CN106946211A - 一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片及其制备方法 - Google Patents

一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片及其制备方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106946211A
CN106946211A CN201710290496.4A CN201710290496A CN106946211A CN 106946211 A CN106946211 A CN 106946211A CN 201710290496 A CN201710290496 A CN 201710290496A CN 106946211 A CN106946211 A CN 106946211A
Authority
CN
China
Prior art keywords
liang
mechanisms
main body
crystal silicon
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201710290496.4A
Other languages
English (en)
Inventor
张宪民
陈英皇
朱本亮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
South China University of Technology SCUT
Original Assignee
South China University of Technology SCUT
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by South China University of Technology SCUT filed Critical South China University of Technology SCUT
Priority to CN201710290496.4A priority Critical patent/CN106946211A/zh
Publication of CN106946211A publication Critical patent/CN106946211A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B3/00Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
    • B81B3/0018Structures acting upon the moving or flexible element for transforming energy into mechanical movement or vice versa, i.e. actuators, sensors, generators
    • B81B3/0027Structures for transforming mechanical energy, e.g. potential energy of a spring into translation, sound into translation
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • B81B7/02Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems containing distinct electrical or optical devices of particular relevance for their function, e.g. microelectro-mechanical systems [MEMS]
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C1/00Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
    • B81C1/00349Creating layers of material on a substrate
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C1/00Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
    • B81C1/00349Creating layers of material on a substrate
    • B81C1/00373Selective deposition, e.g. printing or microcontact printing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/20Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
    • G01L1/22Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/02Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning
    • G01L9/04Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning of resistance-strain gauges
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C2201/00Manufacture or treatment of microstructural devices or systems
    • B81C2201/01Manufacture or treatment of microstructural devices or systems in or on a substrate

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Abstract

本发明公开了一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片及其制备方法。包括玻璃衬底、n型单晶硅元件主体、隔离层、保护层;n型单晶硅元件主体的外缘支撑在玻璃衬底的上方,n型单晶硅元件主体的中部为镂空结构,使二者之间形成密闭空腔;密闭空腔的顶壁面设有膜片感压结构;膜片感压结构分成平模层和梁膜机构层;梁膜机构层由田字形谐振梁和半岛谐振梁构成,梁膜机构具有线性度好、灵敏度高等优点。压敏电阻采用单晶硅材料,同时感压膜与压敏电阻之间设有隔离层,进一步提高了灵敏度和温度特性,克服了现有技术中由于温度过高,而导致传感器失效等缺陷。本传感器制备工艺简便易行、成本低廉,易于集成化和小型化。

