CN106648264B - 一种光学压力触控器件及制备方法、触控显示装置 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种光学压力触控器件及制备方法、触控显示装置,用以在实现触控功能的同时不影响显示效果,本申请提供的一种光学压力触控器件,包括:第一基板,与所述第一基板相对设置的第二基板,在所述第一基板面向所述第二基板的一侧设有光电检测器阵列、与所述光电检测器阵列中的每一个光电检测器电连接的触控扫描电路,以及光源;其中,所述触控扫描电路与所述第二基板之间留有间隙,所述光源用于在所述间隙内形成光场。
Description
技术领域
本申请涉及显示技术领域,特别是涉及一种光学压力触控器件及制备方法、触控显示装置。
背景技术
随着显示技术的飞速发展,触摸屏(Touch Screen Panel)已经逐渐遍及人们的生活中。目前,触摸屏组成结构一般是在显示面板的出光侧设置一层触摸面板,然后贴合到一起成为具有触控功能的显示屏,或者将触控功能集成到显示面板中以实现触摸屏。但现有技术中无论采取何种方式实现触摸屏都会或多或少影响显示效果。
而随着显示分辨率的不断提高,人们对显示质量的要求也不断提高,如何在实现触控功能的同时不影响显示效果成为了目前显示领域面临的一个技术问题
发明内容
本申请实施例提供了一种光学压力触控器件及制备方法、触控显示装置,用以在实现触控功能的同时不影响显示效果。
本申请实施例提供的一种光学压力触控器件,包括:第一基板,与所述第一基板相对设置的第二基板,在所述第一基板面向所述第二基板的一侧设有光电检测器阵列、与所述光电检测器阵列中的每一个光电检测器电连接的触控扫描电路,以及光源;其中,所述触控扫描电路与所述第二基板之间留有间隙,所述光源用于在所述间隙内形成光场。
本申请实施例提供的光学压力触控器件,包括:第一基板,与所述第一基板相对设置的第二基板,在所述第一基板面向所述第二基板的一侧设有光电检测器阵列、与所述光电检测器阵列中的每一个光电检测器电连接的触控扫描电路,以及光源;其中,所述触控扫描电路与所述第二基板之间留有间隙,所述光源用于在所述间隙内形成光场,光电检测器阵列中的每一个光电检测器接收光信号并转化为电信号,当有外界压力时,通过触控扫描电路测量电信号变化来计算出触控位置坐标,从而实现光学压力触控功能,而在显示面板的背部设置有本申请实施例提供的光学压力触控器件的触控显示装置,可以在实现触控功能的同时不影响显示效果。
较佳地,在所述间隙处设有支撑该间隙的支撑物。
较佳地,所述支撑物为多个高度一致的支柱,每一个所述支柱不遮挡所述光电检测器阵列。
由于每一个支柱不遮挡光电检测器阵列,这样就不会影响光电检测器的感光。
较佳地,所述支撑物为微突起结构,所述微突起结构设置于所述第二基板面向所述第一基板的一侧,且与所述第二基板一体成型。
由于在间隙处支撑该间隙的为微突起结构,这样有利于提高检测灵敏度,并且由于微突起结构与第二基板一体成型,这样可以简化工艺。
较佳地,所述触控扫描电路包括:设置在所述光电检测器阵列上并与每一个所述光电检测器的第一电极电连接的公共电极,以及设置在所述第一基板与在所述光电检测器阵列之间的薄膜晶体管阵列;其中,每一个所述光电检测器的第二电极与薄膜晶体管阵列中的一个薄膜晶体管的源极/漏极电连接。
由于光电检测器阵列中的每一个光电检测器的第一电极均与公共电极电连接,这样,可以简化工艺,以及简化触控扫描过程。
较佳地,在所述触控扫描电路面向所述间隙的一侧设有不遮挡所述光电检测器阵列的第一反射层,和/或在所述第二基板面向所述间隙的一侧设有第二反射层。
通过在触控扫描电路面向间隙的一侧设有不遮挡光电检测器阵列的第一反射层,和/或在第二基板面向间隙的一侧设有第二反射层,使得光源发出的光可以在触控扫描电路与第二基板之间的间隙内更好地反射,从而能够实现光源发出的光尽可能均匀地分布在整个间隙内。
较佳地,在所述第二基板的上表面或下表面设有挡光层。
由于在第二基板的上表面或下表面设有挡光层,这样可以避免外界光线干扰本申请实施例提供的光学压力触控器件的光学压力触控检测。
本申请实施例还提供了一种触控显示装置,包括:显示面板,第二基板集成或贴合在所述显示面板背部的本申请任意实施例提供的光学压力触控器件。
本申请实施例提供的触控显示装置,在显示面板的背部设置有本申请实施例提供的光学压力触控器件,而本申请实施例提供的光学压力触控器件,包括:第一基板,与所述第一基板相对设置的第二基板,在所述第一基板面向所述第二基板的一侧设有光电检测器阵列、与所述光电检测器阵列中的每一个光电检测器电连接的触控扫描电路,以及光源;其中,所述触控扫描电路与所述第二基板之间留有间隙,所述光源用于在所述间隙内形成光场,光电检测器阵列中的每一个光电检测器接收光信号并转化为电信号,当有外界压力时,通过触控扫描电路测量电信号变化来计算出触控位置坐标,从而实现光学压力触控功能,因此,本申请实施例提供的触控显示装置可以在实现触控功能的同时不影响显示效果。
较佳地,所述显示面板为有机电致发光显示面板。
本申请实施例还提供了一种光学压力触控器件的制备方法,该方法包括:
在第一基板上形成光电检测器阵列以及与所述光电检测器阵列中的每一个光电检测器电连接的触控扫描电路;
在所述触控扫描电路与第二基板之间形成间隙;
设置用于在所述间隙内形成光场的光源。
采用该方法制备的光学压力触控器件,包括:第一基板,与所述第一基板相对设置的第二基板,在所述第一基板面向所述第二基板的一侧设有光电检测器阵列、与所述光电检测器阵列中的每一个光电检测器电连接的触控扫描电路,以及光源;其中,所述触控扫描电路与所述第二基板之间留有间隙,所述光源用于在所述间隙内形成光场,光电检测器阵列中的每一个光电检测器接收光信号并转化为电信号,当有外界压力时,通过触控扫描电路测量电信号变化来计算出触控位置坐标,从而实现光学压力触控功能,而在显示面板的背部设置有本申请实施例提供的光学压力触控器件的触控显示装置,可以在实现触控功能的同时不影响显示效果。
较佳地,所述在所述触控扫描电路与第二基板之间形成间隙,包括:
在所述触控扫描电路上形成不遮挡所述光电检测器阵列的多个高度一致的支柱;
在所述多个支柱上放置第二基板。
由于采用该方法制作的每一个支柱不遮挡光电检测器阵列,这样就不会影响光电检测器的感光。
较佳地,所述在所述触控扫描电路与第二基板之间形成间隙,包括:
在第二基板上形成与所述第二基板一体成型的微突起结构;
在所述触控扫描电路上放置所述微突起结构朝向所述触控扫描电路的第二基板。
由于采用该方法制作的第二基板面向第一基板的一侧设有支撑间隙且与该第二基板一体成型的微突起结构,这样,一方面可以简化工艺,另一方面有利于提高检测灵敏度。
较佳地,所述形成触控扫描电路,包括:
在所述第一基板与在所述光电检测器阵列之间形成薄膜晶体管阵列;其中,每一个所述光电检测器的第二电极与薄膜晶体管阵列中的一个薄膜晶体管的源极/漏极电连接;
在所述光电检测器阵列上形成与每一个所述光电检测器的第一电极电连接的公共电极。
由于采用该方法制作的光电检测器阵列中的每一个光电检测器的第一电极均与公共电极电连接,这样,可以简化工艺,以及简化触控扫描过程。
较佳地,该方法还包括:在所述触控扫描电路面向所述间隙的一侧形成不遮挡所述光电检测器阵列的第一反射层,和/或在所述第二基板面向所述间隙的一侧形成第二反射层。
采用该方法制作的光学压力触控器件,通过在触控扫描电路面向间隙的一侧设有不遮挡光电检测器阵列的第一反射层,和/或在第二基板面向间隙的一侧设有第二反射层,使得光源发出的光可以在触控扫描电路与第二基板之间的间隙内更好地反射,从而能够实现光源发出的光尽可能均匀地分布在整个间隙内。
较佳地,该方法还包括:在所述第二基板的上表面或下表面形成挡光层。
由于采用该方法制作的光学压力触控器件,在第二基板的上表面或下表面设有挡光层,这样可以避免外界光线干扰本申请实施例提供的光学压力触控器件的光学压力触控检测。
附图说明
图1为本申请实施例一提供的光学压力触控器件非触摸时的结构示意图;
