CN106680543A - 大电流导电装置的应用方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种大电流导电装置的应用方法，包括以下步骤：将至少一个电元件固定于测试设备上；将电元件插头分别与电元件的电极连接；将探针插座与测试设备的测试台连接，并使探针插座和/或探针通过导电结构与测试设备电连接，探针插座的位置与电元件插头的位置一一对应；控制测试台靠近电元件，使电元件插头与探针插座插接，并使探针与电元件的电极电连接。本发明提供的大电流导电装置的应用方法，在电元件上安装电元件插头，配合统一固定于测试台上的探针插座，使得导电装置的结构简单化，装配过程简单化，导电性能好，通过控制测试台的进退，能在测试前实现快速插接，且能同时测试多件电元件，降低人员劳动强度，适应自动化的检测需求。

Description

大电流导电装置的应用方法

技术领域

本发明属于电元件检测技术领域，更具体地说，是涉及一种大电流导电装置的应用方法。

背景技术

随着社会的发展，电子产品被越来越多的使用，其中的电元件(例如电池)需要检测合格后才能够出厂组装。目前，对电元件进行检测的主要内容包括测试、分容、化成等，进行这些检测时，都需要使用导电装置与电元件进行电连接，进行电流、电压等电信号的传输。对于较大型的电元件，目前所使用的导电装置结构复杂，装配过程复杂，导致测试的装配过程周期较长，难以适应自动化的检测工艺，影响测试效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种大电流导电装置的应用方法，旨在解决现有技术中存在的较大型的电元件在测试时，其对应的导电装置装配过程复杂，难以适应自动化的检测工艺的问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：提供一种大电流导电装置的应用方法，所述大电流导电装置包括探针插座、探针及电元件插头，所述探针插座能与所述电元件插头插接，所述探针插座套装于所述探针的外部并与所述探针沿所述探针的中轴方向滑动连接，所述探针插座与所述电元件插头之间还设有弹性导电连接结构，所述应用方法包括以下步骤：

将至少一个电元件固定于测试设备上；

将所述电元件插头分别与所述电元件的电极连接；

将所述探针插座与所述测试设备的测试台连接，并使所述探针插座和/或所述探针通过导电结构与所述测试设备电连接，所述探针插座的位置与所述电元件插头的位置一一对应；

控制所述测试台靠近所述电元件，使所述电元件插头与所述探针插座插接，并使所述探针与所述电元件的电极电连接。

进一步地，所述测试设备上设有用于固定电元件的固定板。

具体地，所述电元件在所述固定板上为矩形阵列式均匀分布或环形阵列式均匀分布。

进一步地，所述电元件插头与所述电极螺纹连接。

具体地，所述电元件插头为内螺纹套筒，所述内螺纹套筒的前端设有探测开口，所述探测开口与所述内螺纹套筒同轴设置且所述探测开口的内径小于所述内螺纹套筒的内径，所述内螺纹套筒的后端设有第一限位凸台，所述电极处对应的设有外螺柱。

具体地，所述电元件插头为插接柱，所述插接柱的后端设有与所述电极匹配的外螺纹，所述插接柱的中部设有第二限位凸台，所述电极处对应的设有内螺孔。

进一步地，所述测试台与所述探针插头螺纹连接。

具体地，所述探针插座包括插座本体、能使所述探针沿自身中轴方向在预设范行程范围内运动的限位导向机构及外螺纹导线连接柱，所述插座本体后部设有插接孔，所述探针贯穿所述插座本体的前部且所述探针的探测端伸入所述插接孔内，所述探针与所述插座本体之间设有所述限位导向机构，所述插座本体的前部设有外螺纹导线连接柱，所述测试台上设有与所述外螺纹导线连接柱相匹配的内螺纹连接孔。

进一步地，所述弹性导电连接结构为卡圈式弹性导电环。

具体地，所述弹性导电连接结构包括至少一圈与所述插接孔同轴设置的卡槽及与所述卡槽卡接的金属弹性卡圈。

本发明提供的大电流导电装置的应用方法的有益效果在于：与现有技术相比，本发明大电流导电装置的应用方法通过将电元件统一固定，在其电极上安装电元件插头，探针插座统一固定于测试台上且位置与电元件插头一一对应，其与电元件插头之间具有插接结构，使得导电装置的结构简单化，装配过程简单化，并且导电性能好，能够同时测量大电流信号及小电流信号，通过控制测试台的进退，能够在测试前实现快速插接，且能同时测试多件电元件，有效降低测试人员连接电元件的劳动强度，提高测试效率，更能适应自动化的检测需求。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的应用方法的流程图；

