CN107247022B - 一种用于光电性质测量的夹持装置 - Google Patents

一种用于光电性质测量的夹持装置 Download PDF

Info

Publication number
CN107247022B
CN107247022B CN201710518967.2A CN201710518967A CN107247022B CN 107247022 B CN107247022 B CN 107247022B CN 201710518967 A CN201710518967 A CN 201710518967A CN 107247022 B CN107247022 B CN 107247022B
Authority
CN
China
Prior art keywords
metal
clamping
sample
hole
axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201710518967.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN107247022A (zh
Inventor
熊锡成
李敏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Henan Institute of Engineering
Original Assignee
Henan Institute of Engineering
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Henan Institute of Engineering filed Critical Henan Institute of Engineering
Priority to CN201710518967.2A priority Critical patent/CN107247022B/zh
Publication of CN107247022A publication Critical patent/CN107247022A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN107247022B publication Critical patent/CN107247022B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N2021/0106General arrangement of respective parts
    • G01N2021/0112Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明公开了一种用于光电性质测量的夹持装置,包括金属底座,金属底座的圆柱腔体上设置有检测光孔和导线引出洞孔,在金属底座内设置有螺纹孔洞;在金属底座内安装有若干组夹持组件,所述夹持组件包括样品夹持金属台座、金属垫片和金属螺柱,待测样品安装在样品夹持金属台座内且待测样品的下端面与金属垫片的尖端触头相接触,金属垫片安装在样品夹持金属台座下部,样品夹持金属台座的下端安装在金属螺柱上端,金属螺柱的下端安装在螺纹孔洞内。本发明能实现不同形状样品的夹持和测试,能实现样品正面和侧面的光电性质测试,变换样品放置方式可以实现所有待测面的光电性质的测试,而且结构简单、使用方便,具有性能稳定、成本低和使用方便的优点。

