CN207541175U - 一种测试架及屏蔽效能测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种测试架及屏蔽效能测试系统，所述测试架包括接地平板、第一支撑板、第二支撑板、屏蔽管、接收天线和用于发射电磁波的发射天线；所述第一支撑板固定连接在所述接地平板上，所述第二支撑板固定连接在所述接地平板上，所述发射天线的一端连接在所述第一同轴连接器上，所述发射天线的另一端连接在所述第三同轴连接器上，所述接收天线的一端连接在所述第二同轴连接器上，所述接收天线的另一端连接在所述第四同轴连接器上；所述屏蔽管的一端连接在所述第一支撑板上，所述屏蔽管的另一端连接在所述第二支撑板上，且所述接收天线套设在所述屏蔽管内。本实施例能够有效地测量或评价屏蔽管状物的屏蔽效能，并且操作简单、测量结果精确。

Description

一种测试架及屏蔽效能测试系统

技术领域

本实用新型涉及电磁屏蔽技术领域，尤其是涉及一种测试架及屏蔽效能测试系统。

背景技术

随着信息技术的高速发展，需要通过线路传输的信息越来越多，通信线路越来越密集，通信线路之间的串扰和信息泄漏越来越严重，线路屏蔽问题受到广泛关注；目前，普遍采用屏蔽管或软性屏蔽布包裹的方法，通过隔离屏蔽的技术手段解决信号泄漏或外来干扰的问题，以提升通信线路之间的屏蔽效能。

在现有技术中，却没有合适的用于软性屏蔽布包裹或屏蔽管的屏蔽效能的测量方法或评价方法；其中，软性屏蔽布包裹的屏蔽效能的测量通常是参照国军标《GJB 6190-2008电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法》进行屏蔽效能的测量，但是该标准只能测试裁剪成小方块的材料，而且屏蔽管状物的形状和尺寸不同，因此该标准不适用于屏蔽管状物的屏蔽效能的测量，也没有合适的屏蔽管状物的屏蔽效能的测量装置，导致屏蔽管状物的屏蔽效能的测量难以操作，并且测量结果的精确性不高。

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种测试架及屏蔽效能测试系统，以解决现有的屏蔽效能的测量方法或评价方法不适用于屏蔽管的屏蔽效能的测量或评价，同时也没有合适的测量装置的技术问题，以有效地测量或评价屏蔽管状物的屏蔽效能，并且操作简单、测量结果精确。

为了解决上述技术问题，本实用新型实施例提供了一种测试架，包括接地平板、第一支撑板、第二支撑板、屏蔽管、接收天线和用于发射电磁波的发射天线；所述第一支撑板固定连接在所述接地平板上，所述第二支撑板固定连接在所述接地平板上，所述第一支撑板上设有第一同轴连接器和第二同轴连接器，所述第二支撑板上设有第三同轴连接器和第四同轴连接器；所述发射天线的一端连接在所述第一同轴连接器上，所述发射天线的另一端连接在所述第三同轴连接器上，所述接收天线的一端连接在所述第二同轴连接器上，所述接收天线的另一端连接在所述第四同轴连接器上；所述屏蔽管的一端连接在所述第一支撑板上，所述屏蔽管的另一端连接在所述第二支撑板上，且所述接收天线套设在所述屏蔽管内。

作为优选地，所述发射天线与所述接收天线平行，且所述屏蔽管的轴线与所述接收天线的轴线在同一条直线上。

作为优选地，所述第一支撑板和所述第二支撑板均为金属板，所述屏蔽管的一端与所述第一支撑板电连接，所述屏蔽管的另一端与所述第二支撑板电连接。

作为优选地，所述第一支撑板上和所述第二支撑板上均设有屏蔽管夹持件；所述屏蔽管夹持件包括用于夹持所述屏蔽管的一端端部的第一夹持件和第二夹持件，所述第一夹持件上设有第一开口槽，所述第二夹持件上设有第二开口槽，且所述第一开口槽的开口与所述第二开口槽的开口相对设置；在夹持所述屏蔽管时，所述第一夹持件和所述第二夹持件沿相对方向移动；在松开所述屏蔽管时，所述第一夹持件和所述第二夹持件沿相反方向移动。

