CN106844118B - 一种基于Tbus总线标准的片内总线测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，包括通过数据流通讯的主控单元和从端设备端，所述主控单元与从端设备端之间设置有设备互联网络；主控单元的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control；从端设备端的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control。本发明将所有测试外设单元挂接在测试总线上，组成测试系统，使用统一、快捷的操作方法来操作每个被测试外设，加快测试系统的集成，减少测试缺陷，提高测试效率。

Description

一种基于Tbus总线标准的片内总线测试系统

技术领域

本发明涉及计算机通信应用技术领域，特别涉及一种基于Tbus总线标准的片内总线测试系统。

背景技术

片内总线，顾名思义就是芯片内的总线。很多总线都可以认为是片内总线，如单片机芯片内的地址总线、数据总线，又如可编程逻辑芯片内部的自定义总线，这些都可称为片内总线。片内总线一般比片外总线更容易实现并行多位传输。

如今，片内总线广泛应用于各种处理器芯片中，如我们熟知的ARM内核芯片采用的AMBA总线规范，用来连接处理器内核以及各种外设。AMBA标准2.0规范定义了三组总线协议：AHB(高性能总线)、ASB(系统总线)和APB(外设总线)，每种总线接口发挥了不同的作用，如APB一般使用于外设之间的模块互联，AHB用作处理器与高速处理单元间的连接，如片内存储器以及DMA设备等。AMBA3.0准在2.0的基础上增加了AXI(可扩展接口)以及ATB(跟踪总线)，AXI总线一般应用于片内SOC中，作为模块间的数据交互以及控制使用。

除了AMBA总线规范外，著名的FPGA生产商Altera公司早在2008年就开发出了Avalon总线标准，用于集成各种片内功能IP核以及软核处理器NiosII的互联，Avalon总线标准的设定，明显加快了基于AlteraFPGA的系统开发速度，由于其集成了数十到上百个基于Avalon总线标准的高可靠的、经过验证的IP，使基于FPGA的场合应用开发变得简单、快速。如基于FPGA设计一个图像处理系统，从前端的图像采集IP(基于Avalon总线的IP有)，到中间的图像处理IP(基于Avalon总线的IP有)，以及最终数据的高速收发IP(基于Avalon总线的IP有)，整个系统需要的IP都有提供。

而在目前的硬件板卡测试应用领域，还没有一个统一的标准来定义硬件测试的步骤以及方法。大部分硬件板卡的测试都是针对每个项目的具体硬件组成来编写测试程序，这样，不同的板卡需要编写不同的测试程序，即使构建系统的外设都差不多一样。

基于以上分析，需要对现有的片内总线设计及测试方法进行改进。

发明内容

本发明的目的是，针对现有片内总线的设计缺陷，设计一种通用的片内总线测试系统，将所有测试外设单元挂接在测试总线上，组成测试系统，使用统一、快捷的操作方法来操作每个被测试外设，加快测试系统的集成，减少测试缺陷，提高测试效率。

本发明通过以下技术方案实现：

一种基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，其特征在于，包括通过数据流通讯的主控单元和从端设备端，所述主控单元与从端设备端之间设置有设备互联网络；

所述主控单元的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control；

所述从端设备端的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control；

所述从端设备端至少集成有4个被测设备接口，被测设备接口外接被测试设备；

所述主控单元通过数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control与设备互联网络进行数据流通讯，所述设备互联网络通过数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control与从端设备端中的被测试设备进行数据流通讯；

所述主控单元的控制信号组Control集成有被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset、被测试设备控制选择开关Ctr_sel、被测试设备数据选择开关Dat_sel、被测试设备测试启动开关Start、被测试设备测试停止开关Stop和被测试设备测试控制应答Ctr_ack，其中被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset、被测试设备控制选择开关Ctr_sel、被测试设备数据选择开关Dat_sel、被测试设备测试启动开关Start及被测试设备测试停止开关Stop的通讯方向为输出，被测试设备测试控制应答Ctr_ack的通讯方向为输入；被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset及被测试设备控制选择开关Ctr_sel的位宽均为N，N≥1；被测试设备数据选择开关Dat_sel的位宽为32，被测试设备测试启动开关Start、被测试设备测试停止开关Stop及被测试设备测试控制应答Ctr_ack的位宽均为1；

所述主控单元的状态信号组Status集成有被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy、被测试设备测试错误信号指示Error、被测试设备测试进行百分比信号指示Percent、被测试设备测试结果信息下一项Info_next、被测试设备测试结果信息Info_code和被测试设备测试结果信息结束Info_end，其中被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy、被测试设备测试错误信号指示Error、被测试设备测试进行百分比信号指示Percent、被测试设备测试结果信息Info_code和被测试设备测试结果信息结束Info_end的通讯方向为输入，被测试设备测试结果信息下一项Info_next的通讯方向为输出，被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy和被测试设备测试错误信号指示Errorde的位宽为N，N≥1；被测试设备测试进行百分比信号指示Percent的位宽为7，被测试设备测试结果信息下一项Info_next的位宽为1，被测试设备测试结果信息Info_code的位宽为32，被测试设备测试结果信息结束Info_end的位宽为1；

所述主控单元的参数控制信号组Param集成有选择被测试设备注入参数使能Param_wren、选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备参数输出Param_out、选择被测试设备注入地址Param_adr和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack，其中选择被测试设备注入参数使能Param_wren、选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备注入地址Param_adr和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack的通讯方向为输出，选择被测试设备参数输出Param_out的通讯方向为输入，选择被测试设备注入参数使能Param_wren和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack的位宽为1，选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备参数输出Param_out和选择被测试设备注入地址Param_adr的位宽为32；

所述主控单元的数据注入信号组Inject集成有选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en、选择被测试设备注入数据Inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Can_inject_size，其中选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en与选择被测试设备注入数据Inject_data的通讯方向为输出，选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en的位宽为1，选择被测试设备注入数据Inject_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备可注入数据大小Can_inject_size的位宽为32；

所述主控单元的数据输出信号组Out集成有选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size、选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden、选择被测试设备输出数据Out_data和选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid，其中选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size、选择被测试设备输出数据Out_data和选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid的通讯方向为输入，选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden的通讯方向为输出，选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size的位宽为32，选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden的位宽为1，选择被测试设备输出数据Out_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid的位宽为1；

所述从端设备端的时钟信号组clk集成有用于注入数据写端口使用的主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk，其中主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk的通讯方向均为输入，主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk的位宽均为1；

所述从端设备端的控制信号组Control集成有被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start、被测试设备测试停止开关Dev_stop和被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack，其中被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start和被测试设备测试停止开关Dev_stop的通讯方向均为输入，被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack的输入方向为输出，被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start、被测试设备测试停止开关Dev_stop和被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack的位宽均为1；

所述从端设备端的状态信号组Status集成有被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent、被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next、被测试设备测试结果信息Dev_info_code和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end，其中被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent、被测试设备测试结果信息Dev_info_code和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end的通讯方向均为输出，被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next的通讯方向为输入；被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end的位宽均为1，被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent的位宽均为7，被测试设备测试结果信息Dev_info_code的位宽均为32；

所述从端设备端的参数控制信号组Param集成有选择被测试设备注入参数使能Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr、选择被测试设备注入参数Dev_inject_param、选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack和选择被测试设备参数输出Dev_param_out，其中选择被测试设备注入参数使能Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr和选择被测试设备注入参数Dev_inject_param的通讯方向为输入，选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack和选择被测试设备参数输出Dev_param_out的通讯方向为输出，选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr、选择被测试设备注入参数Dev_inject_param和选择被测试设备参数输出Dev_param_out的位宽均为32，Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr和选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack的位宽均为1；

所述从端设备端的数据注入信号组Inject集成有选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en、选择被测试设备注入数据Dev_inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size，其中选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en、选择被测试设备注入数据Dev_inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size的通讯方向均为输入，选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en的位宽均为1，选择被测试设备注入数据Dev_inject_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size的位宽为32；

所述从端设备端的数据输出信号组Out集成有选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait、选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en和选择被测试设备输出数据Dev_out_data，其中选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait的通讯方向为输入，选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en和选择被测试设备输出数据Dev_out_data的通讯方向为输出，选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait和选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en的位宽均为1，选择被测试设备输出数据Dev_out_data的位宽为8、16、32及64中任意一种；

所述从端设备端的模板读取信号组Modle集成有被测试设备输入模板数据Dev_modul_data、被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr，其中被测试设备输入模板数据Dev_modul_data的通讯方向为输入，被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr的通讯方向为输出，被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr的位宽为1，被测试设备输入模板数据Dev_modul_data的位宽为8、16、32及64中任意一种。

进一步，所述从端设备端的信号组还集成有时钟信号组clk和模板读取信号组Modle。

进一步，所述外接于被测设备接口的各被测试设备可相互串联。

进一步，所述外接于被测设备接口的各被测试设备可环联。

进一步，所述被测设备接口可连接模板数据单元。

进一步，所述被测试设备为芯片驱动类设备或通信接口类设备。

进一步，所述主控单元为可为在线主控单元、通信总线主控单元或总线匹配主控单元中任意一种。

本发明提供了一种基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，与现有技术相比，有益效果在于：

1、本发明设计的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，将所有外接的被测试外设备挂接在测试总线上，组成测试系统，并使用统一的、快捷的操作方法来操作每个被测试外设备，大大加快了测试系统的集成，减少了测试的缺陷，提高了测试效率。

2、本发明设计的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，基于Tbus接口开发，外设被测试外设备可在任何基于Tbus的测试系统中使用，这样模块的复用率会得到很大的提高，被测试外设备与具体的测试系统独立，使设备测试的操作变得统一、简便，使用统一的主控界面，可直观的看到被测试设备的测试结果以及错误码。

3、本发明设计的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，外接于被测设备接口的各被测试设备可相互串联；外接于被测设备接口的各被测试设备也可可环联；被测设备接口也可连接模板数据单元；上述设计，根据被测试系统的数据流应用，可将某个被测试设备的数据输出信号组接入到另外一个被测试设备的数据注入信号组，将另外一个被测试设备的的数据输出信号组接入到被测试设备的数据注入信号组，这种方式的连接应用在两个被测试设备存在数据交互的场景，设备之间的互联链路可多样化、定制化，可将多个设备串联连接，也可使用多个数据口的设备连接其它多个被测试设备，使得应用领域更广，测试效率更高；在被测试设备上接入模板数据单元，用来产生测试的数据，模板数据单元为被测试设备的附属模块，在被测试设备需要测试数据时，读取模板数据源产生的数据，进行设备的测试。

4、本发明设计的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，一个测试系统有主控单元以及集成于从端设备端的多个被测试设备组成，主控单元的状态信号组Status和控制信号组Control与从端设备端连接，而数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param则有多种连接方式，可与主控单元连接、可在集成于从端设备端的多个被测试设备间环接、也可连接模板数据源，这样充分发挥测试应用的自由化、定制化，测试效率大大提升，应用更为方便。

附图说明

图1为本发明设计的片内总线测试系统结构示意图一。

图2为本发明设计的片内总线测试系统结构示意图二。

图3为本发明设计的片内总线测试系统结构示意图三。

图4为本发明设计的片内总线测试系统结构示意图四。

具体实施方式

参阅附图1、图2、图3、图4对本发明做进一步描述。

本发明涉及一种基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，其特征在于，包括通过数据流通讯的主控单元和从端设备端，所述主控单元与从端设备端之间设置有设备互联网络；

所述主控单元的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control；

所述从端设备端的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control；

所述从端设备端至少集成有4个被测设备接口，被测设备接口外接被测试设备；

所述主控单元通过数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control与设备互联网络进行数据流通讯，所述设备互联网络通过数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control与从端设备端中的被测试设备进行数据流通讯；

所述主控单元的控制信号组Control集成有被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset、被测试设备控制选择开关Ctr_sel、被测试设备数据选择开关Dat_sel、被测试设备测试启动开关Start、被测试设备测试停止开关Stop和被测试设备测试控制应答Ctr_ack，其中被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset、被测试设备控制选择开关Ctr_sel、被测试设备数据选择开关Dat_sel、被测试设备测试启动开关Start及被测试设备测试停止开关Stop的通讯方向为输出，被测试设备测试控制应答Ctr_ack的通讯方向为输入；被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset及被测试设备控制选择开关Ctr_sel的位宽均为N，N≥1；被测试设备数据选择开关Dat_sel的位宽为32，被测试设备测试启动开关Start、被测试设备测试停止开关Stop及被测试设备测试控制应答Ctr_ack的位宽均为1；

所述主控单元的状态信号组Status集成有被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy、被测试设备测试错误信号指示Error、被测试设备测试进行百分比信号指示Percent、被测试设备测试结果信息下一项Info_next、被测试设备测试结果信息Info_code和被测试设备测试结果信息结束Info_end，其中被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy、被测试设备测试错误信号指示Error、被测试设备测试进行百分比信号指示Percent、被测试设备测试结果信息Info_code和被测试设备测试结果信息结束Info_end的通讯方向为输入，被测试设备测试结果信息下一项Info_next的通讯方向为输出，被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy和被测试设备测试错误信号指示Errorde的位宽为N，N≥1；被测试设备测试进行百分比信号指示Percent的位宽为7，被测试设备测试结果信息下一项Info_next的位宽为1，被测试设备测试结果信息Info_code的位宽为32，被测试设备测试结果信息结束Info_end的位宽为1；

所述主控单元的参数控制信号组Param集成有选择被测试设备注入参数使能Param_wren、选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备参数输出Param_out、选择被测试设备注入地址Param_adr和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack，其中选择被测试设备注入参数使能Param_wren、选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备注入地址Param_adr和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack的通讯方向为输出，选择被测试设备参数输出Param_out的通讯方向为输入，选择被测试设备注入参数使能Param_wren和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack的位宽为1，选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备参数输出Param_out和选择被测试设备注入地址Param_adr的位宽为32；

所述主控单元的数据注入信号组Inject集成有选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en、选择被测试设备注入数据Inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Can_inject_size，其中选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en与选择被测试设备注入数据Inject_data的通讯方向为输出，选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en的位宽为1，选择被测试设备注入数据Inject_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备可注入数据大小Can_inject_size的位宽为32；

所述主控单元的数据输出信号组Out集成有选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size、选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden、选择被测试设备输出数据Out_data和选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid，其中选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size、选择被测试设备输出数据Out_data和选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid的通讯方向为输入，选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden的通讯方向为输出，选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size的位宽为32，选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden的位宽为1，选择被测试设备输出数据Out_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid的位宽为1；

所述从端设备端的时钟信号组clk集成有用于注入数据写端口使用的主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk，其中主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk的通讯方向均为输入，主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk的位宽均为1；

所述从端设备端的控制信号组Control集成有被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start、被测试设备测试停止开关Dev_stop和被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack，其中被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start和被测试设备测试停止开关Dev_stop的通讯方向均为输入，被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack的输入方向为输出，被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start、被测试设备测试停止开关Dev_stop和被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack的位宽均为1；

所述从端设备端的状态信号组Status集成有被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent、被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next、被测试设备测试结果信息Dev_info_code和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end，其中被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent、被测试设备测试结果信息Dev_info_code和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end的通讯方向均为输出，被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next的通讯方向为输入；被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end的位宽均为1，被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent的位宽均为7，被测试设备测试结果信息Dev_info_code的位宽均为32；

所述从端设备端的参数控制信号组Param集成有选择被测试设备注入参数使能Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr、选择被测试设备注入参数Dev_inject_param、选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack和选择被测试设备参数输出Dev_param_out，其中选择被测试设备注入参数使能Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr和选择被测试设备注入参数Dev_inject_param的通讯方向为输入，选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack和选择被测试设备参数输出Dev_param_out的通讯方向为输出，选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr、选择被测试设备注入参数Dev_inject_param和选择被测试设备参数输出Dev_param_out的位宽均为32，Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr和选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack的位宽均为1；

所述从端设备端的数据注入信号组Inject集成有选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en、选择被测试设备注入数据Dev_inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size，其中选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en、选择被测试设备注入数据Dev_inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size的通讯方向均为输入，选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en的位宽均为1，选择被测试设备注入数据Dev_inject_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size的位宽为32；

所述从端设备端的数据输出信号组Out集成有选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait、选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en和选择被测试设备输出数据Dev_out_data，其中选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait的通讯方向为输入，选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en和选择被测试设备输出数据Dev_out_data的通讯方向为输出，选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait和选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en的位宽均为1，选择被测试设备输出数据Dev_out_data的位宽为8、16、32及64中任意一种；

所述从端设备端的模板读取信号组Modle集成有被测试设备输入模板数据Dev_modul_data、被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr，其中被测试设备输入模板数据Dev_modul_data的通讯方向为输入，被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr的通讯方向为输出，被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr的位宽为1，被测试设备输入模板数据Dev_modul_data的位宽为8、16、32及64中任意一种。

作为改进，所述从端设备端的信号组还集成有时钟信号组clk和模板读取信号组Modle。

作为改进，所述外接于被测设备接口的各被测试设备可相互串联。

作为改进，所述外接于被测设备接口的各被测试设备可环联。

作为改进，所述被测设备接口可连接模板数据单元。

作为改进，所述被测试设备为芯片驱动类设备或通信接口类设备。

作为改进，所述主控单元为可为在线主控单元、通信总线主控单元或总线匹配主控单元中任意一种。

与现有技术相比，本发明设计的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，将所有外接的被测试外设备挂接在测试总线上，组成测试系统，并使用统一的、快捷的操作方法来操作每个被测试外设备，大大加快了测试系统的集成，减少了测试的缺陷，提高了测试效率。

本发明设计的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，基于Tbus接口开发，外设被测试外设备可在任何基于Tbus的测试系统中使用，这样模块的复用率会得到很大的提高，被测试外设备与具体的测试系统独立，使设备测试的操作变得统一、简便，使用统一的主控界面，可直观的看到被测试设备的测试结果以及错误码。

本发明设计的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，外接于被测设备接口的各被测试设备可相互串联；外接于被测设备接口的各被测试设备也可可环联；被测设备接口也可连接模板数据单元；上述设计，根据被测试系统的数据流应用，可将某个被测试设备的数据输出信号组接入到另外一个被测试设备的数据注入信号组，将另外一个被测试设备的的数据输出信号组接入到被测试设备的数据注入信号组，这种方式的连接应用在两个被测试设备存在数据交互的场景，设备之间的互联链路可多样化、定制化，可将多个设备串联连接，也可使用多个数据口的设备连接其它多个被测试设备，使得应用领域更广，测试效率更高；在被测试设备上接入模板数据单元，用来产生测试的数据，模板数据单元为被测试设备的附属模块，在被测试设备需要测试数据时，读取模板数据源产生的数据，进行设备的测试。

本发明设计的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，一个测试系统有主控单元以及集成于从端设备端的多个被测试设备组成，主控单元的状态信号组Status和控制信号组Control与从端设备端连接，而数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param则有多种连接方式，可与主控单元连接、可在集成于从端设备端的多个被测试设备间环接、也可连接模板数据源，这样充分发挥测试应用的自由化、定制化，测试效率大大提升，应用更为方便。

本设计中的测试总线，命名为Tbus测试总线。其基于主控单元、从端设备端以及数据流通信的方式。主控单元作为整个片内系统的主控设备，用来监控其它被测设备，它的作用相当与人的大脑，将所有测试信息进行集成，可统一控制、显示，可单独分析、查错。主控单元的数据总线为单个总线连接，通过设备选择信号选择互联的从设备数据总线。从设备为各个被测试设备，受主设备操作，从数据模板或者主控缓存单元中取数进行接口测试，同时将接收到的数据发送给主控缓存单元进行回读数据校验，分析校验结果数据，形成错误码供主控单元读取。

主控设备可以为通过在线控制核(VIO或Source)以及在线逻辑分析核(ILA或Probe)构建在线主控单元，使用在线控制核控制设备测试启动、设备选择、设备掩码等参数，使用在线逻辑分析核观察设备测试状态、结果、设备错误码等数值。主控设备也可以为通过通信总线连接的个人电脑端用户操作界面。通信总线主控单元将通信总线控制帧转换为对应设备操作信号，将通信总线传输的数据帧转换为对应设备的数据，进行数据缓存，等待从设备读取。主控设备还可以为外部处理器，外部处理器通过总线匹配主控单元与Tbus通信。总线匹配控制单元完成总线的转译，数据的缓存等操作。

被测试设备按设备控制方式可分为手控设备、自控设备以及不受控设备三种。手控设备是指设备的启动、停止需要主控单元控制，测试的时间长度由主控何时结束测试决定。自控设备则不一样，其启动由主控单元发送，但是结束时机由设备自行决定，无需主控单元提供测试结束信号。不受控设备表示设备上电后就开始测试，不受主控单元控制启动，同样结束时机也不受主控单元控制。

主控单元的Tbus接口信号有控制信号组、状态信号组、参数控制信号组、数据注入信号组以及数据输出信号组这五组。控制信号组以及状态信号组是主控单元必须使用的，其它的信号组依据系统的被测试设备构成来决定。

从设备一般为被测试设备，该设备受控于主控设备，完成测试的过程，并提供测试结果。从设备可分为三种类型。一是芯片驱动类设备，该类被测试设备需要实现芯片的控制、驱动，控制时机可受主设备控制，也可采用自主启动方式。芯片驱动类设备又可进一步分为需要数据收发的芯片设备和无需数据收发的芯片设备，需要数据收发的芯片设备利用测试数据模板或者主控单元进行数据的发送以接收、校验；二是通信接口类设备，该类被测试设备往往遵循通用的标准协议，如SRIO协议、USB协议、UART协议等等，这类通信接口都会涉及到数据的收发，此时可使用测试数据模板或者主控单元进行数据的收、发以及校验；三是其它类设备，除芯片驱动以及通信接口类的被测试设备都可以归到该类中。按照以上描述，即可对本发明进行应用。

从设备同样分为控制信号组、状态信号组、参数控制信号组、数据注入信号组、数据输出信号组以及模板数据读取信号组这六组。其中控制与状态信号组为必有的信号组，其它信号组根据具体的设备有所不同。

主控单元的控制信号组中的Start以及Stop信号通过控制信号Ctr_Sel来选择需要操作的设备，每位控制一个设备。如Ctr_Sel等于全F，表示控制所有设备；Ctr_Sel等于1，表示控制被测试设备#1；Ctr_Sel等于2，表示控制被测试设备#2；Ctr_Sel等于3，表示控制被测试设备#1与设备#2。当被操作的设备都给出Dev_ctr_ack信号后，本次操作完成。

主控单元的PD信号控制被测试设备低功耗，一般通过禁止时钟工作来实现，每位控制一个设备。主控单元的Reset信号控制被测试设备的复位，每位控制一个设备。

主控单元的状态信号组中的Busy、Finish、Error信号为直接测试状态显示信号。每位指示一个设备的测试状态。Percent信号指示总体操作的进度，当多设备控制时，显示设备完成的个数比，如显示25，表示完成设备个数比为1/4；当单设备控制时，显示该设备的完成进度，由设备自身提供的Percent来提供。

每个设备推荐提供一个设备测试结果信息表，便于测试出错时获取设备错误码。通过Info_code、Info_next以及Info_end信号来获取错误码。每个设备的Info信号组通过Dat_Sel信号来选择连接到主控的Info信号组上。设备测试结果信息表采用循环显示的方式，Info_next置位后，显示下一个Info_code，最后一个Info_code伴随着Info_end为1指示。

主控单元输出的Dat_Sel信号除了用来选择Info信息外，还用来选择主设备的参数控制信号组、数据注入信号组、数据输出信号组与哪个被测试设备互联。设置规则可为：Dat_Sel＝0，不选择被测试设备；Dat_Sel＝1，选择被测试设备#1；Dat_Sel＝2，选择被测试设备#2；其它的设备以此类推。

参数控制信号组采用地址映射寄存器的方式。通过Param_wren以及Inject_param注入参数组。注入参数依靠Inject_param_ack信号来实现交互握手。在主控单元端，会对Inject_param_ack信号进行判断，当Dat_Sel选择的被测试设备Inject_param_ack信号为1时，表示被测试设备已应答，可以撤销Param_wren信号。后续的参数都以同样的方式发出。发送参数需配置注入地址，每个设备都有自己的设备参数配置表，根据配置表中的地址来操作配置字。参数寄存器在注入参数地址输入后，会自行输出对应寄存器的值。

数据注入信号组包含Can_inject_data_size、Inject_data_en以及Inject_data三个信号。数据注入操作中，主控单元作为数据源来发送数据，被测试设备作为数据接收设备。数据注入信号与主控设备时钟同步，在被测试设备端，需要内置异步时钟处理逻辑进行时钟域转换。主控单元通过读取Can_inject_data_size获取可以注入的数据量，然后控制写入不大于该数据量的数据。Inject_data_en为注入使能信号，每个主控时钟周期，检测到Inject_data_en有效则注入Inject_data数据。

数据输出信号组包含Out_data_size、Out_data_rden、Out_data_valid以及Out_data。数据输出模式下，被测试设备作为数据源发送数据，主控单元接收被测试设备发送的数据。模块连接的Data_out_wait、Out_data_en以及Out_data与被测试设备时钟域同步，在设备适配器内部做异步时钟域同步操作。多个设备的数据输出在各自的设备适配器中通过异步交互逻辑同步到主控单元时钟域后，通过Dat_Sel信号指示哪个被测试设备连接到主控单元。

异步交互逻辑实现跨时钟域处理，用于将主控单元时钟域数据同步到各自设备单元的数据时钟域。有两种方法用来对跨时钟域数据进行处理，分别为异步FIFO方式和握手方式。若采用异步FIFO做数据交互，处理逻辑很简单，被测试设备通过Out_data_en以及Out_data信号往FIFO写数据，并实时输出Out_data_wait信号，告知被测试设备当前是否可发送数据。读取FIFO的逻辑为主控单元主动读取FIFO的Out_data_size，然后决定读取多大的数据量，最后控制Out_data_rden来读取交互FIFO的数据。

Tbus支持主控、被测试设备一对一连接，也支持单个主控同时操作多个被测试设备。一对一连接方式如上节所述，控制、参数注入采用异步握手方式进行传输；数据注入在被测试设备上放入异步交互逻辑来实现数据的高速发送；数据输出在设备互联网络内部放置异步交互逻辑来实现数据的读取。单个主控与多个被测试设备的连接需要利用设备互联网络来实现。如图1所示，设备互联网络内部实现各个被测试设备与主控单元的连接，各个被测试设备的数据源都为主控单元。

被测试设备的数据源除了与主控连接外，还可以被测试设备间互联。根据被测试系统的数据流应用，可将某个设备的数据输出信号组接入到另外一个设备的数据注入信号组，将另外一个设备的的数据输出信号组接入到被测试设备的数据注入信号组，这种方式的连接应用在两个被测试设备存在数据交互的场景。设备之间的互联链路可多样化、定制化，可将多个设备串联连接，也可使用多个数据口的设备连接其它多个被测试设备，互联关系示意图如图2所示。

数据源除了由主控单元以及被测试设备产生外，还可以接入模板数据源，用来产生测试的数据。模块数据源为被测试设备的附属模块，在被测试设备需要测试数据时，读取模板数据源产生的数据，进行设备的测试，如图3所示。

基于Tbus的互联测试系统有三种主控单元类型，分别为在线主控单元、通信总线主控单元以及总线匹配主控单元。在线主控单元使用在单可编程芯片应用场合，通过在线调试核，如Xilinx芯片中的VIO，Altera芯片中的Probes/Source等。使用在线调试核可直接抓取、控制Tbus总线的主控端连接信号。一般不使用在线调试核来控制数据注入、数据输出信号组。调试核控制信号为主控时钟域同步信号，Tbus主控单元连接端输出信号采用调试核输出来控制，输入信号采用调试核输入来显示。电平控制类信号(如Dev_pd、Dev_ctrsel、Dev_datsel、Dev_param_adr、Dev_inject_param)采用数值输入的方式来控制，脉冲控制类信号(如Dev_reset、Dev_start、Dev_stop、Dev_info_nxt、Dev_param_wren)可采用脉冲控制类型按钮，Dev_finish、Dev_busy以及Dev_error可采用显示灯来显示，其它的输入信号采用数值显示类型。

总线匹配主控单元应用在外接处理器作为控制核心的系统中。在这种模式下，所有的控制、状态、数据上行、下行都由外部总线连接的处理器来处理。典型的外部处理器类型有DSP、PPC以及ARM。每种处理器都有自己的外部总线类型，且每种处理器的不同型号芯片的外部总线也可能不同。如DSP型号为TMS320F2812的外部总线为XINTF，而TMS320C6678的外部总线又为EMIF接口。PPC的外部总线有PPI和LBC两种，ARM对外的总线类型也比较多，如EIM总线。虽然外部总线的类型不同，操作方式不同，但是从根本上都是操作寄存器，也就是向特定地址写入指定的数。根据这个原则，所有总线的操作可统一成寄存器读写操作，将Tbus接口操作映射到寄存器读写操作上。

通信总线主控单元适用于PC机作为主控界面的情况。通信总线可使用常用的串行总线，如UART、USB接口等。通信总线作为主控桥梁的情况下，采用监控帧协议来执行Tbus的主控操作。通过监控帧协议完成数据类型事务、控制类型事务、参数类型事务以及状态读取类型这四种事务。控制类型事务实现设备的Start、Stop、Reset等控制操作；参数类型事务实现被测试设备参数的注入、读取；状态读取类型实现被测试设备测试状态的读取；数据类型事务实现向被测试设备注入数据，读取被测试设备数据功能。除了主控发送请求帧、设备回应应答帧外，设备还可以主动发起突发帧到主控，实现突发事件的传输。

操作被测试设备可分为两种操作模式，一种为全局设备操作方式，另一种为单个设备被操作方式。全局设备操作方式顾名思义就是所有设备统一操作，这种模式下，主控需要分别对每个被测试设备注入操作参数，然后统一测试。全局设备操作模式下，需要清楚所有被测试设备的类型，是否有自动测试设备，若有，则需等待自动测试设备完成测试后，然后查看该设备的测试结果以及信息。手动控制设备和不受控设备则在开始后的任何时间点都可以被停止来读取测试结果。

另一种方式为逐个设备测试模式，该模式下，每次只选择一个待测试设备，配置参数后，启动测试，等待测试完毕，读取测试结果和信息，然后依次测试下一个设备。逐个设备测试流程中，若其中一个设备测试出现异常(如启动后未置位Busy，停止后未置位Finish等)，可继续测试下一个设备，直到所有设备都测试完毕后，再来检测之前测试出错的设备的错误原因。

实施例1：

一个典型的嵌入式系统，包含FPGA芯片、DSP芯片以及各种外设接口芯片，FPGA与DSP间采用外部总线EMIF连接，FPGA对外有SRIO接口、UART总线接口、SPI总线接口以及LVDS互联线。采用传统的方法测试FPGA的对外接口，需要分别编写SRIO测试程序、LVDS测试程序、UART测试程序以及SPI测试程序。各种测试程序有可能为单独测试程序，也有可能时集成为一个测试程序，但是DSP操作各个模块没有统一的底层驱动接口，都为各个模块定制的驱动，平台依赖性强。如若将DSP换成PPC，除了驱动程序需要修改外，FPGA内的测试模块也会随之修改，同时测试的流程与结果显示也会有一些改变。

采用Tbus总线标准来设计各个接口测试模块，如图4所示，由于其都是基于Tbus总线标准，这样无论是DSP作为主控，还是PPC等其它处理器作为主控，除了外部总线底层驱动不一样外，操作所有外设接口模块的测试驱动都是一样的。也就是改变处理器或者FPGA器件后，只需要修改外部总线驱动程序，而不用对测试驱动库、模块实现进行修改。这样大大加快了测试模块的开发效率，并且由于测试模块未变，测试程序未变，测试的缺陷率会大大降低。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，其特征在于，包括通过数据流通讯的主控单元和从端设备端，所述主控单元与从端设备端之间设置有设备互联网络；

所述主控单元的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control；

所述从端设备端的信号组集成有数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control；

所述从端设备端至少集成有4个被测设备接口，被测设备接口外接被测试设备；

所述主控单元通过数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control与设备互联网络进行数据流通讯，所述设备互联网络通过数据输出信号组Out、数据注入信号组Inject、参数控制信号组Param、状态信号组Status和控制信号组Control与从端设备端中的被测试设备进行数据流通讯；

所述主控单元的控制信号组Control集成有被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset、被测试设备控制选择开关Ctr_sel、被测试设备数据选择开关Dat_sel、被测试设备测试启动开关Start、被测试设备测试停止开关Stop和被测试设备测试控制应答Ctr_ack，其中被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset、被测试设备控制选择开关Ctr_sel、被测试设备数据选择开关Dat_sel、被测试设备测试启动开关Start及被测试设备测试停止开关Stop的通讯方向为输出，被测试设备测试控制应答Ctr_ack的通讯方向为输入；被测试设备测试开关PD、被测试设备复位开关Reset及被测试设备控制选择开关Ctr_sel的位宽均为N，N≥1；被测试设备数据选择开关Dat_sel的位宽为32，被测试设备测试启动开关Start、被测试设备测试停止开关Stop及被测试设备测试控制应答Ctr_ack的位宽均为1；

所述主控单元的状态信号组Status集成有被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy、被测试设备测试错误信号指示Error、被测试设备测试进行百分比信号指示Percent、被测试设备测试结果信息下一项Info_next、被测试设备测试结果信息Info_code和被测试设备测试结果信息结束Info_end，其中被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy、被测试设备测试错误信号指示Error、被测试设备测试进行百分比信号指示Percent、被测试设备测试结果信息Info_code和被测试设备测试结果信息结束Info_end的通讯方向为输入，被测试设备测试结果信息下一项Info_next的通讯方向为输出，被测试设备测试完成信号指示Finish、被测试设备测试忙信号指示Busy和被测试设备测试错误信号指示Errorde的位宽为N，N≥1；被测试设备测试进行百分比信号指示Percent的位宽为7，被测试设备测试结果信息下一项Info_next的位宽为1，被测试设备测试结果信息Info_code的位宽为32，被测试设备测试结果信息结束Info_end的位宽为1；

所述主控单元的参数控制信号组Param集成有选择被测试设备注入参数使能Param_wren、选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备参数输出Param_out、选择被测试设备注入地址Param_adr和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack，其中选择被测试设备注入参数使能Param_wren、选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备注入地址Param_adr和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack的通讯方向为输出，选择被测试设备参数输出Param_out的通讯方向为输入，选择被测试设备注入参数使能Param_wren和选择被测试设备注入参数应答Inject_param_ack的位宽为1，选择被测试设备注入参数Inject_param、选择被测试设备参数输出Param_out和选择被测试设备注入地址Param_adr的位宽为32；

所述主控单元的数据注入信号组Inject集成有选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en、选择被测试设备注入数据Inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Can_inject_size，其中选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en与选择被测试设备注入数据Inject_data的通讯方向为输出，选择被测试设备数据注入使能Inject_data_en的位宽为1，选择被测试设备注入数据Inject_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备可注入数据大小Can_inject_size的位宽为32；

所述主控单元的数据输出信号组Out集成有选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size、选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden、选择被测试设备输出数据Out_data和选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid，其中选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size、选择被测试设备输出数据Out_data和选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid的通讯方向为输入，选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden的通讯方向为输出，选择被测试设备数据输出缓存个数Out_data_size的位宽为32，选择被测试设备数据输出使能Out_data_rden的位宽为1，选择被测试设备输出数据Out_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备数据输出使能Data_out_valid的位宽为1；

所述从端设备端的时钟信号组clk集成有用于注入数据写端口使用的主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk，其中主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk的通讯方向均为输入，主控单元时钟Mc_clk、主控单元复位Mc_rst和被测试设备时钟Dev_clk的位宽均为1；

所述从端设备端的控制信号组Control集成有被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start、被测试设备测试停止开关Dev_stop和被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack，其中被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start和被测试设备测试停止开关Dev_stop的通讯方向均为输入，被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack的输入方向为输出，被测试设备复位开关Dev_reset、被测试设备测试启动开关Dev_start、被测试设备测试停止开关Dev_stop和被测试设备测试启动应答Dev_ctr_ack的位宽均为1；

所述从端设备端的状态信号组Status集成有被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent、被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next、被测试设备测试结果信息Dev_info_code和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end，其中被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent、被测试设备测试结果信息Dev_info_code和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end的通讯方向均为输出，被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next的通讯方向为输入；被测试设备测试完成信号指示Dev_finish、被测试设备测试忙信号指示Dev_busy、被测试设备测试错误信号指示Dev_error、被测试设备测试结果信息下一项Dev_info_next和被测试设备测试结果信息结束Dev_info_end的位宽均为1，被测试设备测试进行百分比信号指示Dev_percent的位宽均为7，被测试设备测试结果信息Dev_info_code的位宽均为32；

所述从端设备端的参数控制信号组Param集成有选择被测试设备注入参数使能Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr、选择被测试设备注入参数Dev_inject_param、选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack和选择被测试设备参数输出Dev_param_out，其中选择被测试设备注入参数使能Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr和选择被测试设备注入参数Dev_inject_param的通讯方向为输入，选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack和选择被测试设备参数输出Dev_param_out的通讯方向为输出，选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr、选择被测试设备注入参数Dev_inject_param和选择被测试设备参数输出Dev_param_out的位宽均为32，Dev_param_wren、选择被测试设备注入参数地址Dev_param_adr和选择被测试设备注入参数应答Dev_inject_param_ack的位宽均为1；

所述从端设备端的数据注入信号组Inject集成有选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en、选择被测试设备注入数据Dev_inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size，其中选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en、选择被测试设备注入数据Dev_inject_data和选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size的通讯方向均为输入，选择被测试设备数据注入使能Dev_inject_data_en的位宽均为1，选择被测试设备注入数据Dev_inject_data的位宽为8、16、32及64中任意一种，选择被测试设备可注入数据大小Dev_can_inject_size的位宽为32；

所述从端设备端的数据输出信号组Out集成有选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait、选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en和选择被测试设备输出数据Dev_out_data，其中选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait的通讯方向为输入，选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en和选择被测试设备输出数据Dev_out_data的通讯方向为输出，选择被测试设备数据输出等待Dev_data_out_wait和选择被测试设备数据输出使能Dev_out_data_en的位宽均为1，选择被测试设备输出数据Dev_out_data的位宽为8、16、32及64中任意一种；

所述从端设备端的模板读取信号组Modle集成有被测试设备输入模板数据Dev_modul_data、被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr，其中被测试设备输入模板数据Dev_modul_data的通讯方向为输入，被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr的通讯方向为输出，被测试设备数据读取使能Dev_module_dat_rden和被测试设备数据清除Dev_module_dat_clr的位宽为1，被测试设备输入模板数据Dev_modul_data的位宽为8、16、32及64中任意一种。

2.根据权利要求1所述的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，其特征在于，所述从端设备端的信号组还集成有时钟信号组clk和模板读取信号组Modle。

3.根据权利要求1所述的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，其特征在于，所述外接于被测设备接口的各被测试设备可相互串联。

4.根据权利要求1所述的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，其特征在于，所述外接于被测设备接口的各被测试设备可环联。

5.根据权利要求1所述的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，其特征在于，所述被测设备接口可连接模板数据单元。

6.根据权利要求1所述的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，其特征在于，所述被测试设备为芯片驱动类设备或通信接口类设备。

7.根据权利要求1所述的基于Tbus总线标准的片内总线测试系统，其特征在于，所述主控单元为可为在线主控单元、通信总线主控单元或总线匹配主控单元中任意一种。