CN204347166U - 同轴调配器切换测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种同轴调配器切换测试装置，该装置包括电源、控制板、一个单刀双掷开关、一对单刀四掷开关、八个同轴调配器和通用输入接口。控制板的电源输入端与电源模块输出端连接，控制板的控制端与计算机连接，控制板的输出端与单刀双掷开关和两个单刀四掷开关的控制端连接。测试时，产品输出端连接通用输入接口，通用输入接口连接单刀双掷开关的输入端，单刀双掷开关的两个输出端分别与一对单刀四掷开关的输入端连接，一对单刀四掷开关的八个输出端分别与八个同轴调配器的输入端连接。同轴调配器作为负载，可以实现相位和驻波的调节。本实用新型能节省测试过程中反复调试的时间，从而提高测试效率。

Description

同轴调配器切换测试装置

技术领域

本实用新型涉及微波产品的测试领域，尤其涉及一种同轴调配器切换测试装置。

背景技术

针对各种电子产品的检验和测试，都需要专门的夹具。在系统测试过程中，为了测试器件在不同负载条件下，不同相位条件下的工作状态，往往需要使用同轴调配器调试出不同的组合状态来分别进行测试。在实际测试过程中，为了测试的全面性，往往需要测试产品在不同的相位和驻波情况下的告警功能状态，这样就会有多种组合的情况出现，如：

A状态：驻波比：1.4相位：45°

B状态：驻波比：1.6相位：75°

C状态：驻波比：1.8相位：-45°。

目前，常用的测试手段有以下两种：

第一种：使用一个同轴适配器，首先将同轴适配器调试到A状态进行测试，测试完成后再调试到B状态进行测试，以此类推，直到测试完C状态。

第二种：使用三个同轴适配器，将三个同轴适配器分别调试到A状态、B状态和C状态分别进行测试。

然而，对于第一种方式，由于在测试过程中需要反复调试同轴适配器以使用不同的驻波相位条件来进行测试，因而在整个测试过程中消耗了大量的测试时间。对于第二种方式，由于在测试每种状态时，都需要分别把不同状态的同轴适配器与产品进行连接，而连接接头处使用的力矩会产生偏差且机械应力会产生变化，且反复上下接插会对接头有损伤，因而产生测试误差。另外，每个适配器和产品的连接电缆不同程度的弯曲也会照成测量的不确定度的出现。

因此，有必要提供一种测试效率高、操作方便且适用广泛的同轴调配器切换测试装置来克服上述缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种同轴调配器切换测试装置，以节省测试过程中反复调试的时间，从而提高测试效率。

为了实现上述目的，本实用新型提供了一种同轴调配器切换测试装置包括电源(A)、控制板(B)、一个单刀双掷开关(C)、一对单刀四掷开关(D1、D2)、八个同轴调配器(E1～E8)和通用输出接口(F)，控制板(B)的电源端与电源(A)连接，控制板(B)的输入端与计算机(H)连接，控制板(B)的控制输出端与单刀双掷开关(C)和一对单刀四掷开关(D1、D2)的控制端连接，通用输入接口(F)的一端与单刀双掷开关(C)的输入端连接，单刀双掷开关(C)的两个输出端分别与一对单刀四掷开关(D1、D2)的输入端连接，一对单刀四掷开关(D1、D2)的八个输出端分别与八个同轴调配器(E1～E8)的输入端连接，通用输入接口的另一端(F)与被测试产品(J)的输出端连接。

较佳地，控制板包括单片机芯片、FPGA芯片和射频开关控制电路，单片机芯片的输入端与计算机连接，单片机芯片的输出端与FPGA芯片的输入端连接，FPGA芯片的输出端与射频开关控制电路的输入端连接，射频开关控制电路的输出端与单刀双掷开关和一对单刀四掷开关的控制端连接，单片机芯片、FPGA芯片和射频开关控制电路的电源均由电源提供直流电在控制板内二次变压提供。

较佳地，单片机芯片的输入端通过RS232接口与计算机连接。

较佳地，单刀双掷开关为单刀双掷射频开关，单刀四掷开关为单刀四掷射频开关。

较佳地，同轴调配器的相位调节范围为360°，驻波调节范围为1.2～6。

与现有技术相比，第一，由于本实用新型的同轴调配器切换测试装置设有八个同轴调配器，因而本实用新型可以一次性调试八种不同的驻波比及相位组合状态，从而满足所有测试状态的要求。第二，由于八个同轴调配器的输出端均与通用输入接口连接，即通过电缆固定连接统一规划为一个通用输入接口，因而只需一次连接产品从而进行不用状态间的测试，从而能够避免在连接不用同轴适配器的过程中由于接插件接触及电缆弯曲而照成的测量误差及不确定的出现。第三，本实用新型能通过计算机软件进行不同同轴适配器之间的切换功能，即直接控制多个同轴调配器之间的切换，因而缩短了测试过程中需要不同相位及驻波的条件下使用单一同轴调配器进行反复调试的时间，从而提高了测试效率并更好地保证了测量的准确度。第四，本实用新型操作方便，控制部分接口简单，其接口适用于大多数电子产品，能方便快捷地实现对产品的驻波报警功能的检测，尤其适用于企业测试部门。

通过以下的描述并结合附图，本实用新型将变得更加清晰，这些附图用于解释本实用新型的实施例。

附图说明

图1为本实用新型的同轴调配器切换测试装置与计算机和被测试产品连接时的结构示意图。

图2为图1中控制板的结构示意图。

具体实施方式

现在参考附图描述本实用新型的实施例，附图中类似的元件标号代表类似的元件。

如图1-2所示，本实用新型的同轴调配器切换测试装置包括电源A、控制板B、一个单刀双掷开关C、一对单刀四掷开关D1和D2、八个同轴调配器E1～E8和通用输出接口F。其中，控制板B包括单片机芯片B1、FPGA芯片B2和射频开关控制电路B3。单片机芯片B1、FPGA芯片B2和射频开关控制电路B3的电源均由电源A提供直流电在控制板内二次变压提供。单片机芯片B1的控制端通过RS232接口G与计算机H连接，单片机芯片B1的输出端与FPGA芯片B2的输入端连接。FPGA芯片B2的输出端与射频开关控制电路B3的输入端连接。射频开关控制电路B3的输出端与单刀双掷开关C和一对单刀四掷开关D1和D2的控制端连接。通用输入接口F的输出端与单刀双掷开关C的输入端连接，单刀双掷开关C的两个输出端分别与一对单刀四掷开关D1和D2的输入端连接，一对单刀四掷开关D1和D2的八个输出端分别与八个同轴调配器E1～E8的输入端连接，通用输入接口F的输入端与被测试产品J的输出端连接。

在本实施例中，单刀双掷开关C选用单刀双掷射频开关，一对单刀四掷开关D1和D2选用单刀四掷射频开关。而且，八个同轴调配器E1～E8的相位调节范围为360°，驻波调节范围为1.2～6。

本实用新型的工作过程如下：

(1)测试时，计算机H通过RS232接口G将控制指令发送到控制板B的单片机芯片B1，单片机芯片对控制指令进行解析，按指令内容进行编码，并将编码内容发送给FPGA芯片B2，FPGA芯片B2编码内容进行解码，并控制相应的IO引脚输出相应的高低电平，从而控制相应的射频开关控制电路B3以控制单刀双掷开关C的状态，进而控制一对单刀四掷开关D1和D2的状态；

(2)当一对单刀四掷开关D1和D2切换到对应的同轴调配器时，可以对该同轴调配器的驻波比和相位进行调试，从而测试被测试产品J的驻波报警功能；

(3)计算机H再次发送控制命令通过单刀四掷开关D1或D2切换到另一个同轴调配器，并重复步骤(2)测试被测试产品J在该状态下的报警功能，如此重复，可按需求，测试被测试产品分别位于8种不同的驻波比及相位状态下的驻波报警功能。

以上结合最佳实施例对本实用新型进行了描述，但本实用新型不局限于以上揭示的实施例，而应当涵盖各种根据本实用新型的本质进行的修改、等效组合。

Claims (5)

1.一种同轴调配器切换测试装置，其特征在于，包括电源(A)、控制板(B)、一个单刀双掷开关(C)、一对单刀四掷开关(D1、D2)、八个同轴调配器(E1～E8)和通用输出接口(F)，控制板(B)的电源端与电源(A)连接，控制板(B)的输入端与计算机(H)连接，控制板(B)的控制输出端与单刀双掷开关(C)和一对单刀四掷开关(D1、D2)的控制端连接，通用输入接口(F)的一端与单刀双掷开关(C)的输入端连接，单刀双掷开关(C)的两个输出端分别与一对单刀四掷开关(D1、D2)的输入端连接，一对单刀四掷开关(D1、D2)的八个输出端分别与八个同轴调配器(E1～E8)的输入端连接，通用输入接口的另一端(F)与被测试产品(J)的输出端连接。

2.如权利要求1所述的同轴调配器切换测试装置，其特征在于，控制板(B)包括单片机芯片(B1)、FPGA芯片(B2)和射频开关控制电路(B3)，单片机芯片(B1)的控制端与计算机(H)连接，单片机芯片(B1)的输出端与FPGA芯片(B2)的输入端连接，FPGA芯片(B2)的输出端与射频开关控制电路(B3)的输入端连接，射频开关控制电路(B3)的输出端与单刀双掷开关(C)和一对单刀四掷开关(D1、D2)的控制端连接，单片机芯片(B1)、FPGA芯片(B2)和射频开关控制电路(B3)的电源均由电源(A)提供直流电，在控制板(B)内二次变压后提供。

3.如权利要求2所述的同轴调配器切换测试装置，其特征在于，单片机芯片(B1)的控制端通过RS232接口(G)与计算机(H)连接。

4.如权利要求3所述的同轴调配器切换测试装置，其特征在于，单刀双掷开关(C)为单刀双掷射频开关，单刀四掷开关(D1、D2)为单刀四掷射频开关。

5.如权利要求4所述的同轴调配器切换测试装置，其特征在于，同轴调配器(E1～E8)的相位调节范围为360°，驻波调节范围为1.2～6。