CN106776359A - 一种NAND Flash坏块管理方法及系统 - Google Patents

一种NAND Flash坏块管理方法及系统 Download PDF

Info

Publication number
CN106776359A
CN106776359A CN201611040185.4A CN201611040185A CN106776359A CN 106776359 A CN106776359 A CN 106776359A CN 201611040185 A CN201611040185 A CN 201611040185A CN 106776359 A CN106776359 A CN 106776359A
Authority
CN
China
Prior art keywords
block
logical address
bulk state
spare area
bad block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201611040185.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106776359B (zh
Inventor
濮建福
沈霞宏
朱浩文
李世建
罗唤霖
白郁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Aerospace Measurement Control Communication Institute
Original Assignee
Shanghai Aerospace Measurement Control Communication Institute
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Aerospace Measurement Control Communication Institute filed Critical Shanghai Aerospace Measurement Control Communication Institute
Priority to CN201611040185.4A priority Critical patent/CN106776359B/zh
Publication of CN106776359A publication Critical patent/CN106776359A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106776359B publication Critical patent/CN106776359B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/06Addressing a physical block of locations, e.g. base addressing, module addressing, memory dedication
    • G06F12/0646Configuration or reconfiguration

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Memory System (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

本发明提供了一种NAND Flash坏块管理方法及系统,包括:若目标逻辑地址属于工作区,且为坏块,则目标物理地址等于备用区最高位地址减去偏移地址;对目标存储块进行操作之后检验目标存储块的状态,若目标存储块为坏块属于工作区,且标识为好块,则将从备用区最高位向低位顺序第一个标识为未用好块的存储块作为替换块,在映射表中修改该替换块的标识为已用好块,将该替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表中;若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为坏块,则先在映射表中将当前替换块的块状态标识修改为坏块,再将新替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表中。

Description

一种NAND Flash坏块管理方法及系统
技术领域
本发明涉及固态存储技术领域,具体地,涉及一种NAND Flash坏块管理方法及系统。
背景技术
随着半导体工艺和计算机技术的发展,NAND Flash以其优良的存储特性成为现在的存储器发展方向。目前NAND Flash设备已经逐步替代其它数据存储器,成为大容量高速数据采集设备中的主要数据载体。同时由于单片芯片存储容量相对较小,读写速度相对慢,通过构建存储阵列来提升存储容量和存储速度的方法得到广泛研究。
由于制造工艺的问题,NAND Flash在出厂时难免会产生坏块,同时芯片在使用过程中也会产生坏块。在研究如何提高存储速度的同时,研究高效的坏块管理策略也显得尤为重要。常用的坏块管理策略标记坏块位表和坏块保留替换法,标记坏块位表用简单的跳过方式避免数据的错误;由于该方法会破坏逻辑地址和物理地址间的映射关系,只适用于简单顺序读写的高速场合。坏块保留替换法通过设置好块保留区,通过物理地址映射实现坏块管理,该方法需要耗费大量的内存资源,并且随着存储芯片的增加,耗费的内存资源也越来越多。
发明内容
针对现有技术中的缺陷,本发明的目的是提供一种NAND Flash坏块管理方法及系统。
根据本发明提供的一种NAND Flash坏块管理方法,包括:
步骤1,建立NAND Flash存储阵列中存储块与逻辑地址对应关系的映射表,且所述映射表中的逻辑地址都对应配置有块状态标识,所述映射表中逻辑地址分为工作区和备用区,所述块状态标识为坏块的工作区逻辑地址还配置有偏移地址;
步骤2,接收外部指令解析获得操作指令和目标逻辑地址;
步骤3,判断所述目标逻辑地址属于工作区还是备用区,若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块为坏块,则目标物理地址等于所述备用区最高位地址减去所述偏移地址;
步骤4,根据所述操作指令对所述目标物理地址对应的目标存储块进行操作;
步骤5,检验所述目标存储块的状态,若所述目标存储块为坏块;
步骤6,判断目标逻辑地址属于工作区还是备用区,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为好块,则将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为替换块,在映射表中修改该替换块的块状态标识为已用好块,将该替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表,返回步骤2,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为坏块,则先在映射表中将当前替换块的块状态标识修改为坏块,再将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为新替换块,在映射表中修改该新替换块的块状态标识为已用好块,将该新替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址写入映射表中,返回步骤2。
作为一种优选方案,步骤1中所述映射表中工作区的逻辑地址设置为小于所述备用区的逻辑地址。
作为一种优选方案,步骤3还包括:若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址。
作为一种优选方案,步骤3还包括:若所述目标逻辑地址属于备用区,判断所述目标逻辑地址对应的块状态标识是否为未用好块;
若为已用块或坏块,则返回步骤2;
若为未用好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址。
作为一种优选方案,步骤6还包括:若目标逻辑地址属于映射表的备用区,则在映射表中将该目标逻辑地址对应的块状态标识修改为坏块。
作为一种优选方案,步骤5中检验所述目标存储块的状态的过程包括:
在所述目标存储块检测纠错码错误的数量超过预设阈值时,或
在所述目标存储块檫除或编程结束后检测到NAND Flash状态寄存器中D0位为1时,
确定所述目标存储块为坏块。
基于同一发明构思,本发明还提供了一种NAND Flash坏块管理系统,包括:MRAM,指令解析模块,MRAM控制模块,坏块管理模块,NAND Flash控制模块,NAND Flash存储阵列;
所述MRAM用于:存储一NAND Flash存储阵列中存储块与逻辑地址对应关系的映射表,且所述映射表中的逻辑地址都对应配置有块状态标识,所述映射表中逻辑地址分为工作区和备用区,所述块状态标识为坏块的工作区逻辑地址还配置有偏移地址;
所述指令解析模块用于:接收外部指令解析获得操作指令和目标逻辑地址;
所述MRAM控制模块用于:判断所述目标逻辑地址属于工作区还是备用区,若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块为坏块,则目标物理地址等于所述备用区最高位地址减去所述偏移地址;
所述NAND Flash控制模块用于:根据所述操作指令对NAND Flash存储阵列中所述目标物理地址对应的目标存储块进行操作;
所述坏块管理模块用于:检验所述目标存储块的状态,若所述目标存储块为坏块,
对目标存储块进行操作之后判断目标逻辑地址属于工作区还是备用区,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为好块,则将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为替换块,在映射表中修改该替换块的块状态标识为已用好块,将该替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为坏块,则先在映射表中将当前替换块的块状态标识修改为坏块,再将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为新替换块,在映射表中修改该新替换块的块状态标识为已用好块,将该新替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址写入映射表。
作为一种优选方案,所述MRAM控制模块还用于:若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址;
若所述目标逻辑地址属于备用区,判断所述目标逻辑地址对应的块状态标识是否为未用好块;若为未用好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址。
作为一种优选方案,所述指令解析模块,MRAM控制模块,坏块管理模块,NANDFlash控制模块为大规模可编程阵列。
作为一种优选方案,所述坏块管理模块还用于:若目标逻辑地址属于映射表的备用区,则在映射表中将该目标逻辑地址对应的块状态标识修改为坏块。
与现有技术相比,本发明具有如下的有益效果:
相对于现有技术中标记坏块位表法本发明明显具有响应速度快的优势,现有技术中标记坏块位表法需要查询坏块位表才能获知坏块的具体位置,降低了响应速度,而本发明通过映射表中块状态标识能在得到逻辑地址之后快速获知该逻辑地址指向的存储块的情况,无需进行额外的查询。相对于现有技术中坏块保留替换法中物理地址直接映射的方法,本发明仅仅需要在映射表中的工作区坏块存储偏移地址,减少了存储资源消耗,且通过坏块管理模块对映射表的实时更新保证了工作区存储块的可用性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍,显而易见,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。附图中:
图1是一种可选的NAND Flash坏块管理方法流程示意图;
图2是一种可选的NAND Flash坏块管理系统功能示意框图;
图3是另一种可选的NAND Flash坏块管理方法流程示意图。
具体实施方式
下文结合附图以具体实施例的方式对本发明进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本发明,但不以任何形式限制本发明。应当指出的是,还可以使用其他的实施例,或者对本文列举的实施例进行结构和功能上的修改,而不会脱离本发明的范围和实质。
相对于现有技术中标记坏块位表法本发明明显具有响应速度快的优势,现有技术中标记坏块位表法需要查询坏块位表才能获知坏块的具体位置,降低了响应速度,而本发明通过映射表中块状态标识能在得到逻辑地址之后快速获知该逻辑地址指向的存储块的情况,无需进行额外的查询。相对于现有技术中坏块保留替换法中物理地址直接映射的方法,本发明仅仅需要在映射表中的工作区坏块存储偏移地址,减少了存储资源消耗,且通过坏块管理模块对映射表的实时更新保证了工作区存储块的可用性。本发明算法简单,能够避免存储器操作中因管理算法复杂而对存取速度产生的影响。由于判定存储器坏块管理方法优良的主要因素就在于数据的存取速度、系统的资源占用量以及管理算法的复杂程度,本发明相比较现有技术具有明显的优势。
在本发明提供的一种NAND Flash坏块管理方法的实施例中,如图1所示,包括:
步骤1,建立NAND Flash存储阵列中存储块与逻辑地址对应关系的映射表,且所述映射表中的逻辑地址都对应配置有块状态标识,所述映射表中逻辑地址分为工作区和备用区,所述块状态标识为坏块的工作区逻辑地址还配置有偏移地址;
步骤2,接收外部指令解析获得操作指令和目标逻辑地址;
步骤3,判断所述目标逻辑地址属于工作区还是备用区,若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块为坏块,则目标物理地址等于所述备用区最高位地址减去所述偏移地址;
步骤4,根据所述操作指令对所述目标物理地址对应的目标存储块进行操作;
步骤5,检验所述目标存储块的状态,若所述目标存储块为坏块;
步骤6,判断目标逻辑地址属于工作区还是备用区,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为好块,则将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为替换块,在映射表中修改该替换块的块状态标识为已用好块,将该替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表中所述目标逻辑地址对应的物理地址和块状态标识,返回步骤2,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为坏块,则先在映射表中将当前替换块的块状态标识修改为坏块,再将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为新替换块,在映射表中修改该新替换块的块状态标识为已用好块,将该新替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址写入映射表中所述目标逻辑地址对应的物理地址和块状态标识,返回步骤2。
步骤1中所述映射表中工作区的逻辑地址设置为小于所述备用区的逻辑地址。从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为新替换块,即是从远离工作区的地址开始顺序取好块,避免和降低在接近工作区的地址取好块而由可能出现的操作失误带来的影响。
本发明主要保护对坏块的管理方法,和遇到坏块的数据存取方式。步骤3还包括:若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址。若所述目标逻辑地址属于备用区,判断所述目标逻辑地址对应的块状态标识是否为未用好块;若为已用块或坏块,则返回步骤2;若为未用好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址。目标逻辑地址属于备用区的情况可能为指令的输入有误,因此若为已用块或坏块,不对备用区块进行任何操作,也不对映射表进行操作。
步骤6还包括:若目标逻辑地址属于映射表的备用区,则在映射表中将该目标逻辑地址对应的块状态标识修改为坏块。由于备用区仅仅有块状态标识,而无偏移地址,因此仅需要对块该备用区块本身对应的块状态做修改,其不存在替换块的变更。
步骤5中检验所述目标存储块的状态的过程包括:
在所述目标存储块检测纠错码错误的数量超过预设阈值时,或
在所述目标存储块檫除或编程结束后检测到NAND Flash状态寄存器中D0位为1时,
确定所述目标存储块为坏块。
基于同一发明构思,本发明提出了一种NAND Flash坏块管理系统,如图2所示,包括:MRAM,指令解析模块,MRAM控制模块,坏块管理模块,NAND Flash控制模块,NAND Flash存储阵列;
所述MRAM用于:存储一NAND Flash存储阵列中存储块与逻辑地址对应关系的映射表,且所述映射表中的逻辑地址都对应配置有块状态标识,所述映射表中逻辑地址分为工作区和备用区,所述块状态标识为坏块的工作区逻辑地址还配置有偏移地址,工作区的块状态标识用1位表示,备用区的块状态标识用独特码表示;
所述指令解析模块用于:接收外部指令解析获得操作指令和目标逻辑地址;
所述MRAM控制模块用于:判断所述目标逻辑地址属于工作区还是备用区,若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块为坏块,则目标物理地址等于所述备用区最高位地址减去所述偏移地址;
所述NAND Flash控制模块用于:根据所述操作指令对NAND Flash存储阵列中所述目标物理地址对应的目标存储块进行操作;
所述坏块管理模块用于:检验所述目标存储块的状态,若所述目标存储块为坏块,
对目标存储块进行操作之后判断目标逻辑地址属于工作区还是备用区,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为好块,则将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为替换块,在映射表中修改该替换块的块状态标识为已用好块,将该替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表中所述目标逻辑地址对应的物理地址和块状态标识,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为坏块,则先在映射表中将当前替换块的块状态标识修改为坏块,再将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为新替换块,在映射表中修改该新替换块的块状态标识为已用好块,将该新替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址写入映射表中所述目标逻辑地址对应的物理地址和块状态标识。
所述MRAM控制模块还用于:若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址;
若所述目标逻辑地址属于备用区,判断所述目标逻辑地址对应的块状态标识是否为未用好块;若为未用好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址。
所述指令解析模块,MRAM控制模块,坏块管理模块,NAND Flash控制模块都是可编程阵列(FPGA)。本发明解决了NAND Flash存储阵列坏块扩散和快速映射,减少了有效块的检索时间,降低了内存资源需求。本实施例采用FPGA处理结构,提高了处理实时性和系统集成度,降低了硬件设计需求,适于航天、航空领域NAND Flash型大容量固态存储设备。
所述坏块管理模块还用于:若目标逻辑地址属于映射表的备用区,则在映射表中将该目标逻辑地址对应的块状态标识修改为坏块。
以下提供一种实施例,该实施例的目的在于提供一种基于FPGA的NAND Flash坏块管理系统,解决了NAND Flash存储阵列坏块扩散和需要快速映射的问题,减少了有效块的检索时间,降低了内存资源需求。
为了实现上述目的,本实施例提供了一种基于FPGA的NAND Flash坏块管理系统,该系统包括控制组件和用以数据存储的NAND Flash存储阵列及存储地址映射表的MRAM;所述控制组件包括指令解析模块、坏块管理模块、MRAM控制模块和NAND Flash控制模块;
其中,指令解析模块用以,接收控制指令并完成指令解析,根据逻辑地址读取地址映射表中的数据;
MRAM控制模块用以,根据指令解析模块指令和逻辑地址,读取或写入MRAM数据。MRAM(Magnetic Random Access Memory)是一种非挥发性的磁性随机存储器,本实施例中用于存储映射表。
坏块管理模块用以:根据目标逻辑地址和映射表中的块状态标识、偏移地址获得目标物理地址。当逻辑地址位于工作区内时,如果块标识为好块(数据最高位),则目标物理地址等于目标逻辑地址;如果块状态标识为坏块(用数据最高位标识,0为好块,1为坏块),则目标物理地址等于NNAD Flash总块数(最高位地址)减去偏移地址。当目标逻辑地址位于备用区内时,则物理地址等于逻辑地址,如果数据标识是坏块,则跳过本次操作。
坏块管理模块还用以:在完成指令操作后对已操作的块进行存储块检验,接收NANDFlash控制模块的块状态,如果是坏块,则从备用区尾部(最高位地址)检索一个未用的好块,判断当前目标逻辑地址中对应块标识是否是好块,
如果是好块,则将坏块标识和偏移地址写入目标逻辑地址对应的映射表中,并将备用区对应地址写入“已用好块”标识;
如果是坏块,首先将对应物理地址(即当前的替换块)的块状态标识修改为“坏块”,然后则将新替换块的偏移地址写入目标逻辑地址对应的映射表中,并将备用区新替换块对应地址的块状态写入“已用好块”标识。
MRAM控制模块用以,根据坏块管理模块的指令和目标逻辑地址,读取或写入MRAM存储的映射表;
NAND Flash控制模块用以,根据目标物理地址和指令执行相应的擦除、和/或记录、和/或回放操作。
以下结合图3所示的一种流程图对本发明进一步详细说明。
如附图3所示的本发明提出的一种基于FPGA的NAND Flash坏块管理方法的一较佳实施例的流程框图,包括以下几个步骤:
S1,状态初始化后或者操作结束后进入空闲状态,等待新的操作指令。
S2,接收总线指令及解析,获取指令和目标逻辑地址。
S3,读取映射表中的数据,如果目标逻辑地址大于工作区最大地址(工作区在前,备用区在后)时,映射表中数据为未用好块标识,则进入S4,否则进入S10状态;如果目标逻辑地址小于工作区最大地址(工作区在前,备用区在后)时,映射表中数据最高位为好块标识,则进入S4,否则进入S5状态。
S4,计算目标物理地址等于目标逻辑地址。
S5,计算目标物理地址等于块总数减去偏移地址
S6,存储阵列根据指令和计算所得的目标物理地址进行擦除、存储和回读,操作完毕进入S7状态。
S7,确定存储阵列块状态,如果发生坏块,且目标逻辑地址大于工作区最大地址,则进入S8状态;如果发生坏块且目标逻辑地址小于工作区最大地址,且映射数据最高位为好块标记,则进入S9状态;如果发生坏块且目标逻辑地址小于工作区最大地址,且映射数据最高位为坏块标记,则进入S8状态。
S8,将备用区地址数据重新标识为坏块,如果目标逻辑地址小于工作区最大地址,则进入S9状态,否则进入S10状态。
S9,重新检索备用区,获取未用好块,标记为“已用好块”;同时将新的偏移地址写入目标逻辑地址对应的数据中。
S10,流程结束,退出至S1状态,等待下一次操作。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,本领域技术人员知悉,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,可以对这些特征和实施例进行各种改变或等同替换。另外,在本发明的教导下,可以对这些特征和实施例进行修改以适应具体的情况及材料而不会脱离本发明的精神和范围。因此,本发明不受此处所公开的具体实施例的限制,所有落入本申请的权利要求范围内的实施例都属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种NAND Flash坏块管理方法,其特征在于,包括:
步骤1,建立NAND Flash存储阵列中存储块与逻辑地址对应关系的映射表,且所述映射表中的逻辑地址都对应配置有块状态标识,所述映射表中逻辑地址分为工作区和备用区,所述块状态标识为坏块的工作区逻辑地址还配置有偏移地址;
步骤2,接收外部指令解析获得操作指令和目标逻辑地址;
步骤3,判断所述目标逻辑地址属于工作区还是备用区,若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块为坏块,则目标物理地址等于所述备用区最高位地址减去所述偏移地址;
步骤4,根据所述操作指令对所述目标物理地址对应的目标存储块进行操作;
步骤5,检验所述目标存储块的状态,若所述目标存储块为坏块;
步骤6,判断目标逻辑地址属于工作区还是备用区,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为好块,则将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为替换块,在映射表中修改该替换块的块状态标识为已用好块,将该替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表,返回步骤2,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为坏块,则先在映射表中将当前替换块的块状态标识修改为坏块,再将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为新替换块,在映射表中修改该新替换块的块状态标识为已用好块,将该新替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址写入映射表中,返回步骤2。
2.根据权利要求1所述的一种NAND Flash坏块管理方法,其特征在于,步骤1中所述映射表中工作区的逻辑地址设置为小于所述备用区的逻辑地址。
3.根据权利要求1所述的一种NAND Flash坏块管理方法,其特征在于,步骤3还包括:若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址。
4.根据权利要求1所述的一种NAND Flash坏块管理方法,其特征在于,步骤3还包括:若所述目标逻辑地址属于备用区,判断所述目标逻辑地址对应的块状态标识是否为未用好块;
若为已用块或坏块,则返回步骤2;
若为未用好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址。
5.根据权利要求1所述的一种NAND Flash坏块管理方法,其特征在于,步骤6还包括:若目标逻辑地址属于映射表的备用区,则在映射表中将该目标逻辑地址对应的块状态标识修改为坏块。
6.根据权利要求1所述的一种NAND Flash坏块管理方法,其特征在于,步骤5中检验所述目标存储块的状态的过程包括:
在所述目标存储块检测纠错码错误的数量超过预设阈值时,或
在所述目标存储块檫除或编程结束后检测到NAND Flash状态寄存器中D0位为1时,
确定所述目标存储块为坏块。
7.一种NAND Flash坏块管理系统,其特征在于,包括:MRAM,指令解析模块,MRAM控制模块,坏块管理模块,NAND Flash控制模块,NAND Flash存储阵列;
所述MRAM用于:存储一NAND Flash存储阵列中存储块与逻辑地址对应关系的映射表,且所述映射表中的逻辑地址都对应配置有块状态标识,所述映射表中逻辑地址分为工作区和备用区,所述块状态标识为坏块的工作区逻辑地址还配置有偏移地址;
所述指令解析模块用于:接收外部指令解析获得操作指令和目标逻辑地址;
所述MRAM控制模块用于:判断所述目标逻辑地址属于工作区还是备用区,若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块为坏块,则目标物理地址等于所述备用区最高位地址减去所述偏移地址;
所述NAND Flash控制模块用于:根据所述操作指令对NAND Flash存储阵列中所述目标物理地址对应的目标存储块进行操作;
所述坏块管理模块用于:检验所述目标存储块的状态,若所述目标存储块为坏块,
对目标存储块进行操作之后判断目标逻辑地址属于工作区还是备用区,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为好块,则将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为替换块,在映射表中修改该替换块的块状态标识为已用好块,将该替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表,
若目标逻辑地址属于工作区,且对应映射表中块状态标识为坏块,则先在映射表中将当前替换块的块状态标识修改为坏块,再将从备用区最高位向低位顺序第一个块状态标识为未用好块的存储块作为新替换块,在映射表中修改该新替换块的块状态标识为已用好块,将该新替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址写入映射表。
8.根据权利要求7所述的一种NAND Flash坏块管理系统,其特征在于,所述MRAM控制模块还用于:若所述目标逻辑地址属于工作区,且根据所述块状态标识确定所述存储块好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址;
若所述目标逻辑地址属于备用区,判断所述目标逻辑地址对应的块状态标识是否为未用好块;若为未用好块,则目标物理地址等于目标逻辑地址。
9.根据权利要求7所述的一种NAND Flash坏块管理系统,其特征在于,所述指令解析模块,MRAM控制模块,坏块管理模块,NAND Flash控制模块为大规模可编程阵列。
10.根据权利要求7所述的一种NAND Flash坏块管理系统,其特征在于,所述坏块管理模块还用于:若目标逻辑地址属于映射表的备用区,则在映射表中将该目标逻辑地址对应的块状态标识修改为坏块。
CN201611040185.4A 2016-11-11 2016-11-11 一种NAND Flash坏块管理方法及系统 Active CN106776359B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611040185.4A CN106776359B (zh) 2016-11-11 2016-11-11 一种NAND Flash坏块管理方法及系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611040185.4A CN106776359B (zh) 2016-11-11 2016-11-11 一种NAND Flash坏块管理方法及系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106776359A true CN106776359A (zh) 2017-05-31
CN106776359B CN106776359B (zh) 2020-03-17

Family

ID=58973739

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611040185.4A Active CN106776359B (zh) 2016-11-11 2016-11-11 一种NAND Flash坏块管理方法及系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106776359B (zh)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107291625A (zh) * 2017-06-19 2017-10-24 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 一种用于Nand Flash的指针式逻辑地址映射表实现方法
CN107992430A (zh) * 2017-12-20 2018-05-04 北京京存技术有限公司 闪存芯片的管理方法、装置及计算机可读存储介质
CN109445715A (zh) * 2018-11-09 2019-03-08 郑州云海信息技术有限公司 一种组合块的坏块处理方法及装置
CN110287068A (zh) * 2019-07-04 2019-09-27 四川长虹空调有限公司 一种NandFlash驱动方法
CN111722808A (zh) * 2020-06-22 2020-09-29 北京卫星环境工程研究所 一种用于星上载荷的存储处理方法、处理装置及处理器
CN112181274A (zh) * 2019-07-01 2021-01-05 北京忆恒创源科技有限公司 提升存储设备性能稳定性的大块的组织方法及其存储设备
CN112527201A (zh) * 2020-12-11 2021-03-19 成都佰维存储科技有限公司 Ssd坏块替换方法、装置、可读存储介质及电子设备
CN113253934A (zh) * 2021-05-28 2021-08-13 深圳市汇春科技股份有限公司 Flash坏块处理方法、装置、计算机设备和可读存储介质
CN115495025A (zh) * 2022-11-18 2022-12-20 合肥康芯威存储技术有限公司 一种管理异常存储块的方法和装置
CN115629720A (zh) * 2022-12-20 2023-01-20 鹏钛存储技术(南京)有限公司 基于闪存为介质的存储设备上的非对称条带化方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110078363A1 (en) * 2009-09-30 2011-03-31 Phison Electronics Corp. Block management method for a flash memory and flash memory controller and storage system using the same
CN102737715A (zh) * 2011-04-02 2012-10-17 航天信息股份有限公司 用于nor闪存的数据掉电保护方法
US20120262815A1 (en) * 2011-04-15 2012-10-18 Lsi Corporation Method and system for dynamically expandable software based bad block management
CN102779096A (zh) * 2012-07-11 2012-11-14 山东华芯半导体有限公司 一种基于页块面三维的闪存地址映射方法
CN105740163A (zh) * 2016-01-29 2016-07-06 山东鲁能智能技术有限公司 一种Nand Flash坏块管理方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110078363A1 (en) * 2009-09-30 2011-03-31 Phison Electronics Corp. Block management method for a flash memory and flash memory controller and storage system using the same
CN102737715A (zh) * 2011-04-02 2012-10-17 航天信息股份有限公司 用于nor闪存的数据掉电保护方法
US20120262815A1 (en) * 2011-04-15 2012-10-18 Lsi Corporation Method and system for dynamically expandable software based bad block management
CN102779096A (zh) * 2012-07-11 2012-11-14 山东华芯半导体有限公司 一种基于页块面三维的闪存地址映射方法
CN105740163A (zh) * 2016-01-29 2016-07-06 山东鲁能智能技术有限公司 一种Nand Flash坏块管理方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
林刚: "NAND_Flash坏块管理算法及逻辑层驱动设计", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107291625B (zh) * 2017-06-19 2020-06-09 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 一种用于Nand Flash的指针式逻辑地址映射表实现方法
CN107291625A (zh) * 2017-06-19 2017-10-24 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 一种用于Nand Flash的指针式逻辑地址映射表实现方法
CN107992430A (zh) * 2017-12-20 2018-05-04 北京京存技术有限公司 闪存芯片的管理方法、装置及计算机可读存储介质
CN109445715A (zh) * 2018-11-09 2019-03-08 郑州云海信息技术有限公司 一种组合块的坏块处理方法及装置
CN109445715B (zh) * 2018-11-09 2022-02-18 郑州云海信息技术有限公司 一种组合块的坏块处理方法及装置
CN112181274A (zh) * 2019-07-01 2021-01-05 北京忆恒创源科技有限公司 提升存储设备性能稳定性的大块的组织方法及其存储设备
CN112181274B (zh) * 2019-07-01 2023-06-20 北京忆恒创源科技股份有限公司 提升存储设备性能稳定性的大块的组织方法及其存储设备
CN110287068B (zh) * 2019-07-04 2023-02-28 四川长虹空调有限公司 一种NandFlash驱动方法
CN110287068A (zh) * 2019-07-04 2019-09-27 四川长虹空调有限公司 一种NandFlash驱动方法
CN111722808A (zh) * 2020-06-22 2020-09-29 北京卫星环境工程研究所 一种用于星上载荷的存储处理方法、处理装置及处理器
CN112527201A (zh) * 2020-12-11 2021-03-19 成都佰维存储科技有限公司 Ssd坏块替换方法、装置、可读存储介质及电子设备
CN112527201B (zh) * 2020-12-11 2022-08-09 成都佰维存储科技有限公司 Ssd坏块替换方法、装置、可读存储介质及电子设备
CN113253934A (zh) * 2021-05-28 2021-08-13 深圳市汇春科技股份有限公司 Flash坏块处理方法、装置、计算机设备和可读存储介质
CN115495025A (zh) * 2022-11-18 2022-12-20 合肥康芯威存储技术有限公司 一种管理异常存储块的方法和装置
CN115629720A (zh) * 2022-12-20 2023-01-20 鹏钛存储技术(南京)有限公司 基于闪存为介质的存储设备上的非对称条带化方法
CN115629720B (zh) * 2022-12-20 2023-07-28 鹏钛存储技术(南京)有限公司 基于闪存为介质的存储设备上的非对称条带化方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN106776359B (zh) 2020-03-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106776359A (zh) 一种NAND Flash坏块管理方法及系统
CN105740163A (zh) 一种Nand Flash坏块管理方法
CN101957796A (zh) 存储系统及信息处理设备
CN106484316A (zh) 用来管理一记忆装置的方法以及记忆装置与控制器
CN101038531A (zh) 用于嵌入式系统中部件的共用接口
CN104571938A (zh) 在多层单元存储器存取数据的方法及其多层单元存储装置
CN111596860B (zh) 一种提高nand-flash存储可靠性的fpga控制方法
CN102298543A (zh) 一种存储器管理方法和装置
CN109117383A (zh) 管理闪存模块的方法和闪存控制器
CN103247345A (zh) 快闪存储器及快闪存储器失效存储单元检测方法
CN101777024A (zh) 数据移动方法及系统
WO2024036985A1 (zh) 存储系统及其计算存储处理器、固体硬盘和数据读写方法
CN103208314A (zh) 嵌入式系统的内存测试方法及嵌入式系统
CN106201902A (zh) 一种sram位元与非易失性存储位元组成的复合阵列模块及其读写控制方法
CN113602152A (zh) 一种车辆停车控制方法及装置
CN103377135B (zh) 寻址方法、装置及系统
CN101944011B (zh) 运行程序的装置、芯片和方法
US9311234B2 (en) Method for reliably addressing a large flash memory and flash memory
US20080181008A1 (en) Flash memory system capable of improving access performance and access method thereof
US20180052635A1 (en) Electronic control apparatus and information storage method for the same
CN103389893A (zh) 一种配置寄存器读写方法及装置
CN105718328B (zh) 存储器坏区的数据备份方法及系统
CN101901192B (zh) 一种片上和片外数据对象静态分配方法
CN114281251B (zh) 面向3d tlc闪存存储器的数据分配与重编程优化方法
CN109947364A (zh) 一种用于flash/eeprom中的实时数据存储方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Address after: 201109 Minhang District, Shanghai Road, No. 1777 spring

Applicant after: Shanghai Spaceflight Institute of TT&C And Telecommunication

Address before: 200080 Shanghai city Hongkou District street Xingang Tianbao Road No. 881

Applicant before: Shanghai Spaceflight Institute of TT&C And Telecommunication

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant