CN107192481A - 一种基于侧向场激励剪切波模式的fbar微压力传感器 - Google Patents

一种基于侧向场激励剪切波模式的fbar微压力传感器 Download PDF

Info

Publication number
CN107192481A
CN107192481A CN201710334788.3A CN201710334788A CN107192481A CN 107192481 A CN107192481 A CN 107192481A CN 201710334788 A CN201710334788 A CN 201710334788A CN 107192481 A CN107192481 A CN 107192481A
Authority
CN
China
Prior art keywords
layer
micro
fbar
shear wave
wave modes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201710334788.3A
Other languages
English (en)
Inventor
苏淑靖
马晓鑫
熊继军
谭秋林
耿子惠
吴永盛
韩文革
吕楠楠
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
North University of China
Original Assignee
North University of China
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by North University of China filed Critical North University of China
Priority to CN201710334788.3A priority Critical patent/CN107192481A/zh
Publication of CN107192481A publication Critical patent/CN107192481A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/16Measuring force or stress, in general using properties of piezoelectric devices
    • G01L1/162Measuring force or stress, in general using properties of piezoelectric devices using piezoelectric resonators
    • G01L1/165Measuring force or stress, in general using properties of piezoelectric devices using piezoelectric resonators with acoustic surface waves

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Abstract

本发明为一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,涉及一种微压力传感器。包括硅衬底(1)、支撑层(2)、空气隙(3)、AlN压电薄膜(4)、双电极层(5)、接地层(6)、微压力敏感层(7)及微压力施加层(8);所述硅衬底(1)上表面采用硅表面刻蚀工艺与所述AlN压电薄膜(4)间形成空气隙(3),在所述硅衬底(1)上表面淀积一层支撑层(2)连接所述AlN压电薄膜(4),所述AlN压电薄膜(4)上表面为双电极层(5)和所述接地层(6),所述接地层(6)上表面淀积4个所述微压力敏感层(7),所述微压力敏感层(7)上键合所述微压力施加层(8)。本发明具有机械强度高、体积小、谐振频率高、检测精度高等优点。

