CN107039257A - 一种激光诱导石墨烯图形化制备方法及掩模化制品 - Google Patents
一种激光诱导石墨烯图形化制备方法及掩模化制品 Download PDFInfo
- Publication number
- CN107039257A CN107039257A CN201710220721.7A CN201710220721A CN107039257A CN 107039257 A CN107039257 A CN 107039257A CN 201710220721 A CN201710220721 A CN 201710220721A CN 107039257 A CN107039257 A CN 107039257A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- laser
- induced
- graphene
- graphical
- metal level
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 59
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 56
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 33
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 33
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 32
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 239000013047 polymeric layer Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 17
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 claims description 20
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 20
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 14
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 14
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 10
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 claims description 10
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 10
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 8
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims 2
- 150000003949 imides Chemical class 0.000 claims 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 abstract description 4
- 238000011112 process operation Methods 0.000 abstract 1
- 235000010210 aluminium Nutrition 0.000 description 19
- 239000010408 film Substances 0.000 description 14
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229920003223 poly(pyromellitimide-1,4-diphenyl ether) Polymers 0.000 description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 8
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 7
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 6
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 5
- 241000931526 Acer campestre Species 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000001336 alkenes Chemical class 0.000 description 3
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 3
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 2
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 description 1
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000007571 dilatometry Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 1
- PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N iodine Chemical compound II PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910021392 nanocarbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- NLKNQRATVPKPDG-UHFFFAOYSA-M potassium iodide Substances [K+].[I-] NLKNQRATVPKPDG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/26—Bombardment with radiation
- H01L21/263—Bombardment with radiation with high-energy radiation
- H01L21/268—Bombardment with radiation with high-energy radiation using electromagnetic radiation, e.g. laser radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
Abstract
本发明公开了一种激光诱导石墨烯图形化制备方法及用于激光诱导石墨烯图形化的掩模化制品,该方法包括以下步骤:S1、在形成于衬底上的聚合物层上形成金属层;S2、对所述金属层进行图形化加工,形成金属掩模层;S3、使用激光对金属掩模层的掩模区域进行辐照,在所述聚合物层上完成激光诱导多孔石墨烯的生长;S4、去除所述聚合物层剩余的材料,完成激光诱导多孔石墨烯图形化加工。本发明能够提高多孔石墨烯图形化的加工精度,使工艺过程和加工操作简单化,降低成本。
Description
技术领域
本发明涉及一种激光诱导石墨烯图形化制备方法及用于激光诱导石墨烯图形化的掩模化制品。
背景技术
石墨烯作为准二维纳米碳材料,其具有众多的优良特性,例如高载流子迁移率、良好的透光性、高热导率、高机械强度、独特的电学以及摩擦特性等。多孔石墨烯作为石墨烯家族中的一员不仅继承了其部分优良特性,同时由于其相比于本征石墨烯具有一定的纳米孔缺陷,使得其拥有更大的表面积、更高的表面活性。
目前多孔石墨烯生产方法一般可分为化学腐蚀法、反应刻蚀法、热膨胀法等,但上述方法都需要石墨烯或氧化石墨烯作为前驱体,不仅制造成本高昂而且图形化困难,不适合进行大规模生产。激光诱导多孔石墨烯加工是一种能够连续大规模加工石墨烯的方法。它通过在聚合物表面进行激光辐照,原位生成多孔石墨烯。这种方法不仅成本低廉,并且可以一步完成石墨烯的图形化,具有广阔的产业化应用前景。但其图形化精度取决于激光光斑大小以及移动控制器精度,常用的红外激光器光斑大小约为50微米到120微米之间,即使采用复杂的光学聚焦系统,也很难将光斑大小控制在10微米以下。同时激光器扫描控制系统移动精度一般大于20微米,因此使用这种激光器直接进行图形化加工,其加工精度较低,无法进行小于10微米的多孔石墨烯图形化加工。
发明内容
本发明的主要目的在于克服现有技术的不足,提供一种激光诱导石墨烯图形化制备方法及用于激光诱导石墨烯图形化的掩模化制品,提高加工精度,使工艺过程和加工操作简单化,降低成本。
为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种激光诱导石墨烯图形化制备方法,包括以下步骤:
S1、在形成于衬底上的聚合物层上形成金属层;
S2、对所述金属层进行图形化加工,形成金属掩模层;
S3、使用激光对所述金属掩模层的掩模区域进行辐照,在所述聚合物层上完成激光诱导多孔石墨烯的生长;
S4、去除所述聚合物层剩余的材料,完成激光诱导多孔石墨烯图形化加工。
进一步地:
步骤S2中,通过光刻工艺完成所述金属层的图形化加工。
所述聚合物为聚酰亚胺材料,厚度为5-50微米。
所述金属层为铝、铜、银、金中的任一种,厚度为50-800纳米。
所述金属层为铝、铜、银、金;步骤S2中,通过光刻工艺完成所述金属层的图形化加工。
所述激光为CO2红外激光,波长为10.6微米。
激光功率3~40W,扫描速度为50~500mm/s。
一种用于所述的制备方法的掩模化制品,包括衬底、形成于所述衬底上的聚合物层和形成于所述聚合物层上的图形化的金属掩模层。
进一步地:
所述聚合物为聚酰亚胺材料,厚度为5-50微米。
所述金属层为铝、铜、银、金中的任一种,厚度为50-800纳米。
所述衬底为硅衬底。
本发明的有益效果:
本发明的激光诱导石墨烯图形化制备方法,使用金属薄膜作为激光诱导石墨烯的掩模层,使用激光器对聚合物层进行激光诱导石墨烯加工,控制激光在掩模区域进行辐照,诱导加工出所需图形,经测试可获得最小加工线宽达1微米,远高于直写激光诱导石墨烯加工精度,而且可以使用廉价激光器系统进行加工。本发明的优点具体体现为:采用金属薄膜掩模可大幅提高多孔石墨烯图形化精度,掩模图形化方法基于成熟集成电路工艺,加工成本低。对激光器系统要求较低,可以使用廉价激光器进行生产。
附图说明
图1为本发明制备方法一种实施例中在聚合物层上形成金属层的示意图;
图2为本发明制备方法一种实施例中对金属层完成图形化加工后的示意图;
图3为本发明制备方法一种实施例中使用激光对金属掩模层的掩模区域进行辐照的示意图;
图4为本发明制备方法一种实施例中在聚合物层上完成激光诱导多孔石墨烯的生长的示意图;
图5为本发明制备方法一种实施例中去除聚合物层剩余的材料后形成图形化的多孔石墨烯的示意图。
具体实施方式
以下对本发明的实施方式作详细说明。应该强调的是,下述说明仅仅是示例性的,而不是为了限制本发明的范围及其应用。
如图1至图5所示,在一种实施例中,一种激光诱导石墨烯图形化制备方法,包括以下步骤:
S1、在形成于衬底3上的聚合物层2上形成金属层1;
S2、对所述金属层1进行图形化加工,形成金属掩模层4;
S3、使用激光5对所述金属掩模层4的掩模区域进行辐照,在所述聚合物层2上完成激光诱导多孔石墨烯6的生长;
S4、去除所述聚合物层2剩余的材料,完成激光诱导多孔石墨烯图形化加工。
在优选实施例中,步骤S2中,通过光刻工艺完成所述金属层1的图形化加工。
在优选实施例中,所述聚合物为聚酰亚胺材料,厚度为5-50微米。
在优选实施例中,所述金属层为铝、铜、银、金中的任一种,厚度为50-800纳米。
在优选实施例中,所述金属层为铝、铜、银、金中的任一种;步骤S2中,通过光刻工艺完成所述金属层的图形化加工。优选地,在所述光刻工艺中,对于显影后的铝薄膜,使用磷酸、硝酸、醋酸以及水,重量比例为80:5:5:10,作为刻蚀液进行铝薄膜刻蚀,完成图形化。
在优选实施例中,所述激光为CO2红外激光,波长为10.6微米。
在优选实施例中,激光功率3~40W,扫描速度为50~500mm/s。
根据优选的实施例,本发明的方法先在聚合物层2上生长一层金属层1,并使用标准光刻工艺完成金属层1的图形化加工,然后控制激光以一定功率和扫描速度在金属掩模区域进行辐照,在聚合物材料上完成激光诱导多孔石墨烯的生长,并由金属掩模控制加工出所需图形。所述金属层优选为铝、铜、银、金等高导热率材料,厚度为50-800纳米。优选的,激光功率为3~40W,扫描速度为50~500mm/s。所述激光优选为CO2红外激光,波长约10.6微米。优选的,聚合物为聚酰亚胺材料,厚度为5-50微米。
参阅图2和图3,一种用于所述的制备方法的掩模化制品,包括衬底3、形成于所述衬底3上的聚合物层2和形成于所述聚合物层2上的图形化的金属掩模层4。
在优选实施例中,所述聚合物层2为聚酰亚胺材料,厚度为5-50微米。
在优选实施例中,所述金属层为铝、铜、银、金中的任一种,厚度为50-800纳米。
在优选实施例中,所述衬底3为硅衬底。
实例1
本实例采用金属铝薄膜作为掩模层材料,对聚酰亚胺薄膜进行激光诱导多孔石墨烯加工。工艺具体可包括以下步骤:
1)在硅衬底上制作一层厚度为50微米的聚酰亚胺薄膜。
2)使用溅射工艺,在聚酰亚胺薄膜上制备一层200nm厚的金属铝。
3)使用标准光刻工艺对铝薄膜掩模层进行光刻,显影,最小线宽10微米。
4)使用磷酸、硝酸、醋酸以及水,重量比例为80:5:5:10,作为刻蚀液进行铝薄膜刻蚀,完成图形化。
5)去除铝薄膜上的光刻胶。
6)使用10.64微米波长的红外激光器对待图形化区域进行面扫描。激光器功率为5.5W,扫描速度为450mm/s.
7)将PI层从硅衬底上剥离,留下图形化后的激光诱导多孔石墨烯。
实例2
本实例采用金属铝薄膜作为掩模层材料,对聚酰亚胺薄膜进行激光诱导多孔石墨烯加工。工艺具体可包括以下步骤:
1)在硅衬底上制作一层厚度为50微米的聚酰亚胺薄膜。
2)使用溅射工艺,在聚酰亚胺薄膜上制备一层50nm厚的金属铝。
3)使用标准光刻工艺对铝薄膜掩模层进行光刻,显影,最小线宽30微米。
4)使用磷酸、硝酸、醋酸以及水,重量比例为80:5:5:10,作为刻蚀液进行铝薄膜刻蚀,完成图形化。
5)去除铝薄膜上的光刻胶。
6)使用10.64微米波长的红外激光器对待图形化区域进行面扫描。激光器功率为4.8W,扫描速度为400mm/s。
7)将PI层从硅衬底上剥离,留下图形化后的激光诱导多孔石墨烯。
实例3
本实例采用金属金薄膜作为掩模层材料,对聚酰亚胺薄膜进行激光诱导多孔石墨烯加工。工艺具体可包括以下步骤:
1)在硅衬底上制作一层厚度为25微米的聚酰亚胺薄膜。
2)使用溅射工艺,在聚酰亚胺薄膜上制备一层100nm厚的金属金。
3)使用标准光刻工艺对金薄膜掩模层进行光刻,显影,最小线宽5微米。
4)使用碘、碘化钾以及水,重量比例为3:6:5,作为刻蚀液进行金薄膜刻蚀,完成图形化。
5)去除金薄膜上的光刻胶。
6)使用10.64微米波长的红外激光器对待图形化区域进行面扫描。激光器功率为6.5W,扫描速度为300mm/s。
7)将PI层从硅衬底上剥离,留下图形化后的激光诱导多孔石墨烯。本发明的激光诱导石墨烯图形化制备方法,使用金属薄膜作为激光诱导石墨烯的掩模层,使用激光器对聚合物层进行激光诱导石墨烯加工,控制激光在掩模区域进行辐照,诱导加工出所需图形,经测试可获得最小加工线宽达1微米,远高于直写激光诱导石墨烯加工精度,而且可以使用廉价激光器系统进行加工。具体体现为:采用金属薄膜掩模可大幅提高多孔石墨烯图形化精度,掩模图形化方法基于成熟集成电路工艺,加工成本低。对激光器系统要求较低,可以使用廉价激光器进行生产。
以上内容是结合具体/优选的实施方式对本发明所作的进一步详细说明,不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,其还可以对这些已描述的实施方式做出若干替代或变型,而这些替代或变型方式都应当视为属于本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种激光诱导石墨烯图形化制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、在形成于衬底上的聚合物层上形成金属层;
S2、对所述金属层进行图形化加工,形成金属掩模层;
S3、使用激光对所述金属掩模层的掩模区域进行辐照,在所述聚合物层上完成激光诱导多孔石墨烯的生长;
S4、去除所述聚合物层剩余的材料,完成激光诱导多孔石墨烯图形化加工。
2.如权利要求1所述的激光诱导石墨烯图形化制备方法,其特征在于,步骤S2中,通过光刻工艺完成所述金属层的图形化加工。
3.如权利要求1所述的激光诱导石墨烯图形化制备方法,其特征在于,所述聚合物为聚酰亚胺材料,厚度为5-50微米。
4.如权利要求1或2所述的激光诱导石墨烯图形化制备方法,其特征在于,所述金属层为铝、铜、银、金中的任一种,厚度为50-800纳米。
5.如权利要求1所述的激光诱导石墨烯图形化制备方法,其特征在于,所述金属层为铝、铜、银、金中的任一种;步骤S2中,通过光刻工艺完成所述金属层的图形化加工。
6.如权利要求1至5任一项所述的激光诱导石墨烯图形化制备方法,其特征在于,所述激光为CO2红外激光,波长为10.6微米。
7.如权利要求1至6任一项所述的激光诱导石墨烯图形化制备方法,其特征在于,激光功率3~40W,扫描速度为50~500mm/s。
8.一种用于如权利要求1至7任一项所述的制备方法的掩模化制品,其特征在于,包括衬底、形成于所述衬底上的聚合物层和形成于所述聚合物层上的图形化的金属掩模层。
9.如权利要求8所述的激光诱导石墨烯图形化制备方法,其特征在于,所述聚合物为聚酰亚胺材料,厚度为5-50微米。
10.如权利要求8或9所述的激光诱导石墨烯图形化制备方法,其特征在于,所述金属层为铝、铜、银、金中的任一种,厚度为50-800纳米。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710220721.7A CN107039257A (zh) | 2017-04-06 | 2017-04-06 | 一种激光诱导石墨烯图形化制备方法及掩模化制品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710220721.7A CN107039257A (zh) | 2017-04-06 | 2017-04-06 | 一种激光诱导石墨烯图形化制备方法及掩模化制品 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN107039257A true CN107039257A (zh) | 2017-08-11 |
Family
ID=59533417
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201710220721.7A Pending CN107039257A (zh) | 2017-04-06 | 2017-04-06 | 一种激光诱导石墨烯图形化制备方法及掩模化制品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN107039257A (zh) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108996463A (zh) * | 2018-07-25 | 2018-12-14 | 清华大学深圳研究生院 | 一种多孔石墨烯心音检测传感器及其制作方法 |
CN111278231A (zh) * | 2020-02-17 | 2020-06-12 | 清华大学 | 激光诱导碳基电子元件的柔性转印方法 |
CN111432507A (zh) * | 2020-03-30 | 2020-07-17 | 北京航空航天大学 | 一种可调控激光诱导石墨烯纸加热器及其应用 |
CN112864303A (zh) * | 2021-01-07 | 2021-05-28 | 四川大学 | 一种基于激光诱导石墨烯/钙钛矿的光电探测器的制备方法 |
CN113163529A (zh) * | 2020-07-07 | 2021-07-23 | 安徽宇航派蒙健康科技股份有限公司 | 一种基于lig法制备石墨烯高温电热膜的方法 |
CN113998690A (zh) * | 2021-09-16 | 2022-02-01 | 深圳大学 | 一种低摩擦耐磨损的纳晶石墨烯薄膜及其制备方法与应用 |
CN115050636A (zh) * | 2022-05-09 | 2022-09-13 | 中北大学 | 一种低成本大面积石墨烯图形化方法 |
CN116532784A (zh) * | 2023-04-28 | 2023-08-04 | 广东工业大学 | 一种激光诱导石墨烯的热集中器件加工方法及系统 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100013036A1 (en) * | 2008-07-16 | 2010-01-21 | Carey James E | Thin Sacrificial Masking Films for Protecting Semiconductors From Pulsed Laser Process |
CN104701146A (zh) * | 2014-12-31 | 2015-06-10 | 中国科学院物理研究所 | 石墨烯纳米电子器件及其制备方法 |
CN105174250A (zh) * | 2015-09-17 | 2015-12-23 | 清华大学 | 一种光照还原有机薄膜制备石墨烯的方法 |
-
2017
- 2017-04-06 CN CN201710220721.7A patent/CN107039257A/zh active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100013036A1 (en) * | 2008-07-16 | 2010-01-21 | Carey James E | Thin Sacrificial Masking Films for Protecting Semiconductors From Pulsed Laser Process |
CN104701146A (zh) * | 2014-12-31 | 2015-06-10 | 中国科学院物理研究所 | 石墨烯纳米电子器件及其制备方法 |
CN105174250A (zh) * | 2015-09-17 | 2015-12-23 | 清华大学 | 一种光照还原有机薄膜制备石墨烯的方法 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108996463A (zh) * | 2018-07-25 | 2018-12-14 | 清华大学深圳研究生院 | 一种多孔石墨烯心音检测传感器及其制作方法 |
CN111278231A (zh) * | 2020-02-17 | 2020-06-12 | 清华大学 | 激光诱导碳基电子元件的柔性转印方法 |
CN111278231B (zh) * | 2020-02-17 | 2021-03-02 | 清华大学 | 激光诱导碳基电子元件的柔性转印方法 |
CN111432507A (zh) * | 2020-03-30 | 2020-07-17 | 北京航空航天大学 | 一种可调控激光诱导石墨烯纸加热器及其应用 |
CN113225856A (zh) * | 2020-07-07 | 2021-08-06 | 安徽宇航派蒙健康科技股份有限公司 | 一种基于lig法制备石墨烯高温电热膜的方法 |
CN113163529A (zh) * | 2020-07-07 | 2021-07-23 | 安徽宇航派蒙健康科技股份有限公司 | 一种基于lig法制备石墨烯高温电热膜的方法 |
CN113242616A (zh) * | 2020-07-07 | 2021-08-10 | 安徽宇航派蒙健康科技股份有限公司 | 一种基于lig法制备石墨烯高温电热膜的方法 |
CN113242616B (zh) * | 2020-07-07 | 2022-08-05 | 安徽宇航派蒙健康科技股份有限公司 | 一种基于lig法制备石墨烯高温电热膜的方法 |
CN112864303A (zh) * | 2021-01-07 | 2021-05-28 | 四川大学 | 一种基于激光诱导石墨烯/钙钛矿的光电探测器的制备方法 |
