CN106950034A - 光源状态检测系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种光源状态检测系统及方法,其中,该系统包括:导光电路,用于采集被测光源的光源状态信息,并将光源状态信息传送给光源状态检测电路;一路或多路光源状态检测电路,与导光电路连接,用于根据光源状态信息获取被测光源的光谱值信息;微控制单元MCU控制电路,与光源状态检测电路连接,用于将光谱值信息转化为电平信号,其中,电平信号用于表征被测光源的颜色和/或状态;测试电路,与MCU控制电路连接,用于根据电平信号检测被测光源的颜色和/或状态是否正常。解决了相关技术中光源状态的检测效率低的问题,进而达到了提高光源状态的检测效率和光源出厂良率的效果。
Description
技术领域
本发明涉及光源检测领域,具体而言,涉及一种光源状态检测系统及方法。
背景技术
在相关技术中,产品上的指示灯光源颜色及状态检测多数是用人眼检测;在长时间工作的情况下,测试人员会疲劳或注意力不集中,不能对指示灯光源状态进行正确的判断,导致指示灯漏贴、错贴或者焊接不良等故障泄露,影响产品质量和良品率,一旦发现有漏检或在错检测,并且全部产品重新检测,效率极低,不能实现产品的自动化生产。
针对相关技术中光源状态的检测效率低的问题,目前尚未发现有效的解决方法。
发明内容
本发明提供了一种光源状态检测系统及方法,以至少解决相关技术中光源状态的检测效率低的问题。
根据本发明的一个方面,提供了一种光源状态检测系统,包括:导光电路,用于采集被测光源的光源状态信息,并将所述光源状态信息传送给光源状态检测电路;一路或多路所述光源状态检测电路,与所述导光电路连接,用于根据所述光源状态信息获取所述被测光源的光谱值信息;微控制单元MCU控制电路,与所述光源状态检测电路连接,用于将所述光谱值信息转化为电平信号,其中,所述电平信号用于表征所述被测光源的颜色和/或状态;测试电路,与所述MCU控制电路连接,用于根据所述电平信号检测所述被测光源的颜色和/或状态是否正常。
进一步地,所述MCU控制电路包括:MCU检测电路,用于将所述光谱值信息转化为对应的电平信号;显示电路,包括显示光源,用于显示与所述电平信号对应的光状态和/或光颜色。
进一步地,所述MCU控制电路还包括:电平隔离转化电路,用于将所述电平信号进行隔离转化得到指定电平信号,并将所述指定电平信号发送给所述测试电路。
进一步地,所述导光电路包括:定位结构,用于固定所述被测光源,并采集所述被测光源的光源状态信息;防干扰结构,用于屏蔽除所述被测光源之外其他光源的光信号;一路或多路导光光纤,与一路或多路所述光源状态检测电路一一连接,用于将所述光源状态信息传送给所述光源状态检测电路。
进一步地,测试电路还用于:判断所述电平信号与预设电平信号是否相同;在所述电平信号与预设电平信号相同时,判定所述被测光源的颜色和/或状态正常;在所述电平信号与预设电平信号不相同时,判定所述被测光源的颜色和/或状态不正常。
进一步地,所述MCU控制电路还包括:多路电压转化电路,与供电电源连接,用于分别给所述MCU检测电路、所述显示电路、所述电平隔离转化电路进行供电。
进一步地,所述MCU控制电路还包括:控制电路,用于接收测试控制指令和/或切换控制指令,并依据所述测试控制指令开启一路或多路所述继电器电路;一路或多路继电器电路,与所述一路或多路所述光源状态检测电路和所述控制电路连接,用于根据所述测试控制指令开启一路或多路所述光源状态检测电路;和/或,一路或多路功率继电器电路,与所述控制电路连接,用于根据所述切换控制指令关闭一路或多路所述光源状态检测电路。
进一步地,所述被测光源的状态包括以下至少之一:熄灭、启辉、闪烁。
根据本发明的另一方面,提供了一种光源状态检测方法,包括:光源状态检测电路接收测试控制指令;所述光源状态检测电路在所述测试控制指令指示的一路或者多路光源状态检测电路上检测对应的一个或者多个被测光源的光源状态,并生成一个或者多个光源状态信息;所述光源状态检测电路将所述一个或者多个光源状态信息发送给测试电路,以检测所述一个或者多个被测光源的光源状态与预设光源状态是否一致。
进一步地,所述一个或者多个被测光源是通过导光电路传导到所述一路或者多路光源状态检测电路上的。
进一步地,检测所述一个或者多个被测光源的光源状态与预设光源状态是否一致包括:判断所述一个或者多个光源状态信息与所述被测光源的预设光源状态信息是否一致;在所述一个或者多个光源状态信息与所述被测光源的预设光源状态一致时,判断所述被测光源的光源状态正常,在所述一个或者多个光源状态信息与所述被测光源的预设光源状态不一致时,判断所述被测光源的光源状态不正常。
