CN106525228A - 亮度计校准装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种亮度计校准装置,包括刻度盘、支撑刻度盘的支撑架和两个水平仪连接件,刻度盘包括本体,本体上设有至少两条夹角为45°的刻度线,两个水平仪连接件设置于支撑架,且可相对支撑架移动,以调节两个水平仪连接件分别对准两个夹角为45°的刻度线。通过上述亮度计校准装置,可将两个水平仪分别连接于两个水平仪连接件,并通过调节水平仪连接件的在支撑架的位置,可使两个水平仪连接件分别对准两个夹角为45°的刻度线,然后将两个水平仪发出的光分别对准标准灯和待检测亮度计,即可准确地控制标准灯于被检测亮度计成45°角,同时通过水平仪的水平线功能,使标准灯和待检测亮度计保持在同一水平,这样可保证亮度计校准精度较高。

Description

亮度计校准装置
技术领域
本发明涉及检测技术领域,特别是涉及一种亮度计校准装置。
背景技术
亮度计作为一种亮度测量装置,需要保证其测量的准确性,因此亮度计需要进行校准。根据标准要求,亮度计的检测方法通常是将标准灯和待检测亮度计设置成45°夹角,通过仪器的目镜和物镜瞄准标准白板或反射式标准色板的中央,边观察边调节目镜和物镜,使仪器内的孔径光阑清晰可见,且待检测亮度计的表面成像清晰。
然而,标准中仅规定了这种方法,缺乏具体的亮度计校准装置来实现这一方法。
发明内容
基于此,有必要提供一种可精确设置各部件相对位置关系的亮度计校准装置。
一种亮度计校准装置,包括刻度盘、支撑所述刻度盘的支撑架和两个水平仪连接件,所述刻度盘包括本体,所述本体上设有至少两条夹角为45°的刻度线,两个所述水平仪连接件设置于所述支撑架,且可相对所述支撑架移动,以调节两个所述水平仪连接件分别对准所述两个夹角为45°的刻度线。
通过上述亮度计校准装置,可将两个水平仪分别连接于两个水平仪连接件,并通过调节水平仪连接件的在支撑架的位置,可使两个水平仪连接件分别对准两个夹角为45°的刻度线,然后将两个水平仪发出的光分别对准标准灯和待检测亮度计,即可准确地控制标准灯于被检测亮度计成45°角,同时通过水平仪的水平线功能,使标准灯和待检测亮度计保持在同一水平,这样可保证亮度计校准精度较高。
在其中一个实施例中,所述刻度盘的所述本体上设有安装槽,所述亮度计校准装置还包括水平泡,所述水平泡安装于所述本体的所述安装槽。
在其中一个实施例中,所述支撑架上开设有滑槽,所述水平仪连接件可沿所述滑槽移动。
在其中一个实施例中,所述滑槽为圆弧状;所述支撑架为扇形。
在其中一个实施例中,所述水平仪连接件为穿过所述滑槽的连接杆,每个所述水平仪连接件上设有两个锁定件与之配合以固定所述水平仪连接件,两个所述锁定件分别位于所述支撑架的上下两侧。
在其中一个实施例中,所述亮度计校准装置还包括支撑盘,所述刻度盘连接于所述支撑盘,所述支撑盘连接于所述支撑架,从而使所述支撑架支撑所述刻度盘。
在其中一个实施例中,所述刻度盘还包括第一支撑杆,所述支撑盘包括盘体和第二支撑杆,所述第二支撑杆设于所述盘体的一侧,所述刻度盘的所述第一支撑杆伸入所述第二支撑杆并与之配合而连接,所述支撑架的一侧设有第三支撑杆,所述第二支撑杆与所述第三支撑杆配合而连接。
在其中一个实施例中,所述亮度计校准装置还包括水平调整机构,所述水平调整机构设于所述支撑盘和所述刻度盘之间以调整所述刻度盘的所述本体的水平角度。
在其中一个实施例中,所述水平调整机构包括调节件和连接杆,所述连接杆一端固定连接于所述刻度盘的所述本体,所述调节件螺纹连接于所述连接杆,所述调节件可相对所述支撑盘转动而不可轴线移动。
在其中一个实施例中,所述亮度计校准装置还包括两个水平仪,两个所述水平仪分别设于两个所述水平仪连接件上。
附图说明
图1为本发明一实施例的亮度计校准装置的结构示意图;
图2为图1所示亮度计校准装置的刻度盘的结构示意图;
图3为图1所示亮度计校准装置的支撑盘的结构示意图;
图4为图1所示亮度计校准装置的支撑架的结构示意图。
具体实施方式
请参阅图1,本发明一实施例的亮度计校准装置包括刻度盘10、支撑刻度盘10的支撑盘60、支撑刻度盘60的支撑架30、两个水平仪连接件50和两个激光水平仪(图未示)。刻度盘10包括本体101,本体101上设有至少两条夹角为45°的刻度线102。两个水平仪连接件50设置于支撑架30,且可相对支撑架30移动,以调节两个水平仪连接件50分别对准两个夹角为45°的刻度线102。具体地,本体101位圆盘,本体101上可设置8条刻度线102。
通过上述亮度计校准装置,可将两个水平仪分别连接于两个水平仪连接件50,并通过调节水平仪连接件50的在支撑架30的位置,可使两个水平仪连接件50分别对准两个夹角为45°的刻度线102,然后将两个水平仪发出的光分别对准标准灯和待检测亮度计,即可准确地控制标准灯于被检测亮度计成45°角,同时通过水平仪的水平线功能,使标准灯和待检测亮度计保持在同一水平,这样可保证亮度计校准精度较高。
本实施例中,刻度盘10的本体101上设有安装槽104,亮度计校准装置还包括水平泡,水平泡安装于本体101的安装槽104。具体地,安装槽104开设于本体101的中心处。通过设置水平泡,可保证刻度盘10的本体101保持水平,进一步保证校准精度。
本实施例中,请参阅图2,刻度盘10还包括第一支撑杆106。具体地,第一支撑杆106设于与安装槽104相对的一侧,且第一支撑杆106位于本体101的中心。
本实施例中,支撑架30上开设有滑槽302,水平仪连接件50可沿滑槽302移动。具体地,滑槽302为圆弧状;支撑架30为扇形。
本实施例中,水平仪连接件50可相对支撑架30升降,以调节水平仪的高度。
本实施例中,水平仪连接件50为穿过滑槽302的连接杆,每个水平仪连接件50上设有两个锁定件502与之配合以固定水平仪连接件50,两个锁定件502分别位于支撑架30的上下两侧。
本实施例中,亮度计校准装置还包括支撑盘60,刻度盘10连接于支撑盘60,支撑盘60连接于支撑架30,从而使支撑架30支撑刻度盘10。请参阅图3和图4,具体地,支撑盘60包括盘体600和第二支撑杆601,第二支撑杆601设于盘体600的一侧,刻度盘10的第一支撑杆601伸入第二支撑杆601并与之配合而连接,支撑架30的一侧设有第三支撑杆304,第二支撑杆601与第三支撑杆304配合而连接,这样,将刻度盘10固定于支撑架30。更具体地,滑槽302的圆心位于第三支撑杆304所在的直线上。
本实施例中,支撑架30上还设有第四支撑杆306,第四支撑杆306和第三支撑杆304分别位于支撑架30的两侧。通过第四支撑杆306可将整个亮度计校准装置安装到机台等部件。
本实施例中,亮度计校准装置还包括水平调整机构80,水平调整机构80设于支撑盘60和刻度盘10之间以调整刻度盘10的本体101的水平角度。具体地,水平调整机构80包括调节件802和连接杆804,连接杆804一端固定连接于刻度盘10的本体101,调节件802螺纹连接于连接杆804,调节件802可相对支撑盘60转动而不可轴线移动。这样,旋转调节件802即可调整支撑盘60和刻度盘10的本体101之间的距离。具体地,水平调整机构80的数量为3个,且沿刻度盘10的本体101的圆周方向均匀设置。
本实施例中,刻度盘10和支撑盘60可相对支撑架30转动,从而调整刻度盘10在周向的位置,亮度计校准装置还包括紧固件90,以在刻度盘10到达预定位置后固定刻度盘10。
本实施例中,亮度计校准装置还包括两个水平仪,两个水平仪分别设于两个水平仪连接件50上。具体地,水平仪可为激光水平仪。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种亮度计校准装置,其特征在于,包括刻度盘、支撑所述刻度盘的支撑架和两个水平仪连接件,所述刻度盘包括本体,所述本体上设有至少两条夹角为45°的刻度线,两个所述水平仪连接件设置于所述支撑架,且可相对所述支撑架移动,以调节两个所述水平仪连接件分别对准所述两个夹角为45°的刻度线。
2.根据权利要求1所述的亮度计校准装置,其特征在于,所述刻度盘的所述本体上设有安装槽,所述亮度计校准装置还包括水平泡,所述水平泡安装于所述本体的所述安装槽。
3.根据权利要求1所述的亮度计校准装置,其特征在于,所述支撑架上开设有滑槽,所述水平仪连接件可沿所述滑槽移动。
4.根据权利要求3所述的亮度计校准装置,其特征在于,所述滑槽为圆弧状;所述支撑架为扇形。
5.根据权利要求3所述的亮度计校准装置,其特征在于,所述水平仪连接件为穿过所述滑槽的连接杆,每个所述水平仪连接件上设有两个锁定件与之配合以固定所述水平仪连接件,两个所述锁定件分别位于所述支撑架的上下两侧。
6.根据权利要求1所述的亮度计校准装置,其特征在于,所述亮度计校准装置还包括支撑盘,所述刻度盘连接于所述支撑盘,所述支撑盘连接于所述支撑架,从而使所述支撑架支撑所述刻度盘。
7.根据权利要求6所述的亮度计校准装置,其特征在于,所述刻度盘还包括第一支撑杆,所述支撑盘包括盘体和第二支撑杆,所述第二支撑杆设于所述盘体的一侧,所述刻度盘的所述第一支撑杆伸入所述第二支撑杆并与之配合而连接,所述支撑架的一侧设有第三支撑杆,所述第二支撑杆与所述第三支撑杆配合而连接。
8.根据权利要求6所述的亮度计校准装置,其特征在于,所述亮度计校准装置还包括水平调整机构,所述水平调整机构设于所述支撑盘和所述刻度盘之间以调整所述刻度盘的所述本体的水平角度。
9.根据权利要求8所述的亮度计校准装置,其特征在于,所述水平调整机构包括调节件和连接杆,所述连接杆一端固定连接于所述刻度盘的所述本体,所述调节件螺纹连接于所述连接杆,所述调节件可相对所述支撑盘转动而不可轴线移动。
10.根据权利要求1所述的亮度计校准装置,其特征在于,所述亮度计校准装置还包括两个水平仪,两个所述水平仪分别设于两个所述水平仪连接件上。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2077121U (zh) * 1990-10-25 1991-05-15 大同铁路分局大同车辆段 红外线探测装置探测点校准仪
EP1376082A1 (en) * 2002-06-25 2004-01-02 National Space Development Agency of Japan Method for calibrating a total-power microwave radiometer for a satellite
TW201437615A (zh) * 2013-03-26 2014-10-01 Nat Inst Chung Shan Science & Technology 色彩分析儀校正系統及方法
CN104296971A (zh) * 2014-10-22 2015-01-21 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种高亮度环境下的显示器对比度校准方法及装置
CN206311204U (zh) * 2016-12-19 2017-07-07 广电计量检测(成都)有限公司 亮度计校准装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2077121U (zh) * 1990-10-25 1991-05-15 大同铁路分局大同车辆段 红外线探测装置探测点校准仪
EP1376082A1 (en) * 2002-06-25 2004-01-02 National Space Development Agency of Japan Method for calibrating a total-power microwave radiometer for a satellite
TW201437615A (zh) * 2013-03-26 2014-10-01 Nat Inst Chung Shan Science & Technology 色彩分析儀校正系統及方法
CN104296971A (zh) * 2014-10-22 2015-01-21 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种高亮度环境下的显示器对比度校准方法及装置
CN206311204U (zh) * 2016-12-19 2017-07-07 广电计量检测(成都)有限公司 亮度计校准装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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黎俊: "《亮度计校准原理和CMC评定方法》", 《工业计量 增刊》 *

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