图2为本申请实施例一提供的光学压力触控器件触摸时的结构示意图;
图3为本申请实施例提供的光学压力触控器件中触控扫描电路的电路结构示意图;
图4为本申请实施例提供的光学压力触控器件中触控扫描电路与光电检测器阵列的一种排列结构示意图;
图5为本申请实施例二提供的一种光学压力触控器件的结构示意图;
图6为本申请实施例提供的一种光学压力触控器件的制备方法的流程示意图;
图7(a)~图7(h)为本申请实施例提供的光学压力触控器件的制备工艺流程示意图;
图8为本申请实施例提供的一种触控显示装置的结构示意图;
图9为本申请实施例提供的另一种触控显示装置的结构示意图。
具体实施方式
本申请实施例提供了一种光学压力触控器件及制备方法、触控显示装置,用以在实现触控功能的同时不影响显示效果。
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
需要说明的是,本申请附图中各层的厚度和形状不反映真实比例,目的只是示意说明本申请内容。
实施例一:
参见图1,本申请实施例一提供的一种光学压力触控器件,包括:第一基板11,与第一基板11相对设置的第二基板12,在第一基板11面向第二基板12的一侧设有光电检测器阵列13、与光电检测器阵列13中的每一个光电检测器131电连接的触控扫描电路14,以及光源15;其中,触控扫描电路14与第二基板12之间留有间隙,光源15用于在该间隙内形成光场;并且在触控扫描电路14与第二基板12之间的间隙处还设有支撑该间隙的多个高度一致的支柱16。
其中,光电检测器131为对光源15发出的光线敏感的检测器,该光电检测器131例如可以为光电二极管、光敏传感器等;在一较佳实施方式中,光源15为红外光源,光电检测器阵列13中的每一个光电检测器131为红外光电检测器。
本申请实施例中,光源15用于在触控扫描电路14与第二基板12之间的间隙内形成光场,只要能满足该条件,本申请实施例对光源15的形状、大小、位置等并不做限定,光源15例如可以为条形的LED光源,设置在光学压力触控器件的侧面且在间隙的中间位置。
需要说明的是,本申请实施例提供的光学压力触控器件的工作原理如下:光学压力触控器件工作时,如图1所示,光源15发出的光可以在触控扫描电路14与第二基板12之间的间隙内形成光场,光电检测器阵列13中的每一个光电检测器131接收光信号并转化为电信号,每一个光电检测器131均输出一个初始的电信号值,当有外界压力时,如图2所示,受力处的间隙将会减小,而间隙的减小将会扰动光强的分布,因此,与该受力处对应的光电检测器131的受光强度会发生变化,以致其输出的电信号也会发生变化,而后通过触控扫描电路14测量电信号变化(即电信号的当前测量值与初始值的差值)可以确定出触控位置坐标,从而实现光学压力触控功能。其中,图1、图2中带箭头的线表示光线。
在一较佳实施方式中,如图1所示,为了不影响光电检测器131的感光,每一个支柱16可以设置在不遮挡光电检测器阵列13的位置。
在一较佳实施方式中,为了减少对光的吸收,支柱16的材料为对相应波段的光不吸收的材料,例如对于可见光,支柱16的材料可以为透明材料,例如:聚苯乙烯(PS)、聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚二甲基硅氧烷(PDMS)、环氧树脂等透明绝缘材料;当然,支柱16也可采用其它材料,本申请实施例并不对其进行限定。
在一较佳实施方式中,如图1所示,触控扫描电路14包括:设置在光电检测器阵列13上并与每一个光电检测器131的第一电极(即上电极)电连接的公共电极141,以及设置在第一基板11与在光电检测器阵列13之间的薄膜晶体管阵列142;其中,每一个光电检测器131的第二电极(即下电极)与薄膜晶体管阵列142中的一个薄膜晶体管1421(如图1中虚线框所示)的源极/漏极电连接。其中,第一电极与第二电极极性相反。触控扫描电路14的电路示意图如图3所示。
由于光电检测器阵列13中的每一个光电检测器131的第一电极均与公共电极141电连接,这样,可以简化工艺,以及简化触控扫描过程。
需要指出的是,触控扫描电路14还可有其它的实现方式,例如:与光电检测器阵列13中的光电检测器131的第一电极电连接的不再是整块的透明公共电极,而是由多个小块的透明公共电极组成的透明公共电极组,光电检测器阵列13中的每一个光电检测器131的第一电极与一个小块的透明公共电极电连接,本申请实施例并不对其进行限定;另外,触控扫描电路14与光电检测器阵列13除了上述的上下排列结构,还可以为水平排列结构,例如:光电检测器阵列中的每一个光电检测器131的第二电极与其左边的一个薄膜晶体管1421(如图4中虚线框所示)的源极/漏极电连接,第一电极与其右边的一块公共电极141电连接,薄膜晶体管1421、光电检测器131和公共电极141在水平面上间隔排列,其俯视图如图4所示,本申请实施例并不对其进行限定。
在一较佳实施方式中,为了使光源发出的光可以在触控扫描电路与第二基板之间的间隙内更好地反射,从而能够实现光源发出的光尽可能均匀地分布在整个间隙内,如图1所示,可以在触控扫描电路14面向触控扫描电路14与第二基板12之间的间隙的一侧设有不遮挡光电检测器阵列13的第一反射层17(即第一反射层17需暴露每一个光电检测器131所对应的位置,以使光电检测器131能够接收光线而感光),以及在第二基板12面向该间隙的一侧设有第二反射层18。
其中,第一反射层17与第二反射层18可以为反射膜,也可以为反射片,本申请实施例并不对其进行限定。
当然,也可仅在触控扫描电路14面向该间隙的一侧或第二基板12面向该间隙的一侧设置反射层,这样设置只会稍微影响分布在整个间隙内的光的均匀性,本申请实施例并不对其进行限定。
在一较佳实施方式中,为了避免外界光线干扰本申请实施例提供的光学压力触控器件的光学压力触控检测,可以在第二基板12的上表面设有挡光层19,如图1所示。当然,挡光层19也可设置在第二基板12的下表面,本申请实施例并不对其进行限定。
实施例二:
本申请实施例二提供的光学压力触控器件与本申请实施例一提供的光学压力触控器件相类似,相同的部分在此不再赘述,下面只说明不同的部分。
参见图5,本申请实施例二提供的光学压力触控器件中,用以支撑触控扫描电路14与第二基板12之间的间隙为微突起结构20。
由于在间隙处支撑该间隙的为微突起结构20,这样有利于提高检测灵敏度。
如图5所示,微突起结构20可以设置于第二基板12面向第一基板11的一侧,且与第二基板12一体成型,这样可以简化工艺。
当然,微突起结构20也可与第二反射层18一体成型,或者,微突起结构20可以设置于第一基板11面向第二基板12的一侧(最好设在非感光区域),例如:微突起结构20与第一反射层17一体成型,本申请实施例对此并不做限定。
需要指出的是,本申请实施例二提供的光学压力触控器件中,参见图5,当微突起结构20与第二基板12一体成型时,上述在第二基板12面向该间隙的一侧设有第二反射层18,即在微突起结构20面向该间隙的一侧设有第二反射层18,也即微突起结构20位于第二基板12与第二反射层18之间;上述挡光层19也可设置在第二基板12的下表面,即挡光层19也可设置在微突起结构20的表面。
基于同一发明构思,本申请实施例还提供了一种光学压力触控器件的制备方法,如图6所示,该方法包括如下步骤:
S101、在第一基板上形成光电检测器阵列以及与所述光电检测器阵列中的每一个光电检测器电连接的触控扫描电路;
S102、在所述触控扫描电路与第二基板之间形成间隙;
S103、设置用于在所述间隙内形成光场的光源。
在一较佳实施方式中,上述步骤S102中在所述触控扫描电路与第二基板之间形成间隙,可以包括:
在所述触控扫描电路上形成不遮挡所述光电检测器阵列的多个高度一致的支柱;
在所述多个支柱上放置第二基板。
由于制作的每一个支柱不遮挡光电检测器阵列,这样就不会影响光电检测器的感光。
在另一较佳实施方式中,上述步骤S102中在所述触控扫描电路与第二基板之间形成间隙,可以包括:
在第二基板上形成与所述第二基板一体成型的微突起结构;
在所述触控扫描电路上放置所述微突起结构朝向所述触控扫描电路的第二基板。
其中,微突起结构例如可以采用纳米压印、刻蚀等技术与第二基板一体成型。当微突起结构中的突起为微纳米尺度或者特殊形状时(如细长微纳米柱),外界轻微压力就有可能引起较大变化,从而可能提高灵敏度。
当然,还可以采取其它的方式在触控扫描电路与第二基板之间形成间隙,本申请实施例对此并不做限定。
在一较佳实施方式中,上述步骤S101中形成触控扫描电路,可以包括:
在所述第一基板与在所述光电检测器阵列之间形成薄膜晶体管阵列;其中,光电检测器阵列中的每一个光电检测器的第二电极与薄膜晶体管阵列中的一个薄膜晶体管的源极/漏极电连接;
在所述光电检测器阵列上形成与每一个所述光电检测器的第一电极电连接的公共电极。
由于制作的光电检测器阵列中的每一个光电检测器的第一电极均与公共电极电连接,这样,可以简化工艺,以及简化触控扫描过程。
在一较佳实施方式中,为了使光源发出的光可以在触控扫描电路与第二基板之间的间隙内更好地反射,从而能够实现光源发出的光尽可能均匀地分布在整个间隙内,本申请实施例提供的光学压力触控器件的制备方法还可以包括:在所述触控扫描电路面向所述间隙的一侧形成不遮挡所述光电检测器阵列的第一反射层,和/或在所述第二基板面向所述间隙的一侧形成第二反射层。
在一较佳实施方式中,为了避免外界光线干扰本申请实施例提供的光学压力触控器件的光学压力触控检测,本申请实施例提供的光学压力触控器件的制备方法还可以包括:在所述第二基板的上表面或下表面形成挡光层。
下面以支柱支撑触控扫描电路与第二基板之间的间隙为例,结合附图7(a)~图7(h)来具体说明本申请实施例提供的光学压力触控器件的制备工艺流程。
步骤一、参见图7(a),在第一基板11上形成薄膜晶体管阵列142;
其中,薄膜晶体管阵列142由排列成阵列的多个薄膜晶体管1421(如图7(a)中虚线框所示)组成。
步骤二、参见图7(b),在薄膜晶体管阵列142上形成光电检测器阵列13;
其中,光电检测器阵列13中的每一个光电检测器131的第二电极与薄膜晶体管阵列142中的一个薄膜晶体管1421的漏极电连接。
步骤三、参见图7(c),在光电检测器阵列13上形成与该光电检测器阵列13中的每一个光电检测器131的第一电极电连接的公共电极141;
步骤四、参见图7(d),在公共电极141上形成不遮挡光电检测器阵列13的第一反射层17;
步骤五、参见图7(e),在第一反射层17上形成多个高度一致的支柱16;
步骤六、参见图7(f),在第二基板12一面形成第二反射层18,另一面形成挡光层19;
步骤七、参见图7(g),在支柱16上放置第二反射层18朝向该支柱16的第二基板12,使得第一反射层17与第二反射层18之间存在间隙;
步骤八、参见图7(h),在光学压力触控器件的侧面且在间隙的中间位置设置用于在该间隙内形成光场的光源15。
需要说明的是,上述的工艺流程中部分器件的制作顺序可以发生改变,例如:上述形成挡光层19还可以在放置好第二基板12后,再在第二基板12的上表面(即背向第一基板11的表面)形成挡光层19,本申请实施例并不对其进行限定。
基于同一发明构思,本申请实施例还提供了一种触控显示装置,包括:显示面板71,设置于显示面板71背部的本申请任意实施例提供的光学压力触控器件72;其中,该光学压力触控器件72的第二基板721集成在显示面板71背部,如图8所示,这样可以减薄触控显示装置的厚度;或者,该光学压力触控器件72的第二基板721贴合在显示面板71背部,如图9所示。其中,图8、图9中带箭头的线表示环境光线。
其中,显示面板71理论上可以为任意的显示面板;优选地,显示面板71为有机电致发光显示面板(OLED)。
综上所述,本申请实施例提供的技术方案中,光学压力触控器件包括:第一基板,与所述第一基板相对设置的第二基板,在所述第一基板面向所述第二基板的一侧设有光电检测器阵列、与所述光电检测器阵列中的每一个光电检测器电连接的触控扫描电路,以及光源;其中,所述触控扫描电路与所述第二基板之间留有间隙,所述光源用于在所述间隙内形成光场,光电检测器阵列中的每一个光电检测器接收光信号并转化为电信号,当有外界压力时,通过触控扫描电路测量电信号变化来计算出触控位置坐标,从而实现光学压力触控功能,而在显示面板的背部设置有本申请实施例提供的光学压力触控器件的触控显示装置,可以在实现触控功能的同时不影响显示效果。
显然,本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样,倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内,则本申请也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (9)
1.一种光学压力触控器件,其特征在于,包括:第一基板,与所述第一基板相对设置的第二基板,在所述第一基板面向所述第二基板的一侧设有光电检测器阵列、与所述光电检测器阵列中的每一个光电检测器电连接的触控扫描电路,以及光源;其中,所述触控扫描电路与所述第二基板之间留有间隙,所述光源用于在所述间隙内形成光场;
所述触控扫描电路包括:设置在所述光电检测器阵列上并与每一个所述光电检测器的第一电极电连接的公共电极,以及设置在所述第一基板与所述光电检测器阵列之间的薄膜晶体管阵列;其中,每一个所述光电检测器的第二电极与薄膜晶体管阵列中的一个薄膜晶体管的源极/漏极电连接;
在所述触控扫描电路面向所述间隙的一侧设有不遮挡所述光电检测器阵列的第一反射层,和/或在所述第二基板面向所述间隙的一侧设有第二反射层;
在所述第二基板的上表面或下表面设有挡光层。
2.根据权利要求1所述的光学压力触控器件,其特征在于,在所述间隙处设有支撑该间隙的支撑物。
3.根据权利要求2所述的光学压力触控器件,其特征在于,所述支撑物为多个高度一致的支柱,每一个所述支柱不遮挡所述光电检测器阵列。
4.根据权利要求2所述的光学压力触控器件,其特征在于,所述支撑物为微突起结构,所述微突起结构设置于所述第二基板面向所述第一基板的一侧,且与所述第二基板一体成型。
5.一种触控显示装置,其特征在于,包括:显示面板,第二基板集成或贴合在所述显示面板背部的如权利要求1~4任一项所述的光学压力触控器件。
6.根据权利要求5所述的触控显示装置,其特征在于,所述显示面板为有机电致发光显示面板。
7.一种光学压力触控器件的制备方法,其特征在于,该方法包括:
在第一基板上形成光电检测器阵列以及与所述光电检测器阵列中的每一个光电检测器电连接的触控扫描电路;
在所述触控扫描电路与第二基板之间形成间隙;
设置用于在所述间隙内形成光场的光源;
所述形成触控扫描电路,包括:
在所述第一基板与所述光电检测器阵列之间形成薄膜晶体管阵列;其中,每一个所述光电检测器的第二电极与薄膜晶体管阵列中的一个薄膜晶体管的源极/漏极电连接;
在所述光电检测器阵列上形成与每一个所述光电检测器的第一电极电连接的公共电极;
该方法还包括:在所述触控扫描电路面向所述间隙的一侧形成不遮挡所述光电检测器阵列的第一反射层,和/或在所述第二基板面向所述间隙的一侧形成第二反射层;
该方法还包括:在所述第二基板的上表面或下表面形成挡光层。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述在所述触控扫描电路与第二基板之间形成间隙,包括:
在所述触控扫描电路上形成不遮挡所述光电检测器阵列的多个高度一致的支柱;
在所述多个支柱上放置第二基板。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述在所述触控扫描电路与第二基板之间形成间隙,包括:
在第二基板上形成与所述第二基板一体成型的微突起结构;
在所述触控扫描电路上放置所述微突起结构朝向所述触控扫描电路的第二基板。
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