通过本发明,采用导光电路,用于采集被测光源的光源状态信息,并将所述光源状态信息传送给光源状态检测电路;一路或多路所述光源状态检测电路,与所述导光电路连接,用于根据所述光源状态信息获取所述被测光源的光谱值信息;微控制单元MCU控制电路,与所述光源状态检测电路连接,用于将所述光谱值信息转化为电平信号,其中,所述电平信号用于表征所述被测光源的颜色和/或状态;测试电路,与所述MCU控制电路连接,用于根据所述电平信号检测所述被测光源的颜色和/或状态是否正常。解决了相关技术中光源状态的检测效率低的问题,进而达到了提高光源状态的检测效率和光源出厂良率的效果。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1是根据本发明实施例的光源状态检测系统的系统框图;
图2是根据本发明实施例的光源状态检测系统的可选系统框图;
图3是根据本发明实施例的光源状态检测方法的流程图;
图4是根据本发明可选实施例的测试流程示意图。
具体实施方式
下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是,本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
如以下所使用的,术语“电路”、“结构”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的方法较佳地以软件来实现,但是硬件,或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。
在本实施例中提供了一种光源状态检测系统,图1是根据本发明实施例的光源状态检测系统的系统框图,如图1所示,包括:导光电路10、一路或多路光源状态检测电路12、微控制单元(Micro Controller Unit,简称为MCU)控制电路14、测试电路16,其中,
导光电路10,用于采集被测光源的光源状态信息,并将光源状态信息传送给光源状态检测电路;
可选的,在本实施例中,被测光源可以是需要被检测的光源,光源可以是各种指示灯、照明灯。光源状态信息可以包括光源是否启辉、光源是否闪烁、闪速的频率、光源启辉的颜色、光源闪烁时变换的颜色、光照强度等。
一路或多路光源状态检测电路12,与导光电路连接,用于根据光源状态信息获取被测光源的光谱值信息;
微控制单元MCU控制电路14,与光源状态检测电路连接,用于将光谱值信息转化为电平信号,其中,电平信号用于表征被测光源的颜色和/或状态;
测试电路16,与MCU控制电路连接,用于根据电平信号检测被测光源的颜色和/或状态是否正常。
通过本实施例,采用导光电路,用于采集被测光源的光源状态信息,并将光源状态信息传送给光源状态检测电路;一路或多路光源状态检测电路,与导光电路连接,用于根据光源状态信息获取被测光源的光谱值信息;微控制单元MCU控制电路,与光源状态检测电路连接,用于将光谱值信息转化为电平信号,其中,电平信号用于表征被测光源的颜色和/或状态;测试电路,与MCU控制电路连接,用于根据电平信号检测被测光源的颜色和/或状态是否正常。解决了相关技术中光源状态的检测效率低的问题,进而达到了提高光源状态的检测效率和光源出厂良率的效果。
图2是根据本发明实施例的光源状态检测系统的可选系统框图,如图2所示,图2中n为大于1的整数,可以表示一路或者多路,除了包括图1的电路外,MCU控制电路14包括:
MCU检测电路20,用于将光谱值信息转化为对应的电平信号;
显示电路21,包括一个或多个显示光源,用于显示与电平信号对应的光状态和/或光颜色。
电平隔离转化电路22,用于将电平信号进行隔离转化得到指定电平信号,并将指定电平信号发送给测试电路。
多路电压转化电路23,与供电电源连接,用于分别给MCU检测电路、显示电路、电平隔离转化电路进行供电。
控制电路24,用于接收测试控制指令和/或切换控制指令,并依据测试控制指令开启一路或多路继电器电路;
一路或多路继电器电路25,与一路或多路光源状态检测电路和控制电路连接,用于根据测试控制指令开启一路或多路光源状态检测电路;
一路或多路功率继电器电路26,与控制电路连接,用于根据切换控制指令关闭一路或多路光源状态检测电路。
如图2所示。导光电路10包括:定位结构30、防干扰结构31、一路或多路导光光纤32,其中,
