CN106610879B - 提高芯片cpu噪声测试效率的方法 - Google Patents

提高芯片cpu噪声测试效率的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106610879B
CN106610879B CN201611203155.0A CN201611203155A CN106610879B CN 106610879 B CN106610879 B CN 106610879B CN 201611203155 A CN201611203155 A CN 201611203155A CN 106610879 B CN106610879 B CN 106610879B
Authority
CN
China
Prior art keywords
cpu
read
register
list item
tested
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201611203155.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106610879A (zh
Inventor
段光生
唐飞
常志恒
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Centec Communications Co Ltd
Original Assignee
Centec Networks Suzhou Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Centec Networks Suzhou Co Ltd filed Critical Centec Networks Suzhou Co Ltd
Priority to CN201611203155.0A priority Critical patent/CN106610879B/zh
Publication of CN106610879A publication Critical patent/CN106610879A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106610879B publication Critical patent/CN106610879B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273Test methods
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

本发明公开了一种提高芯片CPU噪声测试效率的方法,包括:对CPU只读,硬件逻辑可读写的寄存器或表项,在RTL代码中嵌入实时断言,当CPU进行读取操作时,通过所述断言检查CPU读取寄存器或表项数据的正确性;对于CPU可读可写,硬件逻辑只读的寄存器或表项,在被测RTL电路正常处理背景流的过程中,CPU对被测电路的寄存器或表项数据进行读取‑回写‑再读取操作,检查CPU读写操作的正确性,通过判断被测RTL电路和验证模型的输出结果是否相同,检查被测RTL电路的逻辑功能正确性。采用本发明可有效提高CPU噪声测试的效率和准确性。

Description

提高芯片CPU噪声测试效率的方法
技术领域
本发明涉及芯片验证技术领域,具体涉及一种提高芯片CPU噪声测试效率的方法。
背景技术
CPU噪声测试是指在芯片内部有背景流的情况下,CPU对芯片内寄存器或表项进行读写操作。传统的CPU噪声测试方法只是在有背景流情况下进行CPU读写操作,至于CPU读的值是否正确,写的值是否真的写进去,逻辑功能是否受到影响,则无法检查。其检查的难点主要有两个方面:一是对于CPU只读、逻辑可写的寄存器或表项,如何检查任意时刻CPU读取的结果是否正确;另一方面是如何在CPU读写寄存器或表项的情况下检查被测电路处理背景流的功能正确与否,由于逻辑的功能验证模型的时序和逻辑的RTL电路的时序是不一样的,CPU噪声测试时如果改变了寄存器或表项的值,那么功能验证模型的计算结果与RTL电路的计算结果就会不一致,导致功能验证模型报错,使得CPU噪声测试失败。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明的主要目的在于:为了解决上述两个难点,通过脚本自动化产生断言检查和CPU噪声测试用例,实现CPU噪声测试效率的提高,为此提出了一种提高芯片CPU噪声测试效率的方法。
为实现前述目的,本发明公开了一种提高芯片CPU噪声测试效率的方法,具体包括:
对CPU只读,硬件逻辑可读写的寄存器或表项,在RTL代码中嵌入实时断言,当CPU进行读取操作时,通过所述断言检查CPU读取寄存器或表项数据的正确性;
对于CPU可读可写,硬件逻辑只读的寄存器或表项,在被测RTL电路正常处理背景流的过程中,CPU通过对被测RTL电路的寄存器或表项数据进行读取-回写-再读取操作,检查CPU读写操作的正确性。
优选地,所述实时断言由脚本程序自动产生。
优选地,所述通过所述断言检查CPU读取寄存器或表项数据的正确性包括:通过所述断言获取CPU读取的数据,以及此时被访问的寄存器或表项数据的实际值,判断CPU读取的值与寄存器或表项的值是否相同,若相同则表示CPU噪声测试时CPU读操作正确。
优选地,所述检查CPU读写操作的正确性包括:CPU先读取被测RTL电路的寄存器或表项的值,再将读取的值写回所述被测RTL电路的寄存器或表项,然后再次读取所述被测RTL电路的寄存器或表项的值,判断重新读取的值与写入的值是否相同,若相同则表示CPU噪声测试时CPU读写操作正确。
优选地,通过判断被测RTL电路和验证模型的输出结果是否相同,检查被测RTL电路的逻辑功能正确性。
优选地,所述检查被测RTL电路的逻辑功能正确性包括:若CPU读写操作正确且被测RTL电路和验证模型的输出结果相同,则表示CPU噪声测试时被测RTL电路的逻辑功能正确。
与现有技术相比,本发明的优点在于:本发明公开的一种提高芯片CPU噪声测试效率的方法,通过加入实时断言和验证模型来检查CPU噪声测试时CPU访问和逻辑功能的正确性,有效地提高了CPU噪声测试的效率。
附图说明
图1是本发明一实施例提出的CPU噪声测试过程中实现CPU读取数据的正确性检查的示意图;
图2是本发明一实施例提出的CPU噪声测试过程中实现CPU读写正确性检查及被测RTL电路逻辑功能正确性检查的示意图。
具体实施方式
鉴于现有技术中的不足,本案发明人经长期研究和大量实践,得以提出本发明的技术方案。如下将对该技术方案、其实施过程及原理等作进一步的解释说明。
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
进行CPU噪声测试时,针对芯片内部的CPU只读寄存器或表项进行读操作时,硬件逻辑可能随时会对寄存器或表项进行写操作,而CPU本身无法判断其读取的值是否正确,通过嵌入实时断言则可实现对CPU读取操作正确性的检查。
图1是本发明一实施例提出的CPU噪声测试过程中实现CPU读取数据的正确性检查的示意图,如图1所示,将CPU读操作断言检查直接嵌入到被测RTL代码中,当CPU进行读取数据操作时,该断言既能获取到CPU读取寄存器或表项的数据,又能获取到此时该寄存器或表项的实际值,通过断言对获取到的数据进行比较是否相同,若相同则表示CPU读取的数据正确。
进行CPU噪声测试时,针对CPU可读可写、硬件逻辑只读的寄存器或表项,当CPU随机配置寄存器或表项操作时,需要检查硬件逻辑电路的功能是否正确。然而芯片验证模型是行为级描述模型,其在计算输出结果的时间点与被测RTL电路不一致,其采样寄存器或表项配置值的时间点与被测RTL电路也不一致,验证模型无法在被测RTL电路采样配置值的时间点进行计算输出结果。由此可知,由于被测RTL电路与验证模型计算输出结果的时间点不一致,若随机修改寄存器或表项内的配置值,则该验证模型的输出结果与被测RTL电路的输出结果可能不相同。在这种情况下,无法检查被测RTL电路功能是否正确。
然而,由于CPU和硬件逻辑的仲裁电路对于寄存器或表项的配置值是不敏感的,该仲裁电路只关心是否有CPU来访问以及访问的地址,基于此,可通过CPU对被测RTL电路的寄存器或表项进行反复读取/回写的操作下,比较被测RTL电路与验证模型的输出结果,以此验证在CPU噪声测试时CPU访问的正确性以及被测RTL电路的逻辑功能的正确性。
图2是本发明一实施例提出的CPU噪声测试过程中实现CPU读写正确性检查及被测RTL电路逻辑功能正确性检查的示意图,在被测RTL电路正常处理背景流的过程中,CPU先读取被测RTL电路的寄存器或表项的值,再将读取的值写回该寄存器或表项,然后再次读取该寄存器或表项的值,判断重新读取的值与写入的值是否相同,若相同则表示CPU噪声测试时CPU读写操作正确,即CPU访问正常。同时,CPU所进行的读取-回写-再读取的操作过程中并未改变寄存器或表项的配置值,被测RTL电路与验证模型所采样的配置值是相同的,故被测RTL电路的计算输出结果与验证模型也应该是相同的,从而可通过比较被测RTL电路与验证模型的输出结果是否相同,检查被测RTL电路的逻辑功能在CPU噪声测试过程中是否正确。
采用本发明提供的一种提高芯片CPU噪声测试效率的方法,通过加入实时断言和验证模型来检查CPU噪声测试时CPU访问与被测RTL电路功能的正确性,有效地提高了CPU噪声测试的效率和准确性。
应当理解,上述实施例仅为说明本发明的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并据以实施,并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种提高芯片CPU噪声测试效率的方法,其特征在于:
对CPU只读,硬件逻辑可读可写的寄存器或表项,在RTL代码中嵌入实时断言,当CPU进行读取操作时,通过所述断言检查CPU读取寄存器或表项数据的正确性;
对于CPU可读可写,硬件逻辑只读的寄存器或表项,在被测RTL电路正常处理背景流的过程中,CPU通过对被测RTL电路的寄存器或表项数据进行读取-回写-再读取操作,检查CPU读写操作的正确性;
其中,
所述通过断言检查CPU读取寄存器或表项数据的正确性包括:通过所述断言获取CPU读取的数据与此时被访问的寄存器或表项数据的实际值,判断CPU读取的值与寄存器或表项的值是否相同,若相同则表示CPU噪声测试时CPU读操作正确;
所述检查CPU读写操作的正确性包括:CPU先读取被测RTL电路的寄存器或表项的值,再将读取的值写回所述被测RTL电路的寄存器或表项,然后再次读取所述被测RTL电路的寄存器或表项的值,判断重新读取的值与写入的值是否相同,若相同则表示CPU噪声测试时CPU读写操作正确。
2.根据权利要求1所述的提高芯片CPU噪声测试效率的方法,其特征在于:所述实时断言由脚本程序自动产生。
3.根据权利要求1所述的提高芯片CPU噪声测试效率的方法,其特征在于:还包括通过判断被测RTL电路和验证模型的输出结果是否相同,检查被测RTL电路的逻辑功能正确性。
4.根据权利要求3所述的提高芯片CPU噪声测试效率的方法,其特征在于,所述检查被测RTL电路的逻辑功能正确性包括:
若被测RTL电路和验证模型的输出结果相同,则表示CPU噪声测试时被测RTL电路的逻辑功能正确。
CN201611203155.0A 2016-12-23 2016-12-23 提高芯片cpu噪声测试效率的方法 Active CN106610879B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611203155.0A CN106610879B (zh) 2016-12-23 2016-12-23 提高芯片cpu噪声测试效率的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611203155.0A CN106610879B (zh) 2016-12-23 2016-12-23 提高芯片cpu噪声测试效率的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106610879A CN106610879A (zh) 2017-05-03
CN106610879B true CN106610879B (zh) 2019-08-02

Family

ID=58636626

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611203155.0A Active CN106610879B (zh) 2016-12-23 2016-12-23 提高芯片cpu噪声测试效率的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106610879B (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109189625A (zh) * 2018-09-17 2019-01-11 盛科网络(苏州)有限公司 芯片的验证方法和装置
CN113075537B (zh) * 2019-07-01 2022-10-11 成都奥卡思微电科技有限公司 一种迭代式的形式验证断言空泛性强度的测试方法、存储介质和终端
CN115564668A (zh) * 2021-05-31 2023-01-03 荣耀终端有限公司 一种噪声的监测方法、电子设备及芯片系统
CN114356218B (zh) * 2021-12-07 2024-01-16 广州致存科技有限责任公司 Flash存储器的数据纠错方法、设备以及介质

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101359512A (zh) * 2008-09-02 2009-02-04 中兴通讯股份有限公司 一种外部存储器的检测方法和装置
CN102231286A (zh) * 2009-10-08 2011-11-02 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 动态随机存取存储器的测试方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7523367B2 (en) * 2005-06-30 2009-04-21 International Business Machines Corporation Method and apparatus to verify non-deterministic results in an efficient random manner
US8856614B2 (en) * 2010-07-29 2014-10-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device detecting error

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101359512A (zh) * 2008-09-02 2009-02-04 中兴通讯股份有限公司 一种外部存储器的检测方法和装置
CN102231286A (zh) * 2009-10-08 2011-11-02 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 动态随机存取存储器的测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN106610879A (zh) 2017-05-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106610879B (zh) 提高芯片cpu噪声测试效率的方法
CN104408264B (zh) 一种基于断言的嵌入式存储控制器验证系统及方法
CN105589993B (zh) 微处理器功能验证设备及微处理器功能验证方法
CN105930242B (zh) 一种支持精确访存检测的多核处理器随机验证方法及装置
JPH01201736A (ja) マイクロコンピュータ
CN104237766B (zh) 芯片测试方法和装置
CN112417798B (zh) 一种时序测试方法、装置、电子设备及存储介质
US20120042294A1 (en) Apparatus and method thereof for hybrid timing exception verification of an integrated circuit design
CN108345787B (zh) 确定处理器安全性的方法、检测装置及系统
US8543368B1 (en) Method and system for testing
Pevtsov et al. Design for testability of integrated circuits and project protection difficulties
CN202120623U (zh) 基于ieee 1500 的嵌入式sram存储器测试结构
CN102565683B (zh) 一种测试向量的生成与验证方法
CN101763453B (zh) 规范化ip核评测方法和系统
CN106557412A (zh) 一种模糊测试的方法及装置
US20110218794A1 (en) Concretization of abstracted traces
CN108363567B (zh) 一种基于数据库的验证平台激励器自动化生成方法
CN109144854A (zh) 一种针对门级电路采用有界模型检测的软件自测试方法
Mogollón et al. Metrics for the measurement of the quality of stimuli in radiation testing using fast hardware emulation
CN109635480A (zh) 一种基于制图软件的控制逻辑验证和调试方法
CN109739706A (zh) 一种ram测试方法及测试装置
CN109857665A (zh) 一种测试用例的测试执行方法及装置
US11250198B2 (en) Method to perform hardware safety analysis without fault simulation
US11869616B2 (en) Centrally logging and aggregating miscompares on chip during memory test
CN112989736B (zh) 用于检测修改设计的错误实例的方法、设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CP01 Change in the name or title of a patent holder
CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 215000 unit 13 / 16, 4th floor, building B, No.5 Xinghan street, Suzhou Industrial Park, Jiangsu Province

Patentee after: Suzhou Shengke Communication Co.,Ltd.

Address before: 215000 unit 13 / 16, 4th floor, building B, No.5 Xinghan street, Suzhou Industrial Park, Jiangsu Province

Patentee before: CENTEC NETWORKS (SU ZHOU) Co.,Ltd.