图2为本发明实施例二提供的应用方法的原理图；

图3为本发明实施例三提供的应用方法的流程图；

图4为本发明实施例四提供的应用方法的流程图；

图5为本发明实施例五提供的应用方法的流程图；

图6为本发明实施例六提供的应用方法的原理图；

图7为本发明实施例提供的大电流导电装置的主视结构示意图；

图8为本发明实施例提供的大电流导电装置的立体结构示意图一；

图9为本发明实施例提供的大电流导电装置的立体结构示意图二；

图10为图7所示的大电流导电装置的A-A剖视图；

图11为图7中电元件插头的实施例一的结构示意图；

图12为图11的B-B剖视图；

图13为图7中电元件插头的实施例二的结构示意图；

图14为图13的C-C剖视图；

图15为图7中探针插座及探针的装配结构示意图；

图16为图15的D-D剖视图。

图中：1、探针插座；2、探针；3、内螺纹套筒；4、探测开口；5、第一限位凸台；6、导向锥面；7、插接柱；8、外螺纹；9、第二限位凸台；10、插座本体；11、限位导向机构；12、插接孔；13、导向通孔；14、第一限位环；15、第二限位环；16、压簧；17、固定夹；18、容置腔；19、外螺纹导线连接柱；20、卡槽；21、弹簧圈；22、定位圈；23、固定板；24、测试台；25、电元件。

具体实施方式

为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

请一并参阅图1至图10，现对本发明提供的大电流导电装置的应用方法进行说明。包括探针插座1、探针2及电元件插头，探针插座1能与电元件插头插接，探针插座1套装于探针2的外部并与探针2沿探针2的中轴方向滑动连接，所述大电流导电装置包括探针插座1、探针2及电元件插头，探针插座1与电元件插头之间还设有弹性导电连接结构，所述应用方法包括以下步骤：

根据实际测试情况，将至少一个电元件25固定于测试设备上；

将电元件插头分别与电元件25的电极连接；

将探针插座1与测试设备的测试台24连接，并使探针插座1和/或探针2通过导电结构与测试设备电连接，探针插座1的位置与电元件插头的位置一一对应；

控制测试台24靠近电元件25，使电元件插头与探针插座1插接，并使探针2与电元件25的电极电连接，此时弹性导电连接结构能实现电元件插头与探针插座1的电连接，传递电信号。

应当注意的是，测试时探针2主要用于进行小电流信号传导，电元件插头及探针插座1之间的电连接主要用于进行大电流信号传导。

本发明提供的大电流导电装置的应用方法与现有技术相比，通过将电元件统一固定，在其电极上安装电元件插头，探针插座统一固定于测试台上且位置与电元件插头一一对应，其与电元件插头之间具有插接结构，使得导电装置的结构简单化，装配过程简单化，并且导电性能好，弹性导电连接结构不仅能对探针插座1及电元件插头之间的连接起到紧固作用，还能进行良好的导电，起到对大电流进行传导的作用，与探针结合能够起到同时测量大电流信号及小电流信号的目的，通过控制测试台的进退，能够在测试前实现快速插接，且能同时测试多件电元件，有效降低测试人员连接电元件的劳动强度，提高测试效率，更能适应自动化的检测需求，尤其是配合自动化的测试设备后，能实现自动移动测试台24以及自动测试数据等功能。

探针2可与探针插座1滑动连接，在装配过程中，探针2能沿自身中轴方向进行移动，以适应测试位置的深度，防止装配时与探针2的探测端接触的位置与探针2硬性接触损坏探针2。通过设置探针插座与电元件插头的插接结构，使得探针与电元件之间的连接结构稳定，且插拔方便，能够有效简化导电装置的结构、提高连接效率，有利于保证测试的准确度。

进一步地，请一并参阅图2及图6，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，测试设备上设有用于固定电元件25的固定板23。装配后，电元件25的中轴应当相互平行，并且电元件25的电极应分布于固定板23的两侧或同一侧。固定板将电元件25固定于同一平面上，有利于对插接的力度及深度进行同一控制，进而达到统一测试环境的目的。

具体的，图中未示出，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，固定板23上设有与电元件的外部尺寸相适配的安装通孔，每个安装通孔内环面上均固定有橡胶圈，可以让电元件25与安装通孔之间为过盈配合，这种连接结构主要针对电极在两侧分布的电元件。

具体的，图中未示出，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，针对电极在同一侧分布的电元件25，固定板23的板面上设有固定夹，可以通过操控固定夹的松紧把手控制夹具的夹持间距，进而达到固定电元件的目的。

优选的，为了方便控制，电元件25的中轴与固定板23的板面均垂直，且位于固定板同一侧的电极的外端面应处于同一平面内。

进一步地，请一并参阅图2及图6，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，为了合理利用空间，电元件25在固定板23上为矩形阵列式均匀分布或环形阵列式均匀分布。

优选的，为了方便加工固定板23及测试台24，电元件25在固定板23上为矩形阵列式均匀分布。

进一步地，请一并参阅图1至图6，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，为了方便连接，电元件插头与电极螺纹连接。

进一步地，请一并参阅图1、图2、图4及图7至图12，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，电元件插头为内螺纹套筒3，内螺纹套筒3的前端设有探测开口4，探测开口4与内螺纹套筒3同轴设置且探测开口4的内径小于内螺纹套筒3的内径，内螺纹套筒3的后端设有第一限位凸台5。电元件25的电极为凸出的外螺纹柱，内螺纹套筒3的内螺纹与电极上的外螺纹相匹配，装配时只需将内螺纹套筒3拧到电极上，探测开口4将电极的端部暴露出来，方便探针2与电极的接触，并能围护住探针2探测端的四周，其与电极的连接结构简单，转配效率高，同时能为探针2在测试时提供一定的保护环境，进一步提高测试的准确度。第一限位凸台5在插接后能对探针插座1起到限位作用，防止其过渡插入影响测试的准确性甚至损坏探针2。

优选的，请一并参阅图12，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，内螺纹套筒3内的内螺纹的长度与极限拧紧位置相一致，能够有效防止内螺纹套筒3过渡拧紧影响探针2与电极的接触，进一步提高测试的准确性。

进一步地，请参阅图12，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，为了方便探针2伸入探测开口中，降低探针开口4的周边对探针的损坏概率，探测开口4的外侧设有导向锥面6。

优选的，导向锥面6与探针开口4的中轴之间的夹角为50°-30°。

进一步地，请参阅图10至图12，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，为了方便探针插座1与内螺纹套筒3的插接，进一步提高装配效率，内螺纹套筒3的前端倒圆角。

进一步地，参阅图3、图5、图6及图13至图14，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，为了简化装配结构，提高装配效率，电元件插头为插接柱7，插接柱7的后端设有与电极匹配的外螺纹8，插接柱7的中部设有第二限位凸台9。电元件25的电极处为内螺纹孔，其与插接柱7后端的外螺纹8相匹配，装配时只需将插接柱7拧到电极上，本实施例中，当拧到与第二限位凸台9的后端面接触的位置即可，探针插座1插入后，探针2的探测端直接与插接柱7的前端面接触，插接柱7本身选用导电材质，能够将电信号准确的传递给探针2。第二限位凸台9在插接后能对探针插座1起到限位作用，防止其过渡插入影响测试的准确性甚至损坏探针2，同时能够对电极与插接柱7之间的相对位置起到限位作用，提高装配结构的准确性，进而提高探针2探测电信号的准确性。

进一步地，参阅图14，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，为了提高电信号在插接柱7上传递的均匀性及稳定性，插接柱7整体为实心结构，类似于电极极柱的延伸。

进一步地，请参阅图13至图14，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，为了方便探针插座1与插接柱7的插接，进一步提高装配效率，插接柱7的前端倒圆角。

进一步地，请参阅图1至图6，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，为了简化连接结构，实现快速定位安装，测试台24与探针插头1螺纹连接。同时，测试台24的数量根据电极的分布决定，当电极位于电元件25的两侧时，需要两个测试台24分布于电元件的两侧；当电极位于电元件的同一侧时，只需一个测试台24分布于电元件设置电极的一侧。

具体地，请参阅图1至图10及图15至图16，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，探针插座1包括插座本体10、能使探针2沿自身中轴在预设行程的限位导向机构11及外螺纹导线连接柱19，插座本体10后部设有插接孔12，探针2贯穿插座本体10的前部且探针2的探测端伸入插接孔12内，探针2与插座本体10之间设有限位导向机构11，插座本体10的前部设有外螺纹导线连接柱19，测试台24上设有与外螺纹导线连接柱19相匹配的内螺纹连接孔。上述内螺纹套筒3或插接柱7可直接插入插接孔12内，其与插接孔12之间能够达到过盈配合的效果，能实现探针插座1与电元件插头的快速插拔，并且插接结构稳定。通过限位导向机构11的限制，探针2只能在预设范围内移动，在插接过程中，能够有效防止探针2过度移动损坏其他零部件，或者脱出插座本体10，提高使用稳定性。能实现探针插座1及探针2与测试平台的快速连接，进一步提高了导电装置的装配效率。

进一步地，请参阅图10及图16，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，插座本体10前部设有与插接孔12连通且同轴设置的导向通孔13，探针2贯穿导向通孔13，限位导向机构11包括第一限位环14、第二限位环15、压簧16及固定夹17，第一限位环14套装于探针2的外部并与导向通孔13的前端连接，第二限位环15套装于探针2的外部并与导向通孔13的后端连接，压簧16套装于探针2的外部，压簧16的前端与第二限位环抵接，压簧16的后端与探针2的探测端抵接，探针2的接线端伸出插座本体10外，固定夹17位于第一限位环14前部且与探针2的接线端连接，固定夹17的后端面能与第一限位环15的前端面抵接。第一限位环14用于对探针2的接线端进行导向，并能对探针2的径向运动进行有效的限制，第二限位环15用于对探针2的探测端进行导向，并能对探针2的径向运动进行有效的限制，通过第一限位环14与第二限位环15的配合，使得探针2只能沿自身中轴的方向滑动，使得探针2与电极的接触位置稳定，保证测试结果的准确定。另一方面，通过固定夹17的限定，探针2能够伸入插接孔12内的最大长度被限定，同时压簧16始终对探针2施加朝向插接孔12的作用力，在自由状态下，压簧16能够保持探针2伸入插接孔12内的距离最大，即压簧16使得探针2具有自复位的功能。在插接后，探针2与电极或插接柱7抵接后可能会向插座本体10的前端方向移动，在压簧16的作用下保持探针2与接触区域的充分且紧密的接触，进而保证测试结果的准确性，拔出后，探针能自动复位到初始位置。

进一步地，参阅图10及图16，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，第二限位环15内设有向第二限位环15后端开口的容置腔18，容置腔18的深度小于压簧16的长度，压簧16的前端与容置腔18的前端面抵接。压簧16伸缩的运动可能会使压簧16本身的位置偏离初始位置，不利于探针2均匀的受到弹性作用力，将压簧16的前端部分放置于能够对压簧16的径向运动起到限位作用的容置腔18内，能够很好的解决这一问题，并且不妨碍探针2的正常运动范围。

进一步地，参阅图10及图16，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，探针2的探测端面具有至少两个探测凸起，增加接触面积，使得探针2能够充分接触到电极，有利于提高探测结果的准确性。

进一步地，图中未示出，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，电元件插头及插座本体10均选用导电性能良好的材质，插座本体10能与电元件插头通过弹性导电连接结构进行电连接并进行大电流的传导，将大电流信号传递给测试台，探针2则将小电流信号传递给测试台，使得一个导电装置能够同时实现大电流信号与小电流信号的同时读取，提高测试效率。

进一步地，图中未示出，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，为了防止大电流信号与小电流信号传递时互相干扰，第一限位环14、第二限位环15、压簧16及固定夹17均应选用绝缘材质。

进一步地，请参阅图10及图16，作为本发明提供的大电流导电装置的一种具体实施方式，弹性导电连接结构为卡圈式弹性导电环。为加强插接孔12与电元件插头之间的导电连接，插接孔12内还设有弹性导电连接结构，弹性导电连接结构是直接与电元件插头实现过盈配合的结构，能增加插接孔12与电元件插头之间的接触面积，从而减小接触阻抗，由于其为卡圈式弹性导电环，插接本身的磨损也很小。插座本体10能通过弹性导电连接结构与电元件插头进行直接的电连接并进行大电流的传导，将大电流信号传递给测试台，探针2则将小电流信号传递给测试台，使得一个导电装置能够同时实现大电流信号与小电流信号的同时读取，提高测试准确性。

进一步地，请参阅图10及图16，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，弹性导电连接结构包括至少一圈与插接孔12同轴设置的卡槽20及与卡槽20卡接的金属弹性卡圈。金属弹性卡圈在电元件插头插入后能够提供弹性的挤压力，既能够满足插接强度的需求又能够对电元件插头的磨损降低到最小。同时金属弹性卡圈起到直接前述的直接导电的作用。同时金属弹性卡圈起到前述的直接导电的作用。

优选的，请参阅图10及图16，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，为了保证插接后结构的稳定性，同时使得结构最简化，弹性导电连接结构包括两圈与插接孔12同轴设置的卡槽20及与卡槽20卡接的金属弹性卡圈。

进一步地，请参阅图10及图16，作为本发明提供的大电流导电装置的应用方法的一种具体实施方式，金属弹性卡圈为弹簧圈21，弹簧圈21的中轴线与插接孔12的中轴线垂直，弹簧圈21的内部设有用于定位弹簧圈21的定位圈22，定位圈22的外径大于弹簧圈21的内径。定位圈22能够给弹簧圈21的弹簧结构提供外张力，使其固定于卡槽20中，并且柔软的弹簧可以通过形变接触子连接件电元件插头表面，从而使有效接触面积最大化，增加大电流的过流能力。

使用过程，参阅图1至图6：

1)、单个元件检测：在待测电元件25的数量较少的情况下，可以选择人员手动连接检测。首先，将电元件25在测试设备上固定好，固定用的零件可为单个夹具等，随后将电元件插头与电元件25的电极连接，将探针插座与测试台24螺纹连接，随后将探针插座1及探针2与测试设备电连接。插接时，控制测试台24向电元件25处推进，直至探针插座1与电元件插头完全插接，且探针2与电极能够充分电连接为止。测试完成后，只需回撤测试台24，即可完成探针插座1与电元件插头的分离，再将电元件插头拆卸下来，更换电元件后即可进行第二次测试。

2)、批量化检测：自动化产业中，需要对数量较多的电元件进行检测，此时，需要先将电元件25与固定板23固定好，按照预定的排列方式安装电元件25，随后将电元件插头与电元件25的电极连接，将探针插座与测试台24螺纹连接，随后将探针插座1及探针2与测试设备电连接，并且注意探针插座1与电元件插头的位置一一对应。插接时，控制测试台24向电元件25处推进，直至探针插座1与电元件插头完全插接，且探针2与电极能够充分电连接为止。测试完成后，只需回撤测试台24，即可完成探针插座1与电元件插头的分离，再将电元件插头拆卸下来，更换固定板23上的电元件后即可进行第二次测试。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.大电流导电装置的应用方法，所述大电流导电装置包括探针插座、探针及电元件插头，所述探针插座能与所述电元件插头插接，所述探针插座套装于所述探针的外部并与所述探针沿所述探针的中轴方向滑动连接，所述探针插座与所述电元件插头之间还设有弹性导电连接结构，其特征在于，所述应用方法包括以下步骤：

将至少一个电元件固定于测试设备上；

将所述电元件插头分别与所述电元件的电极连接；

将所述探针插座与所述测试设备的测试台连接，并使所述探针插座和/或所述探针通过导电结构与所述测试设备电连接，所述探针插座的位置与所述电元件插头的位置一一对应；

控制所述测试台靠近所述电元件，使所述电元件插头与所述探针插座插接，并使所述探针与所述电元件的电极电连接。

2.如权利要求1所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述测试设备上设有用于固定电元件的固定板。

3.如权利要求2所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述电元件在所述固定板上为矩形阵列式均匀分布或环形阵列式均匀分布。

4.如权利要求1所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述电元件插头与所述电极螺纹连接。

5.如权利要求4所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述电元件插头为内螺纹套筒，所述内螺纹套筒的前端设有探测开口，所述探测开口与所述内螺纹套筒同轴设置且所述探测开口的内径小于所述内螺纹套筒的内径，所述内螺纹套筒的后端设有第一限位凸台，所述电极处对应的设有外螺柱。

6.如权利要求4所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述电元件插头为插接柱，所述插接柱的后端设有与所述电极匹配的外螺纹，所述插接柱的中部设有第二限位凸台，所述电极处对应的设有内螺孔。

7.如权利要求5或6所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述测试台与所述探针插头螺纹连接。

8.如权利要求7所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述探针插座包括插座本体、能使所述探针沿自身中轴方向在预设范行程范围内运动的限位导向机构及外螺纹导线连接柱，所述插座本体后部设有插接孔，所述探针贯穿所述插座本体的前部且所述探针的探测端伸入所述插接孔内，所述探针与所述插座本体之间设有所述限位导向机构，所述插座本体的前部设有外螺纹导线连接柱，所述测试台上设有与所述外螺纹导线连接柱相匹配的内螺纹连接孔。

9.如权利要求8所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述弹性导电连接结构为卡圈式弹性导电环。

10.如权利要求9所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述弹性导电连接结构包括至少一圈与所述插接孔同轴设置的卡槽及与所述卡槽卡接的金属弹性卡圈。