交替进行至少一次。

具体地，图6所示实施例中，在执行完第一耦合触控扫描后再执行第二耦合触控扫描，第一耦合触控扫描和第二耦合触控扫描交替进行一次，如此能够获得两个触控点数据，结合两个触控点数据获得的触控点位置相比只结合一个触控点数据获得的触控点位置更加准确，更有利于提高显示面板的边缘触控特性。当然，为了获得更加准确的触控点，进一步提高显示面板的边缘触控特性，本申请还可交替执行多次第一耦合触控扫描和第二耦合触控扫描，获得更多组触控点数据，通过多组触控点数据得到的最终触控点位置更加准确，本申请对第一耦合触控扫描和第二耦合触控扫描的交替次数不进行具体限定。

可选地，本申请在一帧时间内对显示面板进行四至六次整面触控扫描。

具体地，本申请所提供的显示面板的触控扫描方法中，在一帧时间内对显示面板进行整面触控扫描的次数为四至六次，每进行一次整面触控扫描就能得到一个触控点数据，通过四至六次的整面触控扫描即可获得四至六个触控点数据，结合该四至六个触控点数据来获得最终的触控点位置数据，相比通过一次整面触控扫描来获得触控点位置的方式，通过四至六次的整面触控扫描获得的触控点位置数据更加准确。需要说明的时，本申请所提供的触控扫描方法中，在一帧时间内对显示面板进行整面触控扫描的次数并不仅限于四至六次，还可采用其他次数，本申请对此不作具体限定。

可选地，触控扫描方法采用重心算法获得显示面板的触控点。

具体地，本申请所提供的显示面板的触控扫描方法中，在未发生边缘触控时，通过多次整面触控扫描获得多组自电容值，采用重心算法对多组自电容值进行处理即可得到最终的触控点位置；在发生边缘触控时，本申请在相邻的两次整面触控扫描之间增加第一耦合触控扫描和/或第二耦合触控扫描，通过第一耦合触控扫描和/或第二耦合触控扫描得到第一触控电极与第二触控电极之间形成的耦合电容值的一组或多组数据，再结合整面触控扫描得到的自电容数据，采用重心算法对这些数据进行处理即可得到最终的边缘触控点位置。此处的重心，是在重力场中，物体处于任何方位时所有各组成支点的重力的合力都通过的那一点。

可选地，图7所示为本申请所提供的显示面板的第二种俯视图，显示面板100还包括：

显示区51，以及围绕显示区51的非显示区52；

驱动集成电路20、多条触控信号线30，驱动集成电路20位于非显示区52，触控信号线30的两端分别与驱动集成电路20和对应的触控电极10电连接；

驱动集成电路20通过多条触控信号线30对触控电极10进行多次整面触控扫描，获得触控电极10的自电容值；

驱动集成电路20在两次相邻的整面触控扫描之间，还通过触控信号线30对显示面板100边缘的第一触控电极B和与第一触控电极B相邻的位于显示面板100次边缘的第二触控电极A进行触控扫描，获得第一触控电极B与第二触控电极A之间形成的耦合电容值，并根据自电容值与耦合电容值获得显示面板100的触控点。

具体地，参见图7，在对显示面板100进行触控扫描时，驱动集成电路20首先通过触控信号线30对显示面板100上的触控电极10进行整面触控扫描，获得各触控电极10的自电容值，然后判断显示面板100的边缘位置是否被触控，若未被触控，则代表不存在边缘触控现象，无需确认边缘触控点，则继续进行整面触控扫描，若边缘位置被触控，为减小边缘位置触控检测过程中出现的检测误差，加入边缘触控检测过程，驱动集成电路20在整面触控扫描之后对显示面板100边缘的第一触控电极B和与第一触控电极B相邻的位于显示面板100次边缘的第二触控电极A进行触控扫描，获得第一触控电极B与第二触控电极A之间形成的耦合电容值，根据该耦合电容值可获得一个触控点，然后再对显示面板100进行整面触控扫描。与现有技术相比，本申请所提供的触控扫描方法中，在边缘位置发生触控时，增加了驱动集成电路20对位于边缘位置的第一触控电极B和位于次边缘位置的第二触控电极A进行触控检测的过程，能够获得到显示面板100边缘位置的各第一触控电极B与第二触控电极A之间的耦合电容值，通过该耦合电容值能得到一个触控点数据。考虑到在整面触控扫描的过程中通过获得的自电容值已能够得到一个触控点数据，在显示面板100边缘位置发生触控时，针对边缘位置有针对性地通过各第一触控电极B与第二触控电极A之间的耦合电容值又能得到一个触控点数据，结合这两个触控点数据得到的最终触控点位置相比现有技术中仅通过对显示面板100进行整面触控扫描获得的数据更加准确，因此减小了边缘触控检测过程中出现的检测误差，提高了边缘触控位置的检测准确性，进而有利于提高显示面板100边缘的触控特性。需要说明的是，图7所示实施例仅示意性地示出了与几个触控电极10对应的几条触控信号线30，并未示出所有触控电极10所对应的触控信号线。

可选地，显示面板还包括由呈阵列排布的多个触控电极构成的自电容式触控电极层。

具体地，请继续参见图7，本申请中的显示面板上包括阵列排布的多个触控电极10，阵列排布的触控电极10构成了自容式触控电极层。在对显示面板进行整面扫描的过程中，向每个触控电极发送扫描信号；在第一耦合触控扫描的过程中，向第一触控电极B施加驱动信号；在第二耦合触控扫描的过程中，向第二触控电极A施加驱动信号，如此实现对显示面板100的触控扫描，获得触控点位置。

可选地，图8所示为本申请所提供的显示面板为液晶显示面板的一种俯视图，图9所示为本申请所提供的显示面板为有机发光二极管显示面板时一个像素单元的构成示意图，显示面板100还包括阵列基板50，阵列基板50包括：

多条栅极线11，多条栅极线11沿第一方向排列，且沿第二方向延伸，第一方向与第二方向交叉；

多条数据线12，多条数据线12沿第二方向排列，且沿第一方向延伸，数据线12与栅极线11绝缘；

多条栅极线11与多条数据线12交叉限定多个像素区域70；

显示面板100为液晶显示面板，像素区域内设置有像素电极81，自电容式触控电极层复用为公共电极层；或者，

显示面板100为有机发光二极管显示面板，像素区域内设置有阳极层，自电容式触控电极层复用为阴极层。

具体地，参见图8，当显示面板100为液晶显示面板时，在每个像素单元70内还设置有薄膜晶体管60，同一行的薄膜晶体管60的栅极63连接同一条栅极线11，同一列的薄膜晶体管60的源极62连接同一条数据线12，每个薄膜晶体管60的漏极61连接到一个像素电极81。阵列基板上的栅极线11发挥选通作用，向薄膜晶体管60的栅极63发送电压信号，选通阵列基板上与薄膜晶体管60对应的像素单元70；数据线12发挥数据传输作用，通过薄膜晶体管60的源极62向选通的像素单元70发送数据信号，控制选通的像素单元70的显示，进而控制显示面板100的显示。其中，液晶显示面板可以包括时间复用的触控阶段和显示阶段，在触控阶段，自电容式触控电极层中呈阵列排布的多个触控电极用于触控驱动功能和触控检测功能的实现；在显示阶段，自电容式触控电极层复用为公共电极层，每个触控电极都被施加有公共电压信号，进而在触控电极与相应的像素电极81之间的共同作用下实现显示面板100的显示。本申请的栅极线11和数据线12还可连接到阵列基板的控制芯片40上，由控制芯片40向栅极线11和数据线12发送相应的控制信号。需要说明的是，本申请中图7所示的驱动集成电路20可以单独设置，也可以与图8所示中的控制芯片40集成为一体。

参见图9，当显示面板为有机发光二极管显示面板时，一个像素单元70由栅极线11和数据线12交叉界定，像素单元70内还包括与数据线12平行布置的电源线13，电源线13与数据线12绝缘，电源线13用于提供供电电压。每个像素单元70包括开关薄膜晶体管80、驱动薄膜晶体管90、存储电容C1和有机发光二极管E。开关薄膜晶体管80的栅极与栅极线11电连接，源极与数据线12电连接，漏极与驱动薄膜晶体管90的栅极电连接，驱动薄膜晶体管90的栅极与电源线13之间还设置有存储电容C1；驱动薄膜晶体管90的源极电连接电源线13，驱动薄膜晶体管90的漏极电连接有机发光二极管E中的阳极层。电源线13将供电电压提供给有机发光二极管E。当通过栅极线11施加的选通信号使开关薄膜晶体管80导通时，来自数据线12的数据信号被施加到驱动薄膜晶体管90的栅极和存储电容C1。当数据信号使驱动薄膜晶体管90导通时，电流从电源线13被供应给有机发光二极管E，使有机发光二极管E发光。在这种情况下，当驱动薄膜晶体管90导通时，从电源线13施加到有机发光二极管E的电流的电平被确定为使得有机发光二极管E可生成灰度的电平。存储电容C1用于在开关薄膜晶体管80截止时维持驱动薄膜晶体管90的栅极的电压。因此，即使开关薄膜晶体管80截止，也能维持从电源线13施加到有机发光二极管E的电流的电平直至下一帧。其中，有机发光二极管显示面板可以包括时间复用的触控阶段和显示阶段，在触控阶段，自电容式触控电极层中呈阵列排布的多个触控电极用于触控驱动功能和触控检测功能的实现；在显示阶段，自电容式触控电极层复用为有机发光二极管显示面板中的阴极层，每个触控电极都被施加有阴极电压信号，进而在触控电极与相应的阳极层之间的共同作用下实现有机发光二极管E的发光和显示面板100的显示。

通过上述实施例可知，本发明提供的一种显示面板的触控扫描方法，达到了如下的有益效果：

本发明所提供的一种显示面板的触控扫描方法，在对显示面板进行触控扫描时，首先对显示面板进行整面触控扫描，获得各触控电极的自电容值，然后判断显示面板的边缘位置是否被触控，若未被触控，则代表不存在边缘触控现象，无需确认边缘触控点，则继续进行整面触控扫描，若边缘位置被触控，为减小边缘位置触控检测过程中出现的检测误差，加入边缘触控检测过程，在整面触控扫描之后对显示面板边缘的第一触控电极和与第一触控电极相邻的位于显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描，获得第一触控电极与第二触控电极之间形成的耦合电容值，根据该耦合电容值可获得一个触控点，然后再对显示面板进行整面触控扫描。与现有技术相比，本申请所提供的触控扫描方法中，在边缘位置发生触控时，增加了对位于边缘位置的第一触控电极和位于次边缘位置的第二触控电极进行触控检测的过程，能够获得到显示面板边缘位置的各第一触控电极与第二触控电极之间的耦合电容值，通过该耦合电容值能得到一个触控点数据。考虑到在整面触控扫描的过程中通过获得的自电容值已能够得到一个触控点数据，在显示面板边缘位置发生触控时，针对边缘位置有针对性地通过各第一触控电极与第二触控电极之间的耦合电容值又能得到一个触控点数据，结合这两个触控点数据得到的最终触控点位置相比现有技术中仅通过对显示面板进行整面触控扫描获得的数据更加准确，因此减小了边缘触控检测过程中出现的检测误差，提高了边缘触控位置的检测准确性，进而有利于提高显示面板边缘的触控特性。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (10)

1.一种显示面板的触控扫描方法，包括对所述显示面板进行多次整面触控扫描，获得触控电极的自电容值，其特征在于，还包括至少一次在两次相邻的所述整面触控扫描之间对所述显示面板边缘的第一触控电极和与所述第一触控电极相邻的位于所述显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描，获得所述第一触控电极与所述第二触控电极之间形成的耦合电容值，并根据所述自电容值与所述耦合电容值获得所述显示面板的触控点。

2.根据权利要求1所述的显示面板的触控扫描方法，其特征在于，所述在两次相邻的所述整面触控扫描之间对所述显示面板边缘的第一触控电极和与所述第一触控电极相邻的位于所述显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描包括第一耦合触控扫描，所述第一耦合触控扫描包括：

对所述第一触控电极施加驱动信号；

检测所述第一触控电极对所述第二触控电极产生的所述耦合电容值。

3.根据权利要求1所述的显示面板的触控扫描方法，其特征在于，所述在两次相邻的所述整面触控扫描之间对所述显示面板边缘的第一触控电极和与所述第一触控电极相邻的位于所述显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描包括第二耦合触控扫描，所述第二耦合触控扫描包括：

对所述第二触控电极施加驱动信号；

检测所述第二触控电极对所述第一触控电极产生的所述耦合电容值。

4.根据权利要求2所述的显示面板的触控扫描方法，其特征在于，所述在两次相邻的所述整面触控扫描之间对所述显示面板边缘的第一触控电极和与所述第一触控电极相邻的位于所述显示面板次边缘的第二触控电极进行触控扫描还包括第二耦合触控扫描，包括：

对所述第二触控电极施加驱动信号；

检测所述第二触控电极对所述第一触控电极产生的所述耦合电容值；

其中，所述第二耦合触控扫描在所述第一耦合触控扫描之前或之后。

5.根据权利要求4所述的显示面板的触控扫描方法，其特征在于，在两次相邻的所述整面触控扫描之间，所述第一耦合触控扫描和所述第二耦合触控扫描交替进行至少一次。

6.根据权利要求1所述的显示面板的触控扫描方法，其特征在于，一帧时间内对所述显示面板进行四至六次所述整面触控扫描。

7.根据权利要求1所述的显示面板的触控扫描方法，其特征在于，所述触控扫描方法采用重心算法获得所述显示面板的触控点。

8.根据权利要求1所述的显示面板的触控扫描方法，其特征在于，所述显示面板还包括：

显示区，以及围绕所述显示区的非显示区；

驱动集成电路、多条触控信号线，所述驱动集成电路位于所述非显示区，所述触控信号线的两端分别与所述驱动集成电路和对应的所述触控电极电连接；

所述驱动集成电路通过所述多条触控信号线对所述触控电极进行多次所述整面触控扫描，获得所述触控电极的所述自电容值；

所述驱动集成电路在两次相邻的所述整面触控扫描之间，还通过所述触控信号线对所述显示面板边缘的所述第一触控电极和与所述第一触控电极相邻的位于所述显示面板次边缘的所述第二触控电极进行触控扫描，获得所述第一触控电极与所述第二触控电极之间形成的所述耦合电容值，并根据所述自电容值与所述耦合电容值获得所述显示面板的触控点。

9.根据权利要求1所述的显示面板的触控扫描方法，其特征在于，所述显示面板还包括由呈阵列排布的多个所述触控电极构成的自电容式触控电极层。

10.根据权利要求9所述的显示面板的触控扫描方法，其特征在于，所述显示面板还包括阵列基板，所述阵列基板包括：

多条栅极线，所述多条栅极线沿第一方向排列，且沿第二方向延伸，所述第一方向与所述第二方向交叉；

多条数据线，所述多条数据线沿所述第二方向排列，且沿所述第一方向延伸，所述数据线与所述栅极线绝缘；

所述多条栅极线与所述多条数据线交叉限定多个像素区域；

所述显示面板为液晶显示面板，所述像素区域内设置有像素电极，所述自电容式触控电极层复用为公共电极层；或者，

所述显示面板为有机发光二极管显示面板，所述像素区域内设置有阳极层，所述自电容式触控电极层复用为阴极层。