CN106685423A - 模数转换器静态参数正弦波测试方法 - Google Patents

模数转换器静态参数正弦波测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106685423A
CN106685423A CN201611024103.7A CN201611024103A CN106685423A CN 106685423 A CN106685423 A CN 106685423A CN 201611024103 A CN201611024103 A CN 201611024103A CN 106685423 A CN106685423 A CN 106685423A
Authority
CN
China
Prior art keywords
analog
digital
digital converter
sine wave
adc
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201611024103.7A
Other languages
English (en)
Inventor
许伟达
徐导进
刘伟
潘潇雨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHANGHAI INSTITUTE OF AEROSPACE INFORMATION
Shanghai Academy of Spaceflight Technology SAST
Original Assignee
SHANGHAI INSTITUTE OF AEROSPACE INFORMATION
Shanghai Academy of Spaceflight Technology SAST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHANGHAI INSTITUTE OF AEROSPACE INFORMATION, Shanghai Academy of Spaceflight Technology SAST filed Critical SHANGHAI INSTITUTE OF AEROSPACE INFORMATION
Priority to CN201611024103.7A priority Critical patent/CN106685423A/zh
Publication of CN106685423A publication Critical patent/CN106685423A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10Calibration or testing
    • H03M1/1071Measuring or testing
    • H03M1/109Measuring or testing for dc performance, i.e. static testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

本发明的模数转换器静态参数正弦波测试方法,包括:1)以正弦波输入待测模数转换器,采集待测模数转换器输出的数字码j,统计各数字码的出现次数,记为Pactual(j),Pactual(j)为采集到数字码j的出现次数;2)计算数字码j分布的概率密度P[j];3)根据计算待测模数转换器的差分非线性误差DNLj(LSB)和积分非线性误差INLj(LSB)。

Description

模数转换器静态参数正弦波测试方法
技术领域
本发明涉及模数转换器静态参数的测试,具体涉及一种模数转换器静态参数正弦波测试方法。
背景技术
测试高速模数转换器ADC是最具有挑战性的任务之一,而ADC的差分线性误差DNL和积分线性误差INL是用来描述ADC静态特性中每一个转换编码正确性的参数,在各个应用领域中都有非常重要作用。
现有技术中,使用线性斜波信号作为测试输入,这种测试方法可以降低测试复杂性,但高线性度的斜波信号不易产生,需要低损耗及低介电吸收电容组成精确整合电路,而且测试时间相对较长。
发明内容
本发明的目的在于提供一种模数转换器静态参数正弦波测试方法,测试速度快、精度高。
为了达到上述的目的,本发明提供一种模数转换器静态参数正弦波测试方法,包括:
1)以正弦波输入待测模数转换器,采集待测模数转换器输出的数字码j,统计各数字码的出现次数,记为Pactual(j),Pactual(j)为采集到数字码j的出现次数;
2)计算数字码j分布的概率密度P[j];
3)待测模数转换器的差分非线性误差DNLj(LSB)和积分非线性误差INLj(LSB)为
其中,
N为待测模数转换器的分辨率,FS为待测模数转换器的满量程值,A为正弦波幅度。
上述模数转换器静态参数正弦波测试方法,其中,正弦波的幅度大于待测模数转换器的的满量程。
与现有技术相比,本发明的技术效果是:
本发明用高性能的正弦波发生器产生正弦波去精确测量ADC静态参数,提高了测试精度,并解决了斜波测试时间相对较长的问题。
附图说明
本发明的模数转换器静态参数正弦波测试方法由以下的实施例及附图给出。
图1是本发明较佳实施例中测试模数转换器ADC静态参数电路示意图。
图2是正弦波示意图。
图3是正弦波电压在V1到V2之间出现的概率示意图。
图4是正弦波电压分布的概率密度曲线图。
图5是正弦波及数字码分布的概率密度示意图。
具体实施方式
以下将结合图1~图5对本发明的模数转换器静态参数正弦波测试方法作进一步的详细描述。
图1所示为本发明较佳实施例中测试模数转换器ADC静态参数电路示意图。如图1所示,本发明以正弦波作为激励信号源,即测试输入,模数转换器ADC输出数字码(例如,0,1,2,...,2n-1),以ADC输出的数字码及其出现次数为坐标可得到数字码出现次数分布曲线图。本发明采用高性能正弦波发生器产生正弦波去精确测试ADC静态参数,所述静态参数包括差分非线性误差DNL和积分非线性误差INL。
图2所示为正弦波示意图。如图2所示,正弦波可表示为:
V(t)=Asin(2πft+B)+C (1)
其中,V(t)为电压,A为幅度,B为相位,C为偏差,f为频率,t为时间。
将公式(1)转变为计算时间,如下:
如图3所示,正弦波的频率为f,在1/f这个时间范围内,电压从-A+C到A+C,在t1和t2两个时间点,电压值分别为V1和V2,则正弦波电压在V1到V2之间出现的概率P为:
正弦波电压分布的概率密度为浴盆曲线,如图4所示。
为实现正常覆盖所有码的测试,正弦波的幅度必须大于ADC的满量程。假设ADC的满量程范围为则2A>FS,(A+C)>FS/2,(-A+C)<(-FS/2),FS/2代表-FS/2代表Q0,如图5所示。
参见图5,利用公式(3)计算数字码分布的概率密度,如下:
当正弦波的电压小于Lm0,ADC输出的数字码为0,用P[0]代表数字码0出现的概率,有
当正弦波的电压位于Lmi-1和Lmi之间,ADC输出的数字码为i,用P[i]代表数字码i出现的概率,有
当正弦波的电压大于ADC输出的数字码为(2n-1),用P[2n-1]代表数字码(2n-1)出现的概率,有
其中,Lmi-1和Lmi均在范围内,Lm0均在范围内,且
综上所述,数字码分布的概率密度为:
推导出DNLj(LSB)和INLj(LSB)分别为:
其中,Pactual(j)为实际捕获到数字码j的出现次数,DNLk(LSB)表示第k个数字码的差分非线性误差,k=0,1,…,2n-1,第k个数字码的码值为k。
公式(8)和公式(9)采用直方图统计方法计算ADC的静态参数(差分非线性误差DNL和积分非线性误差INL),达到测试ADC静态性能的目的。
本实施例以正弦波作测试输入,计算数字码分布的概率密度,再由直方图方法计算ADC的静态参数(即由获得DNLj(LSB)和INLj(LSB))。
采用公式(8)和公式(9)计算ADC的静态参数时,ADC输出数据采集量与ADC的分辨率N、测试结果希望的可信度Zα/2以及DNL误差β有关。例如,10位ADC,DNL误差β在0.1LSB,并且有95%可信度Zα/2,采样的数据量要求超过500K:
NRECORD=[π×2N-1×(Zα/2)2]/β2=[π×29×(1.96)2]/(0.1)2=617,920
即采样数据量可能较大。
另外,采用公式(8)和公式(9)计算ADC的静态参数,测试结果与正弦波的幅度、相位、偏差有关,与噪声、时钟抖动、ADC的hysteresis有关,还需要测试设备模拟与数字精确同步,即测试条件要求较高。
本发明还提供一种采用累积直方图统计法计算DNLj(LSB)和INLj(LSB),对数据采集量和测试条件要求较低,如下:
首先需要确定ADC的偏置误差及每个电压转换点。ADC的偏置误差可以从采样数据中找,总采样数据Nrecord等于正的采样数Nrecord[+]加负的采样数Nrecord[-],有
其中,N为ADC的分辨率。
Voffset=0.5×A×π×sin[(Nrecord[+]-Nrecord[-])/(Nrecord[+]+Nrecord[-])] (12)
其中,Voffset为ADC的偏置误差,即电压起始点。
有了计算得到的ADC的偏置误差,电压转换点或称码边沿Vj可以通过以下数学表达式计算:
已知电压转换点或称码边沿Vj,DNLj(LSB)和INLj(LSB)计算公式如下:
DNLj(LSB)=(Vj+1-Vj)×(2N/FS) (14)
其中,FS为ADC的满量程值,N为ADC的分辨率。

Claims (2)

1.模数转换器静态参数正弦波测试方法,其特征在于,包括:
1)以正弦波输入待测模数转换器,采集待测模数转换器输出的数字码j,统计各数字码的出现次数,记为Pactual(j),Pactual(j)为采集到数字码j的出现次数;
2)计算数字码j分布的概率密度P[j];
3)待测模数转换器的差分非线性误差DNLj(LSB)和积分非线性误差INLj(LSB)为
DNL j ( L S B ) = ( V j + 1 - V j ) × ( 2 N / F S ) INL j ( L S B ) = Σ k = 0 j DNL k ( L S B )
其中,
P a c t u a l k t h c o d e = P a c t u a l ( k ) P [ k ] ,
N为待测模数转换器的分辨率,FS为待测模数转换器的满量程值,A为正弦波幅度,第k个数字码的码值为k。
2.如权利要求1所述的模数转换器静态参数正弦波测试方法,其特征在于,正弦波的幅度大于待测模数转换器的的满量程。
CN201611024103.7A 2016-11-18 2016-11-18 模数转换器静态参数正弦波测试方法 Pending CN106685423A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611024103.7A CN106685423A (zh) 2016-11-18 2016-11-18 模数转换器静态参数正弦波测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611024103.7A CN106685423A (zh) 2016-11-18 2016-11-18 模数转换器静态参数正弦波测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106685423A true CN106685423A (zh) 2017-05-17

Family

ID=58866567

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611024103.7A Pending CN106685423A (zh) 2016-11-18 2016-11-18 模数转换器静态参数正弦波测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106685423A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109672447A (zh) * 2018-12-24 2019-04-23 成都华微电子科技有限公司 高精度模数转化器的积分非线性参数测试方法
CN115882858A (zh) * 2023-03-03 2023-03-31 南京派格测控科技有限公司 模数转换芯片微分非线性的测量方法、装置、电子设备

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004088515A (ja) * 2002-08-27 2004-03-18 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Adcの検査方法及び検査装置
CN102324935A (zh) * 2011-07-15 2012-01-18 苏州博联科技有限公司 一种基于过零检测的数模转换器静态测试方法及系统
CN102723950A (zh) * 2012-07-03 2012-10-10 航天科工防御技术研究试验中心 一种模数转换器非线性参数测试适配器及测试方法
CN103067009A (zh) * 2012-12-27 2013-04-24 东南大学 高精度数模转换器测试系统
CN105471431A (zh) * 2015-12-09 2016-04-06 上海精密计量测试研究所 一种测试模数转换器差分线性误差和积分线性误差的方法
CN105988077A (zh) * 2015-02-06 2016-10-05 中国科学院微电子研究所 内建自测试方法、装置及片上系统

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004088515A (ja) * 2002-08-27 2004-03-18 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Adcの検査方法及び検査装置
CN102324935A (zh) * 2011-07-15 2012-01-18 苏州博联科技有限公司 一种基于过零检测的数模转换器静态测试方法及系统
CN102723950A (zh) * 2012-07-03 2012-10-10 航天科工防御技术研究试验中心 一种模数转换器非线性参数测试适配器及测试方法
CN103067009A (zh) * 2012-12-27 2013-04-24 东南大学 高精度数模转换器测试系统
CN105988077A (zh) * 2015-02-06 2016-10-05 中国科学院微电子研究所 内建自测试方法、装置及片上系统
CN105471431A (zh) * 2015-12-09 2016-04-06 上海精密计量测试研究所 一种测试模数转换器差分线性误差和积分线性误差的方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
王战飞: "模-数转换器测试技术的研究", 《中国优秀博硕士学位论文全文数据库-信息科技辑》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109672447A (zh) * 2018-12-24 2019-04-23 成都华微电子科技有限公司 高精度模数转化器的积分非线性参数测试方法
CN115882858A (zh) * 2023-03-03 2023-03-31 南京派格测控科技有限公司 模数转换芯片微分非线性的测量方法、装置、电子设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Kuyel Linearity testing issues of analog to digital converters
CN103457603B (zh) 一种基于平均频谱测试adc动态参数的方法
CN109407501B (zh) 一种基于相关信号处理的时间间隔测量方法
CN106063132A (zh) 嵌入式装置的芯片上模数转换器(adc)线性度测试
Attivissimo et al. INL reconstruction of A/D converters via parametric spectral estimation
Jin et al. Linearity testing of precision analog-to-digital converters using stationary nonlinear inputs
CN106685423A (zh) 模数转换器静态参数正弦波测试方法
CN105471431A (zh) 一种测试模数转换器差分线性误差和积分线性误差的方法
Kook et al. Low-resolution DAC-driven linearity testing of higher resolution ADCs using polynomial fitting measurements
US9071260B2 (en) Method and related device for generating a digital output signal corresponding to an analog input signal
Linnenbrink et al. ADC testing
Fowler Part 7: analog-to-digital conversion in real-time systems
Max Ramp testing of ADC transition levels using finite resolution ramps
CN107800434A (zh) 一种基于参数提取的快速adc测试方法
Giaquinto et al. Testing and optimizing ADC performance: A probabilistic approach
Xu et al. ADC spectral testing allowing amplitude clipping
CN114844505A (zh) Adc静态参数测试方法及其在adc测试中的应用
Sheng et al. Predicting dynamic specifications of ADCs with a low-quality digital input signal
CN113114245A (zh) Adc参数测试中超量程输入与非相干采样下的信号恢复方法
US6281819B1 (en) Device for ENOB estimation for ADC's based on dynamic deviation and method therefor
Sahu et al. System level behavioral modeling of CORDIC based ORA of built-in-self-test for sigma-delta analog-to-digital converter
CN112311393A (zh) 一种基于j750的高压高精度模数转换器的测试装置及方法
Max et al. Enhanced ADC sine wave histogram test
CN114184839B (zh) 一种抑制信号源抖动的adc频谱测试方法
Zhou et al. A Residual-Remainder Coupled Unlimited Sampling Framework for High Dynamic Range Signal Conversion

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20170517