CN106643602B - 一种探针基准补偿系统及方法 - Google Patents
一种探针基准补偿系统及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106643602B CN106643602B CN201611210936.2A CN201611210936A CN106643602B CN 106643602 B CN106643602 B CN 106643602B CN 201611210936 A CN201611210936 A CN 201611210936A CN 106643602 B CN106643602 B CN 106643602B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- probe
- virtual plane
- datum level
- test product
- tilt angle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
本发明涉及电子器件领域，公开了一种探针基准补偿系统及方法。本发明实施方式中，探针基准补偿系统包括探针补偿设备、计算装置以及轴机，探针补偿设备与计算装置以及轴机连接，计算装置将3D支撑曲面转换为虚拟平面，探针补偿设备根据虚拟平面与被测产品的基准面的倾斜角度，控制轴机旋转使虚拟平面与基准面平行，其中，被测产品同一平面内四个探测点位构成被测产品的基准面。本发明实施方式能有效节约探针时间，节省加工成本，提升产品品质。
Description
技术领域
本发明涉及电子器件领域，特别涉及一种探针基准补偿系统及方法。
背景技术
科技技术迅速发展的时代，人们对于生活品质的追求越来越极致。在电子产品上，除了不断追求性能上的提高，现如今，产品外观与体验也逐渐成为用户购买首选的因素。其中，3D圆弧面产品成为市场的主流。
目前市面上加工带有较大3D圆弧面产品时，采用的是3D圆弧面放置在治具支撑面上。3D弧面作为支撑面，在加工内腔时，使用探针探测内腔加工部位做补偿，来确保内腔尺寸的稳定。但由于3D圆弧面与治具支撑面均为弧面，因此，无法确保3D圆弧面产品放平。从而增加了探针探测点位的工作时长，增加了成本。并且，随着物料倾斜度的影响，产品的实际加工平面与产品理论基准平面会呈现倾斜现象，最终影响产品组装的效果。
发明内容
本发明的目的在于提供一种探针基准补偿系统及方法，使其能有效的节约探针时间，节省加工成本，提升产品品质。
为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种探针基准补偿系统，包含：探针补偿设备、计算装置以及轴机，探针补偿设备与计算装置以及轴机连接，计算装置将3D支撑曲面转换为虚拟平面，探针补偿设备根据虚拟平面与被测产品的基准面的倾斜角度，控制轴机旋转使虚拟平面与基准面平行，其中，被测产品同一平面内四个探测点位构成被测产品的基准面。
本发明的实施方式还提供了一种数控机床，包含前述的探针基准补偿系统。
本发明的实施方式还提供了一种探针基准补偿方法，包含：
将3D支撑曲面转换为虚拟平面；
根据虚拟平面与被测产品的基准面的倾斜角度，控制轴机旋转使虚拟平面与基准面平行，其中，被测产品同一平面内四个探测点位构成被测产品的基准面，每个探测点位对应一轴机。
本发明实施方式相对于现有技术而言，是将探针补偿设备与计算装置以及轴机连接，计算装置将3D支撑曲面转换为虚拟平面，探针补偿设备根据虚拟平面与被测产品的基准面的倾斜角度，控制轴机旋转使虚拟平面与基准面平行，其中，被测产品同一平面内四个探测点位构成被测产品的基准面，能有效节约探针时间，节省加工成本，提升产品品质。
另外，计算装置根据四个探测点位建立虚拟平面，并且计算出虚拟平面与基准面存在的倾斜角度，通过计算出倾斜角度，方便后续根据倾斜角度，做出相应调整。
另外，探针补偿设备控制轴机旋转使虚拟平面与基准面的倾斜角度归零，使所建立的虚拟平面与基准面平行。
另外，根据虚拟平面与被测产品的基准面的倾斜角度，控制轴机旋转使虚拟平面与基准面平行，包括：控制轴机旋转使虚拟平面与基准面的倾斜角度归零，使虚拟平面与基准面达到平行的状态。
附图说明
图1是本发明第一实施方式中的一种探针基准补偿系统的结构示意图；
图2是本发明第一实施方式中的一种探针基准补偿系统的倾斜角度示意图；
图3是本发明第三实施方式中的一种探针基准补偿方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本发明各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。
本发明的第一实施方式涉及一种探针基准补偿系统。如图1所示。该种探针基准补偿系统包括探针补偿设备1、计算装置以及轴机2，探针补偿设备1与计算装置以及轴机2相连，计算装置属于轴机2的自带系统，计算装置将3D支撑曲面转换为虚拟平面，探针补偿设备1根据虚拟平面与被测产品的基准面的倾斜角度，控制轴机2旋转使虚拟平面与基准面平行，其中，被测产品同一平面内四个探测点位构成虚拟平面。
本发明通过计算装置将3D支撑曲面转换为虚拟平面，然后根据虚拟平面与被测产品基准面的倾斜角度，控制轴机2旋转后，使虚拟平面与基准面平行。因此，在轴机2旋转后，加工面与基准面平行，使得对被测产品的加工部位的探测不会受弧面倾斜的影响，不需要在被测产品内腔中通过多次探测不同的探测点位，即可完成对被测产品的探测点位的探测，如此既能有效节约探针时间，节省加工成本，还能提升产品品质。
本实施方式中，探测点位是探测补偿设备1对被测产品内腔进行探测的位置。每个探测点位对应一轴机。也就是说，探测点位与轴机2是对应的关系，并且探测点位在轴机2的下方位置。
本实施方式中，计算装置根据四个探测点位建立虚拟平面，并计算出虚拟平面与基准面存在的倾斜角度。四个探测点位在计算装置的下方，由于探测点位与轴机2是对应的关系，因此，计算装置可以根据四个探测点位建立出虚拟平面，然后根据建立出来的虚拟平面与基准面进行计算，得出倾斜角度。
本实施方式中，参见图2，探针补偿设备1控制轴机2旋转使虚拟平面与基准面的倾斜角度归零。也就是说，探针补偿设备1控制轴机2，让轴机2旋转，轴机2旋转一定的程度后，虚拟平面与基准面的倾斜角度归零，当倾斜角度归零的时候，虚拟平面与基准面将达到平行的状态。
本实施方式中，3D支撑曲面为弧面，在本发明的其他实施方式中3D支撑曲面也可以为不规则的曲面，在此不作限制。
本发明第二实施方式涉及一种数控机床，且该数控机床包含如第一和第二实施方式中的一种探针基准补偿系统。
通过上述内容可知，探针补偿设备1与计算装置以及轴机2连接，计算装置属于轴机2的自带系统。计算装置根据四个探测点位建立出虚拟平面，并且计算出虚拟平面与基准面存在的倾斜角度。探针补偿设备1控制轴机2旋转使虚拟平面与基准面的倾斜角度归零，达到平行的状态。这样既能有效节约探针时间，节省加工成本，还能提升产品品质。
本发明的第三实施方式涉及一种探针基准补偿方法。如图3所示，探针基准补偿方法包括：
步骤10：将3D支撑曲面转换为虚拟平面。
其中，3D支撑曲面为弧面。在步骤10中，根据四个探测点位建立虚拟平面，并计算出虚拟平面与基准面存在的倾斜角度。
步骤11：根据虚拟平面与被测产品的基准面的倾斜角度，控制轴机旋转使虚拟平面与基准面平行，其中，被测产品同一平面内四个探测点位构成被测产品的基准面，每个探测点位对应一轴机。
具体地，在步骤11中，控制轴机旋转使虚拟平面与基准面的所述倾斜角度归零。当倾斜角度归零的时候，虚拟平面与基准面将达到平行的状态。在控制轴机旋转后，加工面与基准面平行，使得对被测产品的加工部位的探测不会受弧面倾斜的影响，不需要在被测产品内腔中通过多次探测不同的探测点位，即可完成对被测产品的探测点位的探测，如此既能有效节约探针时间，节省加工成本，还能提升产品品质。
不难发现，本实施方式为与第一实施方式相对应的方法实施例，本实施方式可与第一实施方式互相配合实施。第一实施方式中提到的相关技术细节在本实施方式中依然有效，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第一实施方式中。上面各种方法的步骤划分，只是为了描述清楚，实现时可以合并为一个步骤或者对某些步骤进行拆分，分解为多个步骤，只要包含相同的逻辑关系，都在本专利的保护范围内；对算法中或者流程中添加无关紧要的修改或者引入无关紧要的设计，但不改变其算法和流程的核心设计都在该专利的保护范围内。
本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本发明的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本发明的精神和范围。
Claims (10)
1.一种探针基准补偿系统，其特征在于，包括：探针补偿设备、计算装置以及轴机，所述探针补偿设备与所述计算装置以及所述轴机连接，所述计算装置将3D支撑曲面转换为虚拟平面，所述探针补偿设备根据所述虚拟平面与被测产品的基准面的倾斜角度，控制所述轴机旋转使所述虚拟平面与所述基准面平行，其中，所述被测产品同一平面内四个探测点位构成所述被测产品的基准面。
2.根据权利要求1所述的探针基准补偿系统，其特征在于，每个所述探测点位对应一所述轴机。
3.根据权利要求1所述的探针基准补偿系统，其特征在于，所述计算装置根据四个所述探测点位建立虚拟平面，并计算出所述虚拟平面与所述基准面存在的所述倾斜角度。
4.根据权利要求1所述的探针基准补偿系统，其特征在于，所述探针补偿设备控制所述轴机旋转使所述虚拟平面与所述基准面的所述倾斜角度归零。
5.根据权利要求1所述的探针基准补偿系统，其特征在于，所述3D支撑曲面为弧面。
6.一种数控机床，其特征在于，包含权利要求1-5任一项所述的探针基准补偿系统。
7.一种探针基准补偿方法，其特征在于，包括：
将3D支撑曲面转换为虚拟平面；
根据所述虚拟平面与被测产品的基准面的倾斜角度，控制轴机旋转使所述虚拟平面与所述基准面平行，其中，所述被测产品同一平面内四个探测点位构成被测产品的基准面，每个所述探测点位对应一所述轴机。
8.根据权利要求7所述的探针基准补偿方法，其特征在于，所述3D支撑曲面为弧面。
9.根据权利要求7所述的探针基准补偿方法，其特征在于，所述将3D支撑曲面转换为虚拟平面，包括：根据四个所述探测点位建立虚拟平面，并计算出所述虚拟平面与所述基准面存在的所述倾斜角度。
10.根据权利要求7所述的探针基准补偿方法，其特征在于，所述根据所述虚拟平面与被测产品的基准面的倾斜角度，控制所述轴机旋转使所述虚拟平面与所述基准面平行，包括：控制所述轴机旋转使所述虚拟平面与所述基准面的所述倾斜角度归零。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201611210936.2A CN106643602B (zh) | 2016-12-24 | 2016-12-24 | 一种探针基准补偿系统及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201611210936.2A CN106643602B (zh) | 2016-12-24 | 2016-12-24 | 一种探针基准补偿系统及方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN106643602A CN106643602A (zh) | 2017-05-10 |
| CN106643602B true CN106643602B (zh) | 2019-03-12 |
Family
ID=58826988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201611210936.2A Active CN106643602B (zh) | 2016-12-24 | 2016-12-24 | 一种探针基准补偿系统及方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN106643602B (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107671503B (zh) * | 2017-09-30 | 2019-08-16 | Oppo广东移动通信有限公司 | 一种壳体的加工方法、壳体和移动终端 |
| CN110549186A (zh) * | 2018-05-22 | 2019-12-10 | 蓝思科技股份有限公司 | 2.5d玻璃的弧面加工设备及弧面加工方法 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH045503A (ja) * | 1990-04-20 | 1992-01-09 | Seiko Instr Inc | 傾き補正方法およびそれを用いた微細形状測定方法 |
| CN1677116A (zh) * | 2004-04-01 | 2005-10-05 | 华硕电脑股份有限公司 | 探针检查装置 |
| CN1912540A (zh) * | 2006-08-30 | 2007-02-14 | 天津大学 | 微纳结构3d轮廓测量中基于坐标变换的倾斜误差补偿方法 |
| CN103962889A (zh) * | 2013-02-04 | 2014-08-06 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 加工机探针测量系统及方法 |
| CN104526462A (zh) * | 2014-12-11 | 2015-04-22 | 长春轨道客车股份有限公司 | 一种两次装夹加工工件的基准重合方法 |
-
2016
- 2016-12-24 CN CN201611210936.2A patent/CN106643602B/zh active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH045503A (ja) * | 1990-04-20 | 1992-01-09 | Seiko Instr Inc | 傾き補正方法およびそれを用いた微細形状測定方法 |
| CN1677116A (zh) * | 2004-04-01 | 2005-10-05 | 华硕电脑股份有限公司 | 探针检查装置 |
| CN1912540A (zh) * | 2006-08-30 | 2007-02-14 | 天津大学 | 微纳结构3d轮廓测量中基于坐标变换的倾斜误差补偿方法 |
| CN103962889A (zh) * | 2013-02-04 | 2014-08-06 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 加工机探针测量系统及方法 |
| CN104526462A (zh) * | 2014-12-11 | 2015-04-22 | 长春轨道客车股份有限公司 | 一种两次装夹加工工件的基准重合方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN106643602A (zh) | 2017-05-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Bochmann et al. | Understanding error generation in fused deposition modeling | |
| He et al. | A new error measurement method to identify all six error parameters of a rotational axis of a machine tool | |
| Zhong et al. | Dynamic accuracy evaluation for five-axis machine tools using S trajectory deviation based on R-test measurement | |
| US9459121B2 (en) | Angle measuring device and methods for calibration | |
| CN106643602B (zh) | 一种探针基准补偿系统及方法 | |
| TWI467130B (zh) | 受到裝在機床上之機器移動單元之負載引起機床變形所導致測量機器之測量誤差之補償方法及依此方法之測量機器之操作方法。 | |
| Zakharov et al. | Minimization of the systematic error in centerless measurement of the roundness of parts | |
| US9366522B2 (en) | Form measuring apparatus and form measurement method | |
| JP2006189659A5 (zh) | ||
| JP6166383B2 (ja) | エピタキシャル後反りの予測および制御方法 | |
| Wang et al. | Three-dimensional modeling and theoretical investigation of grinding marks on the surface in small ball-end diamond wheel grinding | |
| Fan et al. | Unified error model based spatial error compensation for four types of CNC machining center: part I—singular function based unified error model | |
| CN107138778B (zh) | 侧孔倒角加工方法 | |
| KR101885172B1 (ko) | 작업 정보 제공 장치 및 작업 정보 제공 방법 | |
| CN110703689A (zh) | 一种数控机床空间误差补偿方法及系统 | |
| CN112461195B (zh) | 汽轮机平台沉降监测方法、装置和计算机设备 | |
| JP6166300B2 (ja) | 工具と被加工物の干渉チェックが可能な数値制御装置 | |
| CN102230825A (zh) | 一种应用相位偏移干涉技术的姿态修正系统 | |
| CN104750395B (zh) | 用户界面调整系统及其调整方法 | |
| CN113221371A (zh) | 一种边坡临界滑动面确定方法、装置及终端设备 | |
| Fu et al. | Measurement of spindle tilt error based on interference fringe | |
| CN107421472A (zh) | 一种基于干涉条纹测量主轴倾角误差新算法 | |
| CN108562226B (zh) | 坐标系建立装置及方法 | |
| TW201521940A (zh) | 加工治具、雙輪廓加工系統及方法 | |
| CN103659465A (zh) | 用于多轴机械的补偿控制方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: Room 520, Building 8, 509 Huajing Road, Xuhui District, Shanghai, 200231 Applicant after: Shanghai Hede Intelligent Equipment Co.,Ltd. Address before: 201506 Room 1419, Building No. 6558, Tingwei Road, Jinshan District, Shanghai Applicant before: SHANGHAI YUDE INFORMATION TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
|
| TA01 | Transfer of patent application right | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20190128 Address after: 400014 No.7 Building of Standard Factory Building of Tongnan District Industrial Park Phase I, Chongqing Applicant after: Chongqing Hede Communication Technology Co.,Ltd. Address before: Room 520, Building 8, 509 Huajing Road, Xuhui District, Shanghai, 200231 Applicant before: Shanghai Hede Intelligent Equipment Co.,Ltd. |
|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| TR01 | Transfer of patent right | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20200115 Address after: 314499 Room 101, workshop 20, Shidai Road, Haining Economic Development Zone, Haining City, Jiaxing City, Zhejiang Province Patentee after: Zhejiang everything workshop Intelligent Technology Co.,Ltd. Address before: 400014 No.7 Building of Standard Factory Building of Tongnan District Industrial Park Phase I, Chongqing Patentee before: Chongqing Hede Communication Technology Co.,Ltd. |