作为优选地，所述第一夹持件和所述第二夹持件上均设有条形通孔；所述第一支撑板的所述第一夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第一支撑板上，所述第一支撑板的所述第二夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第一支撑板上；所述第二支撑板的所述第一夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第二支撑板上，所述第二支撑板的所述第二夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第二支撑板上。

作为优选地，所述第一开口槽呈V形，所述第二开口槽呈V形；或，所述第一开口槽呈弧形，所述第二开口槽呈弧形。

作为优选地，所述第一支撑板上设有前后贯穿的第一通孔和第二通孔，所述第二支撑板上设有前后贯穿的第三通孔和第四通孔；所述发射天线的一端穿过所述第一通孔与所述第一同轴连接器连接，所述发射天线的另一端穿过所述第三通孔与所述第三同轴连接器连接；所述接收天线的一端穿过所述第二通孔与所述第二同轴连接器连接，所述接收天线的另一端穿过所述第四通孔与所述第四同轴连接器连接。

为了解决相同的技术问题，本实用新型还提供了一种屏蔽效能测试系统，包括矢量网络分析仪、第一射频电缆、第二射频电缆以及上述的测试架，所述矢量网络分析仪上设有信号输出端口和测量端口；所述第一射频电缆的一端与所述矢量网络分析仪的信号输出端口电连接，所述第一射频电缆的另一端通过所述第一同轴连接器与所述发射天线的一端电连接；所述第二射频电缆的一端与所述矢量网络分析仪的测量端口电连接，所述第二射频电缆的另一端通过所述第二同轴连接器与所述接收天线的一端电连接。

作为优选地，所述第一同轴连接器上设有第一隔离衰减器，所述第二同轴连接器上设有第二隔离衰减器；所述第一隔离衰减器的一端与所述发射天线的一端电连接，所述第二隔离衰减器的一端与所述接收天线的一端电连接；所述第一射频电缆的另一端与所述第一隔离衰减器的另一端电连接，所述第二射频电缆的另一端与所述第二隔离衰减器的另一端电连接。

作为优选地，所述第三同轴连接器上设有第一终端负载，所述第四同轴连接器上设有第二终端负载；所述第一终端负载与所述发射天线的另一端电连接，所述第二终端负载与所述接收天线的另一端电连接。

相比于现有技术，本实用新型实施例的有益效果在于，本实用新型实施例提供了一种测试架，包括接地平板、第一支撑板、第二支撑板、屏蔽管、接收天线和用于发射电磁波的发射天线；所述第一支撑板固定连接在所述接地平板上，所述第二支撑板固定连接在所述接地平板上，所述第一支撑板上设有第一同轴连接器和第二同轴连接器，所述第二支撑板上设有第三同轴连接器和第四同轴连接器；所述发射天线的一端连接在所述第一同轴连接器上，所述发射天线的另一端连接在所述第三同轴连接器上，所述接收天线的一端连接在所述第二同轴连接器上，所述接收天线的另一端连接在所述第四同轴连接器上；所述屏蔽管的一端连接在所述第一支撑板上，所述屏蔽管的另一端连接在所述第二支撑板上，且所述接收天线套设在所述屏蔽管内。通过将所述发射天线和所述接收天线放置在所述测试架上，所述发射天线接收矢量信号源的信号发射电磁波，而所述接收天线接收所述发射天线发出的电磁波，在测量所述屏蔽管的屏蔽效能时，先测量所述接收天线不套设在所述屏蔽管内的插入衰减值，从而获得在无所述屏蔽管时的两天线间的插入损耗；所述接收天线套设在所述屏蔽管内，从而测量所述接收天线套设在所述屏蔽管内的插入衰减值，进而计算在无所述屏蔽管时的两天线间的插入损耗与在有所述屏蔽管时的两天线间的插入损耗之差，这样可简单有效地获得所述屏蔽管的屏蔽效能；最后改变所述发射天线的发射频率，重复进行测量操作，从而准确有效地测量或评价屏蔽管状物的各个频段的平均屏蔽效能。同时，本实用新型实施例还提供了一种屏蔽效能测试系统。

