CN107192481A - 一种基于侧向场激励剪切波模式的fbar微压力传感器 - Google Patents
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- 230000005284 excitation Effects 0.000 title claims abstract description 26
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims abstract description 28
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 24
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 24
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 16
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 claims description 5
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 2
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000001615 p wave Methods 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 2
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 2
- 238000009530 blood pressure measurement Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 239000002305 electric material Substances 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 239000003208 petroleum Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000001235 sensitizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/16—Measuring force or stress, in general using properties of piezoelectric devices
- G01L1/162—Measuring force or stress, in general using properties of piezoelectric devices using piezoelectric resonators
- G01L1/165—Measuring force or stress, in general using properties of piezoelectric devices using piezoelectric resonators with acoustic surface waves
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Abstract
本发明为一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,涉及一种微压力传感器。包括硅衬底(1)、支撑层(2)、空气隙(3)、AlN压电薄膜(4)、双电极层(5)、接地层(6)、微压力敏感层(7)及微压力施加层(8);所述硅衬底(1)上表面采用硅表面刻蚀工艺与所述AlN压电薄膜(4)间形成空气隙(3),在所述硅衬底(1)上表面淀积一层支撑层(2)连接所述AlN压电薄膜(4),所述AlN压电薄膜(4)上表面为双电极层(5)和所述接地层(6),所述接地层(6)上表面淀积4个所述微压力敏感层(7),所述微压力敏感层(7)上键合所述微压力施加层(8)。本发明具有机械强度高、体积小、谐振频率高、检测精度高等优点。
Description
技术领域
本发明涉及一种FBAR微压力传感器,具体涉及一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器。
背景技术
近年来,随着微机电系统(MEMS)制造技术的快速发展,薄膜体声波谐振器(FBAR)在无线通信领域获得了广泛的商业应用。其具有相对体积小、插入损耗低、谐振频率高、品质因数高等优点。同时,由于其谐振频率高,因而具有优异的传感灵敏特性。鉴于薄膜体声波谐振器本身具有的这些优良特性,其在传感器领域的应用正引起人们广泛的研究兴趣。
微压力传感器是工业实践中最为常用的一种传感器。按照原理划分,微压力传感器包括压阻式微压力传感器、电容式微压力传感器以及谐振式微压力传感器等。其中,FBAR微压力传感器属于谐振式微压力传感器的一种。相比于传统的压阻式压力传感器和电容式压力传感器,FBAR微压力传感器拥有更高的工作频率和品质因数,这意味着可以得到更高的分辨率和压力检测灵敏度。未来在石油管道、水利水电、铁路交通、智能建筑、生产自控、航空航天、国防军工等行业有广泛的应用前景。
