CN106643444A - 一种屏蔽罩的平面度检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种屏蔽罩的平面度检测装置，所述装置包括检测平台和转盘：所述转盘转动连接于所述检测平台，所述转盘的上表面与所述检测平台的上表面平齐，所述检测平台的上表面开设有PIN脚插孔和PIN脚插槽，所述转盘的上表面开设有PIN脚插槽，且所述PIN脚插孔的孔深和所述PIN脚插槽的槽深均大于所述屏蔽罩的PIN脚的长度。应用本发明实施例，以实现大部分带有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩通用的平面度检测，提高检测效率，节省检测成本。

Description

一种屏蔽罩的平面度检测装置

技术领域

本发明涉及检测技术领域，特别是涉及一种屏蔽罩的平面度检测装置。

背景技术

目前，屏蔽罩已经广泛的使用在各种电子产品中，其主要应用于手机、GPS(GloblePositioning System，全球卫星定位系统)等领域。通常在电子元件外设一个屏蔽罩，作用就是屏蔽外接电磁波对内部电路的影响和内部产生的电磁波向外辐射。为了达到更好地屏蔽效果，对屏蔽罩的侧壁底面平整度要求较高，因此，对屏蔽罩的平面度进行检测是非常必要的。

当前对于有PIN脚的屏蔽罩，PIN脚的数量通常都在两个或者三个，其平面度的检测通常是用一块比屏蔽罩长宽大一些的平整的模具钢块，把屏蔽罩放在钢块上，在PIN脚对应的位置打点做标记，再用机械加工工艺在每个点上加工一个小孔，这样就能保证屏蔽罩的PIN脚都能落在对应的小孔里面，屏蔽罩就能很平整的放在钢块上面，然后用塞尺去测量屏蔽罩与钢块之间的间隙，从而测量出屏蔽罩的平面度。

但是现有的屏蔽罩平面度的检测工具一般都是根据屏蔽罩的PIN脚量身定做的，对于屏蔽罩上不同位置或者不同数量的PIN脚都需要重新定制一款平面度的检测工具，导致检测效率比较低，检测成本比较高。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种屏蔽罩的平面度检测装置，以实现大部分带有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩通用的平面度检测，提高检测效率，节省检测成本。具体技术方案如下：

本发明实施例提供了一种屏蔽罩的平面度检测装置，包括检测平台和转盘：

所述转盘转动连接于所述检测平台，所述转盘的上表面与所述检测平台的上表面平齐，所述检测平台的上表面开设有PIN脚插孔和PIN脚插槽，所述转盘的上表面开设有PIN脚插槽，且所述PIN脚插孔的孔深和所述PIN脚插槽的槽深均大于所述屏蔽罩的PIN脚的长度。

可选的，所述转盘的所述PIN脚插槽具体为过所述转盘转动轴线的直线插槽。

可选的，所述检测平台的所述PIN脚插槽具体为直线插槽。

可选的，所述检测平台具有两个所述PIN脚插槽，两个所述PIN脚插槽相对于所述转盘的转动轴线对称设置。

可选的，所述检测平台具有若干个所述PIN脚插孔，若干个所述PIN脚插孔均分为两列并相对于所述转盘的转动轴线对称设置。

可选的，所述转盘包括同轴设置的圆盘和转轴，所述检测平台具有阶梯回转孔；

所述圆盘位于所述阶梯回转孔的大孔段并搭接于所述阶梯回转孔的轴肩，所述圆盘的上表面与所述检测平台的上表面平齐并开设有所述PIN脚插槽；

所述转轴转动插装于所述阶梯回转孔的小孔段。

可选的，所述的平面度检测装置还包括锁紧螺母，所述锁紧螺母与所述转轴由伸出于所述检测平台的伸出端螺纹连接。

本发明实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置，针对屏蔽罩上有两个或者三个PIN脚的情况，将其PIN脚分别插入PIN脚插孔和PIN脚插槽中，再使用塞尺测量该屏蔽罩的平面度，从而判断其平面度是否合格。通过该检测装置，可以实现大部分带有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩通用的平面度检测，提高检测效率，节省检测成本。当然，实施本发明的任一产品或方法必不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置的爆炸图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

现有的屏蔽罩的PIN脚大多是两个或者三个，PIN直译过来就是大头针、针、栓、琐碎物等意思，是指PIN脚的形状可以是各种类似大头针形、栓形等形状，PIN脚即管脚、插脚，用来连接电气元件及其屏蔽罩。通常，屏蔽罩的PIN脚分散在屏蔽罩的不同侧，或者在同一侧的不同端，由于现有的带有PIN脚的屏蔽罩的平面度测量方法比较单一，而且耗财耗时，检测效率较低。因此，针对于有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩，提供一种通用的可调的平面度检测工具是非常必要的。

参见图1，图1为本发明实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置的结构示意图。

图1所示的屏蔽罩的平面度检测装置包括检测平台1和转盘2：转盘2转动连接于检测平台1，转盘2的上表面与检测平台1的上表面平齐，检测平台1的上表面开设有PIN脚插孔3和PIN脚插槽4，转盘2的上表面开设有PIN脚插槽4，且PIN脚插孔3的孔深和PIN脚插槽4的槽深均大于屏蔽罩的PIN脚的长度。

具体的，当屏蔽罩的PIN脚为两个时，分为两种放置方法。

第一种放置方法为：将屏蔽罩的其中一个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中或者检测平台1的PIN脚插槽4中，将屏蔽罩的另一个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，以使屏蔽罩的待检测面与检测平台1贴合，本发明中，在测量待检测面的平面度之前，需要保证转盘2的上表面与检测平台1的上表面平齐，才能确保该检测装置在测量屏蔽罩的平面度时更加准确。

具体的，先将第一个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中或者检测平台1的PIN脚插槽4中，这是因为PIN脚在PIN脚插槽4中可以来回滑动，即可以调节不同PIN脚位置的屏蔽罩的在检测装置上的放置，然后再将屏蔽罩的另一个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，这样，通过固定屏蔽罩的第二个PIN脚，也将屏蔽罩整体固定在检测装置上，即屏蔽罩的待检测面与检测平台1贴合，就可以再进一步进行该屏蔽罩的平面度测量。这里，需要确保PIN脚插孔3的孔深和PIN脚插槽4的槽深均大于屏蔽罩的PIN脚的长度，是为了在测量屏蔽罩的平面度时，可以将屏蔽罩的所有PIN脚都完全插入PIN脚插孔3和PIN脚插槽4之中，然后屏蔽罩的待检测面就可以贴合检测平台1和转盘2的上表面，这样提高了测量的准确性。

第二种放置方法为：将屏蔽罩的其中一个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，将屏蔽罩的另一个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中，以使屏蔽罩的待检测面与检测平台1贴合。

具体的，将其中一个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，这样，先将屏蔽罩的一个PIN脚固定住，然后再去将另一个PIN脚插入到合适的位置。这里，其中一个PIN脚即第一个PIN脚，另一个PIN脚即第二个PIN脚，由于第一个PIN脚已固定，那么就很难确保第二个PIN脚刚好能插入到检测平台1的PIN脚插槽4中，因此，可以通过转动转盘2，以使转盘2上的PIN脚插槽4与第二个PIN脚的位置相对应，然后将第二个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中，这样就使得两个PIN脚都插入检测装置中，从而，屏蔽罩的待检测面与检测平台1贴合，再进一步进行该屏蔽罩的平面度测量。

当屏蔽罩的PIN脚为三个时，将屏蔽罩的第一个PIN脚插入到检测平台1的PIN脚插槽4中；将屏蔽罩的第二个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，将屏蔽罩的第三个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中，以使屏蔽罩的待检测面与检测平台1贴合。

具体的放置方法为：先将其中的任意一个PIN脚插入到检测平台1的PIN脚插槽4中，这样，第一个PIN脚通过在检测平台1的PIN脚插槽4中来回滑动，才能保证第二个PIN脚插入到PIN脚插孔3中；再通过滑动转盘2使得第三个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中，最终实现屏蔽罩的平面度检测。而如果将第一个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，即将第一个PIN脚固定住了，那么就很难确保第二个PIN脚就一定能落到检测平台1的PIN脚插槽4中，或者如果将第一个PIN脚插入转盘2的PIN脚插槽4中，那么虽然可以保证第二个PIN脚插入到PIN脚插孔3中或者检测平台1的PIN脚插槽4中，但很难确保第三个PIN脚插入到PIN脚插孔3中或者检测平台1的PIN脚插槽4中。

当第一个PIN脚插入到检测平台1的PIN脚插槽4中以后，在检测平台1的PIN脚插槽4中滑动第一个PIN脚，以带动屏蔽罩的第二个PIN脚滑动到与PIN脚插孔3的相对位置处，然后将屏蔽罩的第二个PIN脚插入到PIN脚插孔3中。这里，将将屏蔽罩的第二个PIN脚插入到PIN脚插孔3中，主要通过PIN脚插孔3将屏蔽罩固定住，也就确定了屏蔽罩在检测平台1上的大概位置，这样也更容易确定第三个PIN脚的位置。

当前两个PIN脚的位置确定后，转动转盘2到屏蔽罩的第三个PIN脚与转盘2的PIN脚插槽4的相对位置，将屏蔽罩的第三个PIN脚插入到转盘2的PIN脚插槽4中，这样，三个PIN脚都插入到检测装置中，屏蔽罩的待检测面与检测平台1贴合，进而就可以对屏蔽罩的待检测面的平面度进行测量。

其中，PIN脚插孔3是用来固定屏蔽罩上的其中一个PIN脚的，PIN脚插槽4是使屏蔽罩上的PIN脚在其中来回滑动，以实现该检测装置的可调性和通用性。

当将带有两个PIN脚或者三个PIN脚的屏蔽罩的PIN脚都插入到所对应的PIN脚插孔3和PIN脚插槽4中之后，屏蔽罩的待检测面与检测平台1贴合，这时，就可以使用塞尺测量待检测面与检测平台贴合1处的间隙大小，并判断待检测面的平面度是否合格。

具体的，使用塞尺测量待检测面和检测平台1贴合处的间隙的当前测量值，并判断当前测量值是否超过预设测量值，来确定待检测面的平面度是否合格；如果当前测量值没有超过预设测量值，则待检测面的平面度合格；如果当前测量值超过预设测量值，则待检测面的平面度不合格。

通常，塞尺的具体使用方法为：在使用塞尺时先用干净的布将塞尺测量表面擦拭干净，不能在塞尺沾有油污或金属屑末的情况下进行测量，否则将影响测量结果的准确性。在将塞尺插入被测间隙中时，来回拉动塞尺，若感到稍有阻力，说明该间隙值接近塞尺上所标出的数值；如果拉动时阻力过大或过小，则说明该间隙值小于或大于塞尺上所标出的数值。在进行间隙的测量和调整时，先选择符合间隙规定的塞尺插入被测间隙中，然后一边调整，一边拉动塞尺，直到感觉稍有阻力时拧紧塞尺上的锁紧螺母，此时塞尺所标出的数值即为被测间隙值。

由此可见，通过本发明实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置，针对屏蔽罩上有两个PIN脚的情况，先将其中一个PIN脚插入PIN脚插槽4中，再将另一个PIN脚插入PIN脚插孔3中，或者先将其中一个PIN脚插入PIN脚插孔3中，再将另一个PIN脚插入转盘2上的PIN脚插槽4中，以使屏蔽罩的待检测面与检测平台1相互贴合，最后使用塞尺测量贴合处的间隙，从而判断该屏蔽罩的平面度。针对屏蔽罩上有三个PIN脚的情况，先将其中一个PIN脚插入检测平台1的PIN脚插槽4中，再将另一个PIN脚插入PIN脚插孔3中，最后将另一个PIN脚插入转盘2上的PIN脚插槽4中，以使屏蔽罩的待检测面与检测平台1相互贴合，最后使用塞尺测量贴合处的间隙，从而判断该屏蔽罩的平面度。实现了大部分带有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩通用的平面度检测，提高检测效率，节省检测成本。

在本发明实施例所提供的平面度检测装置中，转盘2的PIN脚插槽4具体为过转盘2转动轴线的直线插槽。这里，转盘2为圆形，其转动轴线的长度最长，在转盘2转动轴线上设有直线插槽，可以满足更多种不同位置的PIN脚的屏蔽罩的平面度检测。另外，直线插槽不仅使用简单，而且加工方便。

同时，检测平台1的PIN脚插槽4具体为直线插槽。这里，同转盘2的PIN脚插槽一样，直线插槽不仅使用简单，而且加工方便。

在本发明实施例所提供的平面度检测装置中，检测平台1具有两个PIN脚插槽4，两个PIN脚插槽4相对于转盘2的转动轴线对称设置。

通常，不同的屏蔽罩的PIN脚的位置不同，对于其中一个PIN脚来说，另外一个PIN脚可能在其相对位置的左侧，也可能在其相对位置的右侧，因此，检测平台1具有两个PIN脚插槽4，可以满足屏蔽盖上不同位置PIN脚的插入。两个PIN脚插槽4相对于转盘2的转动轴线对称设置，由于检测平台1的形状可以是方形、圆形等，所以对于不同形状的检测平台1，不能用确定的上下两端，或者左右两端来确定该PIN脚插槽4的位置，这里，根据转盘2的转动轴线对称设置两个PIN脚插槽4的位置，对于满足所有转盘2的转动轴线对称的相对位置都可以作为两个PIN脚插槽4的位置。

另外，检测平台1具有若干个PIN脚插孔3，若干个PIN脚插孔3均分为两列并相对于转盘2的转动轴线对称设置。这里，检测平台1具有若干个PIN脚插孔3，PIN脚插孔3的个数具体根据实际需求来设置，若干个PIN脚插孔3分为两列，每列的个数相同，且每列的PIN脚插孔3均匀分布在相对于转盘2的转动轴线对称的两端。PIN脚插孔3的位置的设置与两个PIN脚插槽4相同，两列PIN脚插孔3相对于转盘2的转动轴线对称设置。

参见图2，图2为本发明实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置的爆炸图。

由图2可以看出，转盘2包括同轴设置的圆盘5和转轴6，检测平台1具有阶梯回转孔；这里，圆盘5和转轴6同轴设置以至于转轴转动时可以带动圆5盘转动，从而使整个转盘2转动。检测平台1具有阶梯回转孔，阶梯回转孔用于将转盘2与检测平台1相互转动连接。

圆盘5位于阶梯回转孔的大孔段并搭接于阶梯回转孔的轴肩，圆盘5的上表面与检测平台1的上表面平齐并开设有PIN脚插槽4；圆盘5的上表面与检测平台1的上表面平齐是为了测量的准确性。

转轴6转动插装于阶梯回转孔的小孔段。

本发明实施例提供的平面度检测装置，还包括锁紧螺母7，锁紧螺母7与转轴6由伸出于检测平台1的伸出端螺纹连接，用于将转盘2锁定于检测平台1。

具体的，锁紧螺母7用于当屏蔽罩的PIN脚都插入到检测装置，即屏蔽罩的待检测面与检测平台1相互贴合时，将圆盘5锁定住，这样转盘2就不会来回转动，转盘2上的PIN脚插槽4也就不会来回转动，PIN脚插槽4中的PIN脚也不会来回转动，屏蔽罩也就被固定了，更有利于测量。这样在测量屏蔽罩的待检测面时，不会因为转盘2的转动而影响测量效果。

另外，可以在转轴伸出检测平台1端放一个垫片8，使得锁紧螺母7的紧固效果更好。

具体的，当PIN脚都插入相对应的PIN插孔3和PIN脚插槽4中后，通过锁紧螺母在转轴6伸出检测平台1端的螺纹上转动，直到转动到与检测平台1搭接的位置，该位置可以放一个垫片8，使得锁紧螺母7与检测平台1搭接的位置的紧固效果更好，这样，就将转盘2锁定住，避免在测量间隙的时候转盘2滑动，从而影响测量结果。

通过本发明实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置，解决了大部分带有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩通用的平面度检测，提高检测效率，节省检测成本。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (7)

1.一种屏蔽罩的平面度检测装置，其特征在于，包括检测平台(1)和转盘(2)：

所述转盘(2)转动连接于所述检测平台(1)，所述转盘(2)的上表面与所述检测平台(1)的上表面平齐，所述检测平台(1)的上表面开设有PIN脚插孔(3)和PIN脚插槽(4)，所述转盘(2)的上表面开设有PIN脚插槽(4)，且所述PIN脚插孔(3)的孔深和所述PIN脚插槽(4)的槽深均大于所述屏蔽罩的PIN脚的长度。

2.如权利要求1所述的平面度检测装置，其特征在于，所述转盘(2)的所述PIN脚插槽(4)具体为过所述转盘(2)转动轴线的直线插槽。

3.如权利要求1所述的平面度检测装置，其特征在于，所述检测平台(1)的所述PIN脚插槽(4)具体为直线插槽。

4.如权利要求3所述的平面度检测装置，其特征在于，所述检测平台(1)具有两个所述PIN脚插槽(4)，两个所述PIN脚插槽(4)相对于所述转盘(2)的转动轴线对称设置。

5.如权利要求1所述的平面度检测装置，其特征在于，所述检测平台(1)具有若干个所述PIN脚插孔(3)，若干个所述PIN脚插孔(3)均分为两列并相对于所述转盘(2)的转动轴线对称设置。

6.如权利要求1至5任一项所述的平面度检测装置，其特征在于，所述转盘(2)包括同轴设置的圆盘(5)和转轴(6)，所述检测平台(1)具有阶梯回转孔；

所述圆盘(5)位于所述阶梯回转孔的大孔段并搭接于所述阶梯回转孔的轴肩，所述圆盘(5)的上表面与所述检测平台(1)的上表面平齐并开设有所述PIN脚插槽(4)；

所述转轴(6)转动插装于所述阶梯回转孔的小孔段。

7.如权利要求6所述的平面度检测装置，其特征在于，还包括锁紧螺母(7)，所述锁紧螺母(7)与所述转轴(6)由伸出于所述检测平台(1)的伸出端螺纹连接。