CN103457603B - 一种基于平均频谱测试adc动态参数的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于平均频谱测试ADC动态参数的方法。该方法基于ADC测试系统采集到的数字信号样本点来测试,包括以下步骤:初始化设置输入模拟信号源及采样时钟源的频率、谐波阶数、采集样本点组数和样本点大小;ADC性能测试程序接收采集的样本点,并对各组样本点分别进行预处理;选择合适的窗函数对指定样本点做截断处理;ADC性能测试程序对处理后的几组样本点分别进行FFT变换得到频谱图,并将得到的频谱图叠加求得平均频谱图;基于平均频谱图确定基波能量、谐波能量、直流能量及噪声能量,根据主要动态参数计算公式计算各项参数,并显示测试结果。本发明能快速、准确地检测ADC动态参数是否合格,有效抑制频谱泄露带来的测试误差。
Description
技术领域
本发明属于集成电路测试领域,具体涉及一种测试ADC动态参数的方法,特别涉及一种基于平均频谱测试ADC动态参数的方法。
背景技术
计算机、通信和微电子技术的高速发展,极大地促进了模数转换器(Analog-to-Converter,ADC)技术的发展。ADC作为模拟技术和数字技术的接口,广泛应用于工业控制、无线通信、医用设备、军事等领域。为了保证ADC的性能满足要求,ADC在出厂和投产前必须进行性能测试。ADC性能一般包括静态特性和动态特性,静态特性参数主要包括差分非线性度(Differential Non-Linearity,DNL)和积分非线性度(Integral Non-Linearity,INL),主要用来衡量传递函数对基准线的偏离。静态特性参数难以真实、完整地表征ADC的性能,而信噪比(Signal to Noise Ratio,SNR)、无杂散动态范围(Spurious-Free DynamicRange,SFDR)、总谐波失真(Total Harmonic Distortion,THD)、信号与噪声失真比(Signalto Noise And Distortion,SINAD)、有效位数(Effective Number of Bits,ENOB)等主要的动态特性参数能更好地表征ADC的性能。因此,对这些动态参数进行准确测试显得尤为重要。
快速傅里叶变换(Fast Fourier Transformation,FFT)法是常用的测试ADC动态参数的方法。它通过采样时钟控制输出数字信号的采集,然后进行FFT运算,得到诸如SNR等动态参数,具有直观、简便等优点。基于相干采样的FFT法是一种非常准确的高精度测试方法。但是,在测试过程中实现和稳定保持相干采样需要克服ADC芯片供电电源噪声和系统外围电路产生的噪声,提供高性能的正弦模拟输入信号和采样时钟,对正弦模拟输入信号的频率分辨率要求较高。因此,在实际测试系统中,非相干存在一定的必然性。对于频率为fi的正弦输入信号,其频谱不只是在fi处有离散谱,而是在以fi为中心的频带范围内都有谱线出现,信号的频率成分从fi频率上“泄露”到其他频率处,这就是频谱泄露。因此,实际测试系统的频谱泄露严重影响了ADC动态参数的测试。
有效抑制频谱泄露、提高ADC测试系统的性能是一个迫切需要解决的问题。目前已有多种方法能够降频谱泄露的影响,例如采用基于时-频域分别计算信号能量和噪声能量,但需要通过信号重构恢复测试信号,误差较大;也可以采用采样后相干的方法提高测试精度。然而,这些方法抑制频谱泄露的效果都不明显,且实现较为复杂。
发明内容
鉴于现有测试方法存在的不足,本发明的目的旨在提供一种基于平均频谱测试ADC动态参数的方法,能有效抑制非相干采样引起的频谱泄露对动态参数测试结果的影响,实现简单,成本低,通用性强。
本发明通过如下技术方案实现:
一种基于平均频谱测试ADC动态参数的方法,基于ADC测试系统采集到的数字信号样本点来测试,其特征在于其包括以下步骤:
步骤1:初始化设置输入模拟信号源的频率fi及采样时钟源的频率fs,谐波阶数H,预计采集样本点组数Z,样本点大小N,各组样本点大小相同且都为2的整数次幂;
步骤2:ADC性能测试程序接收采集的Z组样本点,得到数字信号样本数据x1(n)、x2(n)、...、xz(n),表达式分别为:
其中,n=0,1,2,...,N-1;H为谐波阶数;当h=1时,f(1,1)、f(2,1)、...、f(Z,1)为各组样本点基波的频率,A(1,1)、A(2,1)、...、A(Z,1)为各组样本点基波的幅值,为各组样本点基波的初相位;当h≠各时,f(1,h)、f(2,h)、...、f(Z,h)为ADC进行模数转换过程中芯片内部产生的各组样本点的第h次谐波的频率,A(1,h)、A(2,h)、...、A(Z,h)为ADC进行模数转换过程中芯片内部产生的各组样本点的第h次谐波的幅值,为ADC进行模数转换过程中芯片内部产生的各组样本点的第h次谐波的相位;
步骤3:ADC性能测试程序对上述的信号x1(n)、x2(n)、...、xz(n)加窗函数进行离散抽样,设所加窗函数的时域形式分别为w1(n)、w2(n)、...、wZ(n),其连续频谱分别为W1(2πf)、W2(2πf)、...、Wz(2πf),忽略负频点-f(1,h)、-f(2,h)、...、-f(Z,h)处信号的旁瓣影响,得到加窗后x1(n)、x2(n)、...、xz(n)的快速傅里叶变换的表达式分别为:
其中,Δf=fs/N为频率分辨率;
步骤4:ADC性能测试程序对各组样本点得到的频谱图叠加求平均频谱图,得到平均频谱图的表达式为:
步骤5:基于平均频谱图确定基波能量Psignal、谐波能量Phormonic、直流能量Pdc,;然后用平均频谱总能量减去基波能量、谐波能量、直流能量就可以得到噪声能量Pnoise;然后根据动态参数计算公式计算主要动态参数,包括信噪比(SNR)、信噪失真比(SINAD)、有效位数(ENOB)、无杂散动态范围(SFDR)和总谐波失真(THD),主要的动态参数计算公式分别为:
其中,H为谐波阶数,可根据具体情况决定进行选择。
附图说明
图1是ADC测试系统的示意图。
图2是基于平均频谱测试ADC动态参数算法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施案例对本发明作进一步的说明。本发明是一种基于平均频谱的ADC 动态测试方法,样本点来自于ADC测试系统。
如图1所示,ADC测试系统包括高性能信号源1、高性能时钟源2、被测ADC子板3、基于FPGA的采集控制平台4、高速接口5以及PC机6。其工作流程为:用高性能信号源1和高性能时钟源2输入到被测ADC子板3,基于FPGA的采集控制平台4采集被测ADC子板3输出的数字信号并通过高速接口5传输给PC机6,PC机6运行ADC性能测试程序并显示ADC动态参数测试结果。
附图2所示为本发明提供的测试ADC动态参数算法的流程图。本发明较佳实施例的基于平均频谱测试ADC动态参数的方法,其包括以下步骤:
步骤S110,执行初始化设置,设置采集样本组数以及样本点大小;设置信号源和时钟源的频率和幅值,为避免频谱混叠效应,应保证时钟源频率大于或等于信号源的两倍;确定谐波阶数,然后进入步骤S210;
步骤S210,对采集的第一组数字信号样本进行预处理,去掉无用的信息,然后进入步骤S220;
步骤S220,对预处理后的第一组数字信号样本选择合适的窗函数进行截断处理,进入步骤S230;
步骤S230,对截断后的采样数据进行FFT运算求得第一个频谱图,然后再对其他组的数据做同样的处理后得到第二个频谱图、第三个频谱图以及第n个频谱图之后进行步骤S(n+2)10;
步骤S(n+2)10,将n个频谱图叠加得到平均频谱图,进入步骤S(n+2)20;
步骤S(n+2)20,在平均频谱图的奈奎斯特区间求得幅度最大值,即为基波,确定基波对应的频点和能量以后进入步骤S(n+2)30;
步骤S(n+2)30,在谐波能量范围内根据平均频谱图确定各谐波频点并计算谐波能量,然后进入步骤S(n+2)40;
步骤S(n+2)40,计算直流能量,并根据直流能量、基波能量、谐波能量确定噪声能量,进入步骤S(n+2)50;
步骤S(n+2)50,根据SNR、SINAD、ENOB、SFDR和THD的计算公式求得各项主要的动态参数,并输出测试结果。
相比于现有方法,本发明具有如下有益效果:
1、测试系统实现和稳定保持相干采样难度很大,因此非相干存在一定的必然性,而本发明能抑制非相干带来的频谱泄露,优化和提高系统性能;
2、本发明是基于平均频谱测试ADC的动态参数,实现简单且成本低,测试精度高,通 用性强。
ADC是连接模拟世界和数字世界的桥梁,随着计算机、通信和微电子技术的发展,ADC的应用更加广泛,其性能好坏直接决定着整个电子系统的性能,对ADC的性能,特别是ADC的动态性能的测试与评估要求日益突出。因此,本发明提出的基于平均频谱测试ADC动态参数的方法具有很强的市场竞争力。
最后说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本发明技术方案的宗旨和范围,其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
Claims (1)
1.一种基于平均频谱测试ADC动态参数的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:初始化设置输入模拟信号源的频率fi及采样时钟源的频率fs,谐波阶数H,预计采集样本点组数Z,样本点大小N,各组样本点大小相同且都为2的整数次幂;
步骤2:ADC性能测试程序接收采集的Z组样本点,得到数字信号样本数据x1(n)、x2(n)、...、xZ(n),表达式分别为:
……
其中,n=0,1,2,...,N-1;H为谐波阶数;当h=1时,f(1,1)、f(2,1)、…、f(Z,1)为各组样本点基波的频率,A(1,1)、A(2,1)、…、A(Z,1)为各组样本点基波的幅值,为各组样本点基波的初相位;当h≠1时,f(1,h)、f(2,h)、…、f(Z,h)为ADC进行模数转换过程中芯片内部产生的各组样本点的第h次谐波的频率,A(1,h)、A(2,h)、…、A(Z,h)为ADC进行模数转换过程中芯片内部产生的各组样本点的第h次谐波的幅值,为ADC进行模数转换过程中芯片内部产生的各组样本点的第h次谐波的相位;
步骤3:ADC性能测试程序对上述的信号x1(n)、x2(n)、...、xZ(n)加窗函数进行离散抽样,设所加窗函数的时域形式分别为w1(n)、w2(n)、...、wZ(n),其连续频谱分别为W1(2πf)、W2(2πf)、...、WZ(2πf),忽略负频点-f(1,h)、-f(2,h)、...、-f(Z,h)处信号的旁瓣影响,得到加窗后x1(n)、x2(n)、...、xZ(n)的快速傅里叶变换的表达式分别为:
……
其中,Δf=fs/N为频率分辨率;
步骤4:ADC性能测试程序对各组样本点得到的频谱图叠加求平均频谱图,得到平均频谱图的表达式为:
步骤5:基于平均频谱图确定基波能量Psignal、谐波能量Phormonic、直流能量Pdc,;然后用平均频谱总能量减去基波能量、谐波能量、直流能量就可以得到噪声能量Pnoise;然后根据动态参数计算公式计算主要动态参数,包括信噪比(SNR)、信噪失真比(SINAD)、有效位数(ENOB)、无杂散动态范围(SFDR)和总谐波失真(THD),主要的动态参数计算公式分别为:
其中,H为谐波阶数,可根据具体情况决定进行选择。
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