根据FBAR中体声波传播模式的不同,可以将FBAR器件分为纵波模式(longitudinal mode)和剪切波模式(shear mode)。通常剪切波声速大约是纵波声速的一半,这使得时变信号在给定瞬时能够在更小尺寸的晶体基片上完全呈现。故在相同的谐振频率下,剪切波模式的FBAR的尺寸要比纵波模式的FBAR的尺寸小很多;且由于纵波在液相环境中传输时衰减较大,剪切波模式的FBAR在液相环境中的Q值要比纵波模式的FBAR高,因此剪切波模式的FBAR体积更小、更适用于液相环境或粘性介质中的传感应用。
根据声波激励方式的不同,可以将剪切波模式FBAR器件分为厚度方向激励模式(TE,Thickness Excited)和侧向场激励模式(LFE,Lateral Field Excited)。其中侧向场激励剪切波模式FBAR的压电薄膜c轴取向与厚度方向一致,但其电极位于压电薄膜的同一侧,即电场方向与压电层方向厚度方向垂直。相比于厚度方向激励模式FBAR,侧向场激励模式FBAR的制作工艺简单,且由于无需控制压电材料c轴取向倾斜角度,工艺重复性比需要压电材料c轴倾斜生长的厚度场激励模式要好。综上所述,侧向场激励剪切波模式的FBAR具有众多的优点,未来在传感器领域内有着很广泛的应用前景。
中国工程物理研究院电子工程研究所公布了一种膜片上FBAR结构的微压力传感器,公布号为CN104614099A,该发明的特征在于采用了膜片上FBAR结构,结构集成了力敏结构、检测元件和复合薄膜。FBAR作为一种电声谐振器,将感受到的应变转换为FBAR谐振频率f0的偏移来检测压力。该方案的缺点是:一、该微压力传感器采用的是背部刻蚀型的结构,该结构因采用MEMS的体硅工艺从硅片反面刻蚀去除大部分硅材料,势必影响器件的机械牢固度,虽然设置了低应力的支撑层,但大幅度降低了成品率。二、该微压力传感器采用的是三明治结构的纵波模式,纵波在液相环境或粘性介质中衰减较大,采用纵波模式局限了FBAR微压力传感器的应用领域和场合。
发明内容
本发明为了解决上述现有技术的不足,提出了一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器。这种FBAR微压力传感器具有高Q值和高工作频率,同时还具有高分辨率、高灵敏度、低能耗、高牢固性、低成本的特点,并能够在封闭环境、液相环境或粘性介质中的环境中工作。
为实现上述目的,本发明的技术方案如下:
本发明为一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器。一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,包括硅衬底、支撑层、空气隙、AlN压电薄膜、双电极层、接地层、微压力敏感层、微压力施加层。
所述硅衬底上表面采用硅表面刻蚀工艺与所述AlN压电薄膜间形成空气隙,在所述硅衬底上表面淀积一层支撑层连接所述AlN压电薄膜,所述AlN压电薄膜上表面为双电极层和所述接地层,所述接地层上表面淀积4个所述微压力敏感层,所述微压力敏感层上键合所述微压力施加层。采用空气隙型结构能很好地将声波限制于压电薄膜之内,获得较高的Q值;且机械牢固度相比于硅片背面刻蚀型结构也得到了有效的提升。
进一步,所述AlN压电薄膜的c轴取向与厚度方向一致,降低了AlN压电薄膜倾斜角度在制备过程中的误差对传感器性能产生的影响。
进一步,所述支撑层采用Si3N4材料。Si3N4具有较低的热导率、较高的机械强度及较低的应力,可以增强器件结构的机械强度。
进一步,所述双电极层采用Mo作为电极材料。Mo作为电极材料的FBAR器件可以获得比其他电极材料更高的谐振频率和Q值。
进一步,所述双电极层设置在所述压电薄膜上表面的中部,所述接地层设置在所述压电薄膜上表面对称的两个边沿处,所述接地层上表面设有四个所述微压力敏感层。这样设计,可以增大了敏感区域的面积,更好地接收压力信号。
进一步,所述微压力施加层采用硅材料,所述微压力施加层作为微压力检测时的均匀受力结构。这样的设计,在检测时避免微压力直接作用在器件表面所造成的结构受损。
与现有技术相比,本发明具有的有益效果:
本发明提出的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,采用侧向场激励模式,制作工艺简单且无需控制压电材料c轴取向倾斜角度。具有结构机械牢固度高、分辨率高、灵敏度高、功耗低、成本低等特点。能够在封闭环境、液体环境或粘性介质环境中工作。可以满足微压力传感器微型化、集成化的技术需求。
附图说明
图1为本发明的俯视图;
图2为图1 A-A方向的结构示意图;
图3为图1 B-B方向的结构示意图;
图4 (a) -图4 (j) 为本发明主要制作工艺步骤示意图;
图5为本发明的压强-特征频率关系图;
图6为本发明在不同压力条件下的频响曲线图。
具体实施例
如图1、图2和图3所示为一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,包括硅衬底1、支撑层2、空气隙3、AlN压电薄膜4、双电极层5、接地层6、微压力敏感层7和微压力施加层8。
硅衬底1上表面采用硅表面刻蚀工艺与AlN压电薄膜4间形成空气隙3,在硅衬底1上表面淀积一层支撑层2连接AlN压电薄膜4,支撑层2为Si3N4材料,AlN压电薄膜4上表面为双电极层5和接地层6,双电极层5设置在AlN压电薄膜4上表面的中部,并采用Mo作为电极材料。接地层6设置在AlN压电薄膜4上表面平行的两个边沿处,接地层6上表面淀积4个微压力敏感层7,微压力敏感层7上键合采用硅材料的微压力施加层8作为微压力检测时的均匀受力结构。
图4 (a) -图4 (j)为本发明基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器的制备工艺步骤示意图,包括4 (a) -4 (j)十个主要步骤。在制备开始前,先对硅衬底1进行RCA清洗,去除硅衬底1上的污染颗粒。4(a)在硅衬底1上使用硅微加工工艺刻蚀一个空气隙3。4(b)使用LPCVD工艺生长一层Si3N4材料的支撑层2。4(c)在已经形成好的结构上淀积一层牺牲层材料PSG。4(d)化学机械抛光去除多余的牺牲层材料,使牺牲层材料完全填充在空气隙3中。4(e)使用磁控溅射生长一层AlN压电薄膜层4。4(f)在AlN压电薄膜层4上淀积双电极层5,并使用光刻工艺图形化双电极层5。4(g)在AlN压电薄膜层4上淀积接地层6,并使用光刻工艺图形化接地层6。4(h)在接地层6上紧贴一层微压力敏感层7,并使用光刻技术图形化微压力敏感层7。4(i)使用HF腐蚀PSG牺牲层材料,获得空气隙3。4(j)在微压力敏感层7上键合一层硅作为微压力施加层8。
为了验证本发明提出的基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器的可行性,对其进行了多物理场有限元仿真。图5所示为基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器的压强-特征频率关系。由图可见,基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器在0-1000kPa的压力范围内具有很好的线性度。图6为不同压力条件下基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器的频响曲线图。由图可见,基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器谐振频率随着外界压力的增大而降低。其中,压力在100-1000kPa范围内变化时谐振频率有较明显的变化。说明在小量程的微压力测量时,基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器有着很高的灵敏度。
Claims (6)
1.一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,包括硅衬底(1)、支撑层(2)、空气隙(3)、AlN压电薄膜(4)、双电极层(5)、接地层(6)、微压力敏感层(7)、微压力施加层(8);
所述硅衬底(1)上表面采用硅表面刻蚀工艺与所述AlN压电薄膜(4)间形成空气隙(3),在所述硅衬底(1)上表面淀积一层支撑层(2)连接所述AlN压电薄膜(4),所述AlN压电薄膜(4)上表面为双电极层(5)和所述接地层(6),所述接地层(6)上表面淀积4个所述微压力敏感层(7),所述微压力敏感层(7)上键合有所述微压力施加层(8)。
2.根据权利要求1所述的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,所述AlN压电薄膜(4)的c轴取向与厚度方向一致。
3.根据权利要求1所述的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,所述支撑层(2)为Si3N4材料。
4.根据权利要求1所述的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,所述双电极层(5)对称分布于压电薄膜上表面的中部,采用Mo作为电极材料。
5.根据权利要求1所述的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,所述接地层(6)设置在所述压电薄膜(4)上表面对称的两个边沿处,所述接地层(6)上表面淀积有4个所述微压力敏感层(7)。
6.根据权利要求1所述的一种基于侧向场激励剪切波模式的FBAR微压力传感器,其特征在于,所述微压力施加层(8)采用硅材料,所述微压力施加层(8)作为微压力检测时的均匀受力结构。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710334788.3A CN107192481A (zh) | 2017-05-12 | 2017-05-12 | 一种基于侧向场激励剪切波模式的fbar微压力传感器 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710334788.3A CN107192481A (zh) | 2017-05-12 | 2017-05-12 | 一种基于侧向场激励剪切波模式的fbar微压力传感器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN107192481A true CN107192481A (zh) | 2017-09-22 |
Family
ID=59873270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201710334788.3A Pending CN107192481A (zh) | 2017-05-12 | 2017-05-12 | 一种基于侧向场激励剪切波模式的fbar微压力传感器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN107192481A (zh) |
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PB01 | Publication | ||
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