CN113998690A (zh) * | 2021-09-16 | 2022-02-01 | 深圳大学 | 一种低摩擦耐磨损的纳晶石墨烯薄膜及其制备方法与应用 |
CN115050636A (zh) * | 2022-05-09 | 2022-09-13 | 中北大学 | 一种低成本大面积石墨烯图形化方法 |
CN116532784A (zh) * | 2023-04-28 | 2023-08-04 | 广东工业大学 | 一种激光诱导石墨烯的热集中器件加工方法及系统 |
CN116532784B (zh) * | 2023-04-28 | 2024-01-30 | 广东工业大学 | 一种激光诱导石墨烯的热集中器件加工方法及系统 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107039257A (zh) | 一种激光诱导石墨烯图形化制备方法及掩模化制品 | |
Wang et al. | Mask‐free patterning of high‐conductivity metal nanowires in open air by spatially modulated femtosecond laser pulses | |
CN107244669B (zh) | 一种激光诱导石墨烯微纳结构的加工方法及其系统 | |
Li et al. | Fabrication of p-type porous silicon nanowire with oxidized silicon substrate through one-step MACE | |
CN206758405U (zh) | 一种用于激光诱导石墨烯图形化的掩模化制品 | |
Huang et al. | Selective laser ablation and patterning on Ag thin films with width and depth control | |
Leng et al. | Progress in metal-assisted chemical etching of silicon nanostructures | |
CN105967139A (zh) | 在硅基体上刻蚀孔洞的方法、含孔洞硅基体和半导体器件 | |
Wang et al. | Novel laser-based metasurface fabrication process for transparent conducting surfaces | |
Takamura et al. | Black silicon with nanostructured surface formed by low energy helium plasma irradiation | |
Guo et al. | Controllable patterning of hybrid silicon nanowire and nanohole arrays by laser interference lithography | |
CN109878227B (zh) | 一种提高tco薄膜综合光电特性的激光加工方法 | |
Ren et al. | Preparation and property optimization of silver-embedded FTO transparent conductive thin films by laser etching and coating AZO layer | |
Chen et al. | GaN-based light emitting diodes with micro-and nano-patterned structures by femtosecond laser nonlinear decomposition | |
Abduljabbar et al. | CuO: Pb/porous silicon solar cells: a study on Pb ratio effect | |
KR101385235B1 (ko) | 레이저 스크라이빙 기술을 이용한 투명전도막 미세 패터닝 방법 | |
Farid et al. | Onset and evolution of laser induced periodic surface structures on indium tin oxide thin films for clean ablation using a repetitively pulsed picosecond laser at low fluence | |
WO2011027533A1 (ja) | 薄膜太陽電池の製造方法及びその製造装置 | |
CN106024586B (zh) | 一种碳化硅表面清洁方法 | |
CN114604820A (zh) | 一种厚膜材料纳米图形刻蚀方法 | |
CN103955023B (zh) | 一种制备表面等离子体激元纳米光子器件的方法 | |
CN107144614B (zh) | 一种空气纳米间隙电极的制备方法 | |
CN110047733A (zh) | 一种石墨烯图形化制备方法 | |
CN113363148A (zh) | 一种基于蓝宝石衬底的石墨烯薄膜切割方法 | |
CN113555161A (zh) | 一种纳米线电极的图形化方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20170811 |