附图说明

图1是本实用新型实施例中的一种的测试架的结构示意图；

图2是本实用新型实施例中的第一支撑板的第一实施例的结构示意图；

图3是本实用新型实施例中的第一支撑板的第一实施例的正视图；

图4是本实用新型实施例中的第一支撑板的第一实施例的装配图；

图5是本实用新型实施例中的第一支撑板的第二实施例的装配图；

图6是本实用新型实施例中的一种屏蔽效能测试系统的结构示意图；

其中，1、测试架；11、第一支撑板；12、第二支撑板；111、第一通孔；112、第二通孔；13、接地平板；2、矢量网络分析仪；21、信号输出端口；22、测量端口；31、第一射频电缆；32、第二射频电缆；4、屏蔽管；5、发射天线；51、第一同轴连接器；52、第三同轴连接器；53、第一隔离衰减器；54、第一终端负载；6、接收天线；61、第二同轴连接器；62、第四同轴连接器；63、第二隔离衰减器；64、第二终端负载；7、屏蔽管夹持件；71、第一夹持件；711、第一开口槽；72、第二夹持件；721、第二开口槽；73、条形通孔。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参见图1，本实用新型优选实施例提供了一种测试架1，包括接地平板13、用于发射电磁波的发射天线5、接收天线6、屏蔽管4、第一支撑板11和第二支撑板12；所述第一支撑板11固定连接在所述接地平板13上，所述第二支撑板12固定连接在所述接地平板13上，所述第一支撑板11上设有第一同轴连接器51和第二同轴连接器61，所述第二支撑板12上设有第三同轴连接器52和第四同轴连接器62；所述发射天线5的一端连接在所述第一同轴连接器51上，所述发射天线5的另一端连接在所述第三同轴连接器52上，所述接收天线6的一端连接在所述第二同轴连接器61上，所述接收天线6的另一端连接在所述第四同轴连接器62上；所述屏蔽管4的一端连接在所述第一支撑板11上，所述屏蔽管4的另一端连接在所述第二支撑板12上，且所述接收天线6套设在所述屏蔽管4内。

在本实用新型实施例中，通过将所述发射天线5和所述接收天线6放置在所述测试架1上，所述发射天线5接收矢量信号源的信号发射电磁波，而所述接收天线6接收所述发射天线5发出的电磁波，在测量所述屏蔽管4的屏蔽效能时，先测量所述接收天线6不套设在所述屏蔽管4内的插入衰减值，从而获得在无所述屏蔽管4时的两天线间的插入损耗；所述接收天线6套设在所述屏蔽管4内，从而测量所述接收天线6套设在所述屏蔽管4内的插入衰减值，进而计算在无所述屏蔽管4时的两天线间的插入损耗与在有所述屏蔽管4时的两天线间的插入损耗之差，这样可简单有效地获得所述屏蔽管4的屏蔽效能；最后改变所述发射天线5的发射频率，重复进行测量操作，从而准确有效地测量或评价屏蔽管状物的各个频段的平均屏蔽效能。

参见图1和图6，在本实用新型实施例中，所述发射天线5与所述接收天线6平行，且所述屏蔽管4的轴线与所述接收天线6的轴线在同一条直线上，从而使得所述接收天线6的每一处均能受到所述发射天线5的电磁波信号，进而有效地测量所述屏蔽管4的屏蔽效能；同时所述屏蔽管4的轴线与所述接收天线6的轴线在同一条直线上，以提高测量结果的精确性。

参见图2至图5，在本实用新型实施例中，所述第一支撑板11上和所述第二支撑板12上均设有屏蔽管4夹持件；所述屏蔽管4夹持件包括用于夹持所述屏蔽管4的一端端部的第一夹持件71和第二夹持件72，所述第一夹持件71上设有第一开口槽711，所述第二夹持件72上设有第二开口槽721，且所述第一开口槽711的开口与所述第二开口槽721的开口相对设置；在夹持所述屏蔽管4时，所述第一夹持件71和所述第二夹持件72沿相对方向移动；在松开所述屏蔽管4时，所述第一夹持件71和所述第二夹持件72沿相反方向移动，从而有效地夹持住所述屏蔽管4的两端，由于所述屏蔽管4的尺寸不同，在测量时，需要更换不同尺寸的所述屏蔽管4进行测量，从而所述第一夹持件71和所述第二夹持件72能够较好地根据所述屏蔽管4的尺寸进行夹持，进而提高了测量效率。

参见图4和图5，在本实用新型实施例中，应当说明的是，所述屏蔽管4的管径范围为20～300mm，因此为了适应不同尺寸的所述屏蔽管4，所述第一开口槽711的直径为20～300mm，所述第二开口槽721的直径为20～300mm。所述第一开口槽711呈V形，所述第二开口槽721呈V形；或，所述第一开口槽711呈弧形，所述第二开口槽721呈弧形，均可实现夹持不同尺寸的所述屏蔽管4，以便于测量不同尺寸的所述屏蔽管4的屏蔽效能。

参见图2和图4，在本实用新型实施例中，所述第一夹持件71和所述第二夹持件72上均设有条形通孔73；所述第一支撑板11的所述第一夹持件71通过所述条形通孔73可上下移动地连接在所述第一支撑板11上，所述第一支撑板11的所述第二夹持件72通过所述条形通孔73可上下移动地连接在所述第一支撑板11上；所述第二支撑板12的所述第一夹持件71通过所述条形通孔73可上下移动地连接在所述第二支撑板12上，所述第二支撑板12的所述第二夹持件72通过所述条形通孔73可上下移动地连接在所述第二支撑板12上，以使所述发射天线5和所述接收天线6能够架设在所述第一支撑板11和所述第二支撑板12之间，调节所述第一支撑板11和所述第二支撑板12的位置，从而通过所述第一夹持件71和所述第二夹持件72调整所述屏蔽管4的位置，使得所述屏蔽管4的轴线与所述接收天线6的轴线在同一条直线上，以提高测量结果的精确性。

在本实用新型实施例中，为了使结构合理化，所述第一支撑板11与所述接地平板13垂直，所述第二支撑板12与所述接地平板13垂直，以使得所述第一支撑板11与所述第二支撑板12平行，实现所述发射天线5与所述接收天线6的平行，从而保证了在测量时，所述接收天线6的每一处均能受到所述发射天线5的电磁波信号，进而提高了测量结果的精确性。

参见图1和图6，在本实用新型实施例中，为了使结构合理化，本实施例中所述第一支撑板11分别与所述接地平板13、所述屏蔽管4电连接，所述第二支撑板12分别与所述接地平板13、所述屏蔽管4电连接。所述第一支撑板11和所述第二支撑板12可通过焊接或螺丝紧固方法固定在所述接地平板13，且所述第一支撑板11和所述第二支撑板12均为金属板，当所述屏蔽管4的两端分别被夹持在所述第一支撑板11和所述第二支撑板12上时，所述屏蔽管4分别与所述第一支撑板11、所述第二支撑板12电连接，从而保证所述屏蔽管4接地良好，进而保证测量结果的可靠性。

在本实用新型实施例中，应当说明的是，所述第一支撑板11和所述第二支撑板12均为金属板，所述屏蔽管4的一端与所述第一支撑板11电连接，所述屏蔽管4的另一端与所述第二支撑板12电连接，以保证所述屏蔽管4接地良好，从而保证测量结果的可靠性。

