CN106603169A - 一种可靠性测试开关箱 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种可靠性测试开关箱，包括箱体以及设置在箱体内的主控制板、电源、射频链路系统；所述射频链路系统包括耦合网络、耦合器、同轴负载、大功率同轴衰减器、单刀四掷同轴射频开关、单刀八掷同轴射频开关、单刀双掷同轴射频开关、环形器、隔离器；所述箱体外壁设有显示屏；所述箱体侧壁设有电源输入端口、串行口连接端口、接地连接端口、第一天线连接端口、第二天线连接端口、校准连接端口、频谱仪连接端口、信号源连接端口。本发明支持本地和远程两种操作方式；利用本发明可以实现8X4测试，也可以根据实际情况减少测试设备，通过各部件的配合，测试结果可靠、准确。
Description
技术领域
本发明属于通信技术领域，具体涉及一种可靠性测试开关箱。
背景技术
随着无线通讯技术的发展，通信设备的功能愈加复杂，对于无线通信系统的环境可靠性也提出了更高的要求，尤其室外型无线基站设备，工作环境恶劣，设备功能复杂，一旦出现故障会导致一定区域范围的无线通讯中断，对人民生产、生活造成重大影响。
提高室外型基站设备的环境可靠性是设备厂商和网络运营商都需要考虑的，设备厂商需要不断提高设备的可靠性，运营商在采购过程中需要找到可靠性高的设备，这都依赖于环境可靠性实验。在可靠性实验中需要进行振动、高低温、湿热等多项测试。在传统的测试方法中，搭建测试环境的工作非常复杂和繁琐，且测试过程中往往需要多次更换测试场地，导致测试环境需要多次移动或者搭建。另外在每一个实验场景中都需要对数个指标进行多轮测试，测试工作量大，数据记录繁琐、易出错，不容易实现自动化测试，测试结果的可信度不高。为了更加高效、高质量的完成可靠性实验，需要设计一套集成的射频开关箱，满足环境搭建、环境移动、自动化测试等目的。
发明内容
本发明的目的是提供一种可靠性测试开关箱，用于实现无线通讯设备可靠性实验自动化测试，解决测试过程中搭建环境繁琐耗时的问题，尤其适合于LTE等无线通信制式的射频可靠性测试。
为达到上述发明目的，本发明采用的技术方案是：
一种可靠性测试开关箱，包括箱体以及设置在箱体内的主控制板、电源、射频链路系统；所述射频链路系统包括耦合网络、耦合器、同轴负载、大功率同轴衰减器、单刀四掷同轴射频开关、单刀八掷同轴射频开关、单刀双掷同轴射频开关、环形器、隔离器；所述箱体外壁设有显示屏；所述箱体侧壁设有电源输入端口、串行口连接端口、接地连接端口、第一天线连接端口、第二天线连接端口、校准连接端口、频谱仪连接端口、信号源连接端口；所述耦合网络输入端与第一天线连接端口连接，输出端与同轴负载连接，校准端与耦合器连接；所述耦合器的直通端与校准连接端口连接；所述耦合器的耦合端与单刀四掷同轴射频开关的触点连接；所述大功率同轴衰减器的输入端与第二天线连接端口连接；所述大功率同轴衰减器的输出端与单刀八掷同轴射频开关的触点连接；所述单刀四掷同轴射频开关的公共端口与单刀双掷同轴射频开关触点连接；所述单刀八掷同轴射频开关的公共端口与单刀双掷同轴射频开关的触点连接；所述单刀双掷同轴射频开关的公共端口与环形器连接；所述环形器分别与频谱仪连接端口、隔离器连接；所述隔离器与信号源连接端口连接。
本发明中，各部件通过射频线连接；电源提供电力转换，通过现有方式与需要供电的部件连接；显示屏可以显示测试状态，与主控制板连接，优选显示屏为人机界面，还可以输入指令，实现测试箱的本地控制；主控制板主要进行指令控制、开关控制、显示控制及信息处理等，一般由集成处理器、存储器、电容电阻和必要的通信接口组成等，主控制板与各个同轴开关、显示屏等相连，连接属于常规电路连接。
本发明中，箱体内还设置对流风扇，一般安装在箱体侧壁，优选多组对流风扇，实现箱体散热降温的效果，对流风扇转速通过主控板进行控制；进一步优选箱体侧壁设有散热孔，以提高箱体散热效果；还可以在箱体内设置温度检测装置，比如在主控制板上集成温度检模块或者在箱体内安装测温头，可以实时监测箱体温度，以达到最佳散热效果，更主要是防止温度过高导致元件损伤。
本发明中，箱体侧壁设有局域网连接端口，接收用户网络发送过来的信号传递给主控板，实现远程操作方式；可以在箱体上设置电源开关，实现设备的开启关闭。
本发明中，根据实际使用状态，电源输入端口、局域网连接端口、串行口连接端口、接地连接端口、天线连接端口、校准连接端口设置在箱体的后面板上；频谱仪连接端口、信号源连接端口、电源开关、显示屏设置在箱体的前面板上；对流风扇设置在箱体的左右两侧面板上。如此设计可以避免外接线路的互相干扰，同时方便测试操作。
本发明中，大功率同轴衰减器为1～8个，第二天线连接端口数量与大功率同轴衰减器数量一致，大功率同轴衰减器分别与单刀八掷同轴射频开关的触点连接；耦合网络为1～4个，耦合器、校准连接端口数量与耦合网络数量一致，耦合器分别与单刀四掷同轴射频开关的触点连接；优选耦合网络为八端口耦合网络，第一天线连接端口数量为8～32个，每个耦合网络输入端可以连接1～8个第一天线连接端口，同轴负载数量为8～32个，每个耦合网络输出端可以连接1～8个同轴负载。
进一步优选的，大功率同轴衰减器为8个，第二天线连接端口数量为8个，一个大功率同轴衰减器与一个第二天线连接端口连接，大功率同轴衰减器分别与单刀八掷同轴射频开关的触点连接；耦合网络为4个，耦合器为4个，校准连接端口为4个，一个耦合网络与一个耦合器、一个校准连接端口依次连接，耦合器分别与单刀四掷同轴射频开关的触点连接；耦合网络为八端口耦合网络，第一天线连接端口数量为32个，每个耦合网络输入端可以连接8个第一天线连接端口，同轴负载数量为32个，每个耦合网络输出端可以连接8个同轴负载。本发明集成了八通道耦合网络和大功率衰减器，最大支持四台八通道设备和四台双通道设备同时连接；关键是通过环形器、隔离器、耦合器、射频开关与耦合网络、信号接口的配合，多台设备同时连接时，测试结果可靠、准确。
比如，本发明的射频链路系统包括设置在箱体内的八端口耦合网络CN1-CN4、耦合器C1-C4、同轴负载L11-L18、同轴负载L21-L28、同轴负载L31-L38、同轴负载L41-L48、大功率同轴衰减器A1-A8、单刀四掷同轴射频开关SW1、单刀八掷同轴射频开关SW2、单刀双掷同轴射频开关SW3、环形器CL1、隔离器IS1、用于连接的射频线、第一天线连接端口（ANT11-ANT18，ANT21-ANT28，ANT31-ANT38，ANT41-ANT48）、第二天线连接端口（ANTE1，ANTE2，ANTF1，ANTF2，ANTG1，ANTG2，ANTH1，ANTH2）、校准连接端口CAL1-CAL4、频谱仪连接端口SA、信号源连接端口SG；耦合网络CN1输入八个端口分别与天线连接端口ANT11-ANT18连接，耦合网络CN2输入八个端口分别与天线连接端口ANT21-ANT28连接，耦合网络CN3输入八个端口分别与天线连接端口ANT31-ANT38连接，耦合网络CN4输入八个端口分别与天线连接端口ANT41-ANT48连接，耦合网络CN1输出八个端口分别与同轴负载L11-L18连接，耦合网络CN2输出八个端口分别与同轴负载L21-L28连接，耦合网络CN3输出八个端口分别与同轴负载L31-L38连接，耦合网络CN4输出八个端口分别与同轴负载L41-L48连接，耦合网络CN1校准端口与耦合器C1输入端连接，耦合网络CN2校准端口与耦合器C2输入端连接，耦合网络CN3校准端口与耦合器C3输入端连接，耦合网络CN4校准端口与耦合器C4输入端连接，耦合器C1直通端与校准端口CAL1连接，耦合器C2直通端与校准端口CAL2连接，耦合器C3直通端与校准端口CAL3连接，耦合器C4直通端与校准端口CAL4连接，耦合器C1耦合端与单刀四掷同轴射频开关SW1第一个触点连接，耦合器C2耦合端与单刀四掷同轴射频开关SW1第二个触点连接，耦合器C3耦合端与单刀四掷同轴射频开关SW1第三个触点连接，耦合器C4耦合端与单刀四掷同轴射频开关SW1第四个触点连接，大功率同轴衰减器A1输入端与天线连接端口ANTE1连接，大功率同轴衰减器A2输入端与天线连接端口ANTE2连接，大功率同轴衰减器A3输入端与天线连接端口ANTF1连接，大功率同轴衰减器A4输入端与天线连接端口ANTF2连接，大功率同轴衰减器A5输入端与天线连接端口ANTG1连接，大功率同轴衰减器A6输入端与天线连接端口ANTG2连接，大功率同轴衰减器A7输入端与天线连接端口ANTH1连接，大功率同轴衰减器A8输入端与天线连接端口ANTH2连接，大功率同轴衰减器A1输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第一个触点连接，大功率同轴衰减器A2输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第二个触点连接，大功率同轴衰减器A3输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第三个触点连接，大功率同轴衰减器A4输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第四个触点连接，大功率同轴衰减器A5输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第五个触点连接，大功率同轴衰减器A6输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第六个触点连接，大功率同轴衰减器A7输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第七个触点连接，大功率同轴衰减器A8输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第八个触点连接，单刀四掷同轴射频开关SW1公共端口与单刀双掷同轴射频开关SW3第二个触点连接，单刀八掷同轴射频开关SW2公共端口与单刀双掷同轴射频开关SW3第一个触点连接，单刀双掷同轴射频开关SW3公共端口与环形器CL1端口1连接，环形器CL1端口2与频谱仪连接端口SA连接，环形器CL1端口3与隔离器IS1输入端口连接，隔离器IS1输出端口与信号源连接端口SG连接。
本发明支持本地和远程两种操作方式；人机界面显示屏接收用户的触摸输入传递给主控板，实现本地操作方式；局域网连接端口RJ45接收用户网络发送过来的信号传递给主控板，实现远程操作方式。
优选的，所述箱体外侧壁设有散热涂层；所述散热涂层的制备方法为，将聚苯乙烯微球分散至去离子水中，然后加入丙炔醇；搅拌20分钟，加入碳酸氢钠调节pH值至8.5；然后加入四乙氧基硅烷、3-氨丙基三乙氧基硅烷，搅拌60分钟，然后加入三氟化硼二甲醇络合物；95℃搅拌70分钟；然后过滤，滤饼用乙醇洗涤后再用去离子水洗涤得到固体物；固体物配加硝酸钇、氮化硼压球，然后经过1050℃热处理20分钟后得到粉体；将粉体分散于乙醇中，再加入聚乙二醇水溶液，120℃搅拌3小时后，过滤干燥得到复合填料；将丙烯酸、N-羟甲基丙烯酰胺、乙酸烯丁基酯、次甲基丁二酸、乙烯基膦酸二甲酯、水混合均匀，85℃反应3小时；然后加入双-三羟甲基丙烷四丙烯酸酯、异构十三醇聚氧乙烯醚、N,N'-羰基二咪唑、1,4-丁二醇，搅拌25分钟后滴加过硫酸铵水溶液，反应2小时；加入复合填料以及乙醇/水混合液，95℃搅拌2小时；制备得到涂料；将涂料涂覆于箱体外侧壁，红外干燥即得到散热涂层。
本发明所达到的有益效果：
1、本发明的各部件的连接能够对无线通讯基站可靠性项目指标进行测试，克服了测试时搭建环境繁琐耗时的问题；
2、本发明集成了八通道耦合网络和大功率衰减器，最大支持四台八通道设备和四台双通道设备同时连接；
3、本发明支持远程网络连接方式，易于用户实现自动化测试，提高测试效率；
4、本发明支持同时连接频谱仪和信号源，不需要手动更换射频线。
附图说明
图1为实施例一中可靠性测试开关箱的射频链路系统框图；
图2为实施例一中可靠性测试开关箱的结构示意图；
图3为实施例一中可靠性测试开关箱的后视图；
其中：1、箱体；2、频谱仪连接端口；3、信号源连接端口；4、电源开关；5、人机界面显示屏；6、对流风扇散热孔；7、散热孔；8、电源输入端口；9、局域网连接端口；10、串行口连接端口；11、接地连接端口；12、天线连接端口；13、校准连接端口。
具体实施方式
实施例一
一种可靠性测试开关箱，包括箱体，在箱体内设置主控制板、电源、多组对流风扇，箱体的前面板设置频谱仪连接端口（SA）、信号源连接端口（SG）、电源开关、人机界面显示屏，箱体的左右两侧设置对流风扇，箱体左右两侧面板和顶部面板开散热孔，箱体的后面板设置电源输入端口（D1）、局域网连接端口（RJ45）、串行口连接端口（DB9）、接地连接端口（J1）、天线连接端口（ANT11-ANT18，ANT21-ANT28，ANT31-ANT38，ANT41-ANT48，ANTE1，ANTE2，ANTF1，ANTF2，ANTG1，ANTG2，ANTH1，ANTH2）、校准连接端口（CAL1-CAL4）；在箱体内设置耦合网络（CN1-CN4）、耦合器（C1-C4）、同轴负载（L11-L18、L21-L28、L31-L38、L41-L48）、大功率同轴衰减器（A1-A8）、单刀四掷同轴射频开关（SW1）、单刀八掷同轴射频开关（SW2）、单刀双掷同轴射频开关（SW3）、环形器（CL1）、隔离器（IS1）。实施例中，各部件通过射频线连接；同样的部件只标注一处，比如天线连接端口、校准连接端口等；一些常规电路连接没有表示，比如主控制板的连接没有表示，本领域技术人员可以市购成品也可以根据常识自行焊接，不影响本发明可靠性测试的效果。
参见附图1，为本实施例射频链路系统框图；耦合网络CN1输入侧八个端口分别与天线连接端口ANT11-ANT18通过射频线连接，耦合网络CN2输入侧八个端口分别与天线连接端口ANT21-ANT28通过射频线连接，耦合网络CN3输入侧八个端口分别与天线连接端口ANT31-ANT38通过射频线连接，耦合网络CN4输入侧八个端口分别与天线连接端口ANT41-ANT48通过射频线连接，耦合网络CN1输出侧八个端口分别与同轴负载L11-L18通过射频线连接，耦合网络CN2输出侧八个端口分别与同轴负载L21-L28通过射频线连接，耦合网络CN3输出侧八个端口分别与同轴负载L31-L38通过射频线连接，耦合网络CN4输出侧八个端口分别与同轴负载L41-L48通过射频线连接，耦合网络CN1校准端口与耦合器C1输入端通过射频线相连，耦合网络CN2校准端口与耦合器C2输入端通过射频线相连，耦合网络CN3校准端口与耦合器C3输入端通过射频线相连，耦合网络CN4校准端口与耦合器C4输入端通过射频线相连，耦合器C1直通端与校准端口CAL1通过射频线相连，耦合器C2直通端与校准端口CAL2通过射频线相连，耦合器C3直通端与校准端口CAL3通过射频线相连，耦合器C4直通端与校准端口CAL4通过射频线相连，耦合器C1耦合端与单刀四掷同轴射频开关SW1第一个触点通过射频线相连，耦合器C2耦合端与单刀四掷同轴射频开关SW1第二个触点通过射频线相连，耦合器C3耦合端与单刀四掷同轴射频开关SW1第三个触点通过射频线相连，耦合器C4耦合端与单刀四掷同轴射频开关SW1第四个触点通过射频线相连，大功率同轴衰减器A1输入端与天线连接端口ANTE1通过射频线相连，大功率同轴衰减器A2输入端与天线连接端口ANTE2通过射频线相连，大功率同轴衰减器A3输入端与天线连接端口ANTF1通过射频线相连，大功率同轴衰减器A4输入端与天线连接端口ANTF2通过射频线相连，大功率同轴衰减器A5输入端与天线连接端口ANTG1通过射频线相连，大功率同轴衰减器A6输入端与天线连接端口ANTG2通过射频线相连，大功率同轴衰减器A7输入端与天线连接端口ANTH1通过射频线相连，大功率同轴衰减器A8输入端与天线连接端口ANTH2通过射频线相连，大功率同轴衰减器A1输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第一个触点通过射频线相连，大功率同轴衰减器A2输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第二个触点通过射频线相连，大功率同轴衰减器A3输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第三个触点通过射频线相连，大功率同轴衰减器A4输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第四个触点通过射频线相连，大功率同轴衰减器A5输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第五个触点通过射频线相连，大功率同轴衰减器A6输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第六个触点通过射频线相连，大功率同轴衰减器A7输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第七个触点通过射频线相连，大功率同轴衰减器A8输出端与单刀八掷同轴射频开关SW2第八个触点通过射频线相连，单刀四掷同轴射频开关SW1公共端口与单刀双掷同轴射频开关SW3第二个触点通过射频线相连，单刀八掷同轴射频开关SW2公共端口与单刀双掷同轴射频开关SW3第一个触点通过射频线相连，单刀双掷同轴射频开关SW3公共端口与环形器CL1端口1通过射频线相连，环形器CL1端口2与频谱仪连接端口SA通过射频线相连，环形器CL1端口3与隔离器IS1输入端口通过射频线相连，隔离器IS1输出端口与信号源连接端口SG通过射频线相连。
附图2、3分别为本实施例可靠性测试开关箱立体结构示意图、箱体后面板结构示意图；箱体1的前面板设置频谱仪连接端口2、信号源连接端口3、电源开关4、人机界面显示屏5，箱体的左右两侧设置对流风扇散热孔6，箱体左右两侧面板和顶部面板开散热孔7，箱体的后面板设置电源输入端口8、局域网连接端口9、串行口连接端口10、接地连接端口11、天线连接端口12、校准连接端口13；在箱体内设置主控制板、电源、多组对流风扇、耦合网络、耦合器、同轴负载、大功率同轴衰减器、单刀四掷同轴射频开关、单刀八掷同轴射频开关、单刀双掷同轴射频开关、环形器、隔离器，各部件在箱体内的具体安装不受限制，不影响本发明效果的实现。
实施例二
一种可靠性开关测试箱，与实施例一一致，区别点就是在箱体外侧壁设有散热涂层；将100g聚苯乙烯微球分散至去离子水中，然后加入20g丙炔醇；搅拌20分钟，加入碳酸氢钠调节pH值至8.5；然后加入500g四乙氧基硅烷、200g3-氨丙基三乙氧基硅烷，搅拌60分钟，然后加入600g三氟化硼二甲醇络合物；95℃搅拌70分钟；然后过滤，滤饼用乙醇洗涤后再用去离子水洗涤得到固体物；500g固体物配加50g硝酸钇、300g氮化硼压球，然后经过1050℃热处理20分钟后得到粉体；将500g粉体分散于乙醇中，再加入1500g聚乙二醇水溶液（12wt%），120℃搅拌3小时后，过滤干燥得到复合填料；将100g丙烯酸、60gN-羟甲基丙烯酰胺、80g乙酸烯丁基酯、20g次甲基丁二酸、60g乙烯基膦酸二甲酯、2000g水混合均匀，85℃反应3小时；然后加入50g双-三羟甲基丙烷四丙烯酸酯、30g异构十三醇聚氧乙烯醚、40gN,N'-羰基二咪唑、90g1,4-丁二醇，搅拌25分钟后滴加100g过硫酸铵水溶液（0.1wt%），反应2小时；加入260g复合填料以及500g乙醇/水混合液（1∶1），95℃搅拌2小时；制备得到涂料；将涂料涂覆于箱体外侧壁，90℃红外干燥即得到散热涂层。
本发明通过聚合、烧结的工艺制备得到无机粉末，粒径大约50纳米，分布窄，同时具有多孔结构，尤其是，通过处理孔壁附有亲水大分子有机物，有利于有机物与无机物的界面反应，增加有机无机体系的稳定性。在涂料研究和生产过程中，通常使用无机添加剂，这不仅能降低产品的成本，而且还能改善涂料的某些性能；然而，由于无机填料与有机聚合物在化学结构和物理形态上存在着显著的差异，两者缺乏亲和性，往往会使涂料制品性能受到影响。本发明通过加入特别处理的改性复合填料，使无机粒子表面由亲水性变成亲油性，从而能够提高涂层的综合性能，粘接力达到1级，热变形温度达到143度，散热能力强，导热系数达到1.6W/mK。
本发明支持同时连接四台八通道基站设备和四台二通道基站设备，或者连接四台八通道基站设备和二台四通道基站设备，连接如表1和表2所示。
表1 四台八通道基站设备和四台二通道基站设备同时测试连接关系表
| 编号 | 基站 | 外部端口 |
| T1 | 八通道基站1 | ANT11-ANT18 |
| T2 | 八通道基站2 | AN211-ANT28 |
| T3 | 八通道基站3 | ANT31-ANT38 |
| T4 | 八通道基站4 | ANT41-ANT48 |
| T5 | 二通道基站1 | ANTE1、ANTE2 |
| T6 | 二通道基站2 | ANTF1、ANTF2 |
| T7 | 二通道基站3 | ANTG1、ANTG2 |
| T8 | 二通道基站4 | ANTH1、ANTH2 |
表2 四台八通道基站设备和二台四通道基站设备同时测试连接关系表
| 编号 | 基站 | 外部端口 |
| T1 | 八通道基站1 | ANT11-ANT18 |
| T2 | 八通道基站2 | AN211-ANT28 |
| T3 | 八通道基站3 | ANT31-ANT38 |
| T4 | 八通道基站4 | ANT41-ANT48 |
| T9 | 四通道基站1 | ANTE1、ANTE2、ANTF1、ANTF2 |
| T10 | 四通道基站2 | ANTG1、ANTG2、ANTH1、ANTH2 |
测试路径如下：
T1：测试时八通道基站1的八个天线端口连接箱体外部端口ANT11-ANT18，SW1的触点一与公共端导通，SW3的触点二与公共端导通。基站天线发射信号经由（ANT11-ANT18）->耦合网络CN1->耦合器C1->单刀四掷同轴射频开关SW1->单刀双掷同轴射频开关SW3->环形器CL1->频谱仪连接端口SA->频谱仪；信号源发射的信号经由信号源->信号源连接端口SG->隔离器IS1->环形器CL1->单刀双掷同轴射频开关SW3->单刀四掷同轴射频开关SW1->耦合器C1->耦合网络CN1->（ANT11-ANT18）->基站；
T2：测试时八通道基站2的八个天线端口连接箱体外部端口ANT21-ANT28，SW1的触点二与公共端导通，SW3的触点二与公共端导通。基站天线发射信号经由（ANT21-ANT28）->耦合网络CN2->耦合器C2->单刀四掷同轴射频开关SW1->单刀双掷同轴射频开关SW3->环形器CL1->频谱仪连接端口SA->频谱仪；信号源发射的信号经由信号源->信号源连接端口SG->隔离器IS1->环形器CL1->单刀双掷同轴射频开关SW3->单刀四掷同轴射频开关SW1->耦合器C2->耦合网络CN2->（ANT21-ANT28）->基站；
T3：测试时八通道基站3的八个天线端口连接箱体外部端口ANT31-ANT38，SW1的触点一与公共端导通，SW3的触点三与公共端导通。基站天线发射信号经由（ANT31-ANT38）->耦合网络CN3->耦合器C1->单刀四掷同轴射频开关SW1->单刀双掷同轴射频开关SW3->环形器CL1->频谱仪连接端口SA->频谱仪；信号源发射的信号经由信号源->信号源连接端口SG->隔离器IS1->环形器CL1->单刀双掷同轴射频开关SW3->单刀四掷同轴射频开关SW1->耦合器C3->耦合网络CN3->（ANT31-ANT38）->基站；
T4：测试时八通道基站4的八个天线端口连接箱体外部端口ANT41-ANT48，SW1的触点四与公共端导通，SW3的触点四与公共端导通。基站天线发射信号经由（ANT41-ANT48）->耦合网络CN4->耦合器C4->单刀四掷同轴射频开关SW1->单刀双掷同轴射频开关SW3->环形器CL1->频谱仪连接端口SA->频谱仪；信号源发射的信号经由信号源->信号源连接端口SG->隔离器IS1->环形器CL1->单刀双掷同轴射频开关SW3->单刀四掷同轴射频开关SW1->耦合器C4->耦合网络CN4->（ANT41-ANT48）->基站；
T5：测试时二通道基站1的二个天线端口连接箱体外部端口ANTE1、ANTE2，SW2的触点一或者触点二与公共端导通，SW3的触点一与公共端导通。基站天线发射信号经由（ANTE1、ANTE2）->（大功率同轴衰减器A1、A2）->单刀八掷同轴射频开关SW2->单刀双掷同轴射频开关SW3->环形器CL1->频谱仪连接端口SA->频谱仪；信号源发射的信号经由信号源->信号源连接端口SG->隔离器IS1->环形器CL1->单刀双掷同轴射频开关SW3->单刀八掷同轴射频开关SW2->（大功率同轴衰减器A1、A2）->（ANTE1、ANTE2）->基站；
T6：测试时二通道基站2的二个天线端口连接箱体外部端口ANTF1、ANTF2，SW2的触点三或者触点四与公共端导通，SW3的触点一与公共端导通。基站天线发射信号经由（ANTF1、ANTF2）->（大功率同轴衰减器A3、A4）->单刀八掷同轴射频开关SW2->单刀双掷同轴射频开关SW3->环形器CL1->频谱仪连接端口SA->频谱仪；信号源发射的信号经由信号源->信号源连接端口SG->隔离器IS1->环形器CL1->单刀双掷同轴射频开关SW3->单刀八掷同轴射频开关SW2->（大功率同轴衰减器A3、A4）->（ANTF1、ANTF2）->基站；
T7：测试时二通道基站3的二个天线端口连接箱体外部端口ANTG1、ANTG2，SW2的触点五或者触点六与公共端导通，SW3的触点一与公共端导通。基站天线发射信号经由（ANTG1、ANTG2）->（大功率同轴衰减器A5、A6）->单刀八掷同轴射频开关SW2->单刀双掷同轴射频开关SW3->环形器CL1->频谱仪连接端口SA->频谱仪；信号源发射的信号经由信号源->信号源连接端口SG->隔离器IS1->环形器CL1->单刀双掷同轴射频开关SW3->单刀八掷同轴射频开关SW2->（大功率同轴衰减器A5、A6）->（ANTG1、ANTG2）->基站；
T8：测试时二通道基站4的二个天线端口连接箱体外部端口ANTH1、ANTH2，SW2的触点七或者触点八与公共端导通，SW3的触点一与公共端导通。基站天线发射信号经由（ANTH1、ANTH2）->（大功率同轴衰减器A7、A8）->单刀八掷同轴射频开关SW2->单刀双掷同轴射频开关SW3->环形器CL1->频谱仪连接端口SA->频谱仪；信号源发射的信号经由信号源->信号源连接端口SG->隔离器IS1->环形器CL1->单刀双掷同轴射频开关SW3->单刀八掷同轴射频开关SW2->（大功率同轴衰减器A7、A8）->（ANTH1、ANTH2）->基站；
T9：测试时四通道基站1的四个天线端口连接箱体外部端口ANTE1、ANTE2、ANTF1、ANTF2，SW2的触点一、触点二、触点三或者触点四与公共端导通，SW3的触点一与公共端导通。基站天线发射信号经由（ANTE1、ANTE2、ANTF1、ANTF2）->（大功率同轴衰减器A1、A2、A3、A4）->单刀八掷同轴射频开关SW2->单刀双掷同轴射频开关SW3->环形器CL1->频谱仪连接端口SA->频谱仪；信号源发射的信号经由信号源->信号源连接端口SG->隔离器IS1->环形器CL1->单刀双掷同轴射频开关SW3->单刀八掷同轴射频开关SW2->（大功率同轴衰减器A1、A2、A3、A4）->（ANTE1、ANTE2、ANTF1、ANTF2）->基站；
T10：测试时四通道基站2的四个天线端口连接箱体外部端口ANTG1、ANTG2、ANTH1、ANTH2，SW2的触点五、触点六、触点七或者触点八与公共端导通，SW3的触点一与公共端导通。基站天线发射信号经由（ANTG1、ANTG2、ANTH1、ANTH2）->（大功率同轴衰减器A5、A6、A7、A8）->单刀八掷同轴射频开关SW2->单刀双掷同轴射频开关SW3->环形器CL1->频谱仪连接端口SA->频谱仪；信号源发射的信号经由信号源->信号源连接端口SG->隔离器IS1->环形器CL1->单刀双掷同轴射频开关SW3->单刀八掷同轴射频开关SW2->（大功率同轴衰减器A5、A6、A7、A8）->（ANTG1、ANTG2、ANTH1、ANTH2）->基站。
显示屏提供了对外的显示和控制进行开关箱的控制，包括网络控制、各同轴开关的状态控制和版本、温度等信息显示。
本发明支持本地和远程两种操作方式；人机界面显示屏接收用户的触摸输入传递给主控板，实现本地操作方式；局域网连接端口RJ45接收用户网络发送过来的信号传递给主控板，实现远程操作方式。利用本发明可以实现8X4测试，也可以根据实际情况减少测试设备，通过各部件的配合，测试结果可靠、准确。
Claims (10)
1.一种可靠性测试开关箱，其特征在于：所述可靠性测试开关箱包括箱体以及设置在箱体内的主控制板、电源、射频链路系统；所述射频链路系统包括耦合网络、耦合器、同轴负载、大功率同轴衰减器、单刀四掷同轴射频开关、单刀八掷同轴射频开关、单刀双掷同轴射频开关、环形器、隔离器；所述箱体外壁设有显示屏；所述箱体侧壁设有电源输入端口、串行口连接端口、接地连接端口、第一天线连接端口、第二天线连接端口、校准连接端口、频谱仪连接端口、信号源连接端口；所述耦合网络输入端与第一天线连接端口连接，输出端与同轴负载连接，校准端与耦合器连接；所述耦合器的直通端与校准连接端口连接；所述耦合器的耦合端与单刀四掷同轴射频开关的触点连接；所述大功率同轴衰减器的输入端与第二天线连接端口连接；所述大功率同轴衰减器的输出端与单刀八掷同轴射频开关的触点连接；所述单刀四掷同轴射频开关的公共端口与单刀双掷同轴射频开关触点连接；所述单刀八掷同轴射频开关的公共端口与单刀双掷同轴射频开关的触点连接；所述单刀双掷同轴射频开关的公共端口与环形器连接；所述环形器分别与频谱仪连接端口、隔离器连接；所述隔离器与信号源连接端口连接。
2.根据权利要求1所述可靠性测试开关箱，其特征在于：所述显示屏为人机界面。
3.根据权利要求1所述可靠性测试开关箱，其特征在于：所述箱体内设置对流风扇；所述箱体侧壁设有散热孔；所述箱体内设置温度检测装置。
4.根据权利要求1所述可靠性测试开关箱，其特征在于：所述箱体侧壁设有局域网连接端口；所述箱体上设置电源开关。
5.根据权利要求1所述可靠性测试开关箱，其特征在于：所述大功率同轴衰减器为1～8个。
6.根据权利要求1所述可靠性测试开关箱，其特征在于：所述耦合网络为1～4个。
7.根据权利要求1所述可靠性测试开关箱，其特征在于：所述耦合网络为八端口耦合网络，第一天线连接端口数量为8～32个。
8.根据权利要求1所述可靠性测试开关箱，其特征在于：第二天线连接端口数量与大功率同轴衰减器数量一致；耦合器、校准连接端口数量与耦合网络数量一致。
9.根据权利要求1所述可靠性测试开关箱，其特征在于：所述箱体外侧壁设有散热涂层。
10.根据权利要求9所述可靠性测试开关箱，其特征在于：所述散热涂层的制备方法为，将聚苯乙烯微球分散至去离子水中，然后加入丙炔醇；搅拌20分钟，加入碳酸氢钠调节pH值至8.5；然后加入四乙氧基硅烷、3-氨丙基三乙氧基硅烷，搅拌60分钟，然后加入三氟化硼二甲醇络合物；95℃搅拌70分钟；然后过滤，滤饼用乙醇洗涤后再用去离子水洗涤得到固体物；固体物配加硝酸钇、氮化硼压球，然后经过1050℃热处理20分钟后得到粉体；将粉体分散于乙醇中，再加入聚乙二醇水溶液，120℃搅拌3小时后，过滤干燥得到复合填料；将丙烯酸、N-羟甲基丙烯酰胺、乙酸烯丁基酯、次甲基丁二酸、乙烯基膦酸二甲酯、水混合均匀，85℃反应3小时；然后加入双-三羟甲基丙烷四丙烯酸酯、异构十三醇聚氧乙烯醚、N,N'-羰基二咪唑、1,4-丁二醇，搅拌25分钟后滴加过硫酸铵水溶液，反应2小时；加入复合填料以及乙醇/水混合液，95℃搅拌2小时；制备得到涂料；将涂料涂覆于箱体外侧壁，红外干燥即得到散热涂层。
Priority Applications (1)
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