CN106815404B - 一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法 - Google Patents

一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106815404B
CN106815404B CN201611174551.5A CN201611174551A CN106815404B CN 106815404 B CN106815404 B CN 106815404B CN 201611174551 A CN201611174551 A CN 201611174551A CN 106815404 B CN106815404 B CN 106815404B
Authority
CN
China
Prior art keywords
design
atomic force
force microscope
objective function
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201611174551.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106815404A (zh
Inventor
夏奇
李振华
史铁林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Huazhong University of Science and Technology
Original Assignee
Huazhong University of Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Huazhong University of Science and Technology filed Critical Huazhong University of Science and Technology
Priority to CN201611174551.5A priority Critical patent/CN106815404B/zh
Publication of CN106815404A publication Critical patent/CN106815404A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106815404B publication Critical patent/CN106815404B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/20Design optimisation, verification or simulation
    • G06F30/23Design optimisation, verification or simulation using finite element methods [FEM] or finite difference methods [FDM]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/10Geometric CAD
    • G06F30/17Mechanical parametric or variational design

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • Mathematical Optimization (AREA)
  • Mathematical Analysis (AREA)
  • Computational Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

本发明属于原子力显微镜领域,并公开了一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法,包括以下步骤:(1)将原子力显微镜探针简化成为长度、宽度和厚度分别为L、w、h且带有集中质量点的悬臂梁;(2)根据悬臂梁探针结构进行有限元建模,定义设计变量;(3)定义目标模态向量φ0;(4)定义目标函数J;(5)求解步骤(2)的有限元模型,获得目标函数J关于设计变量的敏度,梯度下降法更新设计变量;(6)使目标函数J收敛。本发明可以使一阶振动模态下探针悬臂在光束反射处提供更大的倾斜度,提高了检测灵敏度,同时目标函数中特征值的部分可以使一阶振动频率尽量不受影响。

Description

一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法
技术领域
本发明属于原子力显微镜领域,更具体地,涉及一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法。
背景技术
原子力显微镜(AFM)是一种用来研究固体材料表面结构的分析仪器,其通过带有探针的悬臂梁结构接触样品表面,检测针尖与样品表面原子间作用力的变化来研究物体表面的性质,其广泛运用于微纳米结构表面形貌测量,生物大分子活体结构行为观测,分析分子间作用力以及进行微纳米结构的加工。
典型的原子力显微镜包括以下几个组成部分:力检测部分,用于检测原子间的作用力,通常是使用微小悬臂梁结构,悬臂梁自由端附有针尖并且背面带有反射光束的镀层,悬臂的结构参数决定了悬臂的性能以用于不同的检测模式及检测用途;位置检测部分,在检测中样品与针尖的相互作用力使悬臂梁末端发生偏转,照射在悬臂背面的激光束也因此产生偏转角,反射光束的偏转量在光斑位置检测器上留下记录转换成电信号,供SPM控制器做信号处理;反馈系统,反馈系统将位置检测器收到的信号当作反馈信号,用来调整驱动压电陶瓷管制作的扫描器做适当移动,保持样品表面与针尖的作用力相等(恒力模式)。
原子力显微镜按针尖与样品间作用力形式通常有三种工作模式:接触模式、非接触模式、轻敲模式。接触模式中针尖与样品表面保持紧密接触,相互作用力为排斥力,测量纵向分辨率高,空间分辨率低,施加在针尖上的力可能破坏试样结构;非接触模式与轻敲模式均为动态模式,非接触模式检测悬臂在样品上方振动,不适合大气环境下测量,扫描速度低;轻敲模式介于前述两种模式之间,悬臂在试样上方以其共振频率震荡,针尖周期性短暂接触表面,消除了横向力影响,分辨率高且不易损伤样品表面,但是其扫描速度、灵敏度有待提高。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供了一种原子力显微镜探针模态形状的优化设计方法,提升了一阶轻敲模式下原子力显微镜的检测灵敏度,同时对扫描速度不造成影响。
为实现上述目的,按照本发明,提供了一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将原子力显微镜探针简化成为长度、宽度和厚度分别为L、w、h且带有集中质量点的悬臂梁,集中质量点质量为探针针尖质量,然后沿厚度方向将悬臂梁分为三层,中间层为厚度为t的非设计层,上下两层均为设计层且上下对称;
(2)根据悬臂梁探针结构进行有限元建模:以固定端为坐标原点,沿长度L方向将悬臂梁离散成等长度的Euler-Bernoulli梁单元结构,得到单元相应结点及坐标,Euler-Bernoulli梁单元结点的纵坐标y1,y2,y3,......yn,yn+1为0,将设计层的结构单元宽度定义为设计变量其中n表示离散的单元个数并且n为正整数;
(3)定义目标模态向量φ0:根据悬臂梁一阶振动模态曲线设计新的振动模态曲线,在新的曲线上计算Euler-Bernoulli梁单元结构结点的横坐标x1,x2,x3,......xn,xn+1处的纵坐标值分别为y1 0,y2 0,y3 0,......yn 0,yn+1 0,以及横坐标x1,x2,x3,......xn,xn+1处的转角值分别θ1 02 03 0,......θn 0n+1 0,从而获得目标模态向量为
φ0=[0,y1 01 0,0,y2 02 0,0,y3 03 0,......0,yn 0n 0,0,yn+1 0n+1 0]T
(4)定义目标函数其中λ1是自由振动有限元方程计算出的一阶特征值,即结构一阶角频率ω1的平方,是介于0-1之间的数,以用来衡量计算一阶模态φ1与目标模态φ0的相似度,α为权重因子;
(5)根据步骤(2)的有限元模型,获得此时结构的一阶特征值λ1和一阶振型向量φ1,根据特征值λ1和振型φ1得到此时目标函数J相对于设计变量的梯度值向量根据梯度下降法来更新设计变量,其中在悬臂梁的自由端预留反射区域,将设计变量设为固定值wi k+1=wi+1 k+1......=wn k+1=w0,其中w0为宽度初始值,k为此时的迭代步数并且其为正整数;
(6)执行步骤(5)直到达到目标函数J收敛。
优选地,步骤(3)中新的振动模态曲线要求在悬臂梁的自由端或者光斑反射处转角大于原始曲线的转角,即自由端或光斑反射处的曲线斜率大于原始曲线,以提高设计后的原子力显微镜的灵敏度。
优选地,步骤(4)中α可根据λ1来确定,令λ1的位数为m,则α=10m
优选地,步骤(5)中更新设计变量采用渐进式的步长约束,具体过程如下:
其中,t为步长,η为缩放因子,wmin与wmax分别为最小允许设计宽度和最大允许设计宽度。
总体而言,通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比,能够取得下列有益效果:
本发明通过对现有的商用原子力显微镜探针进行建模,同时优化探针一阶振动频率与模态振形,为提升原子力显微镜的测量性能提供了一种思路。通过优化使所设计的探针一阶模态更接近于目标设计模态,可以在光束反射处提供更大的倾斜度,提高了检测灵敏度,同时目标函数中特征值的部分可以使一阶振动频率不受影响。
附图说明
图1是本发明的原子力显微镜探针模态形状优化设计方法的流程图。
图2是简化原子力显微镜探针物理模型为带有集中质量悬臂梁结构示意图。
图3(a)和图3(b)分别是探针单个设计单元的侧视示意图及探针整体单元俯视示意图。
图4是一个目标模态向量的例子与原始振动模态对比示意图。
图5是一个优化例子最终得到结构的俯视图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
参照各附图,一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法,包括以下步骤:
(1)将原子力显微镜探针简化成为长度、宽度和厚度分别为L、w、h且带有集中质量点的悬臂梁,集中质量点质量为探针针尖质量,如图2所示,沿厚度方向将悬臂梁分为三层,中间层为厚度为t的非设计层,上下两层均为设计层且上下对称,如图3(a)所示;
(2)根据悬臂梁探针结构有限元建模:以固定端为坐标原点,沿长度L方向将悬臂梁离散成等长度的Euler-Bernoulli梁单元结构,得到单元相应结点及坐标,Euler-Bernoulli梁单元结点的纵坐标y1,y2,y3,......yn,yn+1为0,将设计层的结构单元宽度定义为设计变量其中n表示离散的单元个数并且n为正整数,参考图3(b);
(3)定义目标模态向量φ0,只关注横向振动,根据悬臂梁一阶振动模态曲线设计新的振动模态曲线,新的振动模态曲线要求在悬臂自由端或者光斑反射处转角大于原始曲线的转角,即自由端或光斑反射处的曲线斜率大于原始曲线,如图4所示(以一个长度为127um的悬臂梁一阶振动模态为例),这样可使设计后的原子力显微镜灵敏度更高,在新的曲线上计算Euler-Bernoulli梁单元结构结点的横坐标为x1,x2,x3,......xn,xn+1处的纵坐标值分别为y1 0,y2 0,y3 0,......yn 0,yn+1 0,以及横坐标为x1,x2,x3,......xn,xn+1处的转角值θ1 02 03 0,......θn 0n+1 0,从而获得目标模态向量为
φ0=[0,y1 01 0,0,y2 02 0,0,y3 03 0,......0,yn 0n 0,0,yn+1 0n+1 0]T
(4)定义目标函数其中λ1是自由振动有限元方程计算出的一阶特征值,即结构一阶角频率ω1的平方,是介于0-1之间的数,用来衡量计算一阶模态φ1与定义的目标模态向量φ0的相似度,α为权重因子,α的求法可以根据λ1来定,设λ1的位数为m,则α=10m,通过调节可以使设计目标倾向变化,如α大则设计更倾向于模态优化,反之倾向于优化一阶频率;
(5)根据步骤(2)的有限元模型,计算此时结构的一阶振动特征值λ1,一阶模态振型φ1,根据振型与特征值求解特征值λ1对设计变量的梯度以及特征向量φ1对设计变量的梯度(Nelson方法),得到此时目标函数J相对于设计变量的梯度值向量根据梯度下降法采用渐进式的步长约束更新设计变量:
其中t为步长,η为缩放因子,wmin与wmax分别为最小允许设计宽度,最大允许设计宽度,因为中间层材料的存在,最小允许设计宽度为0,最大允许设计宽度为原始矩形悬臂梁宽度,其中在悬臂梁自由端预留反射区域将设计变量设为固定值wi k+1=wi+1 k+1......=wn k+1=w0,其中w0为宽度初始值,k为此时的迭代步数并且其为正整数;
(6)执行步骤(5)直到目标函数J收敛,一个优化设计结果俯视示意图如图5(例子中悬臂梁长宽厚分别为127um、35um、3.8um),图中可以看出反射区域前单元宽度沿长度方向的变化。
本发明提供的原子力显微镜探针模态形状优化设计方法,其将原子力显微镜探针悬臂梁沿长度方向离散为梁单元,将悬臂梁宽度方向分为三层,采取上下两层单元宽度为设计变量,定义反射区域偏转角更大的振型向量,定义目标函数为振动特征值与衡量目标振型相似度的MAC值的加权和,提供了一种优化设计探针的方法,优化探针模态的同时不对振动频率造成影响,可以显著提升原子力显微镜探测灵敏度。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将原子力显微镜探针简化成为长度、宽度和厚度分别为L、w、h且带有集中质量点的悬臂梁,集中质量点质量为探针针尖质量,然后沿厚度方向将悬臂梁分为三层,中间层为厚度为t的非设计层,上下两层均为设计层且上下对称;
(2)根据悬臂梁探针结构进行有限元建模:以固定端为坐标原点,沿长度L方向将悬臂梁离散成等长度的Euler-Bernoulli梁单元结构,得到单元相应结点及坐标,Euler-Bernoulli梁单元结点的纵坐标y1,y2,y3,......yn,yn+1为0,将设计层的结构单元宽度定义为设计变量其中n表示离散的单元个数并且n为正整数;
(3)定义目标模态向量φ0:根据悬臂梁一阶振动模态曲线设计新的振动模态曲线,在新的曲线上计算Euler-Bernoulli梁单元结构结点的横坐标x1,x2,x3,......xn,xn+1处的纵坐标值分别为y1 0,y2 0,y3 0,......yn 0,yn+1 0,以及横坐标x1,x2,x3,......xn,xn+1处的转角值分别θ1 02 03 0,......θn 0n+1 0,从而获得目标模态向量为
φ0=[0,y1 01 0,0,y2 02 0,0,y3 03 0,......0,yn 0n 0,0,yn+1 0n+1 0]T
(4)定义目标函数其中λ1是自由振动有限元方程计算出的一阶特征值,即结构一阶角频率ω1的平方,是介于0-1之间的数,以用来衡量计算一阶模态φ1与目标模态φ0的相似度,α为权重因子;
(5)根据步骤(2)的有限元模型,获得此时结构的一阶特征值λ1和一阶振型向量φ1,根据特征值λ1和振型φ1得到此时目标函数J相对于设计变量的梯度值向量根据梯度下降法来更新设计变量,其中在悬臂梁的自由端预留反射区域,将设计变量设为固定值其中w0为宽度初始值,k为此时的迭代步数并且其为正整数;t为步长;i=1......n;
(6)执行步骤(5)直到达到目标函数J收敛。
2.如权利要求1所述的原子力显微镜探针模态形状优化设计方法,其特征在于,步骤(3)中新的振动模态曲线要求在悬臂梁的自由端或者光斑反射处转角大于原始曲线的转角,即自由端或光斑反射处的曲线斜率大于原始曲线,以提高设计后的原子力显微镜的灵敏度。
3.如权利要求1所述的原子力显微镜探针模态形状优化设计方法,其特征在于,步骤(4)中α可根据λ1来确定,令λ1的位数为m,则α=10m
4.如权利要求1所述的原子力显微镜探针模态形状优化设计方法,其特征在于,步骤(5)中更新设计变量采用渐进式的步长约束,具体过程如下:
其中,t为步长,η为缩放因子,wmin与wmax分别为最小允许设计宽度和最大允许设计宽度。
CN201611174551.5A 2016-12-19 2016-12-19 一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法 Active CN106815404B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611174551.5A CN106815404B (zh) 2016-12-19 2016-12-19 一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611174551.5A CN106815404B (zh) 2016-12-19 2016-12-19 一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106815404A CN106815404A (zh) 2017-06-09
CN106815404B true CN106815404B (zh) 2019-06-28

Family

ID=59109717

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611174551.5A Active CN106815404B (zh) 2016-12-19 2016-12-19 一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106815404B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109406386B (zh) * 2017-10-30 2020-10-23 西南交通大学 超低摩擦系数测量用异形截面悬臂梁探针设计及加工方法
CN110046362B (zh) * 2018-01-15 2022-11-25 湘潭大学 一种基于原子力显微技术的频率扫描信号分析方法及其应用

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8245161B1 (en) * 2007-08-16 2012-08-14 Kla-Tencor Corporation Verification of computer simulation of photolithographic process
CN102831277A (zh) * 2012-09-04 2012-12-19 奇瑞汽车股份有限公司 一种车辆trimmedbody有限元模型模态识别的方法
CN103645348A (zh) * 2013-12-03 2014-03-19 中国科学院电工研究所 一种微纳米尺度耦合振动高分辨测量方法
CN105571796A (zh) * 2014-10-14 2016-05-11 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种微小部件工况下的模态测试方法
CN106202755A (zh) * 2016-07-15 2016-12-07 西安交通大学 基于动力学模型和遗传算法的电主轴结构优化设计方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8245161B1 (en) * 2007-08-16 2012-08-14 Kla-Tencor Corporation Verification of computer simulation of photolithographic process
CN102831277A (zh) * 2012-09-04 2012-12-19 奇瑞汽车股份有限公司 一种车辆trimmedbody有限元模型模态识别的方法
CN103645348A (zh) * 2013-12-03 2014-03-19 中国科学院电工研究所 一种微纳米尺度耦合振动高分辨测量方法
CN105571796A (zh) * 2014-10-14 2016-05-11 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种微小部件工况下的模态测试方法
CN106202755A (zh) * 2016-07-15 2016-12-07 西安交通大学 基于动力学模型和遗传算法的电主轴结构优化设计方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Shape And Topology Optimization For Tailoring The Ratio Between Two Flexural Eigenfrequencies Of Atomic Force Microscopy Cantilever Probe;Qi Xia 等;《Frontiers of Mechanical Engineering》;20140213;第50–57页
微悬臂梁质量传感器测量原理的有限元分析;周韬;《中国优秀硕士学位论文全文数据库》;20150415;第I140-140页
轻敲模式原子力显微镜微悬臂—探针动力学研究;宋明明;《中国优秀硕士学位论文全文库(基础科学辑)》;20080115;第A005-94页

Also Published As

Publication number Publication date
CN106815404A (zh) 2017-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Elias et al. The role of the cantilever in Kelvin probe force microscopy measurements
Braunsmann et al. High-speed force mapping on living cells with a small cantilever atomic force microscope
CN106815404B (zh) 一种原子力显微镜探针模态形状优化设计方法
US10119990B2 (en) Scanning probe microscope and method for examining a surface with a high aspect ratio
Canale et al. Recognizing and avoiding artifacts in atomic force microscopy imaging
Cumpson et al. Calibration of AFM cantilever stiffness: a microfabricated array of reflective springs
TW201809676A (zh) 檢查樣品表面的掃描探針顯微鏡及方法
JP2017521655A5 (zh)
Wu et al. Effective tilting angles for a dual probes AFM system to achieve high-precision scanning
US11112426B2 (en) Method and device of using a scanning probe microscope
Watanabe et al. Atomic force microscope method for sidewall measurement through carbon nanotube probe deformation correction
US9829427B2 (en) Method and system for characterization of nano- and micromechanical structures
Ito et al. Development of a probing system for a micro-coordinate measuring machine by utilizing shear-force detection
Esteban et al. Simulation of optical near and far fields of dielectric apertureless scanning probes
Sevim et al. Micromachined sample stages to reduce thermal drift in atomic force microscopy
Majstrzyk et al. Electromagnetic cantilever reference for the calibration of optical nanodisplacement systems
CN110514138A (zh) 一种基于探针自身重力的形貌测量系统及方法
Dzedzickis et al. Characteristics and Functionality of Cantilevers and Scanners in Atomic Force Microscopy
JP4904495B2 (ja) 高帯域原子間力顕微鏡装置
KR102102637B1 (ko) 토포그래피 신호 및 옵션 신호 획득 방법, 장치 및 이를 구비하는 원자 현미경
Sun et al. Modeling and correction of image pixel hysteresis in atomic force microscopy
Dai et al. Metrological AFMs and its application for versatile nano-dimensional metrology tasks
CN110110399A (zh) 面向微加工的竖直稳定加载对称型微悬臂设计及应用方法
US20100192267A1 (en) Scanning Probe Microscope with Independent Force Control and Displacement Measurements
Hussain et al. Sidewall Imaging of Microstructures with a Tilted Quartz Tuning Fork (QTF) Force Sensor

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant