CN107179456A - 静电放电测试装置及静电放电测试方法 - Google Patents

静电放电测试装置及静电放电测试方法 Download PDF

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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing

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Abstract

本发明公开一种静电放电测试装置及静电放电测试方法。所述静电放电测试装置包括示波器和同轴线，同轴线用于实现示波器和待测试设备之间的连接，示波器用于获取待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号，并将电信号进行图像化标识。基于此，本发明能够量化测试过程中静电放电的能量，有利于测试人员有目的性的选择ESD器件。

Description

静电放电测试装置及静电放电测试方法
技术领域
本发明涉及静电放电(Electro-Static discharge,ESD)测试领域，具体涉及一种静电放电测试装置及静电放电测试方法。
背景技术
现有的电子设备为了实现更好的便利性和扩充性，大都配备有多个外接端口，例如USB Port(通用串行总线接口)等。由于此类电子设备支持热插拔功能，在系统运行的过程中电子设备可能会受到因使用者插拔外接设备产生的静电放电所带来的袭击，而造成系统宕机或数据损失。因此，现今电子设备都必须通过静电放电测试。
在现有的静电放电测试过程中，一般是选取不同标准的ESD器件对待测试设备(Equipment Under Test,EUT)进行静电放电，然后检查待测试设备的功能及状态是否符合要求。在整个测试过程中，静电放电的能量无法量化，不利于测试人员有目的性的选择ESD器件。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种静电放电测试装置及静电放电测试方法，能够量化测试过程中静电放电的能量，有利于测试人员有目的性的选择ESD器件。
本发明一实施例的静电放电测试装置，包括示波器和同轴线，同轴线用于实现示波器和待测试设备之间的连接，示波器用于获取待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号，并将电信号进行图像化标识。
本发明一实施例的静电放电测试方法，包括：
通过同轴线实现待测试设备和示波器之间的连接；
所述示波器获取待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号，并将所述电信号进行图像化标识。
有益效果：本发明通过与待测试设备连接的示波器获取待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号，并将电信号进行图像化标识，因此能够量化测试过程中静电放电的能量，有利于测试人员有目的性的选择ESD器件。
附图说明
图1是本发明一实施例的静电放电测试装置的结构示意图；
图2是本发明另一实施例的静电放电测试装置的结构示意图；
图3是本发明一实施例的静电放电测试方法的流程示意图；
图4是本发明另一实施例的静电放电测试方法的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明所提供的各个示例性的实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。在不冲突的情况下，下述各个实施例以及实施例中的特征可以相互组合。
请参阅图1，为本发明一实施例的静电放电测试装置。所述静电放电测试装置10包括同轴线11和示波器12。
同轴线11可以包括至少三层结构，最内层是用于传送高电平信号(即静电放电测试过程中产生的电信号)的导电金属芯，例如铜芯，中间层是包裹导电金属芯的绝缘材料，最外层是用于传送低电平信号的筒状导电金属薄层，该筒状导电金属薄层与导电金属芯共轴，起到屏蔽外界信号的作用。
同轴线11作为一种信号传输线，其用于实现示波器12和待测试设备之间的连接，将待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号传输至示波器12。其中，同轴线11的两端可以设置有SMA(Subminiature Atype,迷你型)连接器，基于此，同轴线11通过其两端设置的SMA连接器分别与示波器12和待测试设备连接。
示波器12用于获取待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号(即静电放电的能量)，并将电信号进行图像化标识。
在测试过程中，ESD器件对待测试设备进行静电放电，静电放电所产生的瞬态电信号通过同轴线11传输至示波器12，示波器12将该瞬态电信号以图像化形式显示在其屏幕上。具体地，该瞬态电信号表现为一波形信号，通过示波器12屏幕上标识的量化坐标，本实施例能够量化测试过程中静电放电的能量，测试人员可以直观的读取静电放电的能量数值，继而再根据待测试设备的功能及状态是否符合要求有目的性的选择其他ESD器件以进行下一次测试。
请参阅图2，为本发明一实施例的静电放电测试装置。除了同轴线21和示波器22之外，所述静电放电测试装置20还可以包括电压衰减组件23和电磁屏蔽组件24中的至少一个。
在本实施例中，同轴线21和示波器22的结构与原理可参阅上述对同轴线11和示波器12的描述，此处不再赘述。
电压衰减组件23连接于同轴线21和待测试设备之间，并用于调整静电放电测试过程中产生的电信号，例如使得所述电信号衰减1000倍，使得示波器22获取调整后的电信号。也就是说，电压衰减组件23能够将静电放电测试过程中产生的电信号进行衰减，以避免过大的电信号功率损坏示波器22。在实际应用场景中，电压衰减组件23可以由一个或级联的多个电压衰减器组成，例如电压衰减组件23可以由三个衰减量为-10dB的电压衰减器级联组成，此时，同轴线11可通过SMA连接器与第一个电压衰减器连接，而最后一个电压衰减器可以连接有焊接点或金属探针，并通过焊接点或金属探针与待测试设备连接，由此电压衰减组件23能够将静电放电测试过程中产生的电信号衰减1000倍。