参见图2和图3，在本实用新型实施例中，所述第一支撑板11上设有前后贯穿的第一通孔111和第二通孔112，所述第二支撑板12上设有前后贯穿的第三通孔和第四通孔；所述发射天线5的一端穿过所述第一通孔111与所述第一同轴连接器51连接，所述发射天线5的另一端穿过所述第三通孔与所述第三同轴连接器52连接；所述接收天线6的一端穿过所述第二通孔112与所述第二同轴连接器61连接，所述接收天线6的另一端穿过所述第四通孔与所述第四同轴连接器62连接，从而使得所述发射天线5和所述接收天线6能够架设在所述第一支撑板11和所述第二支撑板12之间，调节所述第一支撑板11和所述第二支撑板12的位置，使得所述第一支撑板11与所述第二支撑板12平行，从而实现所述发射天线5与所述接收天线6的平行，进而保证了在测量时，所述接收天线6的每一处均能受到所述发射天线5的电磁波信号，进而提高了测量结果的精确性。同时，在测量时，所述第一通孔111、所述第二通孔112、所述第三通孔和所述第四通孔便于所述发射天线5和所述接收天线6的安装，且利于所述第一同轴连接器5、所述第二同轴连接器61、所述第三同轴连接器52和所述第四同轴连接器62插接在所述第一支撑板11和所述第二支撑板12上。

参见图6，为了解决相同的技术问题，本实用新型还提供了一种屏蔽效能测试系统，包括矢量网络分析仪2、第一射频电缆31、第二射频电缆32以及上述的测试架1，所述矢量网络分析仪2上设有信号输出端口21和测量端口22；所述第一射频电缆31的一端与所述矢量网络分析仪2的信号输出端口21电连接，所述第一射频电缆31的另一端通过所述第一同轴连接器51与所述发射天线5的一端电连接；所述第二射频电缆32的一端与所述矢量网络分析仪2的测量端口22电连接，所述第二射频电缆32的另一端通过所述第二同轴连接器61与所述接收天线6的一端电连接。

在本实用新型实施例中，通过将所述发射天线5和所述接收天线6放置在所述测试架1上，所述发射天线5接收矢量信号源的信号发射电磁波，而所述接收天线6接收所述发射天线5发出的电磁波，在测量所述屏蔽管4的屏蔽效能时，先测量所述接收天线6不套设在所述屏蔽管4内的插入衰减值，从而获得在无所述屏蔽管4时的两天线间的插入损耗；进而计算在无所述屏蔽管4时的两天线间的插入损耗与在有所述屏蔽管4时的两天线间的插入损耗之差，这样可简单有效地获得所述屏蔽管4的屏蔽效能；最后改变所述发射天线5的发射频率，重复进行测量操作，从而准确有效地测量或评价屏蔽管状物的各个频段的平均屏蔽效能。

参见图1，在本实用新型实施例中，所述第一同轴连接器51上设有第一隔离衰减器53，所述第二同轴连接器61上设有第二隔离衰减器63；所述第一隔离衰减器53的一端与所述发射天线5的一端电连接，所述第二隔离衰减器63的一端与所述接收天线6的一端电连接；所述第一射频电缆31的另一端与所述第一隔离衰减器53的另一端电连接，所述第二射频电缆32的另一端与所述第二隔离衰减器63的另一端电连接，从而减少发射损耗，进而提高了所述矢量网络分析仪2测量插入衰减的精度。

在本实用新型实施例中，应当说明的是，所述第一隔离衰减器53和所述第二隔离衰减器63均为10dB隔离衰减器，也可以是其他规格的隔离衰减器，在此不做更多的赘述。

参见图1和图6，在本实用新型实施例中，所述第三同轴连接器52上设有第一终端负载54，所述第四同轴连接器62上设有第二终端负载64；所述第一终端负载54与所述发射天线5的另一端电连接，所述第二终端负载64与所述接收天线6的另一端电连接，从而减少发射损耗，进而提高测量屏蔽管状物的屏蔽效能的精度。

在本实用新型实施例中，应当说明的是，所述矢量网络分析仪2为矢量网络分析仪2。所述第一终端负载54和所述第二终端负载64均为50Ω终端负载，以匹配所述矢量网络分析仪2。

所述屏蔽效能测试系统，通过以下步骤进行屏蔽管4的屏蔽效能的测量或评价：

第一步，不安装所述屏蔽管4时，调整所述矢量网络分析仪2为测量插入衰减模式；第二步，通过所述矢量网络分析仪2测量第一插入衰减值S_21o；第三步，将所述屏蔽管4套住所述接收天线6，通过所述矢量网络分析仪2测量第二插入衰减值S_21s；第四步，计算所述屏蔽管4的屏蔽效能S，其中，S＝S_21o-S_21s；第五步，调整所述发射天线5的发射频率，在至少10个不同发射频率下，重复第一步至第五步步骤，获得对应发射频率的所述屏蔽管4的屏蔽效能Si；第六步，将所述发射天线5的发射频率分为若干个频段，以计算所述屏蔽管4在不同频段内的屏蔽效能的平均值

其中，S，所述屏蔽管4的屏蔽效能，单位为dB；

S_21o，在无屏蔽管4时，所述矢量网络分析仪2测得的第一插入衰减值S_21o，单位为dB；

S_21s，在有屏蔽管4时，所述矢量网络分析仪2测得的第二插入衰减值S_21s，单位为dB；

所述屏蔽管4的直径为20～300mm；

所述发射天线5的发射频率范围为：1MHz～8GHz。

在本实用新型实施例中，应当说明的是，由于所述屏蔽管4的屏蔽效能在不同频率下具有不同的屏蔽效能，因此需要在整个工作频率范围内选择若干个频率点进行测量，频率点数不应小于10个点；

所述屏蔽管4的屏蔽效能应以频段内的平均值予以评价。

本实用新型实施例可根据具体工作要求，将全频段分为若干小段，以求出小频段的平均屏蔽效能。如果工作频段较窄，可分出部分小频段。例如，工作频率范围为(10～3000)MHz，可分为(10～100)MHz，(100～1000)MHz，(1000～3000)MHz。

通过下式计算屏蔽效能平均值

式中，所述屏蔽管4在规定频段的屏蔽效能平均值，单位为dB；

S_i，所述屏蔽管4在第i个频率点的屏蔽效能，单位为dB；

n，测量频段的频率点的总数。

因此，所述屏蔽效能测试系统能够准确有效地测量或评价屏蔽管状物的屏蔽效能，且可以测量不同尺寸的屏蔽管4，以进行屏蔽管4的屏蔽效能的测量或评价。

综上，本实用新型实施例提供了一种测试架1，包括接地平板13、第一支撑板11、第二支撑板12、屏蔽管4、接收天线5和用于发射电磁波的发射天线6；所述第一支撑板11固定连接在所述接地平板13上，所述第二支撑板12固定连接在所述接地平板13上，所述第一支撑板11上设有第一同轴连接器51和第二同轴连接器61，所述第二支撑板12上设有第三同轴连接器52和第四同轴连接器62；所述发射天线5的一端连接在所述第一同轴连接器51上，所述发射天线5的另一端连接在所述第三同轴连接器52上，所述接收天线6的一端连接在所述第二同轴连接器61上，所述接收天线6的另一端连接在所述第四同轴连接器62上；所述屏蔽管4的一端连接在所述第一支撑板11上，所述屏蔽管4的另一端连接在所述第二支撑板12上，且所述接收天线6套设在所述屏蔽管4内。通过将所述发射天线5和所述接收天线6放置在所述测试架1上，所述发射天线5接收矢量信号源的信号发射电磁波，而所述接收天线6接收所述发射天线5发出的电磁波，在测量所述屏蔽管4的屏蔽效能时，先测量所述接收天线6不套设在所述屏蔽管4内的插入衰减值，从而获得在无所述屏蔽管4时的两天线间的插入损耗；所述接收天线6套设在所述屏蔽管4内，从而测量所述接收天线6套设在所述屏蔽管4内的插入衰减值，进而计算在无所述屏蔽管4时的两天线间的插入损耗与在有所述屏蔽管4时的两天线间的插入损耗之差，这样可简单有效地获得所述屏蔽管4的屏蔽效能；最后改变所述发射天线5的发射频率，重复进行测量操作，从而准确有效地测量或评价屏蔽管状物的各个频段的平均屏蔽效能。

以上所述是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试架，其特征在于，包括接地平板、第一支撑板、第二支撑板、屏蔽管、接收天线和用于发射电磁波的发射天线；