定位结构30,用于固定被测光源,并采集被测光源的光源状态信息;
防干扰结构31,用于屏蔽除被测光源之外其他光源的光信号;
一路或多路导光光纤32,与一路或多路光源状态检测电路一一连接,用于将光源状态信息传送给光源状态检测电路。
如图2所示,测试电路16还包括:控制选择电路40、接收设备41、供电电源42、电脑PC43,其中,
控制选择电路40,用于根据用户操作发送各种测试指令,如,上述测试控制指令、上述切换控制指令等;
接收设备41,用于接收电平隔离转化电路22发送的指定电平信号,并将指定电平信号转化为PC可以识别的数字信号。
供电电源42,用于提供系统的各路电源,供电电源的电压为V,V1、V2、V3、V4为给各个电路提供的电压,或者,给端口预留的电压,如V2。
电脑PC43,包括上位机软件,用于给控制选择电路40下发测试指令,以及根据接收设备41发送的数字信号显示上述被测电源的测试结果。
可选的,测试电路16可以通过以下步骤根据电平信号检测被测光源的颜色和/或状态是否正常,包括:
步骤S11,判断电平信号与预设电平信号是否相同;
步骤S12,在电平信号与预设电平信号相同时,判定被测光源的颜色和/或状态正常;在电平信号与预设电平信号不相同时,判定被测光源的颜色和/或状态不正常。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机,计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例的方法。
在本实施例中还提供了一种光源状态检测方法,用在上述光源状态检测电路中,该方法用于实现上述实施例及优选实施方式,已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的,术语“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的方法较佳地以软件来实现,但是硬件,或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。
图3是根据本发明实施例的光源状态检测方法的流程图,如图3所示,该方法包括:
步骤S301、光源状态检测电路接收测试控制指令;
步骤S302、光源状态检测电路在测试控制指令指示的一路或者多路光源状态检测电路上检测对应的一个或者多个被测光源的光源状态,并生成一个或者多个光源状态信息;
步骤S303、光源状态检测电路将一个或者多个光源状态信息发送给测试电路,以检测一个或者多个被测光源的光源状态与预设光源状态是否一致。
在根据本实施例的可选实施方式中,一个或者多个被测光源是通过导光电路传导到一路或者多路光源状态检测电路上的。
在根据本实施例的可选实施方式中,检测一个或者多个被测光源的光源状态与预设光源状态是否一致包括:
步骤S21,判断一个或者多个光源状态信息与被测光源的预设光源状态信息是否一致;
步骤S22,在一个或者多个光源状态信息与被测光源的预设光源状态一致时,判断被测光源的光源状态正常,在一个或者多个光源状态信息与被测光源的预设光源状态不一致时,判断被测光源的光源状态不正常。
下面结合根据发明的可选实施例进行详细说明:
本可选实施例提出一个指示灯光源状态自动检测装置,旨在快速准确的判定指示灯光源的颜色状态是否正确,对指示灯漏贴、贴错等有拦劫作用。
为了达到上述目的,本可选实施例提出了一种不同光源颜色状态自动检测装置,如图2所示,包括:导光电路10、微控制单元(Micro Controller Unit,简称为MCU)控制电路14、光源状态检测电路12。
该装置与测试电路16相连,测试电路包括:供电电源、控制选择电路、接收电路、上位机PC。
供电电源直接给MCU控制电路供电,可以是适配器转化,亦可以是直流源直接供电;
控制及接收部分(控制选择电路、接收电路)可以通过MCU控制电路控制光源状态检测电路,某一路或者多路进行检测,并接收MCU控制电路给出的检测结果。
PC机为上位机软件给出控制信号并且接收测试结果并显示,光源颜色状态检测只是其一部分,还可以包括其他的测试内容,在此不作限定。
MCU控制电路可以包括以下几个部分:四个电压转换、MCU检测电路、8路继电器控制电路、8路显示电路及电平隔离转化电路、4路功率继电器电路;电压转换电路通过不同阻值的电阻将供电电压转化成给MCU芯片、告警上拉、电平隔离转化、预留供电的电压;MCU检测电路可以包括:主控芯片,下载端子,拨码开关,程序运行显示电路等;8路继电器控制电路由MCU给出的电平信号控制(导通或者断开);8路显示电路由指示灯组成,由MCU检测电路控制;8路电平隔离转化是为了将MCU给出的电平进行转化,起到隔离的作用;4路功率继电器电路可以取代在测试过程开关手动切换,实现自动化测试。
导光电路将被测光源的指示灯处的光源传递到光源状态检测电路,包括:定位结构、导光光纤结构及防干扰结构等。通过该结构指示灯光源以最真实的状态传递到光源状态检测电路,可以提高光源状态检测电路的准确度。
光源状态检测电路与MCU控制电路中的8路继电器控制电路通过端子及排线相连,由上位机及MCU控制一路或者多路进行检测。
如图2,为本可选实施例指示灯不同光源状态自动化检测装置的原理框图。该装置包括测试电路16、MCU控制电路14、光源状态检测电路12、导光电路10。
测试电路包括四部分:供电电源给该自动化检测装置供电,如MCU控制电路上的4路继电器控制电路,包括但不限于是适配器或者是其余受PC机控制的直流源等;控制选择电路通过MCU控制电路选择光源状态检测电路的一路或者多路进行检测,包括但不限于可以通过PC机控制的仪器;接收设备接收MCU控制电路的电平或者波形,包括但不限于可以通过PC机控制的仪器;PC机通过上位机软件控制、接收并显示测试结果;
MCU控制电路包括:一路或多路电压转化电路、上拉电路、一路或多路功率继电器电路、控制电路、MCU检测电路、路显示电路、一路或多路隔离转化电路、一路或多路继电器电路。其中一路电压转化电路还可以作为其余测试供电预留,电压转化电路还可以给其他电压转化电路及上拉电路供电;电压转化电路给MCU检测电路供电;电压转化电路给电平隔离转化电路供电。上拉电路用于给其余测试做预留。控制电路由一个拨码开关和一个端子组成,可以由上位机接收信号,也可以通过拨码开关控制多路电平的高低;其接收到控制信号之后控制继电器电路的一路或者多路闭合或者关断,或者是给MCU检测电路电平信号。功率继电器电路的其中一路或者多路还可以用作其余测试的预留。MCU检测电路通过端口下载软件,然后检测由控制电路给的电平信号,再给出信号控制继电器电路的闭合。继电器电路接收到MCU检测电路给出的信号之后控制光源状态检测电路一路或者多路工作。
光源状态检测电路检测到的光谱值,通过集成电路总线(Inter-integrated Circuit,简称为IIC)通讯接口反馈给MCU检测电路,MCU检测电路通过对比给出电平信号到显示电路,显示电路的灯的状态与被测光源灯的状态一致(灭、亮或者闪烁)。同时,MCU检测电路将电平信号给到电平隔离转化电路,进行电平的隔离转化,然后送给测试电路的接收设备,最后到PC机的上位机软件判定检测的颜色及状态是否与设定的状态一致,给出自动化测试结果。
导光电路将被测光源指示灯部分的光源传导到光源状态检测电路的检测芯片滤镜处,导光电路包括:定位结构,防干扰结构和导光光纤结构。定位结构能最大程度的接收到光源强度;防干扰结构用于防止外部光源的干扰;导光光纤结构是低光强衰减的传导介质。导光电路的引入使得检测部分可以与光源分开,设计应用更加灵活。
本可选实施例可以发展多路指示灯光源检测,以8路为例进行说明。本可选实施例的工作原理如下:
S1~S8共8路信号由测试电路的上位机控制给出,当S1~S8中一个或者多个被拉低(烧录的程序决定)时,MCU芯片(如Atmega32L-8AU芯片)检测到相应的PORT口为低电平就会将相应PORT口拉高,使得继电器导通,对应路的颜色检测芯片(如TMG39933)开始工作,通过IIC接口将检测到的数值传送给MCU芯片进行比较,然后通过相应PAORT口输出到显示电路及电平转换隔离电路,显示电路中的指示灯状态与被测光源上指示灯状态一致,电平转化电路将得到的电平信号上传给测试电路的接收设备,并通过上位机软件自行进行判定状态是否与要求的状态相符合。
图4是根据本发明可选实施例的测试流程示意图,如图4所示,包括:
步骤S401,测试电路的上位机软件下发测试指令;
步骤S402,MCU控制电路判断是否为低电平,若为低电平,则控制MCU芯片导通对应的继电器电路;
步骤S403,继电器电路导通与之连接的光源状态检测电路;
步骤S404,接受导光电路采集的光源状态信息;
步骤S405,光源状态信息发送给MCU芯片进行电平处理和光源状态分析;
步骤S406,显示被测光源的状态和颜色;
步骤S407,将电平信号发送给电平转换隔离电路进行电平隔离转换;
步骤S408,发送给测试电路并显示被测光源的测试结构。
以检测产品被测光源的相应位置A/B位置是否分别为红色及绿色指示灯及不同使用情况下的状态是否与要求一致为例进行说明。先设计导光电路,以最大可能传导光源强度及排除外部光线干扰为前提,将产品上指示灯的光源有效的传导到光源状态检测电路。由于被测光源只有两个指示灯光源,为方便描述,这里选定1路和5路工作。上位机发送命令将S1和S5拉低,MCU芯片的对应端口检测到低电平,通过IIC通讯接口将检测到的光的数值从寄存器中读出给MCU芯片,经内部预设程序比较,输出用于表征光源状态的相应电平。若A/B均闪烁,则根据灯的闪烁频率给出一个方波,幅值为3.3V,显示电路1和显示电路跟随闪烁,Out1和Out5为方波,幅值为5V,送入上位机进行判定是否是正确的状态,给出测试结果。
本可选实施例是在被测光源通过导光电路到达颜色状态检测电路之后,通过测试电路的上位机给出信号控制MCU控制电路使得光源状态检测电路的对应路工作,检测光谱值;通过IIC通讯接口将光谱值传递给MCU控制电路进行运算之后,再进行判定。如检测某一路应该是红灯,且需要亮,则检测到的值需要是红色数值大于其余的数值,然后给出高电平到上位机,才能判定为通过,其余情况均为失败,实现对指示灯光源颜色状态的测试。
本实施例可以通过拨码开关固定实现单路或者多路同时检测,也可以由上位机控制切换不同路数的选择,完全实现指示灯光源颜色状态自动化测试。
以上仅为本实施例使用情况的某一种,并非因此限制本实施例的专利范围,凡是利用本实施例说明书及附图内容所做的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本实施例的专利保护范围内。
需要说明的是,上述各个模块是可以通过软件或硬件来实现的,对于后者,可以通过以下方式实现,但不限于此:上述模块均位于同一处理器中;或者,上述模块分别位于多个处理器中。
本发明的实施例还提供了一种软件,该软件用于执行上述实施例及优选实施方式中描述的技术方案。
本发明的实施例还提供了一种存储介质。在本实施例中,上述存储介质可以被设置为存储用于执行以下步骤的程序代码:
S1,光源状态检测电路接收测试控制指令;
S2,光源状态检测电路在测试控制指令指示的一路或者多路光源状态检测电路上检测对应的一个或者多个被测光源的光源状态,并生成一个或者多个光源状态信息;
S3,光源状态检测电路将一个或者多个光源状态信息发送给测试电路,以检测一个或者多个被测光源的光源状态与预设光源状态是否一致。
可选地,在本实施例中,上述存储介质可以包括但不限于:U盘、只读存储器(Read-Only Memory,简称为ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,简称为RAM)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
可选地,在本实施例中,处理器根据存储介质中已存储的程序代码执行接收测试控制指令;
可选地,在本实施例中,处理器根据存储介质中已存储的程序代码执行在测试控制指令指示的一路或者多路光源状态检测电路上检测对应的一个或者多个被测光源的光源状态,并生成一个或者多个光源状态信息;
可选地,在本实施例中,处理器根据存储介质中已存储的程序代码执行将一个或者多个光源状态信息发送给测试电路,以检测一个或者多个被测光源的光源状态与预设光源状态是否一致。
可选地,本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例,本实施例在此不再赘述。
为了使本发明实施例的描述更加清楚,下面结合优选实施例进行描述和说明。
显然,本领域的技术人员应该明白,上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现,它们可以集中在单个的计算装置上,或者分布在多个计算装置所组成的网络上,可选地,它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现,从而,可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行,并且在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤,或者将它们分别制作成各个集成电路模块,或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样,本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (11)
