CN106525816A - 非接触式安全检查系统及方法 - Google Patents

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CN106525816A CN201611122379.9A CN201611122379A CN106525816A CN 106525816 A CN106525816 A CN 106525816A CN 201611122379 A CN201611122379 A CN 201611122379A CN 106525816 A CN106525816 A CN 106525816A
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王安凯
王红球
易裕民
刘海辉
张建红
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    • G01—MEASURING; TESTING
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    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/65—Raman scattering
    • G—PHYSICS
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    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/064—Stray light conditioning
    • G01N2201/0642—Light traps; baffles

Abstract

本发明涉及一种非接触式安全检查系统及方法，系统包括：激光源(1)，用于将探测光线(11)穿过容器(3)或包装物并投射到其包含的被检物体(4)上；光学收集器件，用于收集探测光线(11)在被检物体(4)上的激发光；光谱分析器(8)，用于对激发光的拉曼光谱特征进行分析，以确定被检物体(4)的特性；和遮挡装置，用于阻止探测光线(11)在容器(3)或包装物上的激发光至少部分地进入光学收集器件的感应区域。本发明有效地减少了探测光线在所述容器或包装物上的激发光进入收集光路的可能性，显著的降低了对被检物体的光谱信号的干扰，并且不要求探测光线远离收集光路，进而也降低了对探测光线和收集光路的设置位置的要求。

Description

非接触式安全检查系统及方法
技术领域
本发明涉及安全检查领域，尤其涉及一种非接触式安全检查系统及方法。
背景技术
当用波长比试样粒径小得多的单色光照射气体、液体或透明试样时，大部分的光会按原来的方向透射，而一小部分则按不同的角度散射开来，产生散射光。在垂直方向观察时，除了与原入射光有相同频率的瑞利散射外，还有若干条对称分布的很弱的、且与入射光频率发生位移的拉曼谱线，这种现象称为拉曼散射效应。由于拉曼谱线的数目、位移的大小、谱线的长度直接与试样分子振动或转动能级有关，因此通过对拉曼光谱的研究能够得到有关分子振动或转动的信息。
拉曼光谱分析技术是一种以拉曼散射效应为基础的非接触式光谱分析技术，它能对物质的成分进行定性、定量分析。因此该技术已被应用到多个技术领域，例如物质鉴定、安全检查等。基于拉曼光谱分析技术，目前已出现了用于安全检查领域的拉曼光谱仪。该拉曼光谱仪主要包括激光器、外光路系统、光谱仪三大部分，激光器发出的激发光经过外光路打到被测样品，产生拉曼激发光后，经过外光路系统传输到光谱仪。
这种拉曼光谱仪在检测中存在如下问题：当激光束照射在内部有内容物的容器或包装物上时，在容器或包装物表面附近的照射区域(B)，可能会有激发出的荧光后向传播，这些荧光可以被收集光学单元的收集，进而进入光谱仪，经实验证明这些荧光会对真正的信号探测造成比较明显的干扰，影响检测结果。
目前已知的解决手段是Cobalt公司的解决方案。如图1所示，激光器a20发出激光束a24，该激光束a24入射到内装有作为被测物的不明液体a14的容器a12上，并进入不明液体a14内激发出拉曼散射。收集光学器件通过收集光路a29对不明液体a14中的取样区域a28进行拉曼激发光的收集，再将收集到的光线传递给光谱分析器直到数据处理器。该方案的主要技术手段是使拉曼散射光的收集光路a29不包括激光束的投射区域a26，换句话说，就是使入射光路a24与容器壁的交点同拉曼散射光路与容器壁的交点分离。
这种方式能够有效地减少进入到收集光路的荧光，但减少的程度与收集光路与投射区域之间的位置关系存在关联，如果两者较为接近则可能增加收集到容器所激发的荧光的几率。另一方面，这种方式对激发束和收集光路的设置位置有要求，因此对安全检查设备的结构设计也造成了一定程度的限制，导致系统尺寸增加。
发明内容
本发明的目的是提出一种非接触式安全检查系统及方法，能够有效地减少探测光线在容器或包装物上的激发光进入收集光路的可能性，降低对探测光线和收集光路的设置位置的要求。
为实现上述目的，本发明提供了一种非接触式安全检查系统，包括：
激光源，用于将探测光线穿过容器或包装物并投射到所述容器或包装物包含的被检物体上；
光学收集器件，用于收集所述探测光线在所述被检物体上的激发光；
光谱分析器，用于对所述光学收集器件收集到的激发光的光谱特征进行分析，以确定所述被检物体的特性；和
遮挡装置，用于阻止所述探测光线在所述容器或包装物上的激发光至少部分地进入所述光学收集器件的感应区域。
进一步的，所述遮挡装置设置在所述容器或包装物外侧。
进一步的，所述遮挡装置贴近设置在所述容器或包装物的外侧表面。
进一步的，所述遮挡装置包括遮光挡板，所述遮光挡板向远离所述容器或包装物的方向的延伸面与所述光学收集器件的感应区域不相交。
进一步的，所述激光源设置在所述光学收集器件所定义的预设收集光路的外侧。
进一步的，所述探测光线在所述容器或包装物上的照射区域位于所述光学收集器件所定义的预设收集光路内。
进一步的，所述激光源包括一个或多个，能够向所述容器或包装物投射多条探测光线，在所述容器或包装物外侧靠近每条探测光线的位置均设有所述遮挡装置。
进一步的，所述遮挡装置包括截面呈扇环形的第一遮光挡板，每条探测光线对应的第一遮光挡板形成非闭合的环形。
进一步的，所述激光源能够向所述容器或包装物投射封闭几何形状的探测光线，在所述容器或包装物外侧靠近所述封闭几何形状的探测光线的位置设有封闭几何形状的所述遮挡装置。
进一步的，所述遮挡装置包括闭合环形的第二遮光挡板。
进一步的，所述探测光线在所述容器或包装物上的激发光的光谱特性比所述探测光线在所述被检物体上的激发光的光谱特性更强。
进一步的，所述光谱分析器包括拉曼光谱分析器，用于对所述光学收集器件收集到的散射光的拉曼光谱特征进行分析。
为实现上述目的，本发明提供了一种基于拉曼光谱检测的非接触式安全检查方法，包括：
引导探测光线穿过容器或包装物并投射到所述容器或包装物包含的被检物体上；
通过光学收集器件收集所述探测光线在所述被检物体上的激发光；
对所述光学收集器件收集到的激发光的光谱特征进行分析，以确定所述被检物体的特性；
其中，通过设置的遮挡装置阻止所述探测光线在所述容器或包装物上的激发光至少部分地进入所述光学收集器件的感应区域。
进一步的，所述引导探测光线穿过容器或包装物并投射到所述容器或包装物包含的被检物体上的操作具体为：
引导来自所述光学收集器件所定义的预设收集光路的外侧的激光源的探测光线穿过容器或包装物并投射到所述容器或包装物包含的被检物体上。
进一步的，所述探测光线在所述容器或包装物上的照射区域位于所述光学收集器件所定义的预设收集光路内。
进一步的，所述引导探测光线穿过容器或包装物并投射到所述容器或包装物包含的被检物体上的操作具体为：
引导来自激光源投射的多条探测光线或封闭几何形状的探测光线穿过容器或包装物并投射到所述容器或包装物包含的被检物体上。
进一步的，所述探测光线在所述容器或包装物上的激发光的光谱特性比所述探测光线在所述被检物体上的激发光的光谱特性更强。
进一步的，所述对所述光学收集器件收集到的激发光的光谱特征进行分析的操作具体为：对所述光学收集器件收集到的散射光的拉曼光谱特征进行分析。
基于上述技术方案，本发明通过设置遮挡装置来阻止探测光线在所述容器或包装物上的激发光至少部分地进入所述光学收集器件的感应区域，有效地减少了探测光线在所述容器或包装物上的激发光进入收集光路的可能性，显著的降低了对被检物体的光谱信号的干扰，并且不要求探测光线远离收集光路，进而也降低了对探测光线和收集光路的设置位置的要求。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1为现有的非接触式安全检查系统的原理示意图。
图2为非接触式安全检查系统的一实施例的原理示意图。
图3为图2中圆圈部分的放大图。
图4为非接触式安全检查系统的另一实施例的原理示意图。
图5为图4实施例的A-A切面的示意图。
图6为非接触式安全检查系统的又一实施例的切面示意图。
具体实施方式
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
如图2所示，为非接触式安全检查系统的一实施例的原理示意图。结合图3所示的放大示意图，本实施例中的非接触式安全检查系统包括：激光源1、光学收集器件、光谱分析器8和遮挡装置。其中，激光源1用于将探测光线11穿过容器3或包装物并投射到所述容器3或包装物包含的被检物体4上，换句话说激光源1将探测光线11投射到包含有被检物体4的容器或包装物上，以使得探测光线11穿过容器3或包装物进入被检物体4。
光学收集器件用于收集所述探测光线11在所述被检物体4上的激发光。光学收集器件定义了从被检物体4的样本区域到光学收集器件中的透镜7之间的预设收集光路9，透镜7可以将收集到的激发光汇聚到光电转换模块6。样本区域可以使被检物体4的表面，也可以是被检物体4的内部。光谱分析器8用于对所述光学收集器件收集到的激发光的光谱特征进行分析，以确定所述被检物体4的特性。光谱分析器8可以包括拉曼光谱分析器，用于对所述光学收集器件收集到的散射光的拉曼光谱特征进行分析。通过分析出的拉曼光谱特征，能够在安全检查过程中以非接触的方式来确定被检物体的特性，从而识别出存在安全威胁的例如易燃易爆物等物品。在本发明的其他实施例中，可由光学收集器件收集探测光线在被检物体表面或内部激发的荧光或等离子体等，光谱分析器则用于对光学收集器件收集到的荧光或等离子体的光谱特征进行分析。