Description

一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器
技术领域
本发明涉及一种FBAR微压力传感器,具体涉及一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器。
背景技术
近年来,随着微机电系统(MEMS)制造技术的快速发展,薄膜体声波谐振器(FBAR)在无线通信领域获得了广泛的商业应用。其具有相对体积小、插入损耗低、谐振频率高、品质因数高等优点。同时,由于其谐振频率高,因而具有优异的传感灵敏特性。鉴于薄膜体声波谐振器本身具有的这些优良特性,其在传感器领域的应用正引起人们广泛的研究兴趣。
微压力传感器是工业实践中最为常用的一种传感器。按照原理划分,微压力传感器包括压阻式微压力传感器、电容式微压力传感器以及谐振式微压力传感器等。其中,FBAR微压力传感器属于谐振式微压力传感器的一种。相比于传统的压阻式压力传感器和电容式压力传感器,FBAR微压力传感器拥有更高的工作频率和品质因数,这意味着可以得到更高的分辨率和压力检测灵敏度。未来在石油管道、水利水电、铁路交通、智能建筑、生产自控、航空航天、国防军工等行业有广泛的应用前景。
根据FBAR中体声波传播模式的不同,可以将FBAR器件分为纵波模式(longitudinal mode)和剪切波模式(shear mode)。通常剪切波声速大约是纵波声速的一半,这使得时变信号在给定瞬时能够在更小尺寸的晶体基片上完全呈现。故在相同的谐振频率下,剪切波模式的FBAR的尺寸要比纵波模式的FBAR的尺寸小很多;且由于纵波在液相环境中传输时衰减较大,剪切波模式的FBAR在液相环境中的Q值要比纵波模式的FBAR高,因此剪切波模式的FBAR体积更小、更适用于液相环境或粘性介质中的传感应用。
根据声波激励方式的不同,可以将剪切波模式FBAR器件分为厚度方向激励模式(TE,Thickness Excited)和侧向场激励模式(LFE,Lateral Field Excited)。其中侧向场激励剪切波模式FBAR的压电薄膜c轴取向与厚度方向一致,但其电极位于压电薄膜的同一侧,即电场方向与压电层方向厚度方向垂直。相比于厚度方向激励模式FBAR,侧向场激励模式FBAR的制作工艺简单,且由于无需控制压电材料c轴取向倾斜角度,工艺重复性比需要压电材料c轴倾斜生长的厚度场激励模式要好。综上所述,侧向场激励剪切波模式的FBAR具有众多的优点,未来在传感器领域内有着很广泛的应用前景。
中国工程物理研究院电子工程研究所公布了一种膜片上FBAR结构的微压力传感器,公布号为CN104614099A,该发明的特征在于采用了膜片上FBAR结构,结构集成了力敏结构、检测元件和复合薄膜。FBAR作为一种电声谐振器,将感受到的应变转换为FBAR谐振频率f0的偏移来检测压力。该方案的缺点是:一、该微压力传感器采用的是背部刻蚀型的结构,该结构因采用MEMS的体硅工艺从硅片反面刻蚀去除大部分硅材料,势必影响器件的机械牢固度,虽然设置了低应力的支撑层,但大幅度降低了成品率。二、该微压力传感器采用的是三明治结构的纵波模式,纵波在液相环境或粘性介质中衰减较大,采用纵波模式局限了FBAR微压力传感器的应用领域和场合。
发明内容
本发明为了解决上述现有技术的不足,提出了一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器。这种FBAR微压力传感器具有高Q值和高工作频率,同时还具有高分辨率、高灵敏度、低能耗、高牢固性、低成本的特点,并能够在封闭环境、液相环境或粘性介质中的环境中工作。
为实现上述目的,本发明的技术方案如下:
本发明为一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器。一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,包括硅衬底、支撑层、空气隙、AlN压电薄膜、双电极层、接地层、微压力敏感层、微压力施加层。
所述硅衬底上表面采用硅表面刻蚀工艺与所述AlN压电薄膜间形成空气隙,在所述硅衬底上表面淀积一层支撑层连接所述AlN压电薄膜,所述AlN压电薄膜上表面为双电极层和所述接地层,所述接地层上表面淀积4个所述微压力敏感层,所述微压力敏感层上键合所述微压力施加层。采用空气隙型结构能很好地将声波限制于压电薄膜之内,获得较高的Q值;且机械牢固度相比于硅片背面刻蚀型结构也得到了有效的提升。
进一步,所述AlN压电薄膜的c轴取向与厚度方向一致,降低了AlN压电薄膜倾斜角度在制备过程中的误差对传感器性能产生的影响。
进一步,所述支撑层采用Si3N4材料。Si3N4具有较低的热导率、较高的机械强度及较低的应力,可以增强器件结构的机械强度。
进一步,所述双电极层采用Mo作为电极材料。Mo作为电极材料的FBAR器件可以获得比其他电极材料更高的谐振频率和Q值。
进一步,所述双电极层设置在所述压电薄膜上表面的中部,所述接地层设置在所述压电薄膜上表面对称的两个边沿处,所述接地层上表面设有四个所述微压力敏感层。这样设计,可以增大了敏感区域的面积,更好地接收压力信号。
进一步,所述微压力施加层采用硅材料,所述微压力施加层作为微压力检测时的均匀受力结构。这样的设计,在检测时避免微压力直接作用在器件表面所造成的结构受损。
与现有技术相比,本发明具有的有益效果:
本发明提出的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,采用侧向场激励模式,制作工艺简单且无需控制压电材料c轴取向倾斜角度。具有结构机械牢固度高、分辨率高、灵敏度高、功耗低、成本低等特点。能够在封闭环境、液体环境或粘性介质环境中工作。可以满足微压力传感器微型化、集成化的技术需求。
附图说明
图1为本发明的俯视图;
图2为图1 A-A方向的结构示意图;
图3为图1 B-B方向的结构示意图;
图4 (a) -图4 (j) 为本发明主要制作工艺步骤示意图;
图5为本发明的压强-特征频率关系图;
图6为本发明在不同压力条件下的频响曲线图。
具体实施例
如图1、图2和图3所示为一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,包括硅衬底1、支撑层2、空气隙3、AlN压电薄膜4、双电极层5、接地层6、微压力敏感层7和微压力施加层8。
硅衬底1上表面采用硅表面刻蚀工艺与AlN压电薄膜4间形成空气隙3,在硅衬底1上表面淀积一层支撑层2连接AlN压电薄膜4,支撑层2为Si3N4材料,AlN压电薄膜4上表面为双电极层5和接地层6,双电极层5设置在AlN压电薄膜4上表面的中部,并采用Mo作为电极材料。接地层6设置在AlN压电薄膜4上表面平行的两个边沿处,接地层6上表面淀积4个微压力敏感层7,微压力敏感层7上键合采用硅材料的微压力施加层8作为微压力检测时的均匀受力结构。
图4 (a) -图4 (j)为本发明基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器的制备工艺步骤示意图,包括4 (a) -4 (j)十个主要步骤。在制备开始前,先对硅衬底1进行RCA清洗,去除硅衬底1上的污染颗粒。4(a)在硅衬底1上使用硅微加工工艺刻蚀一个空气隙3。4(b)使用LPCVD工艺生长一层Si3N4材料的支撑层2。4(c)在已经形成好的结构上淀积一层牺牲层材料PSG。4(d)化学机械抛光去除多余的牺牲层材料,使牺牲层材料完全填充在空气隙3中。4(e)使用磁控溅射生长一层AlN压电薄膜层4。4(f)在AlN压电薄膜层4上淀积双电极层5,并使用光刻工艺图形化双电极层5。4(g)在AlN压电薄膜层4上淀积接地层6,并使用光刻工艺图形化接地层6。4(h)在接地层6上紧贴一层微压力敏感层7,并使用光刻技术图形化微压力敏感层7。4(i)使用HF腐蚀PSG牺牲层材料,获得空气隙3。4(j)在微压力敏感层7上键合一层硅作为微压力施加层8。
为了验证本发明提出的基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器的可行性,对其进行了多物理场有限元仿真。图5所示为基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器的压强-特征频率关系。由图可见,基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器在0-1000kPa的压力范围内具有很好的线性度。图6为不同压力条件下基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器的频响曲线图。由图可见,基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器谐振频率随着外界压力的增大而降低。其中,压力在100-1000kPa范围内变化时谐振频率有较明显的变化。说明在小量程的微压力测量时,基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器有着很高的灵敏度。

Claims (6)

1.一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,包括硅衬底(1)、支撑层(2)、空气隙(3)、AlN压电薄膜(4)、双电极层(5)、接地层(6)、微压力敏感层(7)、微压力施加层(8);
所述硅衬底(1)上表面采用硅表面刻蚀工艺与所述AlN压电薄膜(4)间形成空气隙(3),在所述硅衬底(1)上表面淀积一层支撑层(2)连接所述AlN压电薄膜(4),所述AlN压电薄膜(4)上表面为双电极层(5)和所述接地层(6),所述接地层(6)上表面淀积4个所述微压力敏感层(7),所述微压力敏感层(7)上键合有所述微压力施加层(8)。
2.根据权利要求1所述的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,所述AlN压电薄膜(4)的c轴取向与厚度方向一致。
3.根据权利要求1所述的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,所述支撑层(2)为Si3N4材料。
4.根据权利要求1所述的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,所述双电极层(5)对称分布于压电薄膜上表面的中部,采用Mo作为电极材料。
5.根据权利要求1所述的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,所述接地层(6)设置在所述压电薄膜(4)上表面对称的两个边沿处,所述接地层(6)上表面淀积有4个所述微压力敏感层(7)。
6.根据权利要求1所述的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,所述微压力施加层(8)采用硅材料,所述微压力施加层(8)作为微压力检测时的均匀受力结构。
CN201710334788.3A 2017-05-12 2017-05-12 一种基于侧向场激励剪切波模式的fbar微压力传感器 Pending CN107192481A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710334788.3A CN107192481A (zh) 2017-05-12 2017-05-12 一种基于侧向场激励剪切波模式的fbar微压力传感器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710334788.3A CN107192481A (zh) 2017-05-12 2017-05-12 一种基于侧向场激励剪切波模式的fbar微压力传感器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107192481A true CN107192481A (zh) 2017-09-22

Family

ID=59873270

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710334788.3A Pending CN107192481A (zh) 2017-05-12 2017-05-12 一种基于侧向场激励剪切波模式的fbar微压力传感器

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107192481A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113714071A (zh) * 2021-08-10 2021-11-30 中北大学 高灵敏度微压检测倒置台形空腔结构电容式微机械超声换能器

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1828245A (zh) * 2005-03-04 2006-09-06 安捷伦科技有限公司 带有运动板的薄膜体声波谐振器
CN102122940A (zh) * 2010-11-01 2011-07-13 中国电子科技集团公司第二十六研究所 预设空腔型soi基片薄膜体声波谐振器及制作方法
CN102664602A (zh) * 2012-05-15 2012-09-12 浙江大学 一种基于嵌入式电极侧向场激励的fbar及其制作方法
CN102931941A (zh) * 2012-10-29 2013-02-13 天津理工大学 一种薄膜体声波谐振器基片及其制备方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1828245A (zh) * 2005-03-04 2006-09-06 安捷伦科技有限公司 带有运动板的薄膜体声波谐振器
CN102122940A (zh) * 2010-11-01 2011-07-13 中国电子科技集团公司第二十六研究所 预设空腔型soi基片薄膜体声波谐振器及制作方法
CN102664602A (zh) * 2012-05-15 2012-09-12 浙江大学 一种基于嵌入式电极侧向场激励的fbar及其制作方法
CN102931941A (zh) * 2012-10-29 2013-02-13 天津理工大学 一种薄膜体声波谐振器基片及其制备方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
冯斌 等: "嵌入式电极侧向场激励FBAR若干问题的研究", 《中国博士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *
陈达 等: "横向电场激励的剪切波AlN薄膜体声波谐振器", 《上海交通大学学报》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113714071A (zh) * 2021-08-10 2021-11-30 中北大学 高灵敏度微压检测倒置台形空腔结构电容式微机械超声换能器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10076772B2 (en) Transducer and method for forming the same
CN104198963B (zh) 一种磁电声表面波磁场传感器及其制备方法
CN109786422B (zh) 压电激振受拉式硅微谐振压力传感器芯片及其制备方法
CN104614099B (zh) 膜片上fbar结构的微压力传感器
CN107621317A (zh) 一种基于soi和压电薄膜的声表面波高温压力传感器芯片及其制备方法
CN109188407B (zh) 基于磁致伸缩金属衬底的磁声纳传感器及其制备方法
CN107525610A (zh) 基于厚度方向激励剪切波模式的fbar微压力传感器
CN201063346Y (zh) 一种双极化分割电极传感振动膜
CN107462192A (zh) 一种基于soi和压电薄膜的声表面波高温应变传感器芯片及其制备方法
CN109489843B (zh) 高灵敏度传感器及其制备方法
CN108871627A (zh) 一种差分双谐振器型声波压力传感器
CN107631827A (zh) 一种基于硅晶元和压电薄膜的声表面波高温压力传感器芯片及其制备方法
CN105716705B (zh) 多重应力集中式mems仿生水听器
CN103808961A (zh) 悬臂件及应用其的谐振式加速度传感器
CN103454345B (zh) 基于cmut的海洋生化物质监测传感器及其制备与测量方法
CN107543570A (zh) 一种基于x型声子晶体的无线无源mems传感器
CN101208584A (zh) 声波流量传感器
CN108931321A (zh) 梁-岛-膜一体化谐振式压力传感器结构及制造方法
CN207585802U (zh) 一种基于soi和压电薄膜的声表面波高温压力传感器芯片
CN103557970A (zh) 一种静电激励/压阻检测硅微谐振式压力传感器及其制作方法
CN108731790B (zh) 高灵敏宽频带压电式mems矢量水听器
CN102647657A (zh) 单片集成mems压阻超声传感器
CN109883581B (zh) 一种悬臂梁式差动谐振压力传感器芯片
Caliendo et al. Pressure sensing with zero group velocity lamb modes in self-supported a-SiC/c-ZnO membranes
CN207515946U (zh) 基于硅晶元和压电薄膜的声表面波高温压力传感器芯片

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20170922