Description

一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片及其制备方法
技术领域
本发明涉及压力传感器,尤其涉及一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片及其制备方法。
背景技术
微机电系统(MEMS)压力传感器主要分为电容式和电阻式,电容式由于工艺复杂,成本高。现在MEMS压力传感器主要用来硅压阻式,压阻式传感器具有体积小,可靠性高,成本低,适合批量生产的特点。
MEMS压力传感器的电阻芯片是根据半导体材料硅的压阻效应。将半导体硅扩散到基片上,组成了惠斯通电桥,压敏电阻受机械应力的时候通过惠斯通电桥,将压力转换成电压输出。传感器压敏电桥采用p型扩散电阻,弹性膜用n型,电阻与弹性膜之间靠反偏p-n结隔离,当工作温度超过125℃时,p-n结漏电流加剧,使传感器特性严重失效。压敏电阻常用是单晶硅或者多晶硅材料,由于多晶硅高温压力传感器采用掺杂多晶硅做应变电阻,而多晶硅具有结构上的长程无序性,使得多晶硅的压阻系数要明显小于单晶硅的压阻系数,因而多晶硅电阻膜的灵敏度要小于单晶硅电阻膜的灵敏度。
通常,微压力传感器的膜片按机构分为平模机构和岛膜机构两种。
对于平模机构,如果减少膜片厚度可以提高灵敏度;然而,其挠度相对于膜片厚度大幅增加。
采用岛膜机构可以大幅降低传感器的挠度,通过增加膜片尺寸来补偿灵敏度的输出,但是传感器尺寸也相应增加。
针对以上两种膜片机构的不足,很多种梁膜机构样式被提出,但它们还有很多存在的问题:传感器体积小和感压膜薄,线性度稍差,温度特性好但是灵敏度比底,膜片的应力大但是挠度增加。
硅压电阻式压力传感器加工方法主要分为表面微机械加工和体微机械加工技术两种。表面微机械加工技术成本低,容易集成和小型化。体硅微机械加工技术特点是工艺成熟,但不容易集成化和小型化。
发明内容
本发明的目的在于克服上述现有技术的缺点和不足,提供一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片及其制备方法。
本发明通过下述技术方案实现:
一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片,包括如下部件:
玻璃衬底1;
n型单晶硅元件主体2;
隔离层5;
保护层6;
所述n型单晶硅元件主体2的外缘支撑在玻璃衬底1的上方,n型单晶硅元件主体2的中部为镂空结构3,使二者之间形成密闭空腔;密闭空腔的顶壁面4设有膜片感压结构;
所述隔离层5设置在n型单晶硅元件主体2与膜片感压结构之间;
所述保护层6设置在隔离层5上方;
所述膜片感压结构上设有四个p型单晶硅压敏电阻7,该四个p型单晶硅压敏电阻7通过金属导线连接成惠斯通电桥,用于将施加在其应变区域的机械压力转换成电压数据输出。
所述膜片感压结构分成平模层和梁膜机构层;
所述梁膜机构层由田字形谐振梁11和半岛谐振梁10构成;
所述四个p型单晶硅压敏电阻7分布在半岛谐振梁10上。
所述引线区分布在梁膜机构层的外围,它由五个金属接线端子9构成;
通过这五个金属接线端子9及金属引线8的组合,将p型单晶硅压敏电阻7连接成惠斯通电桥。
所述镂空结构3的剖面形状呈等腰梯形结构。
本发明梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片的制备方法,如下:
对n型单晶硅元件主体2进行氧化处理;
然后用光刻腐蚀和离子注入的方法制备出p型单晶硅压敏电阻7;
在p型单晶硅压敏电阻7上覆盖保护层6;
接着对n型单晶硅元件主体2的背面进行深硅刻蚀,以获得镂空结构3;
然后对n型单晶硅元件主体2的正面光刻腐蚀出p型单晶硅压敏电阻7的引线区;
再通过金属溅射的方法布好金属引线8,并对梁膜机构层进行刻蚀;
将n型单晶硅元件主体2与(Pyrex)玻璃衬底1键合形成密闭参考压力腔,即使二者之间形成密闭空腔;
最后通过键合方法将金属引线8与金属接线端子9之间连接;
完成梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片的制备。
本发明相对于现有技术,具有如下的优点及效果:
本发明梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片,采用了梁膜机构,线性度好、灵敏度高。
压敏电阻采用单晶硅材料,同时感压膜与压敏电阻之间设有隔离层,进一步提高了灵敏度和温度特性,克服了现有技术中由于温度过高,而导致传感器失效等缺陷。
本发明制备工艺简便易行、成本低廉,易于集成化和小型化。
附图说明
图1是本发明梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片的结构示意图。
图2是本发明膜片感压结构的示意图。
图3是本发明p型单晶硅压敏电阻的电路接线图。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明作进一步具体详细描述。
如图1至3所示。本发明公开了一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片,包括如下部件:
玻璃衬底1;
n型单晶硅元件主体2;
隔离层5(SiO2);
保护层6(Si3N4);
所述n型单晶硅元件主体2的外缘支撑在玻璃衬底1的上方,n型单晶硅元件主体2的中部为镂空结构3,使二者之间形成密闭空腔;密闭空腔的顶壁面4设有膜片感压结构;
所述隔离层5设置在n型单晶硅元件主体2与膜片感压结构之间;
所述保护层6设置在隔离层5上方;
所述膜片感压结构上设有四个p型单晶硅压敏电阻7,该四个p型单晶硅压敏电阻7通过金属导线连接成惠斯通电桥,用于将施加在其应变区域的机械压力转换成电压数据输出。
所述膜片感压结构分成平模层和梁膜机构层;