Description

一种用于光电性质测量的夹持装置
技术领域
本发明属于光学检测技术领域,具体涉及一种用于光电性质测量的夹持装置。
背景技术
光电性质测量是材料和器件研究过程中经常进行的工作之一。通常,待测样品小而薄,易裂易碎,这种特性对夹持器具提出了相应的要求:固定要牢固、测试过程中不碎裂。而现有夹具功能单一,测试过程中样品整体移动不灵活,调整样品的高度使之与光线平齐不方便,而且稳定性能没有达到最优。
发明内容
本发明要解决的是现有夹具功能单一,样品整体移动不灵活,调整样品的高度使之与光线平齐不方便,稳定性能差等技术问题,从而提供一种用于光电性质测量的夹持装置,本装置结构简单牢固、操作简便、使用寿命长,能完成样品的正确夹持和光电性质的测量。
为解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案如下:
一种用于光电性质测量的夹持装置,包括金属底座,金属底座的圆柱腔体上设置有检测光孔和导线引出洞孔,在金属底座内设置有螺纹孔洞;在金属底座内安装有若干组夹持组件,所述夹持组件包括样品夹持金属台座、金属垫片和金属螺柱,待测样品安装在样品夹持金属台座内且待测样品的下端面与金属垫片的尖端触头相接触,金属垫片安装在样品夹持金属台座下部,样品夹持金属台座的下端安装在金属螺柱上端,金属螺柱的下端安装在螺纹孔洞内。
所述金属底座包括底板和圆柱腔体,圆柱腔体固定在底板上构成检测腔;在底板上对称设置有若干螺纹孔洞,螺纹孔洞位于检测腔内且螺纹孔洞的轴线与圆柱腔体的轴线相平行;在圆柱腔体的侧壁上对称设置有导线引出洞孔,导线引出洞孔的轴线与圆柱腔体的轴线垂直;在圆柱腔体的外壁上设置有检测光孔,检测光孔与检测腔相通,且检测光孔的轴线与导线引出洞孔的轴线垂直,检测光孔的轴线与螺纹孔洞的轴线垂直;在圆柱腔体的外壁与导线引出洞孔相对的位置垂直设置有支撑柱,支撑柱的轴线与导线引出洞孔的轴线平行。
在底板上设置有圆形孔洞,圆形孔洞位于圆柱腔体的中部位置,可以引出导线,也可以备用。
在支撑柱的自由端设置有外螺纹。支撑柱用于连接到测试台上支撑整个装置。
所述样品夹持金属台座,包括夹持定位块和夹持固定杆,夹持定位块固定在夹持定位杆上端,夹持定位块上设置有水平的夹持凹槽和螺钉限位孔,螺钉限位孔与夹持凹槽垂直相通。
所述金属垫片,包括垫片本体,在垫片本体的两端分别设置有定位安装孔和尖端触头,定位安装孔与样品夹持金属台座的夹持固定杆相配合;尖端触头与夹持凹槽内的待测样品下端面接触。
所述金属螺柱,包括螺柱帽和螺柱杆;螺柱帽固定在螺柱杆上端,且在螺柱帽上设置有定位安装槽,定位安装槽与样品夹持金属台座的夹持固定杆相对应;螺柱杆安装在金属底座的螺纹孔洞内。
本发明通过夹持凹槽来实现待测样品的夹持,并通过调节螺钉限位孔内的螺钉实现待测样品的固紧程度。金属垫片穿设在夹持定位杆上且通过尖端触头与待测样品的下端面接触,尖端触头作为检测点,通过调节接触位置实现检测点的调整,进而实现多点的光电性质测量。测试导线通过圆柱腔体上的导线引出洞孔穿入检测腔和穿出检测腔,并与外部的测试仪器连接,实现检测。激光可直接从检测腔的开口正面照射待测样品,实现待测样品的正面光学检测。正面入射的入射角度调整范围为0-90°。激光也可以从圆柱腔体侧壁上的检测光孔射到待测样品的侧面,进行侧面光学检测,激光的入射角度一般为90°,其调整范围与检测光孔的深度和宽度有关。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明能实现不同形状样品的夹持和测试,能实现样品正面和侧面的光电性质测试,变换样品放置方式可以实现所有待测面的光电性质的测试,而且结构简单、使用方便,具有性能稳定、成本低和使用方便的优点。
附图说明
图1为本发明金属底座的主视图。
图2为本发明金属底座的俯视图。
图3为本发明金属底座的左视图。
图4为本发明样品夹持金属台座的主视图。
图5为本发明样品夹持金属台座的左视图。
图6为本发明样品夹持金属台座的俯视图。
图7为本发明金属垫片的主视图。
图8为本发明金属垫片的左视图。
图9为本发明金属垫片的俯视图。
图10为本发明金属螺柱的主视图。
具体实施方式
如图1-10所示,一种用于光电性质测量的夹持装置,包括金属底座1,金属底座1的圆柱腔体1-6上设置有检测光孔1-2和导线引出洞孔1-3,在金属底座1内设置有螺纹孔洞1-5;在金属底座1内安装有若干组夹持组件,所述夹持组件包括样品夹持金属台座8、金属垫片9和金属螺柱10,待测样品安装在样品夹持金属台座8内且待测样品的下端面与金属垫片9的尖端触头9-3相接触,金属垫片9安装在样品夹持金属台座8下部,样品夹持金属台座8的下端安装在金属螺柱10上端,金属螺柱10的下端安装在螺纹孔洞1-5内。
具体地,所述金属底座1包括底板1-1和圆柱腔体1-6,圆柱腔体1-6固定在底板1-1上构成检测腔1-7;在底板1-1上对称设置有若干螺纹孔洞1-5,螺纹孔洞1-5位于检测腔1-7内且螺纹孔洞1-5的轴线与圆柱腔体1-6的轴线相平行;在圆柱腔体1-6的侧壁上对称设置有导线引出洞孔1-3,导线引出洞孔1-3的轴线与圆柱腔体1-6的轴线垂直;在圆柱腔体1-6的外壁上设置有检测光孔1-2,检测光孔1-2与检测腔1-7相通,且检测光孔1-2的轴线与导线引出洞孔1-3的轴线垂直,检测光孔1-2的轴线与螺纹孔洞1-5的轴线垂直;在圆柱腔体1-6的外壁与导线引出洞孔1-3相对的位置垂直设置有支撑柱1-8,支撑柱1-8的轴线与导线引出洞孔1-3的轴线平行。
优选地,在底板1-1上设置有圆形孔洞1-4,圆形孔洞1-4位于螺纹孔洞1-5之间,圆形孔洞作为备用洞孔,与导线引出洞孔作用相同。
进一步优选,为更能稳固地支撑整个装置,在支撑柱1-8的自由端设置有外螺纹。支撑柱用于连接到测试台上支撑整个装置。
所述样品夹持金属台座8,包括夹持定位块8-1和夹持固定杆8-2,夹持定位块8-1固定在夹持定位杆8-2上端,夹持定位块8-1上设置有水平的夹持凹槽8-3和螺钉限位孔8-4,螺钉限位孔8-4与夹持凹槽8-3垂直相通。
所述金属垫片9,包括垫片本体9-1,在垫片本体9-1的两端分别设置有定位安装孔9-2和尖端触头9-3,定位安装孔9-2与样品夹持金属台座8的夹持固定杆8-2相配合;尖端触头9-3与夹持凹槽8-3内的待测样品下端面接触。
所述金属螺柱10,包括螺柱帽10-1和螺柱杆10-2;螺柱帽10-1固定在螺柱杆10-2上端,且在螺柱帽10-1上设置有定位安装槽10-3,定位安装槽10-3与样品夹持金属台座8的夹持固定杆8-2相对应;螺柱杆10-2安装在金属底座1的螺纹孔洞1-5内。
在本发明中,所述夹持组件为四组,分别用于固定待测样品的四个边角。
待测样品夹持在夹持凹槽8-3内,并由螺钉限位孔8-4内的螺钉进行拧紧固定。夹持固定杆8-2穿过定位安装孔9-2将金属垫片9安装在样品夹持金属台座8下部,测试导线随金属垫片9一起安装在样品夹持金属台座8上并与待测样品接触,金属垫片9通过尖端触点9-3与待测样品下端面紧密接触。且测试导线从导线引出洞孔1-3引出至测试仪器上。夹持固定杆8-2安装金属垫片9和测试导线后安装都金属螺柱10的定位安装槽10-3上,金属螺柱10固定到螺纹孔洞1-5内。
激光可直接从检测腔的开口正面照射待测样品,实现待测样品的正面光学检测。正面入射的入射角度调整范围为0-90°。激光也可以从圆柱腔体侧壁上的检测光孔1-2射到待测样品的侧面,进行侧面光学检测,激光的入射角度一般为90°,其调整范围与检测光孔的深度和宽度有关。

Claims (4)

1.一种用于光电性质测量的夹持装置,其特征在于:包括金属底座(1),金属底座(1)的圆柱腔体(1-6)上设置有检测光孔(1-2)和导线引出洞孔(1-3),在金属底座(1)内设置有螺纹孔洞(1-5);在金属底座(1)内安装有若干组夹持组件,所述夹持组件包括样品夹持金属台座(8)、金属垫片(9)和金属螺柱(10),待测样品安装在样品夹持金属台座(8)内且待测样品的下端面与金属垫片(9)的尖端触头(9-3)相接触,金属垫片(9)安装在样品夹持金属台座(8)下部,样品夹持金属台座(8)的下端安装在金属螺柱(10)上端,金属螺柱(10)的下端安装在螺纹孔洞(1-5)内;
所述样品夹持金属台座(8),包括夹持定位块(8-1)和夹持固定杆(8-2),夹持定位块(8-1)固定在夹持固定杆(8-2)上端,夹持定位块(8-1)上设置有水平的夹持凹槽(8-3)和螺钉限位孔(8-4),螺钉限位孔(8-4)与夹持凹槽(8-3)垂直相通;
所述金属垫片(9),包括垫片本体(9-1),在垫片本体(9-1)的两端分别设置有定位安装孔(9-2)和尖端触头(9-3),定位安装孔(9-2)与样品夹持金属台座(8)的夹持固定杆(8-2)相配合;尖端触头(9-3)与夹持凹槽(8-3)内的待测样品下端面接触;
所述金属螺柱(10),包括螺柱帽(10-1)和螺柱杆(10-2);螺柱帽(10-1)固定在螺柱杆(10-2)上端,且在螺柱帽(10-1)上设置有定位安装槽(10-3),定位安装槽(10-3)与样品夹持金属台座(8)的夹持固定杆(8-2)相对应;螺柱杆(10-2)安装在金属底座(1)的螺纹孔洞(1-5)内。
2.根据权利要求1所述的用于光电性质测量的夹持装置,其特征在于:所述金属底座(1)包括底板(1-1)和圆柱腔体(1-6),圆柱腔体(1-6)固定在底板(1-1)上构成检测腔(1-7);在底板(1-1)上对称设置有四个螺纹孔洞(1-5),螺纹孔洞(1-5)位于检测腔(1-7)内且螺纹孔洞(1-5)的轴线与圆柱腔体(1-6)的轴线相平行;在圆柱腔体(1-6)的侧壁上对称设置有导线引出洞孔(1-3),导线引出洞孔(1-3)的轴线与圆柱腔体(1-6)的轴线垂直;在圆柱腔体(1-6)的外壁上设置有检测光孔(1-2),检测光孔(1-2)与检测腔(1-7)相通,且检测光孔(1-2)的轴线与导线引出洞孔(1-3)的轴线垂直;检测光孔(1-2)的轴线与螺纹孔洞(1-5)的轴线垂直;在圆柱腔体(1-6)的外壁与导线引出洞孔(1-3)相对的位置垂直设置有支撑柱(1-8),支撑柱(1-8)的轴线与导线引出洞孔(1-3)的轴线平行。
3.根据权利要求2所述的用于光电性质测量的夹持装置,其特征在于:在底板(1-1)上设置有圆形孔洞(1-4)。
4.根据权利要求2所述的用于光电性质测量的夹持装置,其特征在于:在支撑柱(1-8)的自由端设置有外螺纹。
CN201710518967.2A 2017-06-30 2017-06-30 一种用于光电性质测量的夹持装置 Active CN107247022B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710518967.2A CN107247022B (zh) 2017-06-30 2017-06-30 一种用于光电性质测量的夹持装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710518967.2A CN107247022B (zh) 2017-06-30 2017-06-30 一种用于光电性质测量的夹持装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107247022A CN107247022A (zh) 2017-10-13
CN107247022B true CN107247022B (zh) 2023-04-25

Family

ID=60014821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710518967.2A Active CN107247022B (zh) 2017-06-30 2017-06-30 一种用于光电性质测量的夹持装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107247022B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112255247A (zh) * 2020-10-13 2021-01-22 衡阳磬华电子技术有限公司 一种高精度电路板检测设备

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106841706A (zh) * 2017-03-31 2017-06-13 中国工程物理研究院电子工程研究所 一种离子源测试夹具

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB578317A (en) * 1943-12-20 1946-06-24 Henry Holmes A work-holding attachment for use in the precision machining of surfaces as by grinding
CN202562808U (zh) * 2012-05-07 2012-11-28 长春新试验机有限责任公司 一种试样预应力夹紧装置
CN205815587U (zh) * 2016-07-26 2016-12-21 河南工程学院 化学实验用翻转混合实验机构
CN206848154U (zh) * 2017-06-30 2018-01-05 河南工程学院 一种光电性质测量装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106841706A (zh) * 2017-03-31 2017-06-13 中国工程物理研究院电子工程研究所 一种离子源测试夹具

Also Published As

Publication number Publication date
CN107247022A (zh) 2017-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102520215B (zh) 用于测试电池的可调夹具及其安装方法
CN107247022B (zh) 一种用于光电性质测量的夹持装置
CN106124291B (zh) 一种连续测量薄膜变形的装置及方法
CN204831908U (zh) 推拉力测试装置
CN101979906A (zh) 位置可调的平面镜定位装置
CN105929309B (zh) 一种陶瓷电容器的耐压测试系统及测试装置
CN200975895Y (zh) 检测台
CN216285392U (zh) 方形电池通用测试夹具
CN207751423U (zh) 一种厚度测量装置
CN202815091U (zh) 导体直流电阻测试装置
CN206848154U (zh) 一种光电性质测量装置
CN210572410U (zh) 一种功能自动测试夹具
CN212721902U (zh) 一种力传感器校准工装
CN213581063U (zh) 一种电缆电气测试夹具
CN208476110U (zh) 汽车门把手功能检测装具
CN210360406U (zh) 一种工艺装夹结构
CN110793434A (zh) 激光跟踪仪目标座校准装置及校准方法
CN203881292U (zh) Pin 针有效长度测试机构
CN201673174U (zh) 漆包线扁线介质损耗测试仪专用样品架
CN210774996U (zh) 一种用于型材冲击试验的夹具
CN201818972U (zh) 位置可调的平面镜定位装置
CN216263934U (zh) 一种圆棒电极夹具
CN219348679U (zh) 一种电芯极柱的检测设备
CN215413518U (zh) 一种光学透镜边厚差测量仪
CN210952644U (zh) 测量螺纹抽动间隙用的检具

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant