CN106814304A - 一种陀螺仪电路板老化测试系统 - Google Patents

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刘正英
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2849—Environmental or reliability testing, e.g. burn-in or validation tests

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Abstract

本发明涉及测试设备，尤其涉及一种陀螺仪电路板老化测试系统，主要包括：主控部分、测试部分和被测部分，测试部分设置电源模块和万用表模块，测试部分设有输出模块，输出模块中设有信号源和功放模块，所述的主控部分包括PC端和集线器，集线器通过LAN与电源模块和万用表模块连接，集线器通过GPIB与输出模块连接，所述的电源模块集成了2台电源，万用表模块集成了3台万用表，所述的被测部分包括接口板和被测件，被测件通过接口板接入测试部分，所述的接口板集成了10块接口，所述的电源、万用表和信号源均是可程控电子设备，相比于现有测试设备，其陀螺仪电路板老化测试系统通过集线器将测试部分设备集成，经接口板将被测件接入测试部分进行测试。

Description

一种陀螺仪电路板老化测试系统
技术领域：
本发明涉及测试设备，尤其涉及一种陀螺仪电路板老化测试系统。
背景技术：
MEMS陀螺仪又称微机电陀螺仪，在如今的航模、手机和相机中广泛应用。陀螺仪中设置两个方向上的可移动电容板，由电容的变化计算出角速度，再将角运动信号转化为电信号。因此，陀螺仪电路板也经常面临老化导致失灵的问题。
发明内容：
本发明的目的在于针对已有的技术现状，提供一种陀螺仪电路板老化测试系统。
为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：
一种陀螺仪电路板老化测试系统，主要包括：主控部分、测试部分和被测部分，所述的测试部分设置电源模块和万用表模块，测试部分设有输出模块，输出模块中设有信号源和功放模块。
进一步的，所述的主控部分包括PC端和集线器，集线器通过LAN与电源模块和万用表模块连接，集线器通过GPIB与输出模块连接。
进一步的，所述的电源模块集成了2台电源，万用表模块集成了3台万用表。
进一步的，所述的被测部分包括接口板和被测件，被测件通过接口板接入测试部分。
进一步的，所述的接口板集成了10块接口。
进一步的，所述的电源、万用表和信号源均是可程控电子设备。
本发明的有益效果为：
1、相比于现有测试设备，其陀螺仪电路板老化测试系统通过集线器将测试部分设备集成，经接口板将被测件接入测试部分进行测试，由PC端编程控制测试过程，自动化程度高；
2、多个电源、万用表和接口的集成，可同时对多个被测件进行测试，测试速度块，效率高，测试精度高。
附图说明：
附图1为本发明的结构示意图。
具体实施方式：
为了使审查委员能对本发明之目的、特征及功能有更进一步了解，兹举较佳实施例并配合图式详细说明如下：
请参阅图1所示，系为本发明之较佳实施例的结构示意图，一种陀螺仪电路板老化测试系统，主要包括：主控部分1、测试部分2和被测部分3，所述的测试部分2设置电源模块21和万用表模块22，测试部分2设有输出模块23，输出模块23中设有信号源231和功放模块232，所述的主控部分1包括PC端11和集线器12，集线器12通过LAN4与电源模块21和万用表模块22连接，集线器12通过GPIB5与输出模块23连接，所述的电源模块21集成了2台电源211，万用表模块22集成了3台万用表221，所述的被测部分3包括接口板31和被测件32，被测件32通过接口板31接入测试部分2，所述的接口板31集成了10块接口311，所述的电源211、万用表221和信号源231均是可程控电子设备。
陀螺仪电路板老化测试系统利用集线器12通过LAN4缆线和GPIB5缆线将电源211、信号源231和万用表221集成到一起，接口板31内集成了10块接口311，可同时接入多达10个被测件32，再由PC端11通过测控软件控制测试部分2对被测件32进行测试。
当然，以上图示仅为本发明较佳实施方式，并非以此限定本发明的使用范围，故，凡是在本发明原理上做等效改变均应包含在本发明的保护范围内。

Claims (6)

1.一种陀螺仪电路板老化测试系统，主要包括：主控部分（1）、测试部分（2）和被测部分（3），其特征在于：所述的测试部分（2）设置电源模块（21）和万用表模块（22），测试部分（2）设有输出模块（23），输出模块（23）中设有信号源（231）和功放模块（232）。
2.根据权利要求1所述的一种陀螺仪电路板老化测试系统，其特征在于：所述的主控部分（1）包括PC端（11）和集线器（12），集线器（12）通过LAN（4）与电源模块（21）和万用表模块（22）连接，集线器（12）通过GPIB（5）与输出模块（23）连接。
3.根据权利要求1所述的一种陀螺仪电路板老化测试系统，其特征在于：所述的电源模块（21）集成了2台电源（211），万用表模块（22）集成了3台万用表（221）。
4.根据权利要求1所述的一种陀螺仪电路板老化测试系统，其特征在于：所述的被测部分（3）包括接口板（31）和被测件（32），被测件（32）通过接口板（31）接入测试部分（2）。
5.根据权利要求4所述的一种陀螺仪电路板老化测试系统，其特征在于：所述的接口板（31）集成了10块接口（311）。
6.根据权利要求1至5任意一项所述的一种陀螺仪电路板老化测试系统，其特征在于：所述的电源（211）、万用表（221）和信号源（231）均是可程控电子设备。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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