所述梁膜机构层由田字形谐振梁11和半岛谐振梁10构成;
所述四个p型单晶硅压敏电阻7分布在半岛谐振梁10上。
所述引线区分布在梁膜机构层的外围,它由五个金属接线端子9构成;
通过这五个金属接线端子9及金属引线8的组合,将p型单晶硅压敏电阻7连接成惠斯通电桥。
所述镂空结构3的剖面形状呈等腰梯形结构。
本发明梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片的制备方法,如下:
对n型单晶硅元件主体2进行氧化处理;
然后用光刻腐蚀和离子注入的方法制备出p型单晶硅压敏电阻7;
在p型单晶硅压敏电阻7上覆盖保护层6;
接着对n型单晶硅元件主体2的背面进行深硅刻蚀,以获得镂空结构3;
然后对n型单晶硅元件主体2的正面光刻腐蚀出p型单晶硅压敏电阻7的引线区;
再通过金属溅射的方法布好金属引线8,并对梁膜机构层进行刻蚀;
将n型单晶硅元件主体2与(Pyrex)玻璃衬底1键合形成密闭参考压力腔,即使二者之间形成密闭空腔;
最后通过键合方法将金属引线8与金属接线端子9之间连接;
完成梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片的制备。
当压力作用在0-10kPa范围内变化时,密闭空腔的顶壁面4发生弯曲,膜片应作用于压敏电阻效应,惠斯通电桥出差动电压信号与压力值对应。
当测量时通过隔离层的绝缘作用,实现p型单晶硅压敏电阻7间的电气隔离,解决了p-n结隔离压力传感器温度高于125℃时的失效问题。
如上所述,便可较好地实现本发明。
本发明的实施方式并不受上述实施例的限制,其他任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化,均应为等效的置换方式,都包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片,其特征在于:包括如下部件:
玻璃衬底(1);
n型单晶硅元件主体(2);
隔离层(5);
保护层(6);
所述n型单晶硅元件主体(2)的外缘支撑在玻璃衬底(1)的上方,n型单晶硅元件主体(2)的中部为镂空结构(3),使二者之间形成密闭空腔;密闭空腔的顶壁面(4)设有膜片感压结构;
所述隔离层(5)设置在n型单晶硅元件主体(2)与膜片感压结构之间;
所述保护层(6)设置在隔离层(5)上方;
所述膜片感压结构上设有四个p型单晶硅压敏电阻(7),该四个p型单晶硅压敏电阻(7)通过金属导线连接成惠斯通电桥,用于将施加在其应变区域的机械压力转换成电压数据输出。
2.根据权利要求1所述梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片,其特征在于:
所述膜片感压结构分成平模层和梁膜机构层;
所述梁膜机构层由田字形谐振梁(11)和半岛谐振梁(10)构成;
所述四个p型单晶硅压敏电阻(7)分布在半岛谐振梁(10)上。
3.根据权利要求2所述梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片,其特征在于:引线区分布在梁膜机构层的外围,它由五个金属接线端子(9)构成;
通过这五个金属接线端子(9)及金属引线(8)的组合,将p型单晶硅压敏电阻(7)连接成惠斯通电桥。
4.根据权利要求3所述梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片,其特征在于:所述镂空结构(3)的剖面形状呈等腰梯形结构。
5.权利要求4所述梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片的制备方法,其特征在于:
步骤一:对n型单晶硅元件主体(2)进行氧化处理;
步骤二:然后用光刻腐蚀和离子注入的方法制备出p型单晶硅压敏电阻(7);
步骤三:在p型单晶硅压敏电阻(7)上覆盖保护层(6);
步骤四:接着对n型单晶硅元件主体(2)的背面进行深硅刻蚀,以获得镂空结构(3);
步骤五:然后对n型单晶硅元件主体(2)的正面光刻腐蚀出p型单晶硅压敏电阻(7)的引线区;
步骤六:再通过金属溅射的方法布好金属引线(8),并对梁膜机构层进行刻蚀;
步骤七:将n型单晶硅元件主体(2)与玻璃衬底(1)键合形成密闭参考压力腔,即使二者之间形成密闭空腔;
步骤八:最后通过键合方法将金属引线(8)与金属接线端子(9)之间连接;完成梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片的制备。
CN201710290496.4A 2017-04-28 2017-04-28 一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片及其制备方法 Pending CN106946211A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710290496.4A CN106946211A (zh) 2017-04-28 2017-04-28 一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片及其制备方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710290496.4A CN106946211A (zh) 2017-04-28 2017-04-28 一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片及其制备方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106946211A true CN106946211A (zh) 2017-07-14

Family

ID=59476869

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710290496.4A Pending CN106946211A (zh) 2017-04-28 2017-04-28 一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片及其制备方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106946211A (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109738109A (zh) * 2019-01-31 2019-05-10 南京信息工程大学 一种高温微压压力传感器及其制作方法、测量系统
CN110749394A (zh) * 2019-11-21 2020-02-04 龙微科技无锡有限公司 一种高可靠压力传感器
CN111498795A (zh) * 2020-05-29 2020-08-07 西安交通大学 一种隔离槽阵列结构的压力传感器芯片及其制备方法
CN112174085A (zh) * 2020-10-14 2021-01-05 广州市智芯禾科技有限责任公司 一种高温压力传感器芯片及其制备方法
CN114061796A (zh) * 2021-11-10 2022-02-18 中国电子科技集团公司第四十九研究所 一种硅压阻式压力传感器芯体及其制备方法
CN114314498A (zh) * 2022-03-14 2022-04-12 南京元感微电子有限公司 Mems薄膜真空计及其制备方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020011637A1 (en) * 2000-06-16 2002-01-31 Terje Kvisteroey Sensor
CN1527039A (zh) * 2003-03-07 2004-09-08 株式会社电装 具有隔膜的半导体压力传感器
JP2006098321A (ja) * 2004-09-30 2006-04-13 Hitachi Metals Ltd 半導体型3軸加速度センサ
CN101520350A (zh) * 2009-03-24 2009-09-02 无锡市纳微电子有限公司 一种改良型高灵敏度微压力传感器芯片制作工艺
CN201653605U (zh) * 2010-04-09 2010-11-24 无锡芯感智半导体有限公司 一种基于硅硅键合的压力传感器
CN102589762A (zh) * 2012-03-08 2012-07-18 西安交通大学 一种梁膜单岛结构微压高过载传感器芯片
CN102620865A (zh) * 2012-03-16 2012-08-01 西安交通大学 一种梁膜双岛结构微压高过载传感器芯片
CN102998037A (zh) * 2012-09-15 2013-03-27 华东光电集成器件研究所 介质隔离压阻式压力传感器及其制备方法
US20130341741A1 (en) * 2012-06-21 2013-12-26 Nextlnput, Inc. Ruggedized mems force die
CN206828092U (zh) * 2017-04-28 2018-01-02 华南理工大学 一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020011637A1 (en) * 2000-06-16 2002-01-31 Terje Kvisteroey Sensor
CN1527039A (zh) * 2003-03-07 2004-09-08 株式会社电装 具有隔膜的半导体压力传感器
JP2006098321A (ja) * 2004-09-30 2006-04-13 Hitachi Metals Ltd 半導体型3軸加速度センサ
CN101520350A (zh) * 2009-03-24 2009-09-02 无锡市纳微电子有限公司 一种改良型高灵敏度微压力传感器芯片制作工艺
CN201653605U (zh) * 2010-04-09 2010-11-24 无锡芯感智半导体有限公司 一种基于硅硅键合的压力传感器
CN102589762A (zh) * 2012-03-08 2012-07-18 西安交通大学 一种梁膜单岛结构微压高过载传感器芯片
CN102620865A (zh) * 2012-03-16 2012-08-01 西安交通大学 一种梁膜双岛结构微压高过载传感器芯片
US20130341741A1 (en) * 2012-06-21 2013-12-26 Nextlnput, Inc. Ruggedized mems force die
CN102998037A (zh) * 2012-09-15 2013-03-27 华东光电集成器件研究所 介质隔离压阻式压力传感器及其制备方法
CN206828092U (zh) * 2017-04-28 2018-01-02 华南理工大学 一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
李伟: "《新型汽车传感器、执行器原理与故障检测》", 31 March 2013 *
王秀峰,伍媛婷: "《微电子材料与器件制备技术》", 31 May 2008 *

