CN107271729A - 一种测试通用转接接口 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种测试通用转接接口,在固定探针卡装置上设置探针卡转接板,在探针卡转接板上设置接口,探针卡转接板通过接口连接探针卡。所述探针卡转接板以拆解的方式连接,拆解区域采用接口方式进行连接。所述接口采用一端公头一端母头的形式,或者所述接口采用排线接口形式。本发明提供的测试通用转接接口,通过使用本发明的通用接口,cardhold标准统一为一种规格,在产品更换过程中,减少了更换cardhold的步骤,节约了cardhold的设计成本、制作成本、维护成本。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试通用转接接口,本发明是一块通用的圆形探针卡转接接口,该转接口可以和针卡相连,该接口可以兼容现有其它形状的探针卡,在不改变现有针卡的情况下,只需要一种形状的cardhold即可以进行固定,并且不需要每次进行更换。
背景技术
在晶圆测试中,需要用到各种不同形状的探针卡(圆形,方形,三角形,六边形等),由于针卡形状的不同,对于prober上的cardhold的形状也会有相应的严格要求,才可以进行固定。现有方法是通过对不同形状的探针卡类型定制不同形状的cardhold进行匹配,进而实现探针卡的固定。
现有技术方案由于需要定制不同cardhold,增加了生产成本,定制完成后需要进行验证,由于不是统一的标准,尺寸上有时候会有一定的偏差,如果偏差过大还需要进行更改,这对于量产的时间就会推迟,最终影响产品的出库时间。Cardhold的更换还需要人工来操作,也在无形中增加的人工成本。
本申请方案中:
prober:测试晶圆所用探针台;
cardhold:prober上用来固定探针卡的金属装置;
探针卡:测试晶圆时所用到的硬件装置;
PCB:印刷电路板。
发明内容
本发明为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种测试通用转接接口,其中,具体技术方案为:
在固定探针卡装置上设置探针卡转接板,探针卡转接板连接探针卡。
上述的测试通用转接接口,其中:在探针卡转接板上设置接口,探针卡转接板通过接口连接探针卡。
上述的测试通用转接接口,其中:所述探针卡转接板以拆解的方式连接固定探针卡装置上。
上述的测试通用转接接口,其中:所述探针卡转接板上设置拆解区域,拆解区域设置接口。
上述的测试通用转接接口,其中:所述接口采用一端公头一端母头的形式。
上述的测试通用转接接口,其中:所述接口采用排线接口形式。
上述的测试通用转接接口,其中:用螺丝将接口和探针卡固定在一起。
本发明相对于现有技术具有如下有益效果:通过使用本发明的通用接口,cardhold标准统一为一种规格,在产品更换过程中,减少了更换cardhold的步骤,节约了cardhold的设计成本、制作成本、维护成本。
附图说明
图1为本发明提供的测试通用转接接口的结构示意图。
图2为现有技术中转接接口的结构示意图。
图3为本发明提供的测试通用转接接口的结构示意图。
图4为本发明提供的测试通用转接接口的结构示意图。
图中:
1固定探针卡装置 2探针卡 3固定螺丝 4探针卡转接卡 5接口 51上转接口 52下转接口
具体实施方式
由于更换不同产品需要使用不同的探针卡,而不同探针卡之间的规格大小和形状不同,进而需要更换不同的cardhold来固定探针卡。
Cardhold的频繁更换可能会引起:1)定制的cardhold上的螺丝或螺孔滑牙,引起不必要的麻烦;2)固定的误差每次都不一样,而且误差可能会越来越大;3)浪费人工和工作时间。
本发明使用一种测试通用转接接口,可以兼容现有的测试探针卡类型,测试接口起到转接作用,最终测试接口和cardhold为一种规格,不用定制新型的cardhold,只需要一种标准规格的即可,从而在根本上避免了频繁更换的弊端。
本发明提供的一种测试通用转接接口,在固定探针卡装置上设置探针卡转接板,在探针卡转接板上设置接口,探针卡转接板通过接口连接探针卡;所述探针卡转接板以拆解的方式连接,拆解区域采用接口方式进行连接;所述接口采用一端公头一端母头的形式,或者所述接口采用排线接口形式;用螺丝将接口和探针卡固定在一起。
本技术方案的关键点是减少cardhold根据不同探针卡进行新方案设计及制造,降低了生产成本,降低了对人工额外工作的需求。
实施例一:设计圆卡的接口使其兼容方型探针卡,板卡固定于通用接口之上,之后将整体的通用接口放置于cardhold上。
实施例二:设计圆卡的接口使其兼容多边形型探针卡,板卡固定于通用接口之上,之后将整体的通用接口放置于cardhold上。
虽然本发明已以较佳实施例揭示如上,然其并非用以限定本发明,任何本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许的修改和完善,因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。
Claims (7)
1.一种测试通用转接接口,其特征在于:在固定探针卡装置上设置探针卡转接板,探针卡转接板连接探针卡。
2.如权利要求1所述的测试通用转接接口,其特征在于:在探针卡转接板上设置接口,探针卡转接板通过接口连接探针卡。
3.如权利要求2所述的测试通用转接接口,其特征在于:所述探针卡转接板以拆解的方式连接固定探针卡装置上。
4.如权利要求2所述的测试通用转接接口,其特征在于:所述探针卡转接板上设置拆解区域,拆解区域设置接口。
5.如权利要求4所述的测试通用转接接口,其特征在于:所述接口采用一端公头一端母头的形式。
6.如权利要求4所述的测试通用转接接口,其特征在于:所述接口采用排线接口形式。
7.如权利要求1-6中任一项的测试通用转接接口,其特征在于:用螺丝将接口和探针卡固定在一起。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN201710438219.3A CN107271729A (zh) | 2017-06-12 | 2017-06-12 | 一种测试通用转接接口 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN201710438219.3A CN107271729A (zh) | 2017-06-12 | 2017-06-12 | 一种测试通用转接接口 |
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ID=60066568
Family Applications (1)
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CN201710438219.3A Pending CN107271729A (zh) | 2017-06-12 | 2017-06-12 | 一种测试通用转接接口 |
Country Status (1)
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