电磁屏蔽组件24的内部设有容置空间，在ESD测试过程中示波器22放置于该容置空间，从而能够屏蔽外界电磁信号对示波器22的影响，确保ESD测试结果的可靠性。在实际应用场景中，电磁屏蔽组件24包括但不限于为法拉第电磁笼。
请参阅图3，为本发明一实施例的静电放电测试方法。所述静电放电测试方法可以包括步骤S31和S32。
S31：通过同轴线实现待测试设备和示波器之间的连接。
同轴线可以包括至少三层结构，最内层是用于传送静电放电测试过程中产生的电信号的导电金属芯，例如铜芯，中间层是包裹导电金属芯的绝缘材料，最外层是用于传送低电平信号的筒状导电金属薄层，该筒状导电金属薄层与导电金属芯共轴，起到屏蔽外界信号的作用。
同轴线的两端可以设置有SMA连接器，基于此，同轴线可以通过其两端设置的SMA连接器分别与示波器和待测试设备连接。
S32：示波器获取待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号，并将所述电信号进行图像化标识。
在测试过程中，ESD器件对待测试设备进行静电放电，静电放电所产生的瞬态电信号通过同轴线传输至示波器，示波器将该瞬态电信号以图像化形式显示在其屏幕上。具体地，该瞬态电信号表现为一波形信号，通过示波器屏幕上标识的量化坐标，本实施例能够量化测试过程中静电放电的能量，测试人员可以直观的读取静电放电的能量数值，继而再根据待测试设备的功能及状态是否符合要求有目的性的选择其他ESD器件以进行下一次测试。
本实施例的静电放电测试方法可以由图1所述实施例的静电放电测试装置10的各个元件对应执行，因此具有与其相同的技术效果。
请参阅图4，为本发明另一实施例的静电放电测试方法。所述静电放电测试方法可以包括步骤S41～S43。
S41：在同轴线和待测试设备之间连接电压衰减组件，并通过同轴线连接电压衰减组件和待测试设备。
为了屏蔽外界电磁信号对示波器的影响，确保ESD测试结果的可靠性，本实施例可以将示波器放置于电磁屏蔽组件内部开设的容置空间中，该电磁屏蔽组件包括但不限于为法拉第电磁笼。
S42：电压衰减组件调整待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号。
电压衰减组件连接于同轴线和待测试设备之间，并用于调整静电放电测试过程中产生的电信号，例如使得所述电信号衰减1000倍，使得示波器获取调整后的电信号。也就是说，电压衰减组件能够将静电放电测试过程中产生的电信号进行衰减，以避免过大的电信号功率损坏示波器。在实际应用场景中，电压衰减组件可以由一个或级联的多个电压衰减器组成，例如电压衰减组件可以由三个衰减量为-10dB的电压衰减器级联组成，此时，同轴线可通过SMA连接器与第一个电压衰减器连接，而最后一个电压衰减器可以连接有焊接点或金属探针，并通过焊接点或金属探针与待测试设备连接，由此电压衰减组件能够将静电放电测试过程中产生的电信号衰减1000倍。
S43：示波器获取调整后的电信号，并将调整后的电信号进行图像化标识。
本实施例的静电放电测试方法可以由图2所述实施例的静电放电测试装置20的各个元件对应执行，因此具有与其相同的技术效果。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，例如各实施例之间技术特征的相互结合，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种静电放电测试装置，其特征在于，所述静电放电测试装置包括示波器和同轴线，所述同轴线用于实现所述示波器和待测试设备之间的连接，所述示波器用于获取所述待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号，并将所述电信号进行图像化标识。
2.根据权利要求1所述的静电放电测试装置，其特征在于，所述静电放电测试装置还包括电压衰减组件，所述电压衰减组件用于连接于所述同轴线和待测试设备之间，并调整所述电信号，使得所述示波器获取调整后的电信号。
3.根据权利要求2所述的静电放电测试装置，其特征在于，所述电压衰减组件包括一个或级联的多个电压衰减器。
4.根据权利要求2所述的静电放电测试装置，其特征在于，所述电压衰减组件设置有焊接点或金属探针，所述电压衰减组件通过所述焊接点或金属探针与所述待测试设备连接。
5.根据权利要求2所述的静电放电测试装置，所述同轴线的两端设置有SMA(Subminiature Atype,迷你型)连接器，所述同轴线通过其两端设置的SMA连接器分别与所述示波器和电压衰减组件连接。
6.根据权利要求1所述的静电放电测试装置，其特征在于，所述静电放电测试装置还包括具有容置空间的电磁屏蔽组件，所述电磁屏蔽组件用于将所述示波器内置于所述容置空间中。
7.一种静电放电测试方法，其特征在于，所述静电放电测试方法包括：
通过同轴线实现待测试设备和示波器之间的连接；
所述示波器获取所述待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号，并将所述电信号进行图像化标识。
8.根据权利要求7所述的静电放电测试方法，其特征在于，
所述通过同轴线实现待测试设备和示波器之间的连接，包括：
在所述同轴线和待测试设备之间连接电压衰减组件；
所述示波器获取所述待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号，并将所述电信号进行图像化标识，包括：
所述电压衰减组件调整所述待测试设备在静电放电测试过程中产生的电信号；
所述示波器获取调整后的电信号，并将所述调整后的电信号进行图像化标识。
9.根据权利要求8所述的静电放电测试方法，其特征在于，所述电压衰减组件设置有焊接点或金属探针，所述电压衰减组件通过所述焊接点或金属探针与所述待测试设备连接。
10.根据权利要求8所述的静电放电测试方法，其特征在于，所述同轴线的两端设置有SMA(Subminiature Atype,迷你型)连接器，所述同轴线通过其两端设置的SMA连接器分别与所述示波器和电压衰减组件连接。
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