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109738109A (zh) * 2019-01-31 2019-05-10 南京信息工程大学 一种高温微压压力传感器及其制作方法、测量系统
CN109738109B (zh) * 2019-01-31 2024-02-13 南京信息工程大学 一种高温微压压力传感器及其制作方法、测量系统
CN110749394A (zh) * 2019-11-21 2020-02-04 龙微科技无锡有限公司 一种高可靠压力传感器
CN111498795A (zh) * 2020-05-29 2020-08-07 西安交通大学 一种隔离槽阵列结构的压力传感器芯片及其制备方法
CN111498795B (zh) * 2020-05-29 2022-12-09 西安交通大学 一种隔离槽阵列结构的压力传感器芯片及其制备方法
CN112174085A (zh) * 2020-10-14 2021-01-05 广州市智芯禾科技有限责任公司 一种高温压力传感器芯片及其制备方法
CN114061796A (zh) * 2021-11-10 2022-02-18 中国电子科技集团公司第四十九研究所 一种硅压阻式压力传感器芯体及其制备方法
CN114314498A (zh) * 2022-03-14 2022-04-12 南京元感微电子有限公司 Mems薄膜真空计及其制备方法
CN114314498B (zh) * 2022-03-14 2022-06-03 南京元感微电子有限公司 Mems薄膜真空计及其制备方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106946211A (zh) 一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片及其制备方法
JP4298807B2 (ja) 集積圧電抵抗圧力センサ及びその製造方法
CN206828092U (zh) 一种梁膜机构的微机电系统压力传感器芯片
JP3114570B2 (ja) 静電容量型圧力センサ
JP5412682B2 (ja) 抵抗式ひずみゲージを有する圧力センサ
JP4739164B2 (ja) 車両用エンジンの吸入空気圧力測定用の半導体感歪センサ
US20050208696A1 (en) Method for manufacturing a semiconductor pressure sensor
US20070141808A1 (en) Microelectromechanical system pressure sensor and method for making and using
US5589810A (en) Semiconductor pressure sensor and related methodology with polysilicon diaphragm and single-crystal gage elements
KR20190064516A (ko) 센서 디바이스 및 그 제조 방법
CN105486435A (zh) 一种mems多晶硅纳米膜压力传感器芯片及其制作方法
JP5853169B2 (ja) 半導体圧力センサ
Kumar et al. Effect of piezoresistor configuration on output characteristics of piezoresistive pressure sensor: an experimental study
CN113401861B (zh) 一种多量程集成的复合膜片式mems压力传感器
CN116026501B (zh) 压力传感器及其制作方法
CN114061797B (zh) 一种双电桥结构mems压阻式压力传感器及其制备方法
US20040183150A1 (en) Silicon pressure sensor and the manufacturing method thereof
CN115452035A (zh) 集成压力和湿度检测的传感器芯片及其加工方法
CN114485797A (zh) 温压一体式mems传感器芯片及其制备方法
KR20050075225A (ko) 단일칩으로 집적되는 mems 멀티 센서 및 그 제조방법
JPH10256565A (ja) マイクロメカニカル構造部を有する半導体素子の製造方法
CN114088257B (zh) 一种mems压阻式压力传感器及其制备方法
CN219368989U (zh) 一种mems压阻式压力传感器
KR100427430B1 (ko) 금속박막형 압력센서 및 그 제조방법
KR101318260B1 (ko) 반도체 소자 및 이를 이용하는 물리 센서

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20170714