1.一种光源状态检测系统,其特征在于,包括:
导光电路,用于采集被测光源的光源状态信息,并将所述光源状态信息传送给光源状态检测电路;
一路或多路所述光源状态检测电路,与所述导光电路连接,用于根据所述光源状态信息获取所述被测光源的光谱值信息;
微控制单元MCU控制电路,与所述光源状态检测电路连接,用于将所述光谱值信息转化为电平信号,其中,所述电平信号用于表征所述被测光源的颜色和/或状态;
测试电路,与所述MCU控制电路连接,用于根据所述电平信号检测所述被测光源的颜色和/或状态是否正常。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述MCU控制电路包括:
MCU检测电路,用于将所述光谱值信息转化为对应的电平信号;
显示电路,包括显示光源,用于显示与所述电平信号对应的光状态和/或光颜色。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述MCU控制电路还包括:
电平隔离转化电路,用于将所述电平信号进行隔离转化得到指定电平信号,并将所述指定电平信号发送给所述测试电路。
4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述导光电路包括:
定位结构,用于固定所述被测光源,并采集所述被测光源的光源状态信息;
防干扰结构,用于屏蔽除所述被测光源之外其他光源的光信号;
一路或多路导光光纤,与一路或多路所述光源状态检测电路一一连接,用于将所述光源状态信息传送给所述光源状态检测电路。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,测试电路还用于:
判断所述电平信号与预设电平信号是否相同;
在所述电平信号与预设电平信号相同时,判定所述被测光源的颜色和/或状态正常;在所述电平信号与预设电平信号不相同时,判定所述被测光源的颜色和/或状态不正常。
6.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述MCU控制电路还包括:
多路电压转化电路,与供电电源连接,用于分别给所述MCU检测电路、所述显示电路、所述电平隔离转化电路进行供电。
7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述MCU控制电路还包括:
控制电路,用于接收测试控制指令和/或切换控制指令,并依据所述测试控制指令开启一路或多路继电器电路;
所述一路或多路继电器电路,与所述一路或多路所述光源状态检测电路和所述控制电路连接,用于根据所述测试控制指令开启一路或多路所述光源状态检测电路;和/或,一路或多路功率继电器电路,与所述控制电路连接,用于根据所述切换控制指令关闭一路或多路所述光源状态检测电路。
8.根据权利要求1至权利要求7任意一项所述的系统,其特征在于,所述被测光源的状态包括以下至少之一:熄灭、启辉、闪烁。
9.一种光源状态检测方法,其特征在于,包括:
光源状态检测电路接收测试控制指令;
所述光源状态检测电路在所述测试控制指令指示的一路或者多路光源状态检测电路上检测对应的一个或者多个被测光源的光源状态,并生成一个或者多个光源状态信息;
所述光源状态检测电路将所述一个或者多个光源状态信息发送给测试电路,以检测所述一个或者多个被测光源的光源状态与预设光源状态是否一致。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述一个或者多个被测光源是通过导光电路传导到所述一路或者多路光源状态检测电路上的。
11.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,检测所述一个或者多个被测光源的光源状态与预设光源状态是否一致包括:
判断所述一个或者多个光源状态信息与所述被测光源的预设光源状态信息是否一致;
在所述一个或者多个光源状态信息与所述被测光源的预设光源状态一致时,判断所述被测光源的光源状态正常,在所述一个或者多个光源状态信息与所述被测光源的预设光源状态不一致时,判断所述被测光源的光源状态不正常。
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