具体来说，光谱分析器8可以与光电转换模块6电连接，接收来自光电转换模块6转换的电信号。在本发明的另一实施例中，光学收集器件也可以采用其他已知或新结构，只要其能够实现光信号的收集，并能够向光谱分析器8传递即可。
在本实施例中，遮挡装置用于阻止所述探测光线11在所述容器3或包装物上的激发光(例如荧光2)至少部分地进入所述光学收集器件的感应区域。换句话说，遮挡装置可以设计成阻挡探测光线11在容器3或包装物上的全部激发光，也可以设计成阻挡部分激发光，只要其不影响后续的光谱分析即可。例如在容器或包装物本身外轮廓不规则的情况下，如果难以完全遮挡住探测光线11在容器3或包装物上的所有激发光，那么只要遮挡住部分激发光则已经可以减小其所带来的影响，再结合相关算法则仍然可以降低在光谱分析中其对检测结果的影响。
遮挡装置可应用在探测光线11在容器3或包装物上的激发光(例如荧光2)的光谱特性比探测光线11在被检物体4上的激发光的光谱特性更强的情形，换句话说，由于探测光线11在容器3或包装物上的激发光的光谱特性较强，因此当其未被遮挡而直接进入到光学收集器件时可能会对检测结果造成较显著的影响，进而导致检测结果不可用或难以处理。因此采用本发明中的遮挡装置能够阻止探测光线在所述容器或包装物上的激发光至少部分地进入所述光学收集器件的感应区域，有效地减少了探测光线在所述容器或包装物上的激发光进入收集光路的可能性，显著的降低了对被检物体的光谱信号的干扰，并且不要求探测光线远离收集光路，进而也降低了对探测光线和收集光路的设置位置的要求。当然，在另一实施例中，遮挡装置可应用在探测光线11在容器3或包装物上的激发光的光谱特性比探测光线11在被检物体4的激发光的光谱特性更弱或相同的情形。
在设置遮挡装置时，优选将遮挡装置设置在容器3或包装物外侧，这样可以方便的实现在容器3或包装物与光学收集器件之间的激发光遮挡作用。考虑到遮挡装置如果距离容器3或包装物较远，遮挡的激发光可能较少，因此优选将遮挡装置贴近设置在所述容器3或包装物的外侧表面。具体设置时，还需要考察容器3或包装物的外轮廓形状。对于本发明非接触式安全检查系统，以探测光线在容器或包装物上激发出的荧光为例，将遮挡装置设置在容器3或包装物之外能够尽量多遮挡荧光的位置或者能够使漏出的荧光不足以影响光谱分析器的检测结果的位置即可。
在遮挡装置的结构形式上，较简便易实施的方式如图2所示的挡板形态，例如遮挡装置包括遮光挡板5，为了使探测光线11在所述容器3或包装物上的激发光(例如荧光2)尽量不进入光学收集器件的感应区域(例如图2中的透镜7)，该遮光挡板5向远离所述容器3或包装物的方向的延伸面与所述光学收集器件的感应区域不相交。也就是说，即便荧光2沿着遮光挡板5的表面向外射出，也无法进入光学收集器件的感应区域。参考图2可以看到，从探测光线11在所述容器3的照射点激发出的多条荧光2被约束在了遮光挡板5和容器3之间的区域，无法进入收集光路9，也不能被透镜7所收集。
在图2实施例中，激光源1设置在所述光学收集器件所定义的预设收集光路9的外侧。这样可以简化遮挡装置的结构形式和设置位置。在本发明的另一个实施例中，激光源1也可以设置在预设收集光路9的内侧。此外，参考图3，探测光线11在容器3或包装物上的照射区域B可以位于光学收集器件所定义的预设收集光路9内。在本发明的另一个实施例中，该照射区域B还可以位于光学收集器件所定义的预设收集光路9之外。
图2实施例中，采用了单激光源投射出一条探测光线的系统形式，在本发明的另一实施例中，通过一些现有光学元件，单激光源可以实现多条探测光线的投射。在其它实施例中，激光源也可以为多个，能够向容器3或包装物投射多条探测光线11。如图4所示，该激光源可以为两个或两个以上，从图4上能够看到相对于水平线对称的两个激光源，如果有其它位置的激光源则在图4中无法直接示出。结合图5所示的图4中A-A切面的示意图可以看到，多条探测光线11投射的位置在预设收集光路9的光圈之内。如果不设置遮挡装置，则通常来说探测光线11在容器3或包装物上的激发光(例如荧光2)可能会大量的进入到光学收集器件的感应区域，而通过在容器3或包装物外侧靠近每条探测光线11的位置均设置遮挡装置的方式，则有效的阻止了这些激发光(例如荧光2)至少部分地进入所述光学收集器件的感应区域。
在图5中，遮挡装置包括截面呈扇环形的第一遮光挡板51，其数量可与探测光线11的数量相匹配，而每条探测光线11对应的第一遮光挡板51可以共同形成非闭合的环形，使得多条探测光线11在容器或包装物上的激发光均被至少部分地遮挡在光学收集器件的感应区域之外。
除了多条探测光线之外，在另一实施例中，激光源1能够向所述容器3或包装物投射封闭几何形状的探测光线22。例如图6所示的封闭环形的探测光线。相应的，为了尽量减少探测光线11在容器3或包装物上的激发光漏到光学收集器件的感应区域的情况，在容器3或包装物外侧靠近所述封闭几何形状的探测光线22的位置设有封闭几何形状的遮挡装置，优选采用包括闭合环形的第二遮光挡板52的遮挡装置。
上面已经对本发明非接触式安全检查系统进行了详细说明。本发明还提供了一种非接触式安全检查方法，该方法中的各步骤的执行主体并不限于前述非接触式安全检查系统的组成部件。在本发明的一个实施例中，该方法包括：
引导探测光线11穿过容器3或包装物并投射到所述容器3或包装物包含的被检物体4上；
通过光学收集器件收集所述探测光线11在所述被检物体4的激发光；
对所述光学收集器件收集到的激发光的光谱特征进行分析，以确定所述被检物体4的特性；
其中，通过设置的遮挡装置阻止所述探测光线11在所述容器3或包装物上的激发光至少部分地进入所述光学收集器件的感应区域。
在本实施例中，对所述光学收集器件收集到的散射光的光谱特征进行分析的操作可由光谱分析器8实现，优选通过拉曼光谱分析器对所述光学收集器件收集到的散射光的拉曼光谱特征进行分析。在另一实施例中，还可以采用荧光光谱分析器或等离子体光谱分析器，对光学收集器件所收集的探测光线在被检物体表面或内部激发的荧光或等离子体的光谱特征进行分析。在另一实施例中，所述引导探测光线11穿过容器3或包装物并投射到所述容器3或包装物包含的被检物体4上的操作具体为：
引导来自所述光学收集器件所定义的预设收集光路9的外侧的激光源1的探测光线11穿过容器3或包装物并投射到所述容器3或包装物包含的被检物体4上。
在另一个实施例中，激光源1也可以设置在预设收集光路9的内侧。此外，激光源在容器3或包装物上的照射区域B可以位于光学收集器件所定义的预设收集光路9内。在本发明的另一个实施例中，该照射区域B还可以位于光学收集器件所定义的预设收集光路9之外。
进一步的，所述引导探测光线11穿过容器3或包装物并投射到所述容器3或包装物包含的被检物体4上的操作具体为：
引导来自激光源1投射的多条探测光线11或封闭几何形状的探测光线22穿过容器3或包装物并投射到所述容器3或包装物包含的被检物体4上。
上述方法实施例可以应用在探测光线11在所述容器3或包装物上激发光(例如荧光2)的光谱特性比所述探测光线11在所述被检物体4的激发光的光谱特性更强的情形，也同样适用于探测光线11在所述容器3或包装物上的激发光的光谱特性比所述探测光线11在所述被检物体4的激发光的光谱特性更弱或相同的情形。以上的各个方法实施例的实现和技术效果均可参考前述系统实施例中的描述，这里不再赘述。
最后应当说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制；尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者对部分技术特征进行等同替换；而不脱离本发明技术方案的精神，其均应涵盖在本发明请求保护的技术方案范围当中。

Claims (18)

1.一种非接触式安全检查系统，包括：
激光源(1)，用于将探测光线(11)穿过容器(3)或包装物并投射到所述容器(3)或包装物包含的被检物体(4)上；
光学收集器件，用于收集所述探测光线(11)在所述被检物体(4)上的激发光；
光谱分析器(8)，用于对所述光学收集器件收集到的激发光的光谱特征进行分析，以确定所述被检物体(4)的特性；和
遮挡装置，用于阻止所述探测光线(11)在所述容器(3)或包装物上的激发光至少部分地进入所述光学收集器件的感应区域。
2.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统，其中，所述遮挡装置设置在所述容器(3)或包装物外侧。
3.根据权利要求2所述的非接触式安全检查系统，其中，所述遮挡装置贴近设置在所述容器(3)或包装物的外侧表面。
4.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统，其中，所述遮挡装置包括遮光挡板(5)，所述遮光挡板(5)向远离所述容器(3)或包装物的方向的延伸面与所述光学收集器件的感应区域不相交。
5.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统，其中，所述激光源(1)设置在所述光学收集器件所定义的预设收集光路(9)的外侧。
6.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统，其中，所述探测光线(11)在所述容器(3)或包装物上的照射区域(B)位于所述光学收集器件所定义的预设收集光路(9)内。
7.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统，其中，所述激光源(1)包括一个或多个，能够向所述容器(3)或包装物投射多条探测光线(11)，在所述容器(3)或包装物外侧靠近每条探测光线(11)的位置均设有所述遮挡装置。
8.根据权利要求7所述的非接触式安全检查系统，其中，所述遮挡装置包括截面呈扇环形的第一遮光挡板(51)，每条探测光线(11)对应的第一遮光挡板(51)形成非闭合的环形。