所述第一支撑板固定连接在所述接地平板上，所述第二支撑板固定连接在所述接地平板上，所述第一支撑板上设有第一同轴连接器和第二同轴连接器，所述第二支撑板上设有第三同轴连接器和第四同轴连接器；

所述发射天线的一端连接在所述第一同轴连接器上，所述发射天线的另一端连接在所述第三同轴连接器上，所述接收天线的一端连接在所述第二同轴连接器上，所述接收天线的另一端连接在所述第四同轴连接器上；

所述屏蔽管的一端连接在所述第一支撑板上，所述屏蔽管的另一端连接在所述第二支撑板上，且所述接收天线套设在所述屏蔽管内。

2.如权利要求1所述的测试架，其特征在于，所述发射天线与所述接收天线平行，且所述屏蔽管的轴线与所述接收天线的轴线在同一条直线上。

3.如权利要求1所述的测试架，其特征在于，所述第一支撑板和所述第二支撑板均为金属板，所述屏蔽管的一端与所述第一支撑板电连接，所述屏蔽管的另一端与所述第二支撑板电连接。

4.如权利要求1所述的测试架，其特征在于，所述第一支撑板上和所述第二支撑板上均设有屏蔽管夹持件；

所述屏蔽管夹持件包括用于夹持所述屏蔽管的一端端部的第一夹持件和第二夹持件，所述第一夹持件上设有第一开口槽，所述第二夹持件上设有第二开口槽，且所述第一开口槽的开口与所述第二开口槽的开口相对设置；

在夹持所述屏蔽管时，所述第一夹持件和所述第二夹持件沿相对方向移动；在松开所述屏蔽管时，所述第一夹持件和所述第二夹持件沿相反方向移动。

5.如权利要求4所述的测试架，其特征在于，所述第一夹持件和所述第二夹持件上均设有条形通孔；

所述第一支撑板的所述第一夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第一支撑板上，所述第一支撑板的所述第二夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第一支撑板上；

所述第二支撑板的所述第一夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第二支撑板上，所述第二支撑板的所述第二夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第二支撑板上。

6.如权利要求4或5所述的测试架，其特征在于，所述第一开口槽呈V形，所述第二开口槽呈V形；或，所述第一开口槽呈弧形，所述第二开口槽呈弧形。

7.如权利要求1所述的测试架，其特征在于，所述第一支撑板上设有前后贯穿的第一通孔和第二通孔，所述第二支撑板上设有前后贯穿的第三通孔和第四通孔；

所述发射天线的一端穿过所述第一通孔与所述第一同轴连接器连接，所述发射天线的另一端穿过所述第三通孔与所述第三同轴连接器连接；

所述接收天线的一端穿过所述第二通孔与所述第二同轴连接器连接，所述接收天线的另一端穿过所述第四通孔与所述第四同轴连接器连接。

8.一种屏蔽效能测试系统，其特征在于，包括矢量网络分析仪、第一射频电缆、第二射频电缆以及如权利要求1～7任一项所述的测试架，所述矢量网络分析仪上设有信号输出端口和测量端口；

所述第一射频电缆的一端与所述矢量网络分析仪的信号输出端口电连接，所述第一射频电缆的另一端通过所述第一同轴连接器与所述发射天线的一端电连接；

所述第二射频电缆的一端与所述矢量网络分析仪的测量端口电连接，所述第二射频电缆的另一端通过所述第二同轴连接器与所述接收天线的一端电连接。

9.如权利要求8所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述第一同轴连接器上设有第一隔离衰减器，所述第二同轴连接器上设有第二隔离衰减器；

所述第一隔离衰减器的一端与所述发射天线的一端电连接，所述第二隔离衰减器的一端与所述接收天线的一端电连接；

所述第一射频电缆的另一端与所述第一隔离衰减器的另一端电连接，所述第二射频电缆的另一端与所述第二隔离衰减器的另一端电连接。

10.如权利要求8或9所述的屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述第三同轴连接器上设有第一终端负载，所述第四同轴连接器上设有第二终端负载；

所述第一终端负载与所述发射天线的另一端电连接，所述第二终端负载与所述接收天线的另一端电连接。