9.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统，其中，所述激光源(1)能够向所述容器(3)或包装物投射封闭几何形状的探测光线(22)，在所述容器(3)或包装物外侧靠近所述封闭几何形状的探测光线(22)的位置设有封闭几何形状的所述遮挡装置。
10.根据权利要求9所述的非接触式安全检查系统，其中，所述遮挡装置包括闭合环形的第二遮光挡板(52)。
11.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统，其中，所述探测光线(11)在所述容器(3)或包装物上的激发光的光谱特性比所述探测光线(11)在所述被检物体(4)上的激发光的光谱特性更强。
12.根据权利要求1所述的非接触式安全检查系统，其中，所述光谱分析器(8)包括拉曼光谱分析器，用于对所述光学收集器件收集到的散射光的拉曼光谱特征进行分析。
13.一种非接触式安全检查方法，包括：
引导探测光线(11)穿过容器(3)或包装物并投射到所述容器(3)或包装物包含的被检物体(4)上；
通过光学收集器件收集所述探测光线(11)在所述被检物体(4)上的激发光；
对所述光学收集器件收集到的激发光的光谱特征进行分析，以确定所述被检物体(4)的特性；
其中，通过设置的遮挡装置阻止所述探测光线(11)在所述容器(3)或包装物上的激发光至少部分地进入所述光学收集器件的感应区域。
14.根据权利要求13所述的非接触式安全检查方法，其中，所述引导探测光线(11)穿过容器(3)或包装物并投射到所述容器(3)或包装物包含的被检物体(4)上的操作具体为：
引导来自所述光学收集器件所定义的预设收集光路(9)的外侧的激光源(1)的探测光线(11)穿过容器(3)或包装物并投射到所述容器(3)或包装物包含的被检物体(4)上。
15.根据权利要求13所述的非接触式安全检查方法，其中，所述探测光线(11)在所述容器(3)或包装物上的照射区域(B)位于所述光学收集器件所定义的预设收集光路(9)内。
16.根据权利要求13所述的非接触式安全检查方法，其中，所述引导探测光线(11)穿过容器(3)或包装物并投射到所述容器(3)或包装物包含的被检物体(4)上的操作具体为：
引导来自激光源(1)投射的多条探测光线(11)或封闭几何形状的探测光线(22)穿过容器(3)或包装物并投射到所述容器(3)或包装物包含的被检物体(4)上。
17.根据权利要求13所述的非接触式安全检查方法，其中，所述探测光线(11)在所述容器(3)或包装物上的激发光的光谱特性比所述探测光线(11)在所述被检物体(4)上的激发光的光谱特性更强。
18.根据权利要求13所述的非接触式安全检查方法，其中，所述对所述光学收集器件收集到的激发光的光谱特征进行分析的操作具体为：对所述光学收集器件收集到的散射光的拉曼光谱特征进行分析。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018103487A1 (zh) * 2016-12-08 2018-06-14 同方威视技术股份有限公司 非接触式安全检查系统及方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117197787A (zh) * 2023-08-09 2023-12-08 海南大学 基于改进YOLOv5的智能安检方法、装置、设备及介质

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008062185A1 (en) * 2006-11-24 2008-05-29 The Science And Technology Facilities Council Raman detection of container contents
CN101504371A (zh) * 2009-03-05 2009-08-12 中国检验检疫科学研究院 液态奶中三聚氰胺含量的定量检测仪
JP2010190595A (ja) * 2009-02-16 2010-09-02 Fuji Electric Holdings Co Ltd レーザー分光分析装置およびそれを用いたレーザー分光分析方法
US20120194814A1 (en) * 2011-01-28 2012-08-02 Bwt Property, Inc. Apparatus and Methods for Performing Raman Spectroscopy in Scattering Medium
CN202471595U (zh) * 2011-12-23 2012-10-03 公安部第一研究所 一种基于拉曼光谱分析技术的违禁品检测装置
CN104502325A (zh) * 2014-12-31 2015-04-08 同方威视技术股份有限公司 液体物品鉴别设备和方法
CN105651312A (zh) * 2016-02-26 2016-06-08 南京安荣信电子科技有限公司 一种抑制背景光干扰的装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7242469B2 (en) 2003-05-27 2007-07-10 Opto Trace Technologies, Inc. Applications of Raman scattering probes
US20130055697A1 (en) 2011-09-01 2013-03-07 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Fluid composition analysis mechanism, calorific value measurement device and power plant
WO2013061590A1 (ja) 2011-10-25 2013-05-02 コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社 光学プローブ及びその製造方法
JP5970785B2 (ja) * 2011-11-16 2016-08-17 ソニー株式会社 生体計測装置、生体計測方法、プログラムおよび記録媒体
WO2014121389A1 (en) 2013-02-05 2014-08-14 Rafal Pawluczyk Fibre optic probe for remote spectroscopy
CN103743676B (zh) * 2013-07-17 2014-11-05 张玉武 利用点光源隔瓶探测仪
CN104749155B (zh) * 2013-12-27 2018-01-16 同方威视技术股份有限公司 用于检测容装体中的样品的拉曼光谱检测方法
CN104749157B (zh) 2013-12-27 2019-02-19 同方威视技术股份有限公司 对液体物品进行安全检查的方法和设备
CN206399836U (zh) * 2016-12-08 2017-08-11 同方威视技术股份有限公司 非接触式安全检查系统
CN106525816A (zh) * 2016-12-08 2017-03-22 同方威视技术股份有限公司 非接触式安全检查系统及方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008062185A1 (en) * 2006-11-24 2008-05-29 The Science And Technology Facilities Council Raman detection of container contents
JP2010190595A (ja) * 2009-02-16 2010-09-02 Fuji Electric Holdings Co Ltd レーザー分光分析装置およびそれを用いたレーザー分光分析方法
CN101504371A (zh) * 2009-03-05 2009-08-12 中国检验检疫科学研究院 液态奶中三聚氰胺含量的定量检测仪
US20120194814A1 (en) * 2011-01-28 2012-08-02 Bwt Property, Inc. Apparatus and Methods for Performing Raman Spectroscopy in Scattering Medium
CN202471595U (zh) * 2011-12-23 2012-10-03 公安部第一研究所 一种基于拉曼光谱分析技术的违禁品检测装置
CN104502325A (zh) * 2014-12-31 2015-04-08 同方威视技术股份有限公司 液体物品鉴别设备和方法
CN105651312A (zh) * 2016-02-26 2016-06-08 南京安荣信电子科技有限公司 一种抑制背景光干扰的装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
金玉希: "荧光检测器杂散光分析与抑制", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 工程科技II辑》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018103487A1 (zh) * 2016-12-08 2018-06-14 同方威视技术股份有限公司 非接触式安全检查系统及方法
US10823676B2 (en) 2016-12-08 2020-11-03 Nuctech Company Limited Non-contact type security inspection system